JP2016189421A - 放熱板付パワーモジュール用基板 - Google Patents

放熱板付パワーモジュール用基板 Download PDF

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Abstract

【課題】放熱板に生じる反りを抑制することができ、良好な放熱性能を維持することができる。【解決手段】パワーモジュール用基板100Aは、セラミックス基板11の一方の面に回路層12が接合されるとともに、セラミックス基板11の他方の面に金属層13を介して放熱板50Aが接合され、放熱板50Aが、低線膨張率材料及び銅を含む銅系低線膨張材層51Aと、前記銅系低線膨張材層51Aの両面を被覆するアルミニウム又はアルミニウム合金からなるアルミニウム層52とにより形成されている。【選択図】 図1

Description

本発明は、大電流、高電圧を制御する半導体装置に用いられる放熱板付パワーモジュール用基板に関する。
パワーモジュールには、窒化アルミニウムを始めとするセラミックス基板の一方の面に、回路層を形成する金属板が接合されるとともに、他方の面に放熱板が接合された放熱板付パワーモジュール用基板が用いられる。そして、この放熱板付パワーモジュール用基板の回路層の上にはんだ材を介してパワー素子等の半導体素子が搭載される。
このような放熱板付パワーモジュールにおいては、高い放熱性能が要求されることから、放熱板に熱伝導性の高い銅(Cu)が使用されることがある。ところが、純銅は線膨張率が大きいことから、放熱板とセラミックス基板との線膨張率差に起因する反り等の変形が生じ、実装性や耐久信頼性に影響することが問題となっている。
そこで、特許文献1から3に開示されているように、熱伝導性の高い銅(Cu)に、低線膨張率のタングステン(W)やモリブデン(Mo)、クロム(Cr)等の低線膨張率材料を組み合わせた銅系材料を用いることにより、高い熱伝導性と低い線膨張率とを兼ね備えた放熱板の開発が盛んに行われるようになっている。
例えば特許文献1には、Cu/Cu‐Mo/Cuの積層構造とした放熱板、すなわちCu‐Mo層の両面にCu層を接合した放熱板(ヒートシンク)が開示されている。また、特許文献2には、Cr‐Cu合金板の両面にCu板を接合した後に圧延を施して、Cr‐Cu合金層とCu層との積層体を形成した放熱板が開示されている。さらに、特許文献3には、Mo層の両面にCu層を有する放熱板が開示されている。
特開2013‐225556号公報 特開2011‐129880号公報 特開2009‐129983号公報
ところが、このような銅系材料からなる放熱板は、長期間、高温・高湿度環境で使用された場合に、腐食が進むことにより、放熱性能が悪化することが課題となっている。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、放熱板に生じる反りを抑制することができ、良好な放熱性能を維持することができる放熱板付パワーモジュール用基板を提供することを目的とする。
本発明は、セラミックス基板の一方の面に回路層が接合されるとともに、前記セラミックス基板の他方の面に金属層を介して放熱板が接合された放熱板付パワーモジュール用基板であって、前記放熱板が、低線膨張率材料及び銅を含む銅系低線膨張材層と、前記銅系低線膨張材層の両面を被覆するアルミニウム又はアルミニウム合金からなるアルミニウム層とにより形成されている。
熱伝導性の高い銅と、タングステンやモリブデン、クロム等の低線膨張率材料とを組み合わせた銅系低線膨張材層を用いて放熱板を構成することにより、高い熱伝導性と低い線膨張率とを兼ね備えた放熱板とすることができる。また、放熱板の両面をアルミニウム層により被覆し、銅系低線膨張材層の露出を抑制した構成とされているので、耐腐食性を高めることができ、長期間の高温・高湿度環境下においても良好な放熱性能を維持することができる。
さらに、放熱板の線膨張率が低くなることによって、放熱板に生じる反りを抑制することができ、良好な放熱性能を維持することができる。
