JP2016127900A5 - - Google Patents
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Claims (19)
- 光源と、
前記光源から出射された光を測定光と参照光とに分割する光分割器と、
前記測定光を被検査物で走査する走査手段と、
前記走査手段を介して前記測定光を前記被検査物に照射する光学系と、
前記被検査物からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を受光する検出器と、
前記検出器の出力信号を処理して、前記被検査物の断層画像を取得する演算処理部と、
を備えた光断層撮像装置において、
前記断層画像の取得範囲の画角を変更するために前記走査手段と前記被検査物との間に画角変更用の光学部材が挿入されたか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段の判定結果に基づいて、前記光断層撮像装置を制御する制御部の制御パラメータ、前記演算処理部の信号処理パラメータ、画像処理パラメータ、及び解析処理パラメータ、のうち少なくとも一つのパラメータの値を切り替える切り替え手段と、
を有することを特徴とする光断層撮像装置。 - 前記制御パラメータは前記走査手段の走査速度であり、
前記切り替え手段は、前記画角変更用の光学部材が挿入された場合に、前記走査速度を切り替えることを特徴とする請求項1に記載の光断層撮像装置。 - 前記測定光の光路長と前記参照光の光路長との光路長差を変更する光路長差変更手段を更に備え、
前記制御パラメータは前記光路長差であり、
前記切り替え手段は、前記画角変更用の光学部材が挿入された場合に、前記光路長差を切り替えることを特徴とする請求項1又は2に記載の光断層撮像装置。 - 前記断層画像を表示手段に表示させる表示制御手段を更に有し、
前記表示制御手段における前記断層画像を表示する際の表示制御パラメータは、前記画角変更用の光学部材が挿入された場合に前記切り替え手段が切り替える前記制御部の制御パラメータに含まれることを特徴とする請求項1乃至3の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 前記信号処理パラメータは、前記干渉光をサンプリングする数であり、
前記切り替え手段は、前記画角変更用の光学部材が挿入された場合に、前記サンプリングする数を切り替えることを特徴とする請求項1乃至4の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 前記信号処理パラメータは、前記検出器の出力信号を処理する際のゲインであり、
前記切り替え手段は、前記画角変更用の光学部材が挿入された場合に、前記出力信号のゲインを切り替えることを特徴とする請求項1乃至5の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 前記解析処理パラメータは、前記断層画像を解析処理する際に前記断層画像に含まれる複数の層の境界の判別に用いる閾値であり、
前記切り替え手段は、前記画角変更用の光学部材が挿入された場合に、前記閾値を前記断層画像における両端部と中央部とで切り替えることを特徴とする請求項1乃至6の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 操作者により前記画角変更用の光学部材が挿入されたことを入力する入力手段を更に有し、
前記判定手段は、前記入力手段による入力に応じて、前記画角変更用の光学部材が挿入されたと判定することを特徴とする請求項1乃至7の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 前記判定手段は、前記検出器の出力信号に基づいて、前記画角変更用の光学部材が挿入されたか否かを判定することを特徴とする請求項1乃至8の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
- 前記測定光の光路中に挿入された前記画角変更用の光学部材の挿入位置に基づいて、前記少なくとも一つのパラメータの値を決定する決定手段を更に有し、
前記切り替え手段は、前記画角変更用の光学部材が挿入された場合に、前記少なくとも一つのパラメータを前記決定された値に切り替えることを特徴とする請求項1乃至9の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 前記画角変更用の光学部材の光学特性に基づいて、前記断層画像における深さ方向における複数の撮像位置における輝度の差が低減するように、前記複数の撮像位置のそれぞれにおける複数の前記断層画像の重ね合わせ枚数を決定する枚数決定手段を更に有することを特徴とする請求項1乃至10の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
- 前記被検査物は、被検眼であり、
前記画角変更用の光学部材の光学特性と前記被検眼の角膜の光学特性とに基づいて、前記断層画像の歪を補正する補正手段を更に有することを特徴とする請求項1乃至11の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 前記被検査物は、被検眼であり、
前記被検眼の前眼部画像と前記被検眼の眼底画像とのうち少なくとも一つを取得するために前記被検眼からの戻り光を受光する第二の検出部を更に有し、
前記判定手段は、前記第二の検出部の出力信号に基づいて、前記画角変更用の光学部材が挿入されたか否かを判定することを特徴とする請求項1乃至11の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 前記被検査物は、被検眼であり、
前記走査手段は、前記被検眼の前眼部と共役な位置に配置され、前記測定光を前記被検眼の眼底で走査することを特徴とする請求項1乃至13の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 前記画角変更用の光学部材は、眼鏡、コンタクトレンズ、及び前記光断層撮像装置に備え付けられたアダプターレンズのいずれかであることを特徴とする請求項1乃至14の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
- コンピュータを、請求項1乃至15の何れか一項に記載の光断層撮像装置の前記切り替え手段として機能させることを特徴とするプログラム。
- 光源と、前記光源から出射された光を測定光と参照光とに分割する光分割器と、前記測定光を被検査物で走査する走査手段と、前記走査手段を介して前記測定光を前記被検査物に照射する光学系と、前記被検査物からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を受光する検出器と、前記検出器の出力信号を処理して、前記被検査物の断層画像を取得する演算処理部と、を備えた光断層撮像装置の制御方法において、
前記断層画像の取得範囲の画角を変更するために前記走査手段と前記被検査物との間に画角変更用の光学部材が挿入されたか否かを判定する工程と、
前記判定する工程における判定結果に基づいて、前記光断層撮像装置の制御部の制御パラメータ、前記演算処理部の信号処理パラメータ、画像処理パラメータ、及び解析処理パラメータ、のうち少なくとも一つのパラメータの値を切り替える工程と、
を有することを特徴とする光断層撮像装置の制御方法。 - 請求項17に記載の光断層撮像装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
- 光源と、前記光源から出射された光を測定光と参照光に分割する光分割器と、前記測定光を被検眼で走査する走査手段と、前記走査手段を介して前記測定光を前記被検眼に照射する光学系と、前記被検眼からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を受光する検出器と、前記検出器の出力信号を処理して、前記被検眼の断層画像を取得する演算処理部と、を備えた光断層撮像装置と、
前記断層画像の取得範囲の画角を変更するために被検者が装着する画角変更用の光学部材と、を有することを特徴とする光断層撮像システム。
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