JP2016130713A - 分類装置及び分類方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】分類装置は、複数の素子を測定し、測定結果に基づいて素子を複数の収容体の内の1つに配置する。また、測定結果は、素子が配置された収容体を示す情報、及び、素子が配置された位置を示す情報に対応付けて記憶部に記憶される。そして、収容体に配置された素子は、記憶部に記憶された測定結果に基づいてさらに分類されて、他の収容体に配置される。最初の分類の際に素子が測定されてその測定結果が記憶されるので、その後の分類の際には記憶部に記憶されている測定結果を参照すればよく、再び測定を行う必要がない。
【選択図】図3
Description
(外観構成)
図1は、本発明の実施例に係る分類装置の外観構成を示す。分類装置10は、製造された複数の素子の特性を測定し、その特性に応じて素子を複数のグループに分類するものである。なお、本実施例では、分類の対象となる素子はLEDであるものとする。
図2は、分類装置10の機能構成を示す。分類装置10は、ピックアップ部11、測定部12、配置部13に加えて、制御部15及びデータベース(以下、「DB」と記す。)16を備える。
次に、本実施例による素子21の分類方法について説明する。図3は、分類方法を概念的に説明する図である。
次に、DB16に記憶されるデータについて説明する。図4は、DB16に記憶される記憶データの一例を示す。記憶データは、「位置情報」と、「測定結果」とを含む。ここで、位置情報は、素子12が配置される分類シート30を特定する「シートID」と、その分類シート30上における素子21の「位置座標(X,Y座標)」とを含む。シートIDは、分類シート30を示すIDであり、1次分類においては「A1」〜「A8」となり、2次分類においては「A1−B1」〜「A8−B8」となり、3次分類においては「A1−B1−C1」〜「A8−B8−C8」となる。
図6は、本実施例の分類装置による分類処理のフローチャートである。この処理は、制御部15がピックアップ部11、測定部12、配置部13を制御することにより実現される。
上記の実施例において、分類装置10は1次分類においては測定部12を動作させ、2次分類以降においては測定部12を動作させない。この切替は作業者の手動で行ってもよいが、シートにマークやIDを付すことにより制御部15による自動切替も可能である。例えば、未分類シート20と分類シート30に異なるマークやIDなどを付しておき、分類装置10に設けたカメラや光学的リーダなどによりこれを読み取る。制御部15は、未分類シート20が投入された場合は測定部12を動作させ、分類シートが投入された場合は測定部12を停止させればよい。
11 ピックアップ部
12 測定部
13 配置部
15 制御部
16 データベース
20 未分類シート
21 素子
30 分類シート
Claims (6)
- 複数の素子が配置された収容体から1つの素子を測定ステージに供給する供給手段と、
前記測定ステージに供給された素子の各々を測定する測定手段と、
前記測定手段による測定結果に基づいて前記素子を分類し、複数の収容体のうちの1つの収容体に配置する分類手段と、
前記複数の素子の各々について、前記素子が配置された収容体を示す情報と、当該収容体内において前記素子が配置された位置を示す情報と、前記測定結果とを対応付けて記憶する記憶部と、
前記収容体に配置された前記素子を前記記憶部に記憶された情報に基づいて分類し、前記複数の収容体とは別の収容体に配置する再分類手段と、
を有することを特徴とする分類装置。 - 前記複数の素子の各々について、前記測定手段による測定と前記分類手段による配置は同時に行われることを特徴とする請求項1に記載の分類装置。
- 前記分類手段による配置と前記再分類手段による配置は、同一の配置機構により行われることを特徴とする請求項1又は2に記載の分類装置。
- 前記再分類手段は、前記素子を、前記複数の収容体とは別の複数の収容体のうちの1つに配置することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の分類装置。
- 前記測定手段は、前記複数の素子の各々について複数の項目を測定し、
前記分類手段は、前記複数の項目のうちの1つの項目に基づいて前記素子を分類し、
前記再分類手段は、前記複数の項目のうち他の1つの項目に基づいて前記素子を分類することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の分類装置。 - 測定手段、記憶部、配置機構、及び、制御部を備える分類装置により実行される分類方法であって、
前記測定手段により複数の素子を測定しつつ、前記制御部により前記測定結果に基づいて前記素子を分類し、前記配置機構により複数の収容体のうちの1つの収容体に配置する1次分類工程と、
前記制御部により、前記1次分類工程によって前記素子が配置された収容体を示す情報、当該収容体内において前記素子が配置された位置を示す情報、及び、前記測定結果を対応付けて前記記憶部に記憶する記憶工程と、
前記制御部により、前記収容体に配置された前記素子を前記記憶部に記憶された情報に基づいて分類し、前記配置機構により前記複数の収容体とは別の収容体に配置する2次分類工程と、
を有することを特徴とする分類方法。
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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2015
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