なお、銅系低線膨張材層としては、銅‐モリブデンのコンポジット材を好適に用いることができる。この場合、モリブデンは、55wt%〜75wt%の範囲内で含有されていると良い。
本発明の放熱板付パワーモジュール用基板において、前記金属層側に配設される上側アルミニウム層の厚みをt1とし、前記金属層とは反対側に配設される下側アルミニウム層の厚みをt2とした場合に、厚みt1が厚みt2よりも大きく設けられているとよい。
銅系低線膨張材層の両面に積層されるアルミニウム層のうち、金属層側に配設される上側アルミニウム層をその反対側に配設される下側アルミニウム層よりも厚く設けることで、これらの積層方向における熱膨張差による応力のバランスを調整することができ、温度変化により生じる放熱板付パワーモジュール用基板の反り等の変形を小さくすることができる。
本発明の放熱板付パワーモジュール用基板において、前記銅系低線膨張材層が、前記金属層と前記放熱板との接合面を投影した接合投影領域に設けられているとよい。
少なくとも金属層と放熱板との接合面を投影した接合投影領域において銅系低線膨張材層が配設された構成とすることにより、長期間の高温・高湿度環境下においても良好な放熱性能を維持することができる。そして、放熱板の両面(上下面)だけでなく、側面においても銅系低線膨張材層を露出させることなくアルミニウム層で形成した場合には、さらに耐腐食性を高めることが可能となる。
本発明によれば、放熱板に生じる反りを抑制することができ、良好な放熱性能を維持することができる。
本発明の第1実施形態の放熱板付パワーモジュール用基板を示す断面図である。 本発明の第1実施形態の放熱板付パワーモジュール用基板の製造工程を示す断面図である。 本発明の第2実施形態の放熱板付パワーモジュール用基板の製造工程を示す断面図である。 本発明の第4実施形態の放熱板付パワーモジュール用基板の製造工程を示す断面図である。
以下、本発明の実施形態を、図面を参照して説明する。
図1に示す第1実施形態の放熱板付パワーモジュール用基板100Aは、セラミックス基板11の一方の面に回路層12が接合されるとともに、そのセラミックス基板11の他方の面に金属層13が接合されたパワーモジュール用基板10と、放熱板50Aとが接合されたものである。また、本実施形態の放熱板付パワーモジュール用基板100Aを構成するパワーモジュール用基板10には、セラミックス基板11上に複数の回路層12が間隔をあけて接合されている。そして、このパワーモジュール用基板10の回路層12の表面に半導体素子60が搭載され、パワーモジュール110が構成される。
パワーモジュール用基板10を構成するセラミックス基板11は、例えばAlN(窒化アルミニウム)、Si(窒化珪素)等の窒化物系セラミックス、もしくはAl(アルミナ)等の酸化物系セラミックスを用いることができる。また、セラミックス基板11の厚さは0.2〜1.5mmの範囲内に設定することができる。なお、本実施形態の一例として、セラミックス基板11には、平面サイズが80mm×90mmとされ、厚さが1.0mmとされるものを用いることができる。
また、回路層12は、純アルミニウム又はアルミニウム合金の金属板をセラミックス基板11に接合することにより形成される。本実施形態においては、例えば、純度99.99質量%以上のアルミニウム(いわゆる4Nアルミニウム)からなる厚さが0.25mm〜2.5mmの範囲内に設定された金属板が用いられ、この金属板をセラミックス基板11にろう付けすることにより形成されている。なお、本実施形態の一例として、回路層12には、平面サイズが37mm×86mmとされ、厚さが0.4mmとされるものを用いることができる。そして、この回路層12がセラミックス基板11上に2mmの間隔をあけて2個配設されることにより、回路パターンが形成される。
