JP6652281B2 - 光断層撮像装置、その制御方法、及びプログラム - Google Patents
光断層撮像装置、その制御方法、及びプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP6652281B2 JP6652281B2 JP2015003421A JP2015003421A JP6652281B2 JP 6652281 B2 JP6652281 B2 JP 6652281B2 JP 2015003421 A JP2015003421 A JP 2015003421A JP 2015003421 A JP2015003421 A JP 2015003421A JP 6652281 B2 JP6652281 B2 JP 6652281B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- optical
- unit
- image
- angle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
- A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
- A61B3/102—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for optical coherence tomography [OCT]
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
- A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
- A61B3/12—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for looking at the eye fundus, e.g. ophthalmoscopes
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
- A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
- A61B3/14—Arrangements specially adapted for eye photography
Description
光源と、
前記光源から出射された光を測定光と参照光とに分割する光分割器と、
前記測定光を被検査物に照射する光学系と、
前記被検査物からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を受光する検出器と、
前記検出器の出力信号を処理して、前記被検査物の断層画像を取得する演算処理部と、を備えた光断層撮像装置において、
前記断層画像の取得範囲の画角を変更するための画角変更用の光学部材が前記光分割器と前記被検査物との間に挿入されたか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段の判定結果に基づいて、前記光断層撮像装置を制御する制御部の制御パラメータの値を切り替える切り替え手段と、を有し、
前記制御パラメータは、前記測定光を前記被検査物で走査する走査手段の走査パラメータを含み、
前記切り替え手段は、前記判定手段の判定結果に基づいて、前記走査パラメータの値を切り替える。
本眼科装置は、光断層撮像(Optical Coherence Tomography;以下、OCT)部100、走査型検眼鏡(Scanning Laser Ophothalmoscope:以下、SLO)部140、前眼部観察部160、内部固視灯部170、制御部200から構成される。なお、制御部200は、OCT部100と一体に構成されても良いし、有線あるいは無線で通信可能に接続することができれば別体に構成されていても良い。実際の被検眼の検査では、被検眼に対して後述する照明光源115以降に配置される光学部材、OCT部100等は単一の筐体内に収容され、光学ヘッドとして一体化されている。該光学ヘッドは、後述する被検眼に対する各種撮像を行う際に、被検眼との距離を適正距離とするアライメント等の動作を制御部200の制御に基づいて実行する。内部固視灯部170により被検眼に固視標を注視させた状態で、前眼部観察部160により観察される被検体の前眼部の画像を用いて、装置のアライメントが行われる。アライメント完了後に、OCT部100とSLO部140とによる被検眼の眼底の撮像が行われる。以下、本眼科装置の各構成について説明する。
ここではOCT部100の構成について、図1を参照して説明する。
光源101は、低コヒーレント光源であるSLD光源(Super Luminescent Diode)であり、例えば、中心波長850nm、バンド幅50nmの光を出射する。なお、本実施例では光源101としてSLDを用いたが、ASE光源(Amplified Spontaneous Emission)等、低コヒーレント光が出射できる光源であれば何れでも良い。
次に、SLO140の構成の一例について、図1を参照して説明する。
なお、本実施例において、SLO140部は被検眼の眼底画像を取得する眼底画像取得手段の一例に相当する。
次に、前眼部撮像部160の構成について、図面を参照して説明する。
前眼部撮像部160は、波長1000nmの照明光を発するLED115−a、115−bから成る照明光源115により照明された前眼部Eaを撮像する。照明光源115から照射され且つ前眼部Eaで反射され光は、フォーカスレンズ114、レンズ112、DCM111、及び第二のDCM149を介し、第三のDCM161に達する。第三のDCM161は、980nm〜1100nmの光を反射し、それ以外の光を透過する特性を有する。第三のDCM161で反射された光は、レンズ162、レンズ163、及びレンズ164を介し、前眼部カメラ165で受光される。前眼部カメラ165で受光された光は、電気信号に変換され、信号処理部190に出力される。
次に、内部固視灯170部の構成について、図面を参照して説明する。
内部固視灯部170は、表示部171及びレンズ172で構成される。表示部171として複数の発光ダイオード(LD)がマトリックス状に配置されたものを用いる。発光ダイオードの点灯位置は、駆動制御部180の制御により撮像したい部位に合わせて変更される。表示部171からの光は、レンズ172を介し、被検眼に導かれる。表示部171から出射される光は520nmで、制御部180により所望のパターンが表示される。当該内部固視灯部170は、表示部171上の点灯位置を被検者に注視させることで固視を促し、その状態で被検眼の撮像を実行することで撮像したい部分の画像を得る。
