JP2016521316A - 能動的に位置合わせされるファインメタルマスク - Google Patents

能動的に位置合わせされるファインメタルマスク Download PDF

Info

Publication number
JP2016521316A
JP2016521316A JP2016509146A JP2016509146A JP2016521316A JP 2016521316 A JP2016521316 A JP 2016521316A JP 2016509146 A JP2016509146 A JP 2016509146A JP 2016509146 A JP2016509146 A JP 2016509146A JP 2016521316 A JP2016521316 A JP 2016521316A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
fine metal
metal mask
mask
frame
pattern
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016509146A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6423862B2 (ja
Inventor
ジョン エム. ホワイト,
ジョン エム. ホワイト,
ロバート ビサー,
ロバート ビサー,
ディーター ハース,
ディーター ハース,
トマソ ヴェルセシ,
トマソ ヴェルセシ,
アンドレアス ロップ,
アンドレアス ロップ,
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Applied Materials Inc
Original Assignee
Applied Materials Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Applied Materials Inc filed Critical Applied Materials Inc
Publication of JP2016521316A publication Critical patent/JP2016521316A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6423862B2 publication Critical patent/JP6423862B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • H10K71/191Deposition of organic active material characterised by provisions for the orientation or alignment of the layer to be deposited
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/04Coating on selected surface areas, e.g. using masks
    • C23C14/042Coating on selected surface areas, e.g. using masks using masks
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/02Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the intensity of light
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/38Masks having auxiliary features, e.g. special coatings or marks for alignment or testing; Preparation thereof
    • G03F1/42Alignment or registration features, e.g. alignment marks on the mask substrates
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • H10K71/16Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering
    • H10K71/166Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering using selective deposition, e.g. using a mask

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

本明細書で説明される実施形態は、概してファインメタルマスクの能動的な位置合わせに関する。ファインメタルマスクは、複数のマイクロアクチュエータを通してフレームと接続される。マイクロアクチュエータは、マスクを伸ばし、マスクを再配置し、又はその両方を行うために、ファインメタルマスクに作用することができる。これにより、ファインメタルマスクの位置及び大きさを基板に対して維持することができる。【選択図】図9