放熱層13は、純アルミニウム又はアルミニウム合金の金属板をセラミックス基板11に接合することにより形成される。本実施形態においては、例えば、純度99.99質量%以上のアルミニウム(4Nアルミニウム)からなる厚さが0.25mm〜2.5mmの範囲内に設定された金属板が用いられ、この金属板をセラミックス基板11にろう付けすることにより形成されている。なお、本実施形態の一例として、金属層13には、平面サイズが76mm×86mmとされ、厚さが0.4mmとされるものを用いることができる。
また、パワーモジュール用基板10に接合される放熱板50Aは、図1及び図2に示すように、低線膨張率材料及び銅を含む銅系低線膨張材層51Aと、、この銅系低線膨張材層51Aの両面を被覆するアルミニウム又はアルミニウム合金からなるアルミニウム層52とを積層することにより形成されている。本実施形態の一例として、放熱板50Aは、同一の平面サイズ(100mm×100mm)の銅板(銅系低線膨張材層51A)とアルミニウム板(アルミニウム層52)とを積層することにより、すなわち銅系低線膨張材層51Aの両面にアルミニウム層52を接合することにより三層構造の平板形状に形成されている。そして、銅回路層51Aの両面に積層されるアルミニウム層52のうち、パワーモジュール用基板10の金属層13側に配設される上側の上側アルミニウム層52aの厚みをt1とし、金属層13とは反対側に配設される下側の下側アルミニウム層52bの厚みをt2とした場合に、厚みt1が厚みt2よりも大きく設けられている。
放熱板50Aを構成する銅系低線膨張材層51Aは、熱伝導性の高い銅(Cu)と、タングステン(W)やモリブデン(Mo)、クロム(Cr)等の低線膨張率材料とを組み合わせた、Cu‐W、Cu‐Mo又はCu‐Cr等の銅系低線膨張材からなる。好適に用いられるのは、Cu‐Moのコンポジット材であり、この場合、Moは55wt%〜75wt%の範囲内で含有されていると良い。
本実施形態の一例としては、銅系低線膨張材層51AがMo60wt%‐Cu40wt%のコンポジット材により形成され、アルミニウム層52がA3003アルミニウム合金により形成される。また、各層の厚みは、銅系低線膨張材層51Aの厚みが0.5mm、上側アルミニウム層52aの厚みt1が4.0mm、下側アルミニウム層52bの厚みt2が0.5mmとされる。
そして、この放熱板付パワーモジュール用基板100Aを構成するパワーモジュール用基板10の回路層12の表面に、半導体素子60がはんだ付けされて、パワーモジュール110が製造される。なお、半導体素子60を接合するはんだ材は、例えばSn‐Sb系、Sn‐Ag系、Sn‐Cu系、Sn‐In系、もしくはSn‐Ag‐Cu系のはんだ材(いわゆる鉛フリーはんだ材)とされる。
また、このように構成される放熱板付パワーモジュール用基板100Aは、図1に示すように、ヒートシンク80に固定された状態で使用される。本実施形態では、ヒートシンク80は、パワーモジュール110の放熱板50Aが固定される天板部81と、冷却媒体(例えば、冷却水)を流通するための流路83が設けられた冷却部82とからなる。そして、パワーモジュール110の放熱板50Aとヒートシンク80の天板部81との間に、例えばグリース(図示略)を介在させ、これらパワーモジュール110とヒートシンク80とをバネ等により押し付けて固定する。
なお、ヒートシンク80は、熱伝導性が良好な材料で構成されることが望ましく、本実施形態においては、アルミニウム合金(A6063合金)により形成されている。また、パワーモジュール110が固定されるヒートシンク80としては、平板状のもの、熱間鍛造等によって多数のピン状フィンを一体に形成したもの、押出成形によって相互に平行な帯状フィンを一体に形成したもの等、適宜の形状のものを採用することができる。なお、アルミニウム又は銅で形成されたヒートシンクについては、パワーモジュールをはんだ付けして固定することも可能である。
次に、本実施形態の放熱板付パワーモジュール用基板100Aを製造する方法について一例を説明する。
放熱板付パワーモジュール用基板100Aは、図2(c)に示すように、パワーモジュール用基板10と、放熱板50Aとを接合することにより製造される。