制御部200の構成について、図面を参照して説明する。
制御部200は、駆動制御部180、信号処理部190、表示制御部191、表示部192、及び切り替え部194から構成される。なお、表示部192は、制御部200と通信可能に接続されていれば別体に構成されても良い。
次に、信号処理部190において実行される画像生成及び画像解析の各処理について説明する。
信号処理部190は、ラインカメラ129から出力された干渉信号に対して、一般的なSD−OCT(Spectral Domain OCT)に用いられる再構成処理を行うことで、各偏光成分に基づいた断層画像を生成する。まず、信号処理部190は、干渉信号から固定パターンノイズ除去を行う。固定パターンノイズ除去は、検出した複数のAスキャン信号を平均することで固定パターンノイズを抽出し、これを入力した干渉信号から減算することで行われる。次に、信号処理部190は、干渉信号を波長から波数に変換し、更にフーリエ変換を行うことによって断層信号を生成する。
以上の様な装置を用い、眼底(Er)の画角を変更した画像を撮像する場合について、次に説明する。本実施例では、眼底画像における画像の取得範囲を変更するする構成として、被検眼と光学ヘッドとの間にアダプターレンズとして挿入レンズ193を挿入する。図2は、当該挿入レンズ193の有無による測定光のスキャン範囲を被検眼の断面において模式的に示す図である。当該挿入レンズ193を測定光の光路中に挿入する事で、図2(a)に破線で示すスキャン範囲から図2(b)に破線で示すスキャン範囲となるように光路が変化する。従って、眼底(Er)での測定光のスキャン範囲が広くなり、眼底の広い領域(以後、広画角)を撮像する事が出来る。
以上に述べた眼科装置を用い、OCT画像の撮像から解析画面出力までの全体の流れを図4(a)〜図4(c)に示すフローチャートを用いて説明する。
ここで、挿入レンズ193の測定光路上の有無の判定方法について、記述する。本実施例では、挿入レンズ193の検出装置を新たに付加させることなく、目的を達成する。なお、ここでは、前述した全体フローにおける装置アライメント(ステップ402)で挿入レンズ193の検出を実施した例について述べる。また、検者がGUI画面にチェックを入れることにより挿入レンズ193の測定光光路への挿入を検出する例について述べる。なお、以降に述べる画角変更用の光学部材である挿入レンズ193の測定光路中への挿入の有無の判定は、切り替え部194において判定手段として機能するモジュール領域により実行される。また、この判定手段による判定結果は、前述した切り替え手段により切り替えられるパラメータの判定基準を構成することとしても良い。なお、判定手段として機能するモジュール領域を、切り替え部194とは別体の判定部(不図示)として構成しても良い。
具体的な判定処理として、前眼部撮像部160を用い、前眼部撮影光の反射光に基づいて挿入レンズ193の有無を判定する。実際の被検眼検査時において、前眼部撮影光が挿入レンズ193の表面又は裏面にて反射する。その反射光は前眼部カメラ165で受光可能である。この反射光が受光されているか否かによって挿入レンズ193の光路上での有無を判定し、判定結果をメモリ(不図示)に保存する。
挿入レンズ193の有無の判定には、前眼部撮像部160の他の構成によっても可能である。次に、SLO部140を用いて挿入レンズ193の有無の判定を実行する例について述べる。ここでは、過去の前眼部画像データとSLO部140によって直前に得た前眼部画像のデータとを比較する事で挿入レンズ193の測定光路上での有無を判定する。具体的には、黄斑中心から血管までの距離(ピクセル数)により挿入レンズ193の有無を判定し、判定結果をメモリ(不図示)に保存することとしている。
また、挿入レンズ193の有無の判定には、前述した前眼部撮像部160或いはSLO部140の他の構成によっても可能である。次に、OCT部100を用い、挿入レンズ193の測定光路上の有無の判定を実行する例について述べる。具体的には、挿入レンズ193が測定光路中に挿入されると、FFT処理後のOCT信号に該挿入レンズ193による反射光の信号が観測される。ここでは、その反射光の信号に対応するゴーストの有無から挿入レンズ193の有無を判定する。即ち、この態様においては、前述した判定手段は、検出器たるラインカメラ129の出力信号に基づいて、測定光路中に挿入レンズ193が挿入されたか否かを判定する。
以上に、挿入レンズ193の判定方法について述べたが、判定方法はこれらに限定されない。例えば、前眼部モニタを用い、過去データを比較(瞳孔径等)し、更に画像の信号処理(輝度分布)等、を実行することにより挿入レンズ193の測定光路上の有無を判定しても良い。或いは、SLO部140を用い、SLO画像のゴースト(ガンマによる二値化領域分析等)、信号強度分布、黄斑-乳頭間の距離算出、等を実行する事で挿入レンズ193の測定光路上の有無を判定しても良い。
次に、OCT装置の駆動制御部180や表示制御部191等の制御部の制御パラメータの切り替えについて説明する。
(1)制御パラメータ1:走査手段の走査速度の切り替え
図2にも示した通り、挿入レンズ193の測定光路への挿入により、広画角OCT画像が取得できる。しかし、図2(b’)に示した広画角OCT画像は図2(a’)に示すOCT画像と比較すると横分解能(図2におけるx方向)が低下する。これは画角(撮像距離)が大きくなるが撮像時間は同じである為であり、信号が間引かれることにより横分解能が低下する。本実施例では、この横分解能低下を防止する為、OCT部100のXスキャナ107のスキャン速度を通常の1/1.5倍(画角が1.5倍広くなった為)のスキャン速度に低下させ、横分解能が低下しない画像を取得した。
ここで、OCT装置において、ラインカメラ129の有効ピクセル数を可変にできる機構を有するものも存在する。当該装置の場合、挿入レンズ193の測定光路への挿入に応じて、深さ情報をより深く得る事が出来るモードにする事で適正な画像を取得する事が出来る。ここで述べる適正な画像とは、例えば画像折れの無い、通常の画角のOCT画像と同じX−Z比率の画像をいう。
ここで、画角を広げる事により、上述の画像折れや、観察したい箇所の信号強度の低下が生じることが考えられる。従って、これらを抑える為、適正なC−Gate(コヒーレンスゲート)位置にする必要がある。
