JP6170140B2 - 基板外観検査装置 - Google Patents
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Description
請求項1に記載の基板外観検査装置によれば、検査部は、部品認識用カメラの撮像視野における検査対象部品の位置に応じた検査実績を用いて、検査に使用する部品検査データを選択する。そのため、部品認識用カメラの撮像視野における検査対象部品の位置を考慮して、部品の実装状態を検査することができる。よって、検査部は、検査精度を向上させることができるとともに、検査時間を低減させることができる。
図1は、基板外観検査装置1の一例を示す平面図である。同図に示すように、基板外観検査装置1は、検査装置本体101、基板搬送装置102、部品認識用カメラ103およびXY移載装置104を有しており、基板PB1に実装された部品の実装状態を検査する。
本実施形態は、第1実施形態と比べて、検査実績集計部12および検査部13が異なる。以下、図6〜図8を参照しつつ、第1実施形態と比べて異なる点について説明する。
本発明は上記し且つ図面に示した実施形態のみに限定されるものではなく、要旨を逸脱しない範囲内で適宜変更して実施することができる。例えば、基板外観検査装置1は、検査結果とともに、検査に使用した部品検査データ(部品形状データ)の識別記号を表示することができる。
11:部品検査データ記憶部、
12:検査実績集計部、
13:検査部、
103:部品認識用カメラ
Claims (5)
- 基板に実装された部品の実装状態を検査する基板外観検査装置であって、
検査対象部品の一つの部品種につき複数個の部品検査データを記憶する部品検査データ記憶部と、
前記部品を撮像する部品認識用カメラの撮像視野における前記検査対象部品が存在する領域毎に、過去の前記検査において前記部品検査データを使用して前記検査対象部品の実装状態を検査したときの検査実績を集計する検査実績集計部と、
前記部品検査データ記憶部に記憶されている前記複数個の部品検査データの中から前記検査に使用する部品検査データを選択して、前記選択した部品検査データを用いて前記検査対象部品の実装状態を検査する検査部と、
を備え、
前記検査部は、前記検査実績集計部によって集計された前記撮像視野における前記検査対象部品の位置に応じた前記検査実績が良好な部品検査データから順次選択して検査する基板外観検査装置。 - 前記部品検査データ記憶部は、前記検査実績集計部によって集計された前記検査実績が良い順に前記部品検査データの配列を変更する請求項1に記載の基板外観検査装置。
- 前記検査実績は、過去の前記検査において前記部品検査データが前記検査対象部品に適合した適合回数、または、過去の前記検査において前記部品検査データを参照した参照回数に対する前記適合回数の割合を示す適合率である請求項1または請求項2に記載の基板外観検査装置。
- 前記検査対象部品の部品種が変更されたときに、前記検査実績集計部は、変更前の前記検査対象部品の部品種について今回の検査実績を集計して、前記集計された今回の検査実績を前記部品検査データに対応づけて記憶する請求項1〜3のいずれか一項に記載の基板外観検査装置。
- 前記部品検査データ記憶部は、記憶されている前記部品検査データを削除する場合に、前記部品検査データ記憶部に所定期間以上記憶され、かつ、前記検査実績が悪い部品検査データから削除する請求項1〜3のいずれか一項に記載の基板外観検査装置。
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