パワーモジュール用基板10は、図2(a)に示すように、セラミックス基板11の一方の面にろう材41を介して回路層12となる回路側アルミニウム板12aを積層し、このセラミックス基板11の他方の面にろう材41を介して金属層13となる放熱側アルミニウム板13aを積層して、これらを積層方向に加圧した状態で、真空雰囲気下で接合温度に加熱することにより、各層がろう付け接合され一体に形成される。
具体的には、図示を省略するが、パワーモジュール用基板10を構成する回路層12、セラミックス基板11及び金属層13のこれらの各層をろう材41を介して積層した積層体を形成しておき、これらを積層方向に加圧した状態で加熱することにより、パワーモジュール用基板10を製造する。
なお、各層を接合するろう材41は、Al‐Si系等の合金の箔の形態で用いるとよい。また、ろう付け接合時の加圧力としては、例えば0.1MPa以上4.3MPa以下、接合温度としては610℃以上650℃以下、加熱時間としては1分以上60分以下とされる。
また、放熱板50Aは、図2(b)に示すように、例えば、銅系低線膨張材層51Aとなる銅板51aの両面(上下面)に、それぞれ上側アルミニウム層52aとなるアルミニウム板53aと、下側アルミニウム層52bとなるアルミニウム板53bとを積層し、これらの積層体をその積層方向に加圧した状態で、真空雰囲気下で加熱して、銅系低線膨張材層51Aの上面と上側アルミニウム層52a、銅系低線膨張材層51Aの下面と下側アルミニウム層52bを固相拡散接合する。この接合の際の加圧力は1〜5MPa、加熱温度は520℃とされ、この加圧及び加熱状態を60〜120分間保持することにより、図2(c)に示すように、銅系低線膨張材層51Aと上側アルミニウム層52a、銅系低線膨張材層51Aと下側アルミニウム層52bとが、同時に固相拡散接合され、放熱板50Aが得られる。
そして、パワーモジュール用基板10と放熱板50Aとを接合し、図1に示す放熱板付パワーモジュール用基板100Aを製造する。
具体的には、パワージュール用基板10の金属層13と放熱板50Aの上側アルミニウム層52aとを重ねて積層し、これらの積層方向に加圧した状態で、真空雰囲気下で加熱することにより、金属層13と上側アルミニウム層52aとを固相拡散接合する。この接合の際の加圧力は2MPa、接合温度は520℃とされ、この加圧及び加熱状態を60分間保持することにより、金属層13と上側アルミニウム層52aとを固相拡散接合する。
このようにして製造された放熱板付パワーモジュール用基板100Aには、図1に示すように、回路層12の上面に半導体素子60が搭載され、パワーモジュール110が製造される。
上記のようにして製造される放熱板付パワーモジュール用基板100Aにおいては、熱伝導性の高い銅と、タングステンやモリブデン、クロム等の低線膨張率材料とを組み合わせた銅系低線膨張材層51Aを用いて放熱板を構成することにより、高い熱伝導性と低い線膨張率とを兼ね備えた放熱板50Aとすることができる。また、放熱板50Aの両面をアルミニウム層52により被覆し、銅系低線膨張材層51Aの露出を抑制した構成とされているので、耐腐食性を高めることができ、長期間の高温・高湿度環境下においても良好な放熱性能を維持することができる。さらに、放熱板50Aの線膨張率が低くなることによって、放熱板50Aに生じる反りを抑制することができ、良好な放熱性能を維持することができる。
なお、銅系線膨張率材料は比較的高価とされるが、本実施形態のように、銅系低線膨張材層51Aとアルミニウム層52とを接合した放熱板50Aを構成した場合にあっては、放熱板50Aに生じる反りを抑制する効果を得ながらも銅系低線膨張材の使用量を減らすことができるので、コスト面でも有利である。
また、第1実施形態の放熱板付パワーモジュール用基板100Aにおいては、銅系低線膨張材層51Aの両面に積層されるアルミニウム層52のうち、金属層13側に配設される上側アルミニウム層52aをその反対側に配設される下側アルミニウム層52bよりも厚く設けているので、これらの積層方向における熱膨張差による応力のバランスを調整することができる。したがって、温度変化により生じる放熱板付パワーモジュール用基板50Aの反り等の変形をより確実に小さくすることができる。