なお、本実施例では、画角変更に伴う制御条件の再設定に関して上述の3つの制御について例示して述べた。しかし、制御条件の再設定の様式はこれら形態に限定されない。例えば、前回の撮像情報を反映させる、或いは画角の大きさにより他の制御機構を変更する事等によっても、最適な画像を取得する事が出来る事は記述するまでもない。
次に、演算処理部の処理パラメータの切り替えについて説明する。
(1)信号処理パラメータ1:分散補償パラメータの切り替え
OCT画像の撮像に際し、挿入レンズ193の測定光路への挿入により、測定光側の分散と参照光側の分散とが異なる事により、画像劣化が発生する。この画像劣化を防止する為、信号処理の際の分散補償パラメータを再設定し、変更することが好ましい。このような分散補償パラメータの再設定の工程の具体例について、次に図6(a)に示すフローチャートを用いて述べる。
光源を波長掃引光源し、差動検知のディテクタで構成されるSS−OCT(Swept Source OCT)を用いる場合、信号処理パラメータとして、干渉光をサンプリングする数を含めても良い。この場合、前述した切り替え手段は、測定光路中に挿入レンズ193が挿入された場合に、変更される画角に対応するように干渉光をサンプリングする数を切り替えることが好ましい。ここで、前述したように、広画角にOCT撮像する場合には、湾曲する眼底が撮像範囲に可能な限り入るように、通常の画角のOCT画像の深さ撮像範囲よりも長い深さ撮像範囲に設定することが好ましい(図2(b’)参照)。そこで、画角が広くなるように画角を変更する場合には、干渉光をサンプリングする数を増やすことが好ましい。これにより、例えば通常の画角のOCT画像の深さ撮像範囲よりも深い深さ撮像範囲の断層画像を得ることができるため、湾曲する眼底が撮像範囲に入り易くなる。なお、ここで言うサンプリングの数とはいわゆるkクロックの周波数のことで、サンプリングの数を増やすことは、kクロックの周波数を高くすることに対応する。
また、スペクトル幅を持つ光源を、分光器によって検出するSD−OCTを用いる場合、信号処理パラメータとして、ラインカメラ129からの出力信号を処理する際のゲインを含めても良い。この場合、切り替え手段は、画角の変更に対応するように、出力信号のゲインを切り替えることが好ましい。ここで、広画角にOCT撮像する場合には、例えば、網膜の上に存在する硝子体を観察したい場合が多い。そこで、画角が広くなるように画角を変更する場合には、ゲインを増やすことが好ましい。これにより、例えば通常の画角のOCT画像よりもコントラストが高い断層画像を得ることができるため、硝子体を強調した断層画像を得ることができる。
また、図2にも示した通り、挿入レンズレンズ193の挿入により、図2(b’)に示す広画角OCT画像が取得できる。この広画角OCT画像は図2(a’)に示す通常の画角のOCT画像と比較すると横分解能(図2におけるX方向、更にはY方向)が低下する。これは、画角(撮像距離)が大きくなるが、サンプリング周期は同じである為、単位pixel当たりの距離が異なることによる。本実施例では、このような事象を考慮し、OCT画像からの解析数値を変更する事で適正な診断を支援する例を記述する。
以上に述べた各解析時における適正化の処理は、フェイズコレクション処理時、偏光OCT装置のDOPU(Degree Of Polarization Uniformity)処理時、DopplerOCT装置の血流速度処理時、等においても実行されることが好ましい。なお、DOPUは、偏光の均一性を示すパラメータであり、ROI毎に求められる。DOPU処理時及び血流速度処理時における適正化処理の工程を図6(d)及び図6(e)のフローチャートに示す。適正化処理において、ラインカメラ129から出力されたOCT信号を得て(ステップ631及び641)、当該OCT信号に基づいて、測定光路における挿入レンズ193の有無情報を得る(ステップ632及び642)。ステップ632又は642にて挿入レンズ193が測定光路中に挿入されていると判定されると、フローはステップ633又は643に移行する。このとき、DOPU画像の解析パラメータとして、例えばROIの辺の長さを1.5倍(画角が1.5倍広くなった為)とする処理を実行する。また、血流速度の解析パラメータとして、広画角のOCT画像を用いて得られた血流速度を1/1.5倍(画角が1.5倍広くなった為)とする処理を実行する。ステップ632又は642にて挿入レンズ193が測定光路上に無いと判定された場合、フローはステップ634又は644に移行して通常の解析条件にてOCT画像の構成を行う。なお、ここでは、モニタに表示される断層画像のピクセル数が、画角を変更しても一定である場合を想定している。このような場合、1ピクセルの長さを1.5倍(画角が1.5倍広くなった為)とする処理を事前に実行していれば、上記の処理は不要である。
本実施例では、挿入レンズ193の測定光路中への挿入により、SLO画像及びOCT画像のX及びY方向のスキャン範囲が1.5倍になる。この為、GUI表示の際に画像のスケールバーに変更が必要になる。図7を用い、このスケールバーの変更について説明する。
上述した通り、挿入レンズ193のパワーを−30D程度にすると、図9に例示するようにOCT画像の画角が広くなる。画角が広くなると、得られる画像における眼球の眼底アーチ部901に対応して、深さ情報を増やす必要がある。しかし、図5(b)に示した深さ情報を増やすための処理を行った場合、OCT信号取得時の測定光のフォーカスの適正エリアが限られてしまう。このため、フォーカスが合わない位置が測定領域中に存在してしまい、画像内にて輝度差が生じる。
なお、以上に述べた制御は、被検眼における硝子体の位置から実施しても良い。
図9に示したOCT画像の様に、広画角でOCT画像900を取得すると、OCT画像中央部904とOCT画像901の撮像条件は異なる。光学的な歪、入射角による光学距離、一次の散乱光による干渉信号、により、端部の正確な膜厚が測定困難となる。そこで、挿入レンズ193の測定光路中への挿入を検出した際は、以下の処理により適正な診断支援が可能となる。
なお、本発明は上述した実施例に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内において、種々の変形、変更して実施することができる。例えば、上記の実施例では、被検査物が眼の場合について述べているが、眼以外の皮膚や臓器等の被検査物に本発明を適用することも可能である。この場合、本発明は眼科装置以外の、例えば内視鏡等の医療機器としての態様を有する。従って、本発明は眼科装置に例示される断層画像撮像装置として把握され、被検眼は被検査物の一態様として把握されることが望ましい。
