JP2007291417A - 薄膜形成方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】マスク10を貫通する位置決め穴12からの反射光に基づいてマスクを基板20に対し相対的に位置決めし、基板表面に所定パターンの薄膜を形成する薄膜形成方法であって、マスクはマスクホルダー30上に保持され、マスクホルダーには円錐状のマスクホルダー穴32が形成され、位置決め穴12の中心軸AX1はマスクホルダー穴32の中心軸AX2から偏倚している。
【選択図】図1
Description
通常、このようなマスクとしてメタルマスクが用いられる。この場合、マスクを基板と位置合わせした後、基板の反対面からマグネットを介してマスクと基板を密着させている(特許文献1参照)。また一般に、マスクの周縁はマスクホルダーに保持され、マスクホルダーが所定の駆動部に接続されて基板に対し相対移動し、位置決めを行うようになっている。
そして、マスクの上からマスク面に垂直な方向に照明(同軸落射照明)60を照射すると、光は位置決め穴12を通過してマスクホルダー穴42の円錐面42aで角度を持って反射する。この反射光Lは、マスクホルダー穴42の中心軸AX1に対称に反射する。一方、アライメントマークを画像として認識する際、CCDカメラ50の光軸とマスクの位置決め穴12の中心軸AX1とを一致させる。従って、この際、中心軸AX1からの反射光LがCCDカメラ50に受光されるが、円錐面42aが平面に対して角度を持っているため、マスク面に垂直な方向に戻る反射光は少なくなる。このため、アライメントマークを周囲より暗い画像として認識することができる。
まず、円錐面42aの角度や表面状態によっては、反射光Lの光量が多くなってアライメントマークを周囲より暗い画像として認識できない場合がある。例えば、マスクホルダー穴は通常、ドリルで切削されるが、ドリル切削時にマスクホルダー穴の円錐面に段差やバリが生じて粗度が大きくなると、光がこの部分で乱反射し、マスク面に垂直な方向に戻る反射光が多くなる。この場合、反射光はリング状になり、アライメントマークが白色になるため、アライメントマークを明瞭な黒い画像として認識できない場合がある。
又、マスクホルダー穴を切削するドリル先端が必ずしも鋭角でないため、マスクホルダー穴先端にマスク面に平行な領域が形成されることがある。この場合、マスクホルダー穴中心から中心軸AX1方向に強い反射光が戻り、アライメントマークが明るくなる。
このような構成とすると、以下の作用が生じる。つまり、アライメントマークを画像として認識する際、一般に画像確認用のカメラ(又は目視の場合は光学顕微鏡等)の光軸とマスクの位置決め穴の中心軸とを一致させる。この時、光源からの光は、マスクホルダー穴の中心軸に対称に反射するが、その中心軸がカメラの光軸から偏倚していると、カメラが受光する反射光の光量が減少するので、位置決め穴(アライメントマーク)がより暗くなり、黒い画像となる。
このようにすると、マスクホルダー穴先端(中心)はマスクに覆われているため、仮にこの部分がマスク面に平行であってもこの部分から光が反射されることはなく、アライメントマークが明るくなる不具合が解消される。
このようにすると、円錐面で光が乱反射してマスク面に垂直な方向に反射光が戻ることが防止される。
図1において、基板20の下方にマスク10が位置し、基板20とマスク10の相対位置を合わせた後、両者を密着させた状態で、基板20下方に所定パターンの薄膜を蒸着等によって形成する。
基板20は例えばガラス基板からなり、図示しない基板ホルダによって保持されている。又、基板20の周縁下面には十字形のアライメントマーク(位置決めマーク)22が形成されている。基板20の上方には光源60が配置され、基板20及びその下方のマスク10に光を照射可能になっている。又、基板20のアライメントマーク22近傍位置の上方には画像認識手段(CCDカメラ)50が配置され、マスク10による光源60の反射光を受光するようになっている。
マスクホルダー穴32を所定の寸法に開けることができれば、その加工方法はドリルやレーザーなど何でもよいが、入射光を乱反射しないように円錐面32aを平滑とするのが好ましい。平滑処理としては、ヤスリ等によって円錐面32aの段差やバリを除去する方法が挙げられる。ドリル切削時に円錐面32aに段差やバリが生じて粗度が大きくなると、光がこの部分で乱反射し、マスク面に垂直な方向に反射光が戻ることがあるからである。この場合、反射光はリング状になり、アライメントマークが白色になるため、アライメントマークを明瞭な黒い画像として認識できない場合がある。
なお、通常、マスクホルダー穴32は、直径数mm程度のドリルによって切削して形成される。一方、基板のアライメントマーク22や位置決め穴12の直径は通常、500μm程度である。
CCDカメラ50によって、基板の十字形アライメントマーク22及びマスクのアライメントマーク(位置決め穴)12の画像情報を取得すると、これらのマークの位置をコンピュータによって計算し、基板とマスクのアライメントマークが一致するよう、基板に対するマスクの移動量をコンピュータで計算し、図示しないアクチュエータの変位量として出力する。アクチュエータが変位すると、アクチュエータに接続されたマスクホルダーが移動し、基板に対するマスクの位置決めを行うことができる。
上記した位置決め時にアライメントマークを画像として認識する際、一般に画像確認用のCCDカメラ(又は目視の場合は光学顕微鏡等)50の光軸とマスクの位置決め穴12の中心軸AX1とを一致させ、画像を取得する。この時、光源からの光は、マスクホルダー穴32の中心軸AX2に対称に反射するが、その中心軸AX2がカメラ50の光軸(=AX1)から偏倚しているので、カメラ50へ入る反射光の光量が減少する。その結果、位置決め穴(アライメントマーク)12がより暗くなり、黒い画像として認識することができる。
このようにすると、マスクホルダー穴32の中心(先端)34はマスク10に覆われ、位置決め穴12aの下側領域dにはマスクホルダー穴の円錐面32aのみが位置し、位置決め穴12aから円錐面32aのみが表出する。そのため、マスクホルダー穴先端(中心)がマスク面に平行であってもこの部分から光が反射されることはなく、アライメントマークが明るくなる不具合が解消される。
又、本発明は、有機ELディスプレイに用いる基板の薄膜形成に限定されることはなく、マスクを用いて基板に薄膜形成するものであれば特に制限なく本発明を適用することが可能である。
12 位置決め穴
20 基板
30 マスクホルダー
32 マスクホルダー穴
34 マスクホルダー穴の中心
36 マスクホルダー穴の周縁
AX1 位置決め穴の中心軸
AX2 マスクホルダー穴の中心軸
Claims (3)
- マスクを貫通する位置決め穴からの反射光に基づいて該マスクを基板に対して相対的に位置決めし、前記基板表面に所定パターンの薄膜を形成する薄膜形成方法であって、
前記マスクはマスクホルダー上に保持され、該マスクホルダーには円錐状のマスクホルダー穴が形成され、前記位置決め穴の中心軸は前記マスクホルダー穴の中心軸から偏倚していることを特徴とする薄膜形成方法。 - 前記位置決め穴の径は前記マスクホルダー穴の径の1/2未満であり、かつ前記位置決め穴の中心軸に沿う方向から見たとき、前記位置決め穴は前記マスクホルダー穴の中心と周縁の間に位置することを特徴とする請求項1に記載の薄膜形成方法。
- 前記マスクホルダー穴の円錐面が平滑処理されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の薄膜形成方法。
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