図3及び図4は、本発明の第2実施形態及び第3実施形態を示している。これらの実施形態において、図1の第1実施形態と共通要素には、同一符号を付して説明を省略する。
図3に示す第2実施形態の放熱板付パワーモジュール用基板100Bにおいては、放熱板50Bを構成する銅系低線膨張材層51Bが、Mo70wt%‐Cu30wt%のコンポジット材の両面に純銅板を接合した銅クラッド板51bにより形成され、アルミニウム層52がA3003アルミニウム合金により形成される。そして、放熱板50Bは、図3(a)に示すように、これら銅系低線膨張材層51Bとなる銅クラッド材51bの両面に、それぞれチタン(Ti)のインサート箔55を介して、アルミニウム層52となるアルミニウム板53a,53bを積層し、これらを積層方向に加圧した状態で真空雰囲気下で加熱することにより、固相拡散接合して形成される。この接合の際の加圧力は1〜5MPa、加熱温度は620〜640℃とされ、この加圧及び加熱状態を60〜120分間保持することにより、銅系低線膨張材層51Bと上側アルミニウム層52a、銅系低線膨張材層51Bと下側アルミニウム層52bとが、チタン層を介して同時に固相拡散接合され、放熱板50Bが得られる。
なお、各層の平面サイズは、銅系低線膨張材層51Bとなる銅クラッド板51bとアルミニウム層52となるアルミニウム板53a,53bは、同一の平面サイズ(100mm×100mm)に形成され、チタンのインサート箔55は、平面サイズ(105mm×105mm)に形成される。また、各層の厚みは、銅クラッド板51bの厚みが1.0mm、上側アルミニウム層52aとなるアルミニウム板53aの厚みt1が3.0mm、下側アルミニウム層52bとなるアルミニウム板53bの厚みt2が1.0mmとされ、チタンのインサート箔55の厚みは20μmとされる。
次に、パワーモジュール用基板10と放熱板50Bとの接合は、図3(b)に示すように、Al‐Si‐Mg箔、Al‐Cu‐Mg箔やAl‐Ge‐Cu‐Si‐Mg箔等のMg含有Al系ろう材箔、又は、アルミニウム合金(例えばA3003合金)の芯材の両面にMg含有ろう材が設けられた両面クラッド材を用いたろう接合により行われる。このようなろう材42を、パワージュール用基板10の金属層13と放熱板50Bの上側アルミニウム層52aとの間に挟んで積層し、積層方向に加圧した状態で、低酸素濃度窒素雰囲気下で加熱することにより、金属層13と上側アルミニウム層52aとをろう付け接合する。このろう付け接合時の加圧力は0.05〜3MPa、加熱温度は610〜620℃とされ、この加圧及び加熱状態を5〜20分間保持することにより、パワーモジュール用基板10の金属層13と、放熱板50Bの上側アルミニウム層52aとが接合され、図3(c)に示すように、放熱板付パワーモジュール用基板100Bが製造される。
図4は、本発明の第3実施形態の放熱板付パワーモジュール用基板100Cを示している。上記の第1実施形態及び第2実施形態では、各放熱板50A,50Bが、銅系低線膨張材層とアルミニウム層とが同一の平面サイズで形成された構成とされていたが、第3実施形態の放熱板付パワーモジュール用基板100Cにおいては、図4(c)に示すように、放熱板50Cを構成する銅系低線膨張材層51Cが、パワーモジュール用基板10の金属層13と放熱板50Cとの接合面を投影した接合投影領域のみに設けられた構成とされる。すなわち、銅系低線膨張材層51Cがアルミニウム層52c,52dで囲まれた構成とされ、銅系低線膨張材層51Cが、放熱板50Cの両面(上下面)だけでなく、側面においても外部に露出されることなく、アルミニウム層52c,52dで被覆された状態とされる。