また、その他の実施例として、光断層撮像装置と、被検眼の断層画像の取得範囲の画角を変更するために被検者が装着する画角変更用の光学部材と、を有する光断層撮像システムとして構成することも可能である。このとき、被検者が装着する画角変更用の光学部材としては、眼鏡やコンタクトレンズ等である。これにより、挿入レンズやアダプターレンズ等の装着を想定せずに設計された光断層撮像装置等においても、簡易に断層画像の取得範囲の画角を変更することができる。なお、眼科の医療現場において、レンズの反射によるゴースト等を避けるために、被検者には眼鏡やコンタクトレンズを外してもらってから被検眼を撮影するのが一般的であった。
この場合、上述したその他の実施例に係る光断層撮像システムは、光源と、前記光源から出射された光を測定光と参照光に分割する光分割器と、前記測定光を被検眼で走査する走査手段と、前記走査手段を介して前記測定光を前記被検眼に照射する光学系と、前記被検眼からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を受光する検出器と、前記検出器の出力信号を処理して、前記被検眼の断層画像を取得する演算処理部と、を備えた光断層撮像装置と、前記断層画像の取得範囲の画角を変更するために被検者が装着する画角変更用の光学部材と、を有するものとして把握することが可能である。
Claims (32)
- 光源と、
前記光源から出射された光を測定光と参照光とに分割する光分割器と、
前記測定光を被検査物に照射する光学系と、
前記被検査物からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を受光する検出器と、
前記検出器の出力信号を処理して、前記被検査物の断層画像を取得する演算処理部と、を備えた光断層撮像装置において、
前記断層画像の取得範囲の画角を変更するための画角変更用の光学部材が前記光分割器と前記被検査物との間に挿入されたか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段の判定結果に基づいて、前記光断層撮像装置を制御する制御部の制御パラメータの値を切り替える切り替え手段と、を有し、
前記制御パラメータは、前記測定光を前記被検査物で走査する走査手段の走査パラメータを含み、
前記切り替え手段は、前記判定手段の判定結果に基づいて、前記走査パラメータの値を切り替えることを特徴とする光断層撮像装置。 - 前記走査パラメータは、前記走査手段の走査速度を含み、
前記切り替え手段は、前記判定手段の判定結果に基づいて、前記走査速度を切り替えることを特徴とする請求項1に記載の光断層撮像装置。 - 前記切り替え手段は、前記画角が広くなるように変更された場合に、前記走査速度を低下させることを特徴とする請求項2に記載の光断層撮像装置。
- 前記走査パラメータは、前記走査手段の走査間隔を含み、
前記切り替え手段は、前記判定手段の判定結果に基づいて、前記走査間隔を切り替えることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の光断層撮像装置。 - 前記切り替え手段は、前記画角が広くなるように変更された場合に、前記走査間隔を短くすることを特徴とする請求項4に記載の光断層撮像装置。
- 前記測定光の光路長と前記参照光の光路長との光路長差を変更する光路長差変更手段を更に備え、
前記制御パラメータは、前記光路長差を含み、
前記切り替え手段は、前記判定手段の判定結果に基づいて、前記光路長差を切り替えることを特徴とする請求項1乃至5の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 前記演算処理部により取得された前記断層画像を表示手段に表示させる表示制御手段を更に有し、
前記制御パラメータは、前記表示制御手段における前記断層画像を表示する際の表示制御パラメータを含み、
前記切り替え手段は、前記判定手段の判定結果に基づいて、前記表示制御パラメータの値を切り替えることを特徴とする請求項1乃至6の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 前記表示制御パラメータは、前記表示手段において表示される断層画像のスケールを含み、
前記切り替え手段は、前記判定手段の判定結果に基づいて、前記スケールを切り換えることを特徴とする請求項7に記載の光断層撮像装置。 - 前記切り替え手段は、前記判定手段の判定結果に基づいて、更に、前記演算処理部の信号処理パラメータ、前記演算処理部における前記断層画像を生成する際の画像処理パラメータ、及び前記演算処理部における前記断層画像を解析する際の解析処理パラメータのうち少なくとも一つのパラメータの値を切り換えることを特徴とする請求項1乃至8の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
- 前記測定光の光路中に挿入された前記画角変更用の光学部材の挿入位置に基づいて、前記少なくとも一つのパラメータの値を決定する決定手段を更に有し、
前記切り替え手段は、前記画角変更用の光学部材が挿入されたと判定された場合に、前記少なくとも一つのパラメータを前記決定された値に切り替えることを特徴とする請求項9に記載の光断層撮像装置。 - 前記信号処理パラメータは、前記干渉光をサンプリングする数を含み、
前記切り替え手段は、前記判定手段の判定結果に基づいて、前記サンプリングする数を切り替えることを特徴とする請求項9又は10に記載の光断層撮像装置。 - 光源と、
前記光源から出射された光を測定光と参照光とに分割する光分割器と、
前記測定光を被検査物に照射する光学系と、
前記被検査物からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を受光する検出器と、
前記検出器の出力信号を処理して、前記被検査物の断層画像を取得する演算処理部と、を備えた光断層撮像装置において、
前記断層画像の取得範囲の画角を変更するための画角変更用の光学部材が、前記光分割器と前記被検査物との間に挿入されたか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段の判定結果に基づいて、前記演算処理部の信号処理パラメータの値を切り替える切り替え手段と、を有し、
前記信号処理パラメータは、前記干渉光をサンプリングする数を含み、
前記切り替え手段は、前記判定手段の判定結果に基づいて、前記サンプリングする数を切り替えることを特徴とする光断層撮像装置。 - 前記信号処理パラメータは、前記検出器の出力信号を処理する際のゲインを含み、
