JP2017038042A5 - - Google Patents

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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6188382B2 (ja) * 2013-04-03 2017-08-30 キヤノン株式会社 インプリント装置および物品の製造方法
JP5960198B2 (ja) * 2013-07-02 2016-08-02 キヤノン株式会社 パターン形成方法、リソグラフィ装置、リソグラフィシステムおよび物品製造方法
US10353299B2 (en) * 2016-06-01 2019-07-16 Canon Kabushiki Kaisha Lithography method, determination method, information processing apparatus, storage medium, and method of manufacturing article
JP7222623B2 (ja) * 2018-07-23 2023-02-15 キヤノン株式会社 パターン形成方法および物品製造方法
US11107678B2 (en) 2019-11-26 2021-08-31 Canon Kabushiki Kaisha Wafer process, apparatus and method of manufacturing an article
KR102227885B1 (ko) * 2020-06-02 2021-03-15 주식회사 기가레인 패턴 정렬 가능한 전사 장치
JP7494037B2 (ja) * 2020-07-15 2024-06-03 キヤノン株式会社 情報処理装置、判定方法、検査装置、成形装置、および物品の製造方法
KR102520642B1 (ko) * 2020-12-29 2023-04-11 주식회사 기가레인 패턴 정렬 가능한 전사 장치
JP7407465B2 (ja) * 2022-03-04 2024-01-04 株式会社菊水製作所 成形品処理システム

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2432029A (en) * 2005-11-02 2007-05-09 Crime Scene Invest Equipment L Imprint identification system using image scanner calibration
US7854867B2 (en) * 2006-04-21 2010-12-21 Molecular Imprints, Inc. Method for detecting a particle in a nanoimprint lithography system
US7815824B2 (en) * 2008-02-26 2010-10-19 Molecular Imprints, Inc. Real time imprint process diagnostics for defects
US8345242B2 (en) * 2008-10-28 2013-01-01 Molecular Imprints, Inc. Optical system for use in stage control
JP5173944B2 (ja) 2009-06-16 2013-04-03 キヤノン株式会社 インプリント装置及び物品の製造方法
JP5455583B2 (ja) 2009-11-30 2014-03-26 キヤノン株式会社 インプリント装置
JP5539011B2 (ja) * 2010-05-14 2014-07-02 キヤノン株式会社 インプリント装置、検出装置、位置合わせ装置、及び物品の製造方法
JP5597031B2 (ja) * 2010-05-31 2014-10-01 キヤノン株式会社 リソグラフィ装置及び物品の製造方法
JP5576822B2 (ja) * 2011-03-25 2014-08-20 富士フイルム株式会社 モールドに付着した異物の除去方法
JP6039222B2 (ja) * 2011-05-10 2016-12-07 キヤノン株式会社 検出装置、検出方法、インプリント装置及びデバイス製造方法
JP6071221B2 (ja) * 2012-03-14 2017-02-01 キヤノン株式会社 インプリント装置、モールド、インプリント方法及び物品の製造方法
JP6140990B2 (ja) * 2012-11-30 2017-06-07 キヤノン株式会社 測定装置、インプリントシステム、測定方法及びデバイス製造方法
JP6083340B2 (ja) * 2013-07-12 2017-02-22 富士通株式会社 化合物半導体装置及びその製造方法
JP6119474B2 (ja) * 2013-07-12 2017-04-26 大日本印刷株式会社 インプリント装置及びインプリント方法
JP6282069B2 (ja) 2013-09-13 2018-02-21 キヤノン株式会社 インプリント装置、インプリント方法、検出方法及びデバイス製造方法
JP6415120B2 (ja) 2014-06-09 2018-10-31 キヤノン株式会社 インプリント装置及び物品の製造方法
JP6403627B2 (ja) * 2015-04-14 2018-10-10 キヤノン株式会社 インプリント装置、インプリント方法及び物品の製造方法

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