本実施形態では、この放熱板50Cを構成する銅系低線膨張材層51Cは、Mo70wt%‐Cu30wt%のコンポジット材(以下、Cu‐Moコンポジット材と記す。)51cにより形成され、アルミニウム層52c,52dがA3003アルミニウム合金により形成される。そして、下側アルミニウム層52dには、図4(a)に示すように、銅系低線膨張材層51Cが収容される凹部56が形成され、その凹部56の外周側に厚肉部分が残されることにより側壁部57が形成されている。また、その側壁部57には凹部56の周縁部に沿って段差部58が設けられており、この段差部58に上側アルミニウム層52cとなるアルミニウム板53cが載置されるようになっている。
具体的には、各層の平面サイズは、銅系低線膨張材層51CとなるCu‐Moコンポジット材51cが78mm×88mm、上側アルミニウム層52cとなるアルミニウム板53cが80mm×90mm、下側アルミニウム層52dとなるアルミニウム板53dが100mm×100mmに形成される。また、各層の厚みは、Cu‐Moコンポジット材51cが0.5mm、上側アルミニウム層52cとなるアルミニウム板53cが4.0mm、下側アルミニウム層52dとなるアルミニウム板53dが5.0mmとされる。そして、下側アルミニウム層52dとなるアルミニウム板53dには、底部の厚みを0.5mm残して、深さ4.5mmで79mm×89mmの凹部56が形成されるとともに、側壁部57の内側に深さ4.0mmで80mm×90mmの段差部58が形成される。
そして、下側アルミニウム層52dとなるアルミニウム板53dに形成された凹部56の底面に、銅系低線膨張材層51CとなるCu‐Moコンポジット材51cを積層し、さらにこのCu‐Moコンポジット材51c上に上側アルミニウム層52cとなるアルミニウム板53cを積層し、これらを積層方向に加圧した状態で真空雰囲気下で加熱することにより、各層を接合する。この接合の際の加圧力は1〜5MPa、加熱温度は560〜630℃とされ、この加圧及び加熱状態を10〜120分間保持することにより、銅系低線膨張材層51Cと上側アルミニウム層52c、銅系低線膨張材層51Cと下側アルミニウム層52dとが、同時に過渡液相接合法(TLP)によって接合される。
この際、加熱により、上側アルミニウム層52c及び下側アルミニウム層52dのAl中に、Cu‐Moコンポジット材51cに含まれるCuが拡散し、接合面近傍のCu濃度が上昇して融点が低下し、AlとCuとの共晶域において接合界面に金属液相が形成される。そして、この金属液相が形成された状態で温度を一定に保持しておくと、金属液相が上側アルミニウム層52c及び下側アルミニウム層52dと反応するとともに、CuがさらにAl中に拡散することに伴い、金属液相中のCu濃度が徐々に低下して融点が上昇し、温度を一定に保持した状態で凝固が進行する。これにより、銅系低線膨張材層51Cと上側アルミニウム層52c、銅系低線膨張材層51Cと下側アルミニウム層52dとが強固に接合される。
また、接合時に発生する余剰の金属液相が、毛細管現象によって上側アルミニウム層52cの周縁部と下側アルミニウム層52dの周縁部との間に入り込むことによって、これらの周縁部で接合することも可能であり、この場合、図4(b)に示すように、アルミニウム層52c,52dの内部に銅系低線膨張材層51Cが収容された構造の放熱板50Cが得られる。
さらに、銅系低線膨張材層51Cとその銅系低線膨張材層51Cが収容される凹部56との間には、隙間gが設けられ、使用時におけるアルミニウム層52と銅系低線膨張材層51Cとの線膨張率差により生じる放熱板51Cの変形を吸収できるようになっている。なお、銅系低線膨張材層51Cと上側アルミニウム層52c、銅系低線膨張材層51Cと下側アルミニウム層52dの接合時に発生する金属液相は、隙間gを埋めるほどの量が発生しないため、接合後に隙間gを設けることが可能である。
次に、パワーモジュール用基板10と放熱板50Cとの接合は、図4(b)に示すように、Al‐Si‐Mg系ろう材42を、パワージュール用基板10の金属層13と放熱板50Cの上側アルミニウム層52cとの間に挟んで積層し、積層方向に加圧した状態で、低酸素濃度窒素雰囲気下で加熱することにより、金属層13と上側アルミニウム層52cとをろう付け接合する。この際のろう付け接合時の加圧力は0.05〜3MPa、加熱温度は610〜620℃とされ、この加圧及び加熱状態を5〜20分間保持することにより、パワーモジュール用基板10の金属層13と、放熱板50Bの上側アルミニウム層52cとがろう付け接合され、図4(c)に示すように、放熱板付パワーモジュール用基板100Cが製造される。