前記切り替え手段は、前記判定手段の判定結果に基づいて、前記出力信号のゲインを切り替えることを特徴とする請求項9乃至12の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 前記信号処理パラメータは、分散補償パラメータを含み、
前記切り替え手段は、前記判定手段の判定結果に基づいて、前記分散補償パラメータの値を切り換えることを特徴とする請求項9乃至13の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 前記演算処理部は、前記切り替えられた分散補償パラメータの値を用いて、測定光路における前記測定光の分散と参照光路における前記参照光の分散との差が低減されるように、前記検出器の出力信号を処理することを特徴とする請求項14に記載の光断層撮像装置。
- 前記解析処理パラメータは、前記断層画像を解析処理する際に前記断層画像に含まれる複数の層の境界の判別に用いる閾値を含み、
前記切り替え手段は、前記判定手段の判定結果に基づいて、前記閾値を前記断層画像における両端部と中央部とで切り替えることを特徴とする請求項9乃至11の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 光源と、
前記光源から出射された光を測定光と参照光とに分割する光分割器と、
前記測定光を被検査物に照射する光学系と、
前記被検査物からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を受光する検出器と、
前記検出器の出力信号を処理して、前記被検査物の断層画像を取得する演算処理部と、を備えた光断層撮像装置において、
前記断層画像の取得範囲の画角を変更するための画角変更用の光学部材が、前記光分割器と前記被検査物との間に挿入されたか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段の判定結果に基づいて、前記演算処理部の解析処理パラメータの値を切り替える切り替え手段と、を有し、
前記解析処理パラメータは、前記断層画像を解析処理する際に前記断層画像に含まれる複数の層の境界の判別に用いる閾値を含み、
前記切り替え手段は、前記判定手段の判定結果に基づいて、前記閾値を前記断層画像における両端部と中央部とで切り替えることを特徴とする光断層撮像装置。 - 操作者により前記画角変更用の光学部材が挿入されたことを入力する入力手段を更に有し、
前記判定手段は、前記入力手段による入力に応じて、前記画角変更用の光学部材が挿入されたと判定することを特徴とする請求項1乃至17の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 前記判定手段の判定結果と前記画角変更用の光学部材の光学特性とに基づいて、前記断層画像における深さ方向における複数の撮像位置における輝度の差が低減するように、前記複数の撮像位置のそれぞれにおける複数の前記断層画像の重ね合わせ枚数を決定する枚数決定手段を更に有することを特徴とする請求項1乃至18の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
- 光源と、
前記光源から出射された光を測定光と参照光とに分割する光分割器と、
前記測定光を被検査物に照射する光学系と、
前記被検査物からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を受光する検出器と、
前記検出器の出力信号を処理して、前記被検査物の断層画像を取得する演算処理部と、を備えた光断層撮像装置において、
前記断層画像の取得範囲の画角を変更するための画角変更用の光学部材が、前記光分割器と前記被検査物との間に挿入されたか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段の判定結果と前記画角変更用の光学部材の光学特性とに基づいて、前記断層画像における深さ方向における複数の撮像位置における輝度の差が低減するように、前記複数の撮像位置のそれぞれにおける複数の前記断層画像の重ね合わせ枚数を決定する枚数決定手段と、
を有することを特徴とする光断層撮像装置。 - 前記判定手段は、前記検出器の出力信号に基づいて、前記画角変更用の光学部材が挿入されたか否かを判定することを特徴とする請求項1乃至20の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
- 光源と、
前記光源から出射された光を測定光と参照光とに分割する光分割器と、
前記測定光を被検査物に照射する光学系と、
前記被検査物からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を受光する検出器と、
前記検出器の出力信号を処理して、前記被検査物の断層画像を取得する演算処理部と、を備えた光断層撮像装置において、
前記検出器の出力信号に基づいて、前記断層画像の取得範囲の画角を変更するための画角変更用の光学部材が、前記光分割器と前記被検査物との間に挿入されたか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段の判定結果に基づいて、前記光断層撮像装置を制御する制御部の制御パラメータ、前記演算処理部の信号処理パラメータ、前記演算処理部における前記断層画像を生成する際の画像処理パラメータ、及び前記演算処理部における前記断層画像を解析する際の解析処理パラメータのうち少なくとも一つのパラメータの値を切り替える切り替え手段と、を有することを特徴とする光断層撮像装置。 - 前記被検査物は、被検眼であり、
前記被検眼の前眼部画像と前記被検眼の眼底画像とのうち少なくとも一つを取得するために前記被検眼からの戻り光を受光する第二の検出器を更に有し、
前記判定手段は、前記第二の検出器の出力信号に基づいて、前記画角変更用の光学部材が挿入されたか否かを判定することを特徴とする請求項1乃至20の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 前記被検査物は、被検眼であり、
前記画角変更用の光学部材の光学特性と前記被検眼の角膜の光学特性とに基づいて、前記断層画像の歪を補正する補正手段を更に有することを特徴とする請求項1乃至23の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 前記被検査物は、被検眼であり、
