JP2016127901A5 - - Google Patents

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  1. 光源と、
    前記光源から出射された光を測定光と参照光とに分割する光分割器と、
    前記測定光を被検査物で走査する走査手段と、
    前記走査手段を介して前記測定光を前記被検査物に照射する光学系と、
    記被検査物からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を受光する検出器と、
    前記検出器の出力信号を処理して、前記被検査物の断層画像を取得する演算処理部と、
    を備えた光断層撮像装置において、
    前記光学系は前記測定光を前記被検査物にフォーカシングするフォーカスレンズを含み、
    前記断層画像の取得範囲の画角を変更するために前記走査手段と前記被検査物との間に画角変更用の光学部材が挿入された際には、前記挿入に伴う前記フォーカスレンズのフォーカス位置の変化を補償する手段を有することを特徴とする光断層撮像装置。
  2. 前記補償する手段は、前記フォーカスレンズの可動範囲における可動中心を前記フォーカス位置の変化に対応してオフセットさせることを特徴とする請求項1に記載の光断層撮像装置。
  3. 前記補償する手段は、前記フォーカスレンズの可動範囲における可動中心をオフセットさせる際に、前記挿入される前記画角変更用の光学部材のディオプターに応じてオフセット量を設定することを特徴とする請求項2に記載の光断層撮像装置。
  4. 前記補償する手段は、前記フォーカス位置の変化を相殺するために前記光学系に挿入される挿脱可能な光学部材を有することを特徴とする請求項1乃至3の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
  5. 前記画角変更用の光学部材の挿入により前記光学系に発生する光の分散を相殺するために前記参照光の光路中に挿入される分散補償手段を有することを特徴とする請求項1乃至4の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
  6. 前記画角変更用の光学部材の挿入により前記光学系に発生する光の分散の影響を低減するように前記検出器の出力信号を補正する手段を有することを特徴とする請求項1乃至4の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
  7. 前記画角変更用の光学部材は、被検者に装着される光学部材であることを特徴とする請求項1乃至6の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
  8. 前記補償する手段は、前記フォーカスレンズの可動範囲における可動中心を前記フォーカス位置の変化に対応してオフセットさせる際に、前記装着される光学部材に応じて前記オフセットのオフセット量を算出し、前記フォーカスレンズの可動範囲の可動中心を前記算出されたオフセット量だけオフセットさせることを特徴とする請求項7に記載の光断層撮像装置。
  9. 前記光学系に対して、前記画角変更用の光学部材を挿脱する手段を有することを特徴とする請求項1乃至8の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
  10. 前記被検査物は、被検眼であり、
    前記画角変更用の光学部材の光学特性と前記被検眼の角膜の光学特性とに基づいて、前記断層画像の歪を補正する補正手段を更に有することを特徴とする請求項1乃至9の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
  11. 前記被検査物は、被検眼であり、
    前記走査手段は、前記被検眼の前眼部と共役な位置に配置され、前記測定光を前記被検眼の眼底で走査することを特徴とする請求項1乃至10の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
  12. 前記画角変更用の光学部材は、凸レンズ、メニスカスレンズ、眼鏡型のレンズ、およびコンタクト型のレンズの何れかであることを特徴とする請求項1乃至11の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
  13. 光源と、前記光源から出射された光を測定光と参照光とに分割する光分割器と、前記測定光を被検査物で走査する走査手段と、前記走査手段を介して前記測定光を前記被検査物に照射する光学系と、前記被検査物からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を受光する検出器と、前記検出器の出力信号を処理して、前記被検査物の断層画像を取得する演算処理部と、を備えた光断層撮像装置の制御方法において、
    前記光学系は前記測定光を前記被検査物にフォーカシングするフォーカスレンズを含み、
    前記断層画像の取得範囲の画角を変更するために前記走査手段と前記被検査物との間に画角変更用の光学部材が挿入された際には、前記挿入に伴う前記フォーカスレンズのフォーカス位置の変化を補償する工程を有することを特徴とする光断層撮像装置の制御方法。
  14. 請求項13に記載の光断層撮像装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
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