このように、放熱板50Cの両面(上下面)だけなく、側面においても銅系低線膨張材層51Cを露出させることなくアルミニウム層52で被覆して形成することにより、より耐腐食性を高めることが可能となる。また、放熱板50Cを構成する銅系低線膨張材層51Cは、少なくとも金属層13と放熱板50Cとの接合面を投影した接合投影領域において配設された構成とすればよく、この場合においても、長期間の高温・高湿度環境下においても良好な放熱性能を維持することができる。
また、上述した第3実施形態では、まず銅系低線膨張材層51Cと上側アルミニウム層52c、銅系低線膨張材層51Cと下側アルミニウム層52dを接合して放熱板50Cを得たのちに、パワーモジュール用基板10を接合し、2回の接合で放熱板付パワーモジュール用基板100Cを製造したが、1回の接合で放熱板付パワーモジュール用基板100Cを製造することも可能である。
この場合、下側アルミニウム層52dとなるアルミニウム板53dに形成された凹部56の底面に、銅系低線膨張材層51CとなるCu‐Moコンポジット51cを積層し、さらにこのCu‐Moコンポジット51c上に上側アルミニウム層52cとなるアルミニウム板53cを積層するとともに、Al‐Si‐Mg系ろう材42を、パワーモジュール用基板10の金属層13と上側アルミニウム層52cとなるアルミニウム板53cとの間に挟んで積層し、これらの積層方向に加圧した状態で、低酸素濃度窒素雰囲気下で加熱することにより、放熱板付パワーモジュール用基板100Cを製造することが可能である。この場合における接合温度は例えば610〜620℃、加圧力は例えば0.05〜2MPa、望ましくは0.5〜1.5MPaで接合することにより、一度の接合で放熱板付パワーモジュール用基板100Cを製造することが可能となる。
なお、一度の接合で放熱板付パワーモジュール用基板100Cを製造することにより、上側アルミニウム層52cの厚みt1が下側アルミニウム層52dの厚みt2よりも大きく設けられている場合に発生する放熱板50Cの反りを、加圧力で抑え込む必要がなくなり、接合荷重を低減することが可能となる。
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
10 パワーモジュール用基板
11 セラミックス基板
12 回路層
13 金属層
41,42 ろう材
50A〜50C 放熱板
51A〜50C 銅系低線膨張材層
52 アルミニウム層
52a,52c 上側アルミニウム層
52b,52d 下側アルミニウム層
55 インサート箔
56 凹部
57 側壁部
58 段差部
60 半導体素子
80 ヒートシンク
100A〜100C 放熱板付パワーモジュール用基板

Claims (3)

  1. セラミックス基板の一方の面に回路層が接合されるとともに、前記セラミックス基板の他方の面に金属層を介して放熱板が接合された放熱板付パワーモジュール用基板であって、
    前記放熱板が、低線膨張率材料及び銅を含む銅系低線膨張材層と、前記銅系低線膨張材層の両面を被覆するアルミニウム又はアルミニウム合金からなるアルミニウム層とにより形成されている放熱板付パワーモジュール用基板。
  2. 前記金属層側に配設される上側アルミニウム層の厚みをt1とし、前記金属層とは反対側に配設される下側アルミニウム層の厚みをt2とした場合に、厚みt1が厚みt2よりも大きく設けられている請求項1に記載の放熱板付パワーモジュール用基板。
  3. 前記銅系低線膨張材層が、前記金属層と前記放熱板との接合面を投影した接合投影領域に設けられている請求項1又は2に記載の放熱板付パワーモジュール用基板。
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