前記被検眼の前眼部と共役な位置に配置された走査手段は、前記測定光を前記被検眼の眼底で走査することを特徴とする請求項1乃至24の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 前記画角変更用の光学部材は、眼鏡、コンタクトレンズ、及び前記光断層撮像装置に備え付けられたアダプターレンズのいずれかであることを特徴とする請求項1乃至25の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
- 光源と、前記光源から出射された光を測定光と参照光とに分割する光分割器と、前記測定光を被検査物に照射する光学系と、前記被検査物からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を受光する検出器と、前記検出器の出力信号を処理して、前記被検査物の断層画像を取得する演算処理部と、を備えた光断層撮像装置の制御方法において、
前記断層画像の取得範囲の画角を変更するための画角変更用の光学部材が前記光分割器と前記被検査物との間に挿入されたか否かを判定する工程と、
前記判定する工程における判定結果に基づいて、前記光断層撮像装置の制御部の制御パラメータの値を切り替える工程と、を含み、
前記制御パラメータは、前記測定光を被検査物で走査する走査手段の走査パラメータを含み、
前記切り替える工程では、前記判定する工程における判定結果に基づいて、前記走査パラメータの値を切り替えることを特徴とする光断層撮像装置の制御方法。 - 光源と、前記光源から出射された光を測定光と参照光とに分割する光分割器と、前記測定光を被検査物に照射する光学系と、前記被検査物からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を受光する検出器と、前記検出器の出力信号を処理して、前記被検査物の断層画像を取得する演算処理部と、を備えた光断層撮像装置の制御方法において、
前記断層画像の取得範囲の画角を変更するための画角変更用の光学部材が、前記光分割器と前記被検査物との間に挿入されたか否かを判定する工程と、
前記判定する工程における判定結果に基づいて、前記演算処理部の信号処理パラメータの値を切り替える工程と、を含み、
前記信号処理パラメータは、前記干渉光をサンプリングする数を含み、
前記切り替える工程では、前記判定する工程における判定結果に基づいて、前記サンプリングする数を切り替えることを特徴とする光断層撮像装置の制御方法。 - 光源と、前記光源から出射された光を測定光と参照光とに分割する光分割器と、前記測定光を被検査物に照射する光学系と、前記被検査物からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を受光する検出器と、前記検出器の出力信号を処理して、前記被検査物の断層画像を取得する演算処理部と、を備えた光断層撮像装置の制御方法において、
前記断層画像の取得範囲の画角を変更するための画角変更用の光学部材が、前記光分割器と前記被検査物との間に挿入されたか否かを判定する工程と、
前記判定する工程における判定結果に基づいて、前記演算処理部の解析処理パラメータの値を切り替える工程と、を含み、
前記解析処理パラメータは、前記断層画像を解析処理する際に前記断層画像に含まれる複数の層の境界の判別に用いる閾値を含み、
前記切り替える工程では、前記判定する工程における判定結果に基づいて、前記閾値を前記断層画像における両端部と中央部とで切り替えることを特徴とする光断層撮像装置の制御方法。 - 光源と、前記光源から出射された光を測定光と参照光とに分割する光分割器と、前記測定光を被検査物に照射する光学系と、前記被検査物からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を受光する検出器と、前記検出器の出力信号を処理して、前記被検査物の断層画像を取得する演算処理部と、を備えた光断層撮像装置の制御方法において、
前記断層画像の取得範囲の画角を変更するための画角変更用の光学部材が、前記光分割器と前記被検査物との間に挿入されたか否かを判定する工程と、
前記判定する工程における判定結果と前記画角変更用の光学部材の光学特性とに基づいて、前記断層画像における深さ方向における複数の撮像位置における輝度の差が低減するように、前記複数の撮像位置のそれぞれにおける複数の前記断層画像の重ね合わせ枚数を決定する工程と、
を含むことを特徴とする光断層撮像装置の制御方法。 - 光源と、前記光源から出射された光を測定光と参照光とに分割する光分割器と、前記測定光を被検査物に照射する光学系と、前記被検査物からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を受光する検出器と、前記検出器の出力信号を処理して、前記被検査物の断層画像を取得する演算処理部と、を備えた光断層撮像装置の制御方法において、
前記検出器の出力信号に基づいて、前記断層画像の取得範囲の画角を変更するための画角変更用の光学部材が、前記光分割器と前記被検査物との間に挿入されたか否かを判定する工程と、
前記判定する工程における判定結果に基づいて、前記光断層撮像装置を制御する制御部の制御パラメータ、前記演算処理部の信号処理パラメータ、前記演算処理部における前記断層画像を生成する際の画像処理パラメータ、及び前記演算処理部における前記断層画像を解析する際の解析処理パラメータのうち少なくとも一つのパラメータの値を切り替える工程と、を含むことを特徴とする光断層撮像装置の制御方法。 - 請求項27乃至31の何れか一項に記載の光断層撮像装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015003421A JP6652281B2 (ja) | 2015-01-09 | 2015-01-09 | 光断層撮像装置、その制御方法、及びプログラム |
US15/535,721 US20180353063A1 (en) | 2015-01-09 | 2016-01-07 | Optical tomographic imaging apparatus, control method therefor, program therefor, and optical tomographic imaging system |
PCT/JP2016/051057 WO2016111379A1 (en) | 2015-01-09 | 2016-01-07 | Optical tomographic imaging apparatus, control method therefor, program therefor, and optical tomographic imaging system |