Description

[0001]本明細書に開示される実施形態は、概してマスクの位置合わせに関する。より具体的には、本明細書に開示される実施形態は、概して光電子装置のための能動的なマスク位置合わせに関する。
[0002]有機材料を利用する光電子装置は、数々の理由により、益々好ましくなっている。このような装置を作製するために使用される多くの材料は、比較的安価であるため、有機光電子装置が無機装置に対してコスト面で優位に立つ潜在性を有する。同様に、有機材料の固有特性、例えば可撓性などは、フレキシブル基板上の堆積又は形成などの特定の用途において有利である場合がある。有機光電子装置の例としては、有機発光装置(OLED)、有機フォトトランジスタ、有機光電池、及び有機光検出器が含まれる。
[0003]OLEDについては、有機材料が従来の材料に対して性能上の利点があると考えられている。例えば、有機発光層が光を発するときの波長は、通常、適切なドーパントを用いて容易に同調させることができる。OLEDは、電圧が装置にわたって適用されるときに光を発する薄い有機膜を利用する。OLEDは、フラットパネルディスプレイ、照射、及び背面照明などの用途における使用において、益々興味深い技術となっている。
[0004]OLED材料の蒸発堆積の前及び蒸発堆積の間、ランツーランからの小さな差異及び堆積中の温度の変化によって、ファインメタルマスクが、基板上の任意の既存パターンと位置がずれる又は位置がずれるようになる。処理中のこのような小さな温度の変更及び変化を記録することにより、より小さな基板及びより大きな画定された特徴に対して、蒸発パターニング(evaporative patterning)用シャドウマスクを使用することが制限された。
[0005]1つの解決策は、基板に対して極めて正確な位置合わせを行い、堆積温度を処理中に可能な限り低く且つ一定に保ち、及び膨張の熱係数が低いマスク材料を使用することであった。この堆積技法は、長年行われてきており、限界に達している。
[0006]他の可能な解決策は、スモールマスクスキャニング(SMS)である。SMSには、マスクの使用が関わる。マスクは、基板又はディスプレイ全体よりも小さく、基板に対してスキャンされ、R,G、及びBの各色の材料の小片を堆積するために使用される。この技法では、堆積中に基板とマスクとの間に間隙を保たなければならないために、多くの問題を抱えており、これにより、R、G、及びB各色の発光材料の間のクロス汚染に至る。更に、SMSによって、スクラッチングに起因する傷ができる場合がある。この傷は、上述のクロス汚染を回避するために、スキャン中にランニングクリアランスを可能な限り小さく保とうとする結果生じる。
[0007]したがって、光電子装置の形成において、マスク及びマスキングの技法を改善する継続的必要性がある。
[0008]本明細書に記載される実施形態は、概して光電子装置のための能動的なマスクの位置合わせに関する。
[0009]1つの実施形態では、装置は、処理チャンバと配置されるフレーム、接続プレート及びパターンを有するファインメタルマスク、及びファインメタルマスクをフレームに接続する複数のアクチュエータであって、アクチュエータが、ファインメタルマスクに作用して、ファインメタルマスクを伸ばし、マスクを再配置し、又はその組み合わせを行う、複数のアクチュエータを含んでもよい。
[0010]別の実施形態では、マスキング装置は、パターン及びパターンを囲む接続プレートを有するファインメタルマスク、並びにファインメタルマスクに連結される複数のマイクロアクチュエータを含むことができる。
[0011]別の実施形態では、マスキング装置は、フレームの少なくとも1つの側面上に形成される複数のフレーム開口部を備えるフレーム、ファインメタルマスク、及びフレームとファインメタルマスクに連結される複数のアクチュエータを含むことができる。ファインメタルマスクは、少なくとも1つのパターン、パターンの少なくとも1つの側面上に形成される接続プレート、及びそれを通る1つ又は複数のマスク開口部を含むことができる。
[0012]別の実施形態では、マスクを調整する方法は、ファインメタルマスクが中に配置される処理チャンバ内に基板を位置決めすること、1つ又は複数の位置合わせマークを使用して、基板に対してファインメタルマスクの少なくとも一部の位置合わせを決定すること、及び決定に応答して、ファインメタルマスクの少なくとも一部の位置合わせを変更することを含むことができる。ファインメタルマスクは、パターン及び1つ又は複数の位置合わせマークを含むことができる。
[0013]本発明の上述の特徴の態様が詳細に理解されるように、上記で簡単に概説した本発明のより具体的な記載が、実施形態を参照することによって得ることができ、これら実施形態の幾つかは添付の図面で示される。しかしながら、本発明は他の等しく有効な実施形態も許容し得るように、添付の図面は、本発明の典型的な実施形態のみを示しており、従って、本発明の範囲を限定すると見なされるべきではないことに留意されたい。
1つの実施形態による、ファインメタルマスクを有する処理チャンバの一部を示す。 1つ又は複数の実施形態による、マスクアセンブリの上面図を示す。 1つ又は複数の実施形態による、マスクアセンブリの上面図を示す。 1つ又は複数の実施形態による、マスクアセンブリの上面図を示す。 1つ又は複数の実施形態による、マスクアセンブリの上面図を示す。 1つ又は複数の実施形態による、マスクアセンブリの上面図を示す。 1つ又は複数の実施形態による、マスクアセンブリの上面図を示す。 1つの実施形態による、ダイナミックストリップファインメタルマスク(dynamic strip fine metal mask)を示す。 1つ又は複数の実施形態による、ダイナミックファインメタルマスクを示す。 1つの実施形態による、ファインメタルマスクを位置合わせする方法のブロック図である。[0019]理解を容易にするため、図に共通する同一の要素を示すために、可能な限り、同一の参照番号を付してある。1つの実施形態の要素及び特徴は、更なる記述がなくても、他の実施形態に有益に組み込むことができることが考えられる。
[0020]本明細書に開示される実施形態は、概してファインメタルマスクを能動的に位置合わせすることに関する。ファインメタルマスクとは、材料を基板上に堆積する間に使用することができるマスクのことを指す。ファインメタルマスクは、基板の全体的な能動的(発光)領域よりも小さいパターン解像度を有する特徴を形成するために使用することができる。典型的に、ファインメタルマスクは、1つの寸法を有し、その寸法は、基板上に配置されるべき(通常は1つの色の)サブピクセルの一部の寸法のオーダーのものである。ファインメタルマスクは、したがって、有機装置の発光層の堆積のために通常利用され、ディスプレイの種々の色は、それぞれファインメタルマスクを通して別々に堆積され、ディスプレイ内に存在する能動的なOLEDの一部の上への堆積のみが許容されるように設計される(例えば、赤い発光層のみが中に堆積されるファインメタルマスク、緑の発光層のみが中に堆積される別のファインメタルマスクを通してなど)。
[0021]堆積処理の間、基板及びファインメタルマスクの両方が加熱され、したがって、基板及びファインメタルマスクの両方がある程度まで膨張する。基板及びファインメタルマスクが膨張するにつれて、基板に対するファインメタルマスクの位置合わせをオフセットすることができる。マイクロアクチュエータを使用して、剛性フレームと関連させてファインメタルマスクを位置決めすることにより、処理中の基板の予期される膨張又は実際の膨張に基づいて、ファインメタルマスクを能動的に位置合わせすることができる。能動的な位置合わせは、数学的に判断することができ(周知の膨張率を使用することによってなど)、又は位置合わせの変更は、経験から判断することができる。本明細書に開示される実施形態は、以下の図面を参照してより明白に説明される。
[0022]図1Aと図1Bは、1つの実施形態による、ファインメタルマスク106を有する処理チャンバ100の一部を示す。処理チャンバ100は、記載された実施形態において使用するために適合される標準的な処理チャンバであることができる。1つの実施形態では、処理チャンバ100は、カリフォルニア州サンタクララのApplied Materials,Inc.の子会社であるAKT America, Inc.から入手可能なチャンバであることができる。本明細書で説明される実施形態は、他の製造業者によって販売されるチャンバを含む他のチャンバ上で実行してもよいことを理解するべきである。
[0023]基板102は、静電チャック(図示せず)に関連して処理チャンバ100内に位置決めされることができる。基板102は、OLEDの堆積に適切な基板であることができる。1つの実施形態では、基板102は、ガラスから実質的に構成される。基板は、広い範囲の寸法(例えば、長さ、幅、形状、厚みなど)であることができる。1つの実施形態では、基板は、約1メートルの長さであり、1メートルの幅である。この実施形態では、基板102は、下面103の上に形成されるカソード104とともに示される。カソード104は、インジウムスズ酸化物(ITO)を含んでもよい。他の実施形態では、カソード104は、非連続的であり、OLED層(図示せず)の構成と共に基板上に形成される。
[0024]ソース108が、基板102及びカソード104の下に位置決めされる。概して、ソース108は、堆積ガス110を生成することができるソースボート或いは他の容器又は入れ物であることができる。堆積ガス110は、OLED構造の形成のために必要とされる又は望まれる発光層、正孔輸送層、変色層、又は更なる層(図示せず)などの更なる層をカソード104の上に堆積するように構成することができる。1つの実施形態では、ソース108は、堆積ガス110を生成し、カソード104の上に白色発光層(図示せず)を形成し、且つ白色発光層の上に変色層を形成する。別の実施形態では、ソース108は、堆積ガス110を生成し、カソード104の上に色発光層(図示せず)を形成する。電子輸送層(図示せず)などの1つ又は複数の追加の層は、カソード104の上に形成されてもよい。
[0025]基板102とソース108との間に位置決めされているのは、ファインメタルマスク106である。ファインメタルマスク106は、縮尺どおりに示されておらず、関連構造に比べて、長さ、幅、又は高さにおいて示されているより小さいか、又は大きい場合があると理解される。ファインメタルマスク106は、1つ又は複数の磁性金属又は非磁性金属から少なくとも部分的に構成することができる。ファインメタルマスク106又はその構成要素に適切な材料には、限定されないが、INVAR(64FeNi)、ASTMグレード5チタニウム(Ti−6Al−4V)、チタニウム、アルミニウム、モリブデン、銅、440ステンレス鋼、HASTELLOY(登録商標)合金C‐276、ニッケル、クロム‐モリブデン鋼、304ステンレス鋼、他の鉄含有組成物、又はこれらの組合せが含まれる。
[0026]ファインメタルマスク106は、基板の少なくとも一部のカバレッジを可能にする大きさ及び形状であることができる。1つの実施形態では、ファインメタルマスク106は、長さで2メートルから3メートル、高さで1.5メートルから2メートルである。ファインメタルマスク106は、100μmなど、200μmよりも小さい厚みを有することができる。1つの実施形態では、ファインメタルマスクは、100μmよりも小さい。ファインメタルマスク106は、フレーム112内に位置決めされることができる。更に、ファインメタルマスク106は、1つ又は複数のマイクロアクチュエータ114を使用して、フレーム112に接続することができる。フレーム112は、ファインメタルマスク106の材料に似た材料から構成することができる。フレーム112は、剛性を有することができ、この剛性により、フレーム112の変形なく又は限定的な変形を有して、マイクロアクチュエータ114がファインメタルマスク106に作用することが可能になる。1つの実施形態では、フレーム112は、INVARから構成される。この図からは、マイクロアクチュエータ114を2つしか見ることができないが、1つ又は複数のマイクロアクチュエータ114は、ファインメタルマスク106をフレーム112の内部に位置決めするために使用することができる。
[0027]ファインメタルマスク106は、フレーム112内に配置される。上述のように、フレーム112は、ファインメタルマスク106よりも十分に堅く、ファインメタルマスク106に耐性をもたらす。図1Bでは16個のマイクロアクチュエータ114として示されるマイクロアクチュエータ114は、それぞれマスク開口部116とフレーム開口部116に接続され、マスクアセンブリ130をつくることができる。マイクロアクチュエータ114は、アクチュエータとして説明されるが、ファインメタルマスク106を位置合わせする又は伸ばすのいずれかを行うために使用することができる、ある量の力を適用するための任意の装置であることができる。更に、ユーザの必要に基づいて、マイクロアクチュエータ114がより多い又はより少ない場合があるので、マイクロアクチュエータ114の数は限定的であることを意図されていない。
[0028]同様に、ファインメタルマスク106は、1つ又は複数のポイントにおいてマイクロアクチュエータ114を使用することなく、フレーム112に直接取り付けてもよい。上述の実施形態では、マイクロアクチュエータ114は、ファインメタルマスク106及びフレーム112に関連して示され、ファインメタルマスク106及び/又はフレーム112における二等分線によって画定されるように、互いに向き合って左右対称に形成されるマイクロアクチュエータ114が2つあるように示される。この実施形態では、マイクロアクチュエータ114は、不均一な態様で左右対称な態様で位置決めされてもよい。同等のフレーム112に接続される長方形のファインメタルマスク106においては、ファインメタルマスク106の1つの側面は、溶接又は他の半永久取り付け処理によって、フレーム112に取り付けられてもよく、他の3つの側面は、複数のマイクロアクチュエータ114を使用して取り付けられてもよい。各側面で使用されるマイクロアクチュエータ114の数及び位置決めは、位置決め、量、又はそれらの組み合わせに関して、非対称であることができる。この例は、ファインメタルマスク106の1つの側面のみが半永久的に取り付けられているように説明しているが、マイクロアクチュエータがファインメタルマスク106とフレーム112との間の接続の少なくとも1つの部分に組み込まれている限り、1つ又は複数の側面或いは側面の部分が同じように取り付けられてもよい。
[0029]マスク開口部116及びフレーム開口部118は、それぞれ、ファインメタルマスク106及びフレーム112において孔として示される。しかしながら、マイクロアクチュエータ114を取り付けるフック又はボルト、或いは、マイクロアクチュエータ114をフレーム112、ファインメタルマスク106、又はその両方に溶接することなど、他の接続を使用してもよい。更に、この実施形態では、マスク開口部116及びフレーム開口部118は、ファインメタルマスクのストリートと一致するように示される。しかしながら、この設計は、限定的であるとみなすべきではなく、ファインメタルマスク106に対して均一な力の伝達又は方向性のある力の伝達を可能にする、マスク開口部116及びフレーム開口部118のための他の位置が想定される。
[0030]動作時では、マイクロアクチュエータ114によって張力がもたらされる場合があり、それにより、ファインメタルマスク106及びパターン画定特徴120が、基板120に対して最終的に望まれる大きさと位置にもってこられる。ファインメタルマスク106及びフレーム112を含むマスクアセンブリ130は、次いで、処理チャンバ100内にロードされる。一度適切に位置決めされると、処理チャンバ100は次いでポンプダウンされ、温度が安定化し、基板102を受け入れる準備ができる。基板102は、次いで処理チャンバ100にもってくることができ、ファインメタルマスク106上の位置合わせマーク122は、基板102上の対応する特徴と位置合わせされる。最後に、堆積が開始し進行するにつれて、堆積の間のファインメタルマスク106及び/又は基板102に対する温度変化は、マイクロアクチュエータ114を制御するコンピュータ制御アルゴリズムを通して補償することができる。マイクロアクチュエータ114は、位置合わせマーク122から引き出される位置合わせデータに関連して、特定の周波数をもって継続的に、又は断続的にファインメタルマスクを位置合わせするように構成することができる。したがって、マイクロアクチュエータ114は、基板102上の特徴と関連付けられるような、ファインメタルマスク106の適切で望まれる位置合わせと大きさを維持することができる。
[0031]更なる実施形態では、マイクロアクチュエータ114は、基板102上の現在の堆積領域に局所化される張力をもたらすことができる。マルチポイントソースアレイ又はラインソース構成内における蒸発ヘッド/ノズル(ソース108)の位置がスキャンの間に認知されるため、ファインメタルマスク106のマイクロアクチュエータ114は、ファインメタルマスク106が基板102の少なくとも影響を受ける領域上で適切に位置合わせされるように調整されることができる。この実施形態では、ヘッドの位置において瞬時に且つ局所的に位置合わせを維持することだけが必要と考えられる。ファインメタルマスク106の位置合わせの制御をさらに局所的に行うことができると、基板に対するマスクの位置合わせを維持することの困難性を低減させることができる。
[0032]理論に縛られることを意図しないが、ファインメタルマスク106によってフレーム112に適用される一定の力を低減させることによって、フレーム112を標準フレームよりも軽量化することができると考えられている。標準のファインメタルマスクは、低熱膨張シートメタルの断片から形成される。このシートメタルは、引き伸ばされ、次いで引き伸ばされた状態で重量フレームに取り付けられる。重量フレームは、ファインメタルマスクの高張力を維持するのに一般に必要とされ、何千ポンドのオーダーである場合がある。したがって、重量フレームは、簡単に動かしたり洗浄したりすることができない。記載の実施形態では、予張が最小限となり、位置ずれ又は熱膨張に適応するためにマスクが引き伸ばされる。したがって、記載の実施形態を通して、フレームの必要とされる強度及びフレームに必要とされる重量を低減させることができる。
[0033]マイクロアクチュエータ114は、双方向性運動が可能であると説明される。しかしながら、本明細書に記載される実施形態と利用することができるマイクロアクチュエータ114は、一方向性であってもよく、マイクロアクチュエータ114は、押圧力又は牽引力のいずれかをもたらし、それにより、ファインメタルマスク106の張力が適切に調整される。牽引のみを行うマイクロアクチュエータ114を使用するとき、ファインメタルマスク106は、処理中のファインメタルマスク106の膨張に従って張力がかけられることができる。押圧のみを行うマイクロアクチュエータ114を使用するとき、ファインメタルマスク106は、ファインメタルマスク106を予張すること、又はマイクロアクチュエータ114の力を再度方向付けることのいずれかを行うことによってなど、適切な張力に達するために必要な力を適切に方向付けることによって、マイクロアクチュエータ114を使用して制御することができる。力を再度方向付けることによって、マイクロアクチュエータ114は、押圧力が牽引力になるように、ファインメタルマスク106に関連して装置上に押圧される。1つの例では、マイクロアクチュエータ114は、中央ピボットポイント(図示せず)を有するアーム(図示せず)に対して膨張する。ケーブル(図示せず)は、ファインメタルマスク106及びマイクロアクチュエータ114の反対側の側面上のアームと接続される。アームがピボットポイントで旋回し、ケーブルを牽引し、且つファインメタルマスク106に張力をかけるにつれて、マイクロアクチュエータ114からの押圧力がアームを通して伝達される。様々な実施形態が、マイクロアクチュエータ114の力を再度方向付けるために想定される。予張の場合、Xがファインメタルマスク106の適切な位置決めに必要とされる張力であると想定すると、ファインメタルマスクは、X+Yの張力に予張される。Yは、ファインメタルマスクにおける温度変化から予期される緩みを越える更なる張力である。Yは、ファインメタルマスク106における温度変化及びマイクロアクチュエータ114の押圧運動の両方によってもたらされる緩みの組み合わせと更に定義してもよい。基板が冷たいとき、Yは、マイクロアクチュエータ114によって全面的にもたらされる。基板が加熱されると、マイクロアクチュエータ114は、適用される力の量をゆっくり減少させ、温度上昇からの緩みを補償する。
[0034]図2から図7は、1つ又は複数の実施形態による、マスクアセンブリの上面図を示す。各実施形態は、様々な対称な構成要素と概して均一であると説明されるが、記載の構成要素の数と位置は、本明細書の記載から逸れない限り、移動、調整、又は再配向してもよいと理解される。更に、実施形態は、必要に応じて、又は所望されるように、組み合わされてもよい。
[0035]図2は、1つの実施形態による、マスクアセンブリを示す。マスクアセンブリ200は、フレーム204に接続されるファインメタルマスク202を含む。ファインメタルマスク202は、パターン206を有し、パターン206は、本明細書でファインメタルマスク202の中央に形成されているように示される。複数のストリート208が、パターン206の中及びその周りに形成される。複数のストリート208は、その中に形成される1つ又は複数の位置合わせマーク210を有する。パターン206及びストリート208を取り囲むのは、複数のマスク開口部214を有する接続プレート212であってもよい。ファインメタルマスク202の接続プレート212は、様々な形状と大きさを含んでもよく、それにより、フレーム204内のファインメタルマスク202の運動が可能になる。シートメタルの単片から切り取ったファインメタルマスク202など、上述のファインメタルマスク202の構成要素は、すべて同じ組成物であってもよい。別の実施形態では、構成要素のうちの1つ又は複数、或いはファインメタルマスク202の単一の構成要素の一部は、別々の材料から構成することができる。
[0036]フレーム204内に形成されるのは、複数のフレーム開口部216である。フレーム204は、複数のマイクロアクチュエータ218を使用して、ファインメタルマスク202と接続することができる。ここでは、フレーム204及びファインメタルマスク202が、各マスク開口部214で2つのマイクロアクチュエータ218を使用して接続されることが示される。マイクロアクチュエータ218は、個別にフレーム204に接続され、結果として、角度をつけて力を適用することが可能になる。この例では、角度は、マスク開口部214から測定されるとき、約45度及び約315度である。マイクロアクチュエータ218は、ここでは、ファインメタルマスク202及びフレーム204と同一平面上にあるように示される。しかしながら、マイクロアクチュエータは、3次元図上の種々の平面を含む、任意の位置及び配向で位置決めすることができ、これにより、ファインメタルマスク202に対する調整が可能になる。
[0037]理論に縛られることを意図しないが、角度をつけて力を適用することによって、ファインメタルマスク202の同時的な再配置及び伸長が可能になると考えられる。堆積中に起こるような膨張の間、ファインメタルマスク202は、基板102に対して、位置と大きさの両方において変わる場合がある。したがって、大きさと位置の両方の同時的調整を可能にすることにより、ファインメタルマスク202を通じた後続の堆積をより上手に制御することができる。
[0038]図3は、別の実施形態による、マスクアセンブリを示す。マスクアセンブリ300は、フレーム304に接続されるファインメタルマスク302を含む。図2に関連して説明されるように、ファインメタルマスク302は、その中に形成される1つ又は複数の位置合わせマーク310を含む複数のストリート308を有するパターン306を有する。パターン306及びストリート308を取り囲むのは、複数のマスク開口部314を有する接続プレート312であることができる。ファインメタルマスク302の接続プレート312は、それぞれのマスク開口部314とパターン306との間で形成される複数のノッチ316を含むことができる。ファインメタルマスク302は、接続プレート312内に形成される1つ又は複数のスリット324を更に有することができる。
[0039]フレーム304と接続されるのは、複数のマイクロアクチュエータ318である。フレーム304は、複数のマイクロアクチュエータ318を使用して、ファインメタルマスク302と接続されることができる。ここでは、フレーム304及びファインメタルマスク302が、各マスク開口部314でマイクロアクチュエータ318のうちの1つを使用して接続されることが示される。マイクロアクチュエータ318は、個別にフレーム304に接続され、結果として、直線的に力を適用することが可能になる。フレーム304は、その上に形成されるフレーム半島形状部(frame peninsula)320を有することができる。フレーム半島形状部320は、フレーム304の側面のほぼ中央に形成されることができる。フレーム半島形状部320は、接続プレート312内の開口部に置かれることができる。フレーム半島形状部は、フレーム304がセンターマイクロアクチュエータ322と接続することを可能にすることができる。センターマイクロアクチュエータ322は、2つのポイントでファインメタルマスク302と接続することができ、それにより、センターマイクロアクチュエータ322は、2つの方向でファインメタルマスク302に力を適用することができる。
[0040]図4は、別の実施形態による、マスクアセンブリ400を示す。マスクアセンブリ400は、ファインメタルマスク402及びフレーム404を含む。以上で説明されるように、ファインメタルマスク402は、パターン406、1つ又は複数のストリート408、及びその中に形成される複数の位置合わせマーク410を有する。この実施形態では、接続プレート412は、パターン406の周りに形成され、パターンの中に1つ又は複数の半島形状部420が形成される。半島形状部420は、それぞれ、その中に形成される少なくとも1つのノッチ416を有する。半島形状部420及びノッチ416は、それぞれ、1つ又は複数の動作の間、より優れた力の分散及び横方向の動きをもたらすと考えられている。半島形状部420は、その中に形成される少なくとも1つのマスク開口部414を更に有する。
[0041]フレーム404は、複数のマイクロアクチュエータ418に接続される。マイクロアクチュエータ418は、溶接などの半永久的な方法によって接続されることができる。マイクロアクチュエータ418は、それぞれ、ファインメタルマスク402上の半島形状部420内に形成されるマスク開口部414に接続され、それにより、必要に応じて又は所望に応じて、ファインメタルマスク402を引き伸ばし、移動させる。
[0042]図5は、別の実施形態による、マスクアセンブリ500を示す。マスクアセンブリ500は、ファインメタルマスク502及びフレーム504を含む。以上で説明されるように、ファインメタルマスク502は、パターン506、1つ又は複数のストリート508、及びその中に形成される複数の位置合わせマーク510を有する。図4に関連して説明されるように、接続プレート512は、パターン506の周りに形成され、パターンの中に1つ又は複数の半島形状部520が形成される。半島形状部520は、それぞれ、少なくとも1つのノッチ516を有する。この実施形態では、1つ又は複数のマスク開口部514は、接続プレート512内の半島形状部520の周りに形成される。
[0043]フレーム504は、複数の壁505及び複数の内角522を有することができ、これらは共に作用してファインメタルマスク502の周りに外縁を形成する。ここでは、フレーム504が、4つの壁505、及び壁505の交差部分で形成される4つの内角522を有することが示される。フレーム504は、フレーム504の壁と内角522との両方で接続される複数のマイクロアクチュエータ518を更に有する。複数のマイクロアクチュエータ518は、少なくとも1つのマスク開口部514に接続される。ここでは、各マイクロアクチュエータ518は、マスク開口部514のうちの1つとフレーム504の壁505のうちの1つの間で接続できることが示される。内角522では、2つのマイクロアクチュエータ518を各マスク開口部514に接続することができる。ここでは、マスク開口部514に接続されているマイクロアクチュエータ518間で90度の角度が形成されているように示されているが、他の角度も可能である。
[0044]マイクロアクチュエータ518は、ストリート508の両側に形成されるマスク開口部514を通してファインメタルマスク502に接続される。この実施形態の横方向の方向性は、内角522で制御される。マイクロアクチュエータ518を内角522で形成することができ、それにより、ファインメタルマスク502を任意の方向に操作することができる。ここでは、内角522がフレーム504上に形成され、2つのマイクロアクチュエータ518が内角522に接続され、2つのマイクロアクチュエータ518がフレーム504に接続されることが示される。2個の組が2組ある4つのマイクロアクチュエータ518は、マスク開口部514のうちの1つで直角をなしてファインメタルマスク502に接続される。内角522におけるマイクロアクチュエータ518のうちの1つ又は複数に適用される力を調節することによって、ファインメタルマスク502を任意の方向に引き伸ばす、又は移動させることができる。
[0045]図6は、別の実施形態による、マスクアセンブリ600を示す。マスクアセンブリ600は、ファインメタルマスク602及びフレーム604を含む。以上で説明されるように、ファインメタルマスク602は、パターン606、1つ又は複数のストリート608、複数のマスク開口部614、及びストリートの中に形成される複数の位置合わせマーク610を有する。この実施形態では、マスク開口部614は、ストリート608で形成される。パターン606と1つ又は複数の接続プレート612との間で、ファインメタルマスク602内に形成されるのは、1つ又は複数のスロット形成部620である。スロット形成部620によって、1つ又は複数の接続プレート612とパターン606との間の剛性接合が可能になり、それと同時に、スロット形成部620とパターン606との間で、スロット形成部620に対して直角をなす運動の自由が可能になる。更に、スロット形成部620によって、2つの直交するマイクロアクチュエータ618の組が、ファインメタルマスク602を両方向に引き伸ばす又は引っ張ることが可能になる。個々のマイクロアクチュエータ618とファインメタルマスク602との間の機械接続は、事実上伸長性がなく、数が少ない(約10未満など)にも関わらず、2つの直交するマイクロアクチュエータ618の組は、スロット形成部620を使用して、ファインメタルマスク602を引き伸ばす又は引っ張ることができる。上述の実施形態では、マイクロアクチュエータ618は、引っ張る対象であるファインメタルマスク602の端部の実質的部分にかかるが、スロット形成部620との組み合わせで、ファインメタルマスク602を効果的に引っ張る又は引き伸ばすことができる。
[0046]フレーム604内に形成されるのは、複数のフレーム開口部616である。マイクロアクチュエータ618は、複数のフレーム開口部616を通してフレーム604に、及び複数のマスク開口部614を通してファインメタルマスク602に接続されることができる。したがって、フレーム604は、複数のマイクロアクチュエータ618を使用して、少なくとも部分的にファインメタルマスク602と接続されることができる。ここでは、フレーム604及びファインメタルマスク602が、各マスク開口部614で、及び各フレーム開口部616で、単一のマイクロアクチュエータ618を使用して接続されることが示される。各接続において単一のマイクロアクチュエータ618が示されているが、使用されるマイクロアクチュエータ618の位置決め又は数は、限定的であることを意図されていない。
[0047]図7は、別の実施形態による、マスクアセンブリ700を示す。マスクアセンブリ700は、ファインメタルマスク702及びフレーム704を含む。以上で説明されるように、ファインメタルマスク702は、パターン706、1つ又は複数のストリート708、複数の位置合わせマーク710、接続プレート712、及びその中に形成される複数のマスク開口部714を有する。複数のマスク開口部714は、ファインメタルマスク702の接続プレート712内に形成される。フレーム704は、複数のフレーム開口部716を含むことができる。上述のように、フレーム開口部716は、1つ又は複数のマイクロアクチュエータ718と接続することができ、結果として、フレーム704がファインメタルマスク702に接続される。
[0048]この実施形態では、マスク開口部714は、ストリート708の周りに形成され、結果として各ストリート708に対して2つのマスク開口部714が生成される。更に、この実施形態では、ストリート708は、パターン706から接続プレート712へと延在する。これにより、マイクロアクチュエータ718の位置決めに基づいて、スロット形成部720の独立的制御が可能になると考えられており、ファインメタルマスク702のより優れた横方向制御及びより正確な張力が可能になる場合がある。スロット形成部720は、図6に関連して説明されるスロット形成部620とほぼ類似する利点をもたらすことができる。
[0049]図8は、別の実施形態による、ダイナミックストリップマスク装置(dynamic strip mask device)800を示す。ダイナミックストリップマスク装置800は、ファインメタルマスク802と接続されるフレーム804を含む。ファインメタルマスク802は、パターン818の1つ又は複数の境界で形成されるなど、ファインメタルマスク802の端部で形成される接続プレート805を有することができる。接続プレート805は、その中に形成される1つ又は複数のマスク開口部810を有することができる。接続プレート805は、ファインメタルマスク802の単一側面又は単一部分に形成されることができる。ここでは、接続プレート805がファインメタルマスク802の第1境界820及び第2境界822の上に形成されることが示される。第3境界824及び第4境界826の上では、マスク開口部810が、ファインメタルマスク802の1つ又は複数のストリート812内で形成される。接続プレート805とパターン818との間で形成されるのは、スロット形成部816であることができる。ここで示されるように、スロット形成部816を、接続プレート805が使用されていない部分など、ファインメタルマスク802の1つ又は複数の部分から取り除くことができる。
[0050]ファインメタルマスク802とフレーム804とを接続するは、1つ又は複数のマイクロアクチュエータ806である。マイクロアクチュエータ806は、一方の端部でマスクコネクタ810に接続され、他方の端部で、1つ又は複数のフレームコネクタ808を通してフレーム804に接続される。ここで示されるように、第3境界824及び第4境界826は、各境界上で2つのマイクロアクチュエータ806を用いて接続される。これらのマイクロアクチュエータ806は、ファインメタルマスク802の位置合わせの調整に役立つことができる。第1境界820及び第2境界822は、接続プレート805内に形成されるマスクコネクタ810を通して、フレーム804のフレームコネクタ808に接続される。ここでは、6つのマイクロアクチュエータ806が、ファインメタルマスク802を第1境界820及び第2境界822それぞれの上に接続する。したがって、第1境界820及び第2境界822の上のマイクロアクチュエータ806は、両方ともファインメタルマスク802の位置を調整し、ファインメタルマスク802を引き延ばすことができる。動作時には、ファインメタルマスク802の位置及び配向は、1つ又は複数の位置合わせマーク814を使用して決定することができる。マイクロアクチュエータ806は、検出された位置合わせマーク814に基づいて、ファインメタルマスク802の決定された位置を使用し、堆積前に必要に応じて、ファインメタルマスク802の位置を調整し、ファインメタルマスク802を引き延ばすことができる。
[0051]ファインメタルマスク802は、1つ又は複数のストリップ828を含むことができる。ストリップ828は、ファインメタルマスク802の独立可動部分であり、ここでは、3つの長方形状のストリップ828として示される。図8で示されるように位置決めされるフレーム804で説明されるように、ファインメタルマスク802のストリップ828を、縦方向又は横方向のいずれかの方向に位置決めすることができ、それにより、対応する方向において調整し、引き伸ばすことができる。ここでは、ストリップ828が縦方向に位置決めされているのが示される。更に、ストリップ828は、互いに独立して調整、引き伸ばし、再配向されることができ、それにより、各ストリップ828の下の堆積プロファイルが互いから独立して修正される。一例では、ストリップ828は、堆積ヘッドの位置に基づいて、現在の堆積領域の上のみで位置合わせされる。ここで示されるストリップ828は、可能な実施形態の例示であることが意図されており、限定的であることが意図されていない。更なる例では、ストリップ828は、種々の形状及び大きさであってもよく、或いは、任意の方向に引き伸ばされることができるように位置決めされてもよい。
[0052]ストリップ828間の間隙は、ブロッキングピース813a及び813bによって覆うことができる。ブロッキングピース813a及び813bは、ファインメタルマスク802と同じ材料から構成することができる。ブロッキングピース813a及び813bは、ストリップ828間の間隙を通して、ソース108から基板102上に堆積することを防ぐことを可能にする寸法を有するが、接触に起因する基板102の他の堆積又は損傷を妨げない。ここでは、2つのブロッキングピース813a及び813bが示されるが、ストリップ828の数の増加又は減少に対して、又はユーザが望むように、調整を行うために、ブロッキングピースがより多い場合、又はより少ない場合がある。
[0053]図9は、別の実施形態によるマスクアセンブリ900を示す。マスクアセンブリ900は、ファインメタルマスク902及びフレーム904を含む。上述のように、ファインメタルマスク902は、パターン906、1つ又は複数のストリート(streets)908、及びその中に形成される複数のマスク開口部914を有する。ファインメタルマスク902において、パターン906と1つ又は複数の接続プレート912との間で形成されるのは、1つ又は複数のスロット形成部920である。スロット形成部920は、図6に関連して説明されるスロット形成部620に実質的に似たような効果を実行することができる。複数のマイクロアクチュエータ918が、接続プレート912を通してファインメタルマスク902に接続される。
[0054]ファインメタルマスク902は、複数の接続アーム922を更に含む。各接続アーム922は、隣接する接続プレート912間で形成される。接続アーム922は、接続アーム922が少なくとも2つの接続プレート912に接触するように、示されるように実質的にL字型である場合があり、又は他の形状を含む場合がある。1つの実施形態では、接続プレート912及び接続アーム933は、単片の材料から成る。接続アーム922は、少なくとも1つの移動制御形成部924を有する。移動制御形成部924は、接続プレート912の移動を、接続されたマイクロアクチュエータ918によって適用される力の方向に従う2つの方向に減らす。
[0055]移動制御形成部924は、複数の移動スリット925を含む。移動スリット925は、2つの隣接する壁の間のセパレ―ションであり、このセパレ―ションにより、異なる状況では動かない接続アーム922において移動のための間隔が生じる。したがって、ファインメタルマスクが移動スリット925の幅によって生じる距離しか移動できないため、移動スリット925は、移動の方向と移動の距離の両方を制御する。更に、移動スリット925によって接続アーム922において間隔が生じ、この間隔により、接続アーム922の各側面が接続解除されずに2つの方向に移動することが可能になる。ノッチ926は、望ましくない方向に向かう力が接続アーム924の隣接する部分を分離させることを防ぐ。挿入孔927は、ねじ、ピン、又は他の物体などの挿入物(図示せず)を受け入れることができる。挿入孔927内に位置決めされたときに物体は、移動制御形成部924によって可能になる移動を妨げる。
[0056]マイクロアクチュエータ918は、ファインメタルマスク902に対して同時に力を加えることができ、これにより、力の方向が変わり、ファインメタルマスク902上へのせん断作用又は他の損傷に至る場合があると考えられている。移動制御形成部924を使用して、マイクロアクチュエータ918が引き起こす移動を2つの方向に制限することにより、この度重なるせん断作用又は損傷に関連する他の張力を避けることができる。
[0057]フレーム904において形成されるのは、複数のフレーム開口部916である。マイクロアクチュエータ918は、複数のフレーム開口部916を通してフレーム904に、及び複数のマスク開口部914を通してファインメタルマスク902に接続されることができる。したがって、フレーム904は、複数のマイクロアクチュエータ918を使用して、少なくとも部分的に、ファインメタルマスク902に接続されることができる。ここで図示されているのは、各マスク開口部914で、並びに各フレーム開口部916で、単一のマイクロアクチュエータ918を使用して、フレーム904とファインメタルマスク902が接続されていることである。各接続において単一のマイクロアクチュエータ918が示されているが、使用されているマイクロアクチュエータ918の配置又は数は、限定的であることを意図していない。
[0058]フレーム904と接続されているのは、複数の微調整アクチュエータ928である。微調整アクチュエータ928は、それぞれ、基板支持体(図示せず)に接続することができる複数の磁石929を有する。複数の磁石は、強磁性体に付着することができる任意の種類の磁石であることができる。微調整アクチュエータ928は、次いで、検出器930を使用し、基板支持体からのフレーム904及びファインメタルマスク902の距離を制御する。
[0059]図10は、1つの実施形態による、ファインメタルマスクを調整するための方法1000のブロック図である。上述の能動的に位置合わせされたファインメタルマスクは、基板に関連させて処理チャンバ内に位置決めすることができる。温度、堆積ヘッドの位置、及び他の要因に基づいて、ファインメタルマスクの少なくとも一部を位置合わせし、且つ引き伸ばすことができる。一旦適切に位置合わせし、且つ引き伸ばすと、ファインメタルマスクを堆積のために基板に関連させて位置決めすることができる。
[0060]方法1000は、1002にあるように、パターン及び1つ又は複数の位置合わせマークを備えるファインメタルマスクが中に配置される処理チャンバ内に基板を位置決めすることを含む。基板は、図1Aと図1Bを参照して説明される基板であることができる。パターン及び位置合わせマークを含むファインメタルマスクは、図1Bから図9を参照して説明されるファインメタルマスクであることができ、その中で説明される特性又は特徴の組み合わせが含まれる。
[0061]方法1000は、1004にあるように、1つ又は複数の位置合わせマークを使用して、基板に対してファインメタルマスクの少なくとも一部の位置合わせを決定することを更に含む。位置合わせマークは、図1Bから図9で示されるように、ストリートにおいて、及び接続プレートにおいてなど、ファインメタルマスク,の表面の様々な位置に位置決めすることができる。次いで、基板などの処理チャンバ内の設定点に比較して位置合わせマークの位置を決定するために光学系が適用される。基板に比較したファインメタルマスクの位置は、次いで、位置合わせマークの決定された位置から推定される。
[0062]方法1000は、1006にあるように、決定に応答して、ファインメタルマスクの少なくとも一部の位置合わせを変更することを更に含む。ファインメタルマスクの決定された位置を使用して、ファインメタルマスクは引き伸ばされるか、又は調整され、それにより、現在堆積のために使用されているファインメタルマスクの少なくとも一部が基板と位置合わせされる。1つの実施形態では、ファインメタルマスク全体が、基板と位置合わせされるように位置決めされる。別の実施形態では、ファインメタルマスクの他の構成要素を位置合わせせずに、ファインメタルマスクの特定のストリップが位置合わせされる。
[0063]一度ファインメタルマスクが位置合わせされると、ファインメタルマスクを基板と関連させて位置決めすることができ、それにより、堆積ヘッドがマスクを通して基板に堆積することができる。この時点で、ファインメタルマスクは、堆積処理が完了するまで、次の部分の堆積のために再度位置合わせされる場合がある。
[0064]以上で述べたように、ファインメタルマスクの位置合わせを変更することは、ファインメタルマスク全体を調整することを必要としない。1つの実施形態では、位置合わせマークの決定された位置に基づいてファインメタルマスク全体が位置合わせされ、それに伴い、パターンのすべての部分が基板のそれぞれの部分の上に正確に位置決めされ、調整される。ソースは、次いで、連続的であってもよい所定の順序でファインメタルマスクの各部分を通して堆積することができる。
[0065]別の実施形態では、ファインメタルマスクの位置合わせは、図1Bから図9のパターンにおける9つの四角形として示される四角形のうちの1つなどの特定の領域で調整される。パターンの第1の四角形又は部分が適切に調整されると、他の領域を考慮することなく、第1の四角形又は部分を通してソースが基板上に堆積することができる。第1の四角形又は部分は、パターン上の任意の位置から選択することができる。第1の四角形又は部分を調整することは、任意の数のマイクロアクチュエータがファインメタルマスクに力を適用することを必要とする場合があり、それに伴って、単一のマイクロアクチュエータ、幾つかのマイクロアクチュエータ、又はすべてのマイクロアクチュエータにおける移動など、一部のマイクロアクチュエータが他のマイクロアクチュエータよりも多くの力を適用する。第1の四角形又は部分における堆積が一旦完了すると、ソースがファインメタルマスクの第2の四角形又は部分までスキャンするが、ファインメタルマスクは第2の四角形又は位置で調整される。第2の四角形又は部分は、パターンの任意の部分にあってもよく、第1の四角形又は部分に比べて非線形であってもよい。パターンの第2の四角形又は部分が適切に調整されると、他の領域を考慮することなく、第2の四角形又は部分を通してソースが基板上に堆積することができる。
[0066]別の実施形態では、ファインメタルマスクの位置合わせが特定のストリップで位置合わせされ、他のストリップは位置合わせされない。図8に示されるストリップは、個別に位置合わせすることができ、それにより、ファインメタルマスクの対応する部分が基板と位置合わせされる。一度位置合わせされると、ストリップの次の部分又はファインメタルマスクのストリップに移動する前に、ソースは、位置合わせされたストリップ又はその一部を通して堆積することができる。この場合、ストリップは、単独で位置合わせされ、これにより、ファインメタルマスクの他の部分上への応力が減少する一方で、基板上の高分解能堆積を達成することが可能になる。
[0067]以下では、本明細書に記載の実施形態で使用できる1つ又は複数の材料に関連するパラメータが列挙される。後述のパラメータは、セクションごとに、2.5mの長さ、2mの幅、100μmの厚み、200mmのセクション面積を有する、1つ又は複数の上述の設計のファインメタルマスクのためのものである。
[0068]第1の例はINVARであり、INVARは、熱膨張(CTE)の係数が1.3μm/m℃、耐力が70ksi、及びヤング係数が21500ksiである。温度が50℃上昇すると、熱膨張は162.5μmである。膨張を修正するのに必要な歪みと応力は、0.0065%及び1.398ksiである。したがって、16個のアクチュエータを利用する実施形態では、27.1lbsのアクチュエータごとの力が必要とされる。
[0069]第2の例はTi−6Al−4Vであり、Ti−6Al−4Vは、CTEが8.6μm/m℃、耐力が128ksi、及びヤング係数が16510ksiである。温度が50℃上昇すると、熱膨張は1075μmである。膨張を修正するのに必要な歪みと応力は、0.043%及び7.099ksiである。したがって、16個のアクチュエータを利用する実施形態では、137.5lbsのアクチュエータごとの力が必要とされる。
[0070]第3の例はチタニウムであり、チタニウムは、CTEが8.9μm/m℃、耐力が20.3ksi、及びヤング係数が16800ksiである。温度が50℃上昇すると、熱膨張は1112.5μmである。膨張を修正するのに必要な歪みと応力は、0.0445%及び7.476ksiである。したがって、16個のアクチュエータを利用する実施形態では、144.8lbsのアクチュエータごとの力が必要とされる。
[0071]第4の例はAl 5xxx−0であり、Al 5xxx−0は、CTEが23μm/m℃、耐力が22ksi、及びヤング係数が10000ksiである。温度が50℃上昇すると、熱膨張は2875μmであった。膨張を修正するのに必要な歪みと応力は、0.115%及び11.500ksiである。したがって、16個のアクチュエータを利用する実施形態では、222.8lbsのアクチュエータごとの力が必要とされる。
[0072]第5の例はモリブデンであり、モリブデンは、CTEが5.35μm/m℃、耐力が60.2ksi、及びヤング係数が47900ksiである。温度が50℃上昇すると、熱膨張は668.75μmであった。膨張を修正するのに必要な歪みと応力は、0.0268%及び12.813ksiである。したがって、16個のアクチュエータを利用する実施形態では、248.3lbsのアクチュエータごとの力が必要とされる。
[0073]第6の例は銅であり、銅は、CTEが16.4μm/m℃、耐力が4.3ksi、及びヤング係数が16000ksiである。温度が50℃上昇すると、熱膨張は2050μmであった。膨張を修正するのに必要な歪みと応力は、0.082%及び13.120ksiである。したがって、16個のアクチュエータを利用する実施形態では、254.2lbsのアクチュエータごとの力が必要とされる。
[0074]第7の例は440ステンレス鋼であり、440ステンレス鋼は、CTEが10.2μm/m℃、耐力が168ksi、及びヤング係数が29000ksiである。温度が50℃上昇すると、熱膨張は1275μmであった。膨張を修正するのに必要な歪みと応力は、0.051%及び14.790ksiである。したがって、16個のアクチュエータを利用する実施形態では、286.6lbsのアクチュエータごとの力が必要とされる。
[0075]第8の例はHASTELLOY(登録商標)合金C‐276であり、これは、CTEが11.2μm/m℃、耐力が29.7ksi、及びヤング係数が29700ksiである。温度が50℃上昇すると、熱膨張は1400μmであった。膨張を修正するのに必要な歪みと応力は、0.056%及び16.632ksiである。したがって、16個のアクチュエータを利用する実施形態では、322.2lbsのアクチュエータごとの力が必要とされる。
[0076]第9の例はニッケルであり、ニッケルは、CTEが13μm/m℃、耐力が15ksi、及びヤング係数が29300ksiである。温度が50℃上昇すると、熱膨張は1625μmであった。膨張を修正するのに必要な歪みと応力は、0.065%及び19.045ksiである。したがって、16個のアクチュエータを利用する実施形態では、347.3lbsのアクチュエータごとの力が必要とされる。
[0077]第10の例はクロム‐モリブデン鋼であり、クロム‐モリブデン鋼は、CTEが12.1μm/m℃、耐力が150ksi、及びヤング係数が30000ksiである。温度が50℃上昇すると、熱膨張は1512.5μmであった。膨張を修正するのに必要な歪みと応力は、0.0605%及び18.150ksiである。したがって、16個のアクチュエータを利用する実施形態では、351.7lbsのアクチュエータごとの力が必要とされる。
[0078]第11の例は440ステンレス鋼であり、440ステンレス鋼は、CTEが17.3μm/m℃、耐力が31.2ksi、及びヤング係数が28500ksiである。温度が50℃上昇すると、熱膨張は2162.5μmであった。膨張を修正するのに必要な歪みと応力は、0.0865%及び24.653ksiである。したがって、16個のアクチュエータを利用する実施形態では、477.6lbsのアクチュエータごとの力が必要とされる。
[0079]本明細書に開示される実施形態は、ファインメタルマスクを能動的に位置合わせすることに関する。ファインメタルマスク及び基板は、加熱するにつれてその熱膨張の係数に関連して膨張する。材料間で係数が異なるため、ファインメタルマスクと基板との間の位置合わせは、時間と共にオフセットされる。複数のマイクロアクチュエータを通して、ファインメタルマスクを剛性フレームに接続することによって、ファインメタルマスクを基板に関連して位置決めし、成形することができる。能動的に位置決めされるファインメタルマスクによって、より正確な堆積製品を生み出すことができる。
[0080]上記は本発明の実施形態を対象とするが、本発明の基本的な範囲から逸脱することなく、本発明の他の実施形態及び更なる実施形態を考案することができる。

Claims (20)

  1. パターン、及び前記パターンを囲む接続プレートを有するファインメタルマスク、並びに
    前記ファインメタルマスクに連結される複数のマイクロアクチュエータ
    を備えるマスキング装置。
  2. 前記マイクロアクチュエータが前記接続プレートに連結される、請求項1に記載の装置。
  3. 前記ファインメタルマスクが複数のマスク開口部を有する、請求項1に記載の装置。
  4. 2つ以上のマイクロアクチュエータが単一のマスク開口部で前記ファインメタルマスクに連結される、請求項1に記載の装置。
  5. 前記接続プレートと前記パターンとの間に形成される複数の平行スロットを備えるスロット形成部を更に備える、請求項1に記載の装置。
  6. 前記ファインメタルマスクが複数のストリップを備える、請求項1に記載の装置。
  7. 前記接続プレートと前記パターンとの間に形成される複数の平行スロットを備えるスロット形成部を更に備える、請求項6に記載の装置。
  8. フレームの少なくとも1つの側面上に形成される複数のフレーム開口部を備えるフレーム、
    ファインメタルマスクであって、
    少なくとも1つのパターン、
    前記パターンの少なくとも1つの側面上に形成される接続プレート、及び
    前記接続プレートを通る1つ又は複数のマスク開口部を備えるファインメタルマスク、並びに
    複数のアクチュエータであって、
    前記フレーム、及び
    前記ファインメタルマスクに連結される複数のアクチュエータ
    を備えるマスキング装置。
  9. 前記マイクロアクチュエータが前記ファインメタルマスク及び前記フレームと同一平面上にある、請求項8に記載の装置。
  10. 複数の半島形状部が前記接続プレート内に形成される、請求項8に記載の装置。
  11. 各半島形状部が、その中に形成されるノッチを更に備える、請求項10に記載の装置。
  12. 前記ファインメタルマスクと前記フレームが、2つ以上のマイクロアクチュエータを使用して接続され、前記マイクロアクチュエータが、単一のマスク開口部で前記ファインメタルマスクと接続する、請求項8に記載の装置。
  13. 前記パターンと前記接続プレートとの間に形成されるスロット形成部を更に備える、請求項8に記載の装置。
  14. 前記フレーム内に形成され、且つ前記ファインメタルマスクに向かって延在するフレーム半島形状部を更に備える、請求項8に記載の装置。
  15. 前記接続プレートが、前記フレーム半島形状部を受け入れるように成形される、請求項14に記載の装置。
  16. 前記フレームが内角を更に備える、請求項8に記載の装置。
  17. 複数のアクチュエータのうちの少なくとも1つが、前記内角及び前記ファインメタルマスクの両方に連結される、請求項16に記載の装置。
  18. マスクを調整する方法であって、
    パターン及び1つ又は複数の位置合わせマークを備えるファインメタルマスクが中に配置される処理チャンバ内に基板を位置決めすること、
    1つ又は複数の位置合わせマークを使用して、前記基板に対して前記ファインメタルマスクの少なくとも一部の位置合わせを決定すること、及び
    前記決定に応答して、前記ファインメタルマスクの少なくとも一部の前記位置合わせを変更すること
    を含む方法。
  19. 前記ファインメタルマスクが、1つ又は複数のマイクロアクチュエータを更に備える、請求項18に記載の方法。
  20. 前記所望する位置合わせを変更することが、前記マイクロアクチュエータのうちの少なくとも1つを作動させることを含む、請求項19に記載の方法。
JP2016509146A 2013-04-22 2014-04-21 能動的に位置合わせされるファインメタルマスク Active JP6423862B2 (ja)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201361814764P 2013-04-22 2013-04-22
US61/814,764 2013-04-22
US201361872336P 2013-08-30 2013-08-30
US61/872,336 2013-08-30
PCT/US2014/034799 WO2014176163A1 (en) 2013-04-22 2014-04-21 Actively-aligned fine metal mask

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2016521316A true JP2016521316A (ja) 2016-07-21
JP6423862B2 JP6423862B2 (ja) 2018-11-14

Family

ID=51792317

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016509146A Active JP6423862B2 (ja) 2013-04-22 2014-04-21 能動的に位置合わせされるファインメタルマスク

Country Status (6)

Country Link
US (1) US20160043319A1 (ja)
JP (1) JP6423862B2 (ja)
KR (2) KR20190041043A (ja)
CN (1) CN105144421B (ja)
TW (1) TWI680345B (ja)
WO (1) WO2014176163A1 (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015036451A (ja) * 2013-08-14 2015-02-23 ソニー株式会社 蒸着用マスクおよび表示装置の製造方法
WO2018110253A1 (ja) * 2016-12-14 2018-06-21 大日本印刷株式会社 蒸着マスク装置及び蒸着マスク装置の製造方法
JP2018095958A (ja) * 2016-12-14 2018-06-21 大日本印刷株式会社 蒸着マスク装置及び蒸着マスク装置の製造方法
JP2019512041A (ja) * 2017-02-24 2019-05-09 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated 基板の真空処理のための装置、基板の真空処理のためのシステム、及び真空チャンバ内で基板キャリアとマスクキャリアを移送するための方法
JP2019533884A (ja) * 2016-11-15 2019-11-21 武漢華星光電技術有限公司Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co.,Ltd Oled基板及びその製造方法
JP2023026436A (ja) * 2018-09-21 2023-02-24 キヤノントッキ株式会社 吸着装置、マスクと基板との位置調整方法及び成膜方法

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103882375B (zh) * 2014-03-12 2016-03-09 京东方科技集团股份有限公司 一种掩膜板及其制作方法
KR102441557B1 (ko) * 2015-04-28 2022-09-08 삼성디스플레이 주식회사 마스크 프레임 조립체, 그 제조 방법 및 표시 장치의 제조 방법
KR102352280B1 (ko) * 2015-04-28 2022-01-18 삼성디스플레이 주식회사 마스크 프레임 조립체 제조 장치 및 이를 이용한 마스크 프레임 조립체 제조 방법
US10541387B2 (en) 2015-09-30 2020-01-21 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Deposition mask, method of manufacturing deposition mask and metal plate
WO2017057621A1 (ja) 2015-09-30 2017-04-06 大日本印刷株式会社 蒸着マスク、蒸着マスクの製造方法および金属板
US20190036026A1 (en) * 2016-02-03 2019-01-31 Applied Materials, Inc. A shadow mask with tapered openings formed by double electroforming using positive/negative photoresists
WO2017185350A1 (en) * 2016-04-29 2017-11-02 Applied Materials, Inc. Fine metal mask for producing organic light-emitting diodes
KR102618351B1 (ko) * 2016-07-19 2023-12-28 삼성디스플레이 주식회사 패턴위치조정기구가 구비된 마스크 프레임 조립체 및 그것을 이용한 패턴 위치 조정 방법
CN106148892B (zh) * 2016-07-25 2019-04-02 京东方科技集团股份有限公司 一种子掩膜版的张网方法及掩膜版、基板、显示装置
CN106591775B (zh) * 2016-12-26 2019-06-07 京东方科技集团股份有限公司 掩膜板本体、掩膜板及其制作方法
KR20180130989A (ko) * 2017-05-31 2018-12-10 주식회사 티지오테크 프레임 일체형 마스크
CN107354425B (zh) * 2017-06-15 2019-09-10 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 拼接式精细金属掩膜板及其制作方法
JP6998139B2 (ja) * 2017-06-28 2022-01-18 株式会社ジャパンディスプレイ 蒸着マスク
WO2019009050A1 (ja) * 2017-07-05 2019-01-10 大日本印刷株式会社 蒸着マスク、蒸着マスク装置、蒸着マスクの製造方法及び蒸着マスク装置の製造方法
CN111095591A (zh) * 2017-09-04 2020-05-01 应用材料公司 用于高res fmm的fmm工艺
CN109585695B (zh) * 2017-09-29 2020-01-24 昆山国显光电有限公司 蒸镀掩膜板、oled面板及系统及蒸镀监控方法
CN108203812B (zh) * 2018-01-25 2020-02-07 京东方科技集团股份有限公司 一种基板固定载具、蒸镀设备及蒸镀方法
CN111886356A (zh) * 2018-03-20 2020-11-03 夏普株式会社 成膜用掩模及使用该成膜用掩模的显示装置的制造方法
CN116024523A (zh) * 2018-03-30 2023-04-28 昆山国显光电有限公司 掩膜板及其制备方法
CN109750256B (zh) * 2019-03-25 2020-12-18 京东方科技集团股份有限公司 掩膜组件的制备方法、掩膜组件
CN109778116B (zh) * 2019-03-28 2021-03-02 京东方科技集团股份有限公司 一种掩膜版及其制作方法、掩膜版组件
KR20220006152A (ko) * 2020-07-07 2022-01-17 삼성디스플레이 주식회사 마스크 어셈블리, 이를 통해 제조되는 마스크, 및 표시 패널 제조 방법
US11715662B2 (en) * 2020-12-11 2023-08-01 Applied Materials, Inc. Actively clamped carrier assembly for processing tools
CN114185143B (zh) * 2021-11-26 2023-05-09 华中科技大学 一种金属栅网固定装置及固定方法

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000160323A (ja) * 1998-11-26 2000-06-13 Toyota Motor Corp 薄膜形成方法
US20010033996A1 (en) * 1998-10-19 2001-10-25 Vanguard International Semiconductor Corporation Electronically controlled universal phase-shifting mask for stepper exposure method and system
JP2006124761A (ja) * 2004-10-28 2006-05-18 Canon Inc 蒸着装置
JP2006331973A (ja) * 2005-05-30 2006-12-07 Toppan Printing Co Ltd 多面付けメタルマスクの製造方法
JP2007287943A (ja) * 2006-04-18 2007-11-01 Canon Inc 位置合わせ方法および装置
JP2007291417A (ja) * 2006-04-21 2007-11-08 Tokki Corp 薄膜形成方法
WO2011034011A1 (ja) * 2009-09-15 2011-03-24 シャープ株式会社 蒸着方法および蒸着装置
WO2012174550A2 (en) * 2011-06-17 2012-12-20 Applied Materials, Inc. Mask management system and method for oled encapsulation

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003156860A (ja) * 1993-06-02 2003-05-30 Sanee Giken Kk 露光における位置合わせ装置
JPH1115138A (ja) * 1997-06-19 1999-01-22 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> リソグラフィ用マスクおよびこれを用いたパタン形成方法
JP4006173B2 (ja) * 2000-08-25 2007-11-14 三星エスディアイ株式会社 メタルマスク構造体及びその製造方法
EP1202329A3 (en) * 2000-10-31 2006-04-12 The Boc Group, Inc. Mask Restraining method and apparatus
KR20030027167A (ko) * 2001-09-14 2003-04-07 엘지전자 주식회사 유기발광소자의 마스크
KR100692872B1 (ko) * 2004-02-04 2007-03-12 엘지전자 주식회사 마스크 및 그 제조방법과 그를 이용한 유기 전계 발광소자의 제조방법
JP4534011B2 (ja) * 2004-06-25 2010-09-01 京セラ株式会社 マスクアライメント法を用いたディスプレイの製造方法
KR100671674B1 (ko) * 2005-05-02 2007-01-19 삼성에스디아이 주식회사 정밀도 향상을 위한 마스크 시스템 및 이를 이용한증착방법
US8780875B2 (en) * 2008-06-05 2014-07-15 Qualcomm Incorporated Method and apparatus for controlling discontinuous transmissions
KR101117645B1 (ko) * 2009-02-05 2012-03-05 삼성모바일디스플레이주식회사 마스크 조립체 및 이를 이용한 평판표시장치용 증착 장치
JP2010196126A (ja) * 2009-02-26 2010-09-09 Canon Inc 真空蒸着装置の重石板およびそれを用いた真空蒸着装置
JP5623786B2 (ja) * 2009-05-22 2014-11-12 三星ディスプレイ株式會社Samsung Display Co.,Ltd. 薄膜蒸着装置
US20140262742A1 (en) * 2013-03-12 2014-09-18 Sunpower Technologies Llc Substrate for Increased Efficiency of Semiconductor Photocatalysts
US9507273B2 (en) * 2013-05-01 2016-11-29 Advantech Global, Ltd Method and apparatus for tensioning a shadow mask for thin film deposition

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20010033996A1 (en) * 1998-10-19 2001-10-25 Vanguard International Semiconductor Corporation Electronically controlled universal phase-shifting mask for stepper exposure method and system
JP2000160323A (ja) * 1998-11-26 2000-06-13 Toyota Motor Corp 薄膜形成方法
JP2006124761A (ja) * 2004-10-28 2006-05-18 Canon Inc 蒸着装置
JP2006331973A (ja) * 2005-05-30 2006-12-07 Toppan Printing Co Ltd 多面付けメタルマスクの製造方法
JP2007287943A (ja) * 2006-04-18 2007-11-01 Canon Inc 位置合わせ方法および装置
JP2007291417A (ja) * 2006-04-21 2007-11-08 Tokki Corp 薄膜形成方法
WO2011034011A1 (ja) * 2009-09-15 2011-03-24 シャープ株式会社 蒸着方法および蒸着装置
WO2012174550A2 (en) * 2011-06-17 2012-12-20 Applied Materials, Inc. Mask management system and method for oled encapsulation

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015036451A (ja) * 2013-08-14 2015-02-23 ソニー株式会社 蒸着用マスクおよび表示装置の製造方法
JP2019533884A (ja) * 2016-11-15 2019-11-21 武漢華星光電技術有限公司Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co.,Ltd Oled基板及びその製造方法
WO2018110253A1 (ja) * 2016-12-14 2018-06-21 大日本印刷株式会社 蒸着マスク装置及び蒸着マスク装置の製造方法
JP2018095958A (ja) * 2016-12-14 2018-06-21 大日本印刷株式会社 蒸着マスク装置及び蒸着マスク装置の製造方法
KR20190089074A (ko) * 2016-12-14 2019-07-29 다이니폰 인사츠 가부시키가이샤 증착 마스크 장치 및 증착 마스크 장치의 제조 방법
US11211558B2 (en) 2016-12-14 2021-12-28 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Deposition mask device and method of manufacturing deposition mask device
JP7121918B2 (ja) 2016-12-14 2022-08-19 大日本印刷株式会社 蒸着マスク装置及び蒸着マスク装置の製造方法
KR102471409B1 (ko) * 2016-12-14 2022-11-28 다이니폰 인사츠 가부시키가이샤 증착 마스크 장치 및 증착 마스크 장치의 제조 방법
JP2019512041A (ja) * 2017-02-24 2019-05-09 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated 基板の真空処理のための装置、基板の真空処理のためのシステム、及び真空チャンバ内で基板キャリアとマスクキャリアを移送するための方法
JP2023026436A (ja) * 2018-09-21 2023-02-24 キヤノントッキ株式会社 吸着装置、マスクと基板との位置調整方法及び成膜方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2014176163A1 (en) 2014-10-30
US20160043319A1 (en) 2016-02-11
CN105144421A (zh) 2015-12-09
TW201510637A (zh) 2015-03-16
CN105144421B (zh) 2018-10-26
JP6423862B2 (ja) 2018-11-14
KR20190041043A (ko) 2019-04-19
TWI680345B (zh) 2019-12-21
KR20160015214A (ko) 2016-02-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6423862B2 (ja) 能動的に位置合わせされるファインメタルマスク
JP4773834B2 (ja) マスク成膜方法およびマスク成膜装置
US20210388479A1 (en) Full-size mask assembly and manufacturing method thereof
CN107002219B (zh) 掩模布置、在基板上沉积层的设备和对准掩模布置的方法
JP7289421B2 (ja) 基板支持装置および成膜装置
JP3197439U (ja) 有機発光ダイオード(oled)製造用セラミックマスク
WO2014155939A1 (en) Mask frame unit, mask apparatus, and processing method
US8616930B1 (en) Depositing apparatus and method for manufacturing organic light emitting diode display using the same
WO2017205147A1 (en) High-precision shadow-mask-deposition system and method therefor
KR20140002019U (ko) Oled 프로세싱을 위한 cvd 마스크 정렬
KR20180114888A (ko) 기판 캐리어 및 마스크 캐리어를 위한 포지셔닝 어레인지먼트, 기판 캐리어 및 마스크 캐리어를 위한 이송 시스템, 및 이를 위한 방법들
US20220181595A1 (en) Hybrid stick mask and manufacturing method therefor, mask assembly including hybrid stick mask, and organic light emitting display device using same
JP7241048B2 (ja) 基板支持装置および成膜装置
KR20190026677A (ko) 섀도 마스크 증착 시스템 및 그 방법
JP2021178987A (ja) アライメント装置、成膜装置、アライメント方法、電子デバイスの製造方法、プログラム及び記憶媒体
US20240124966A1 (en) Mask and method for manufacturing the same, and mask assembly and method for manufacturing the same
KR101193191B1 (ko) 박막 증착 장치
KR20200008936A (ko) 고정밀 섀도 마스크 증착 시스템 및 그 방법
KR20190116969A (ko) 기판 또는 마스크를 지지하기 위한 캐리어
CN109844163A (zh) 用于使掩蔽装置非接触地悬浮的方法
WO2017185350A1 (en) Fine metal mask for producing organic light-emitting diodes
KR102000045B1 (ko) 마스크 프레임 조립체의 제조 방법
KR20220059199A (ko) Oled 제조용 마스크 및 oled 제조 방법
CN111010877A (zh) 具有掩模对准器的沉积设备、用于遮蔽基板的掩模布置和用于遮蔽基板的方法
TW201601191A (zh) 濺鍍材料於基板表面上之射頻濺鍍配置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170221

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20171116

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180109

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180405

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180925

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20181019

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6423862

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250