US16/862,600 US20200253470A1 (en) | 2015-01-09 | 2020-04-30 | Optical tomographic imaging apparatus, control method therefor, program therefor, and optical tomographic imaging system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015003421A JP6652281B2 (ja) | 2015-01-09 | 2015-01-09 | 光断層撮像装置、その制御方法、及びプログラム |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020005215A Division JP6839310B2 (ja) | 2020-01-16 | 2020-01-16 | 光断層撮像装置、その制御方法、及びプログラム |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016127900A JP2016127900A (ja) | 2016-07-14 |
JP2016127900A5 JP2016127900A5 (ja) | 2018-02-08 |
JP6652281B2 true JP6652281B2 (ja) | 2020-02-19 |
Family
ID=55349904
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015003421A Active JP6652281B2 (ja) | 2015-01-09 | 2015-01-09 | 光断層撮像装置、その制御方法、及びプログラム |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US20180353063A1 (ja) |
JP (1) | JP6652281B2 (ja) |
WO (1) | WO2016111379A1 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6776076B2 (ja) * | 2016-09-23 | 2020-10-28 | 株式会社トプコン | Oct装置 |
WO2018198840A1 (ja) * | 2017-04-28 | 2018-11-01 | 株式会社ニコン | 眼科装置 |
JP7009823B2 (ja) * | 2017-08-03 | 2022-01-26 | 株式会社ニデック | Oct装置 |
JP7073678B2 (ja) * | 2017-11-01 | 2022-05-24 | 株式会社ニデック | 眼科装置 |
JP7243023B2 (ja) | 2018-03-06 | 2023-03-22 | 株式会社ニデック | Oct装置 |
JP2019154996A (ja) | 2018-03-16 | 2019-09-19 | 株式会社トプコン | 眼科装置、及び眼科情報処理装置 |
KR102139311B1 (ko) * | 2018-12-14 | 2020-07-30 | 한국광기술원 | 콘택트렌즈 측정 시스템 및 방법 |
US20220313081A1 (en) * | 2021-04-06 | 2022-10-06 | Innovega, Inc. | Automated contact lens design through image capture of the eye |
CN114234744A (zh) * | 2021-12-24 | 2022-03-25 | 中国电子科技集团公司第四十四研究所 | 一种激光引信探测前端的光学参数测试装置及光学参数测试方法 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6069698A (en) * | 1997-08-28 | 2000-05-30 | Olympus Optical Co., Ltd. | Optical imaging apparatus which radiates a low coherence light beam onto a test object, receives optical information from light scattered by the object, and constructs therefrom a cross-sectional image of the object |
JP4969925B2 (ja) * | 2006-06-28 | 2012-07-04 | 株式会社トプコン | 眼底観察装置 |
US7708408B1 (en) * | 2008-10-10 | 2010-05-04 | Amo Development Llc. | Single-arm optical coherence tomography pachymetry system and method |
EP2347701B1 (en) * | 2010-01-21 | 2017-01-04 | Nidek Co., Ltd | Ophthalmic photographing apparatus |
JP5545629B2 (ja) | 2010-01-21 | 2014-07-09 | 株式会社ニデック | 眼科撮影装置 |
JP5637721B2 (ja) * | 2010-03-31 | 2014-12-10 | キヤノン株式会社 | 断層撮像装置および断層撮像装置の制御装置 |
US8960909B2 (en) * | 2012-01-20 | 2015-02-24 | Canon Kabushiki Kaisha | Control apparatus and control method |
JP6168728B2 (ja) | 2012-04-03 | 2017-07-26 | キヤノン株式会社 | 光干渉断層撮影装置、制御方法、及びプログラム |
JP6097542B2 (ja) * | 2012-12-10 | 2017-03-15 | キヤノン株式会社 | 補償光学装置、補償光学装置の制御方法、画像取得装置およびプログラム |
JP2015066242A (ja) * | 2013-09-30 | 2015-04-13 | 株式会社ニデック | 眼科撮影装置 |
JP5850349B2 (ja) * | 2014-05-02 | 2016-02-03 | 株式会社ニデック | 眼科撮影装置 |
-
2015
- 2015-01-09 JP JP2015003421A patent/JP6652281B2/ja active Active
-
2016
- 2016-01-07 WO PCT/JP2016/051057 patent/WO2016111379A1/en active Application Filing
- 2016-01-07 US US15/535,721 patent/US20180353063A1/en not_active Abandoned
-
2020
- 2020-04-30 US US16/862,600 patent/US20200253470A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20180353063A1 (en) | 2018-12-13 |
US20200253470A1 (en) | 2020-08-13 |
JP2016127900A (ja) | 2016-07-14 |
WO2016111379A1 (en) | 2016-07-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6652281B2 (ja) | 光断層撮像装置、その制御方法、及びプログラム | |
US9033510B2 (en) | Systems and methods for efficiently obtaining measurements of the human eye using tracking | |
US7980697B2 (en) | Fundus oculi observation device and ophthalmic image display device | |
US9170087B2 (en) | Optical coherence tomography imaging apparatus, imaging system, and control apparatus and control method for controlling imaging range in depth direction of optical coherence tomography | |
JP6426974B2 (ja) | データ処理方法及びoct装置 | |
KR101787973B1 (ko) | 화상처리장치 및 화상처리방법 | |
JP6045171B2 (ja) | 眼科システム | |
JP6469413B2 (ja) | データ処理方法及びoct装置 | |
US20130258286A1 (en) | Optical coherence tomography imaging apparatus and method for controlling the same | |
JP2012196439A (ja) | 撮像装置及び撮像方法 | |
JP6776076B2 (ja) | Oct装置 | |
JP6703839B2 (ja) | 眼科計測装置 | |
JP2017143994A (ja) | 眼科撮影装置 | |
US10123699B2 (en) | Ophthalmologic apparatus and imaging method | |
JP2013208394A (ja) | 光干渉断層撮影装置及びその方法 | |
JP2022176282A (ja) | 眼科装置、及びその制御方法 | |
JP7096392B2 (ja) | 眼科装置 | |
JP2017158867A (ja) | 眼科撮影装置 | |
JP6839310B2 (ja) | 光断層撮像装置、その制御方法、及びプログラム | |
JP2018114121A (ja) | 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム | |
JP2017225599A (ja) | Oct装置 | |
JP6431399B2 (ja) | 眼科撮影装置 | |
JP7096391B2 (ja) | 眼科装置 | |
JP2017159089A (ja) | 眼底撮影装置 | |
JP6664992B2 (ja) | 眼科撮影装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD05 | Notification of revocation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7425 Effective date: 20171214 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20171219 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20171219 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20180126 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20181213 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190204 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190618 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190722 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190903 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20191030 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20191224 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200121 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6652281 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |