JP2017225599A - Ｏｃｔ装置 - Google Patents

Abstract

【課題】測定値の信頼性を低下させることなく、簡素な構成で表示範囲の変更が可能なＯＣＴ装置を提供する。
【解決手段】ＯＣＴ装置は、干渉光学系と、分解能変更部と、較正値算出部とを含む。干渉光学系は、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、測定光を被測定物体に照射し、被測定物体からの戻り光と参照光との干渉光を検出する。分解能変更部は、干渉光学系の光軸方向の分解能を変更する。較正値算出部は、分解能変更部により分解能が変更された状態における干渉光の検出結果に基づいて、分解能の較正値を求める。
【選択図】図３

Description

この発明は、ＯＣＴ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）装置に関する。

近年、レーザ光源等からの光ビームを用いて被測定物体の表面形態や内部形態を表す画像を形成するＯＣＴが注目を集めている。ＯＣＴは、Ｘ線ＣＴ（Ｃｏｍｐｕｔｅｄ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）のような人体に対する侵襲性を持たないことから、特に医療分野や生物学分野における応用の展開が期待されている。例えば眼科分野においては、眼底や角膜等の画像を形成する装置が実用化されている。

このような被測定物体としての被検眼の断層像を取得するためのＯＣＴ装置には、被検眼の様々な部位を観察できるように深さ方向に表示範囲を変更可能であることが求められる。このような深さ方向の表示範囲を変更する手法については、例えば非特許文献１及び特許文献１に開示されている。

非特許文献１には、干渉スペクトルにより得られたＡラインプロファイルにおける複素共役曖昧性（ｃｏｍｐｌｅｘ ｃｏｎｊｕｇａｔｅ ａｍｂｉｇｕｉｔｙ）を回避するため、位相シフトにより広範囲（フルレンジ）の断層像を取得する手法が開示されている。取得された広範囲の断層像から所望の範囲を抽出することにより、所望の部位の観察が可能になる。

特許文献１には、干渉スペクトルの検出系を制御することにより表示分解能を変更する手法が開示されている。被検眼の深さ方向の表示分解能を変更することにより、深さ方向の表示範囲を変更することができる。

Ｍ．Ｗｏｊｔｋｏｗｓｋｉ， Ａ．Ｋｏｗａｌｃｚｙｋ， Ｒ．Ｌｅｉｔｇｅｂ， Ａ．Ｆｅｒｃｈｅｒ， "Ｆｕｌｌ ｒａｎｇｅ ｃｏｍｐｌｅｘ ｓｐｅｃｔｒａｌ ｏｐｔｉｃａｌ ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ ｔｅｃｈｎｉｑｕｅ ｉｎ ｅｙｅ ｉｍａｇｉｎｇ"， Ｏｐｔｉｃｓ ｌｅｔｔｅｒｓ， ２００２年８月１５日， Ｖｏｌ．２７（Ｎｏ．１６）， ｐｐ．１４１５−１４１７

特許第５８２８８１１号公報

しかしながら、非特許文献１に開示された手法では、位相シフトを行うための構成や演算処理が複雑になるという問題がある。また、特許文献１に開示された手法では、深さ方向の表示分解能を変更するため、変更後の表示範囲における表示分解能が不明となり、被検眼の所定の部位の厚さ等の測定値の信頼性が低下するという問題がある。

本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、測定値の信頼性を低下させることなく、簡素な構成で表示範囲の変更が可能なＯＣＴ装置を提供することである。

実施形態のＯＣＴ装置は、干渉光学系と、分解能変更部と、較正値算出部とを含む。干渉光学系は、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、測定光を被測定物体に照射し、被測定物体からの戻り光と参照光との干渉光を検出する。分解能変更部は、干渉光学系の光軸方向の分解能を変更する。較正値算出部は、分解能変更部により分解能が変更された状態における干渉光の検出結果に基づいて、分解能の較正値を求める。

本発明によれば、測定値の信頼性を低下させることなく、簡素な構成で表示範囲の変更が可能なＯＣＴ装置を提供することが可能になる。

第１実施形態に係るＯＣＴ装置の光学系の構成の一例を表す概略図である。 第１実施形態に係るＯＣＴ装置の光学系の構成の一例を表す概略図である。 第１実施形態に係るＯＣＴ装置の制御系の構成の一例を表す概略図である。 第１実施形態に係るＯＣＴ装置の制御系の構成の一例を表す概略図である。 第１実施形態に係るＯＣＴ装置の動作説明図である。 第１実施形態に係るＯＣＴ装置の動作例のフロー図である。 第１実施形態に係るＯＣＴ装置の他の動作例のフロー図である。 第２実施形態に係るＯＣＴ装置の光学系の構成の一例を表す概略図である。 第２実施形態に係るＯＣＴ装置の制御系の構成の一例を表す概略図である。 第２実施形態の変形例に係るＯＣＴ装置の光学系の構成の一例を表す概略図である。

この発明に係るＯＣＴ装置の実施形態の例について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、この明細書において引用された文献の記載内容や任意の公知技術を、以下の実施形態に援用することが可能である。

ＯＣＴ装置は、光干渉断層計の機能を有し、被測定物体に対してＯＣＴを実行する。以下の実施形態では、被測定物体として被検眼を例に説明するが、実施形態に係るＯＣＴ装置は、被検眼以外の被測定物体に対してＯＣＴを実行するものであってよい。実施形態に係るＯＣＴ装置は、例えば眼底や前眼部など、被検眼の任意の部位に対してＯＣＴを実行することが可能である。この明細書では、ＯＣＴによって取得される画像をＯＣＴ画像と総称することがある。また、ＯＣＴ画像を形成するための計測動作をＯＣＴ計測と呼ぶことがある。

＜第１実施形態＞
以下では、実施形態に係るＯＣＴ装置としてフーリエドメインタイプのＯＣＴを実行可能な眼科撮影装置について説明する。特に、第１実施形態に係る眼科撮影装置は、スペクトラルドメインタイプのＯＣＴの手法を適用可能である。また、以下の実施形態ではＯＣＴ装置と眼底カメラとを組み合わせた装置について説明する。しかしながら、眼底カメラ以外のモダリティ、例えばＳＬＯ（Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｌａｓｅｒ Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ）、スリットランプ、眼科手術用顕微鏡、光凝固装置などに、実施形態に係る構成を有するＯＣＴ装置を組み合わせることも可能である。また、実施形態に係る構成を、単体のＯＣＴ装置に組み込むことも可能である。

［構成］
図１に示すように、眼科撮影装置１は、眼底カメラユニット２、ＯＣＴユニット１００、及び演算制御ユニット２００を含む。眼底カメラユニット２は、従来の眼底カメラとほぼ同様の光学系を有する。ＯＣＴユニット１００には、ＯＣＴを実行するための光学系が設けられている。演算制御ユニット２００は、各種の演算処理や制御処理等を実行するコンピュータを具備している。

〔眼底カメラユニット〕
図１に示す眼底カメラユニット２には、被検眼Ｅの眼底Ｅｆの表面形態を表す２次元画像（眼底像）を取得するための光学系が設けられている。眼底像には、観察画像や撮影画像などが含まれる。観察画像は、例えば、近赤外光を用いて所定のフレームレートで形成されるモノクロの動画像である。撮影画像は、例えば、可視光をフラッシュ発光して得られるカラー画像、又は近赤外光若しくは可視光を照明光として用いたモノクロの静止画像であってもよい。眼底カメラユニット２は、これら以外の画像、例えばフルオレセイン蛍光画像やインドシアニングリーン蛍光画像や自発蛍光画像などを取得可能に構成されていてもよい。

眼底カメラユニット２には、被検者の顔を支持するための顎受けや額当てが設けられている。更に、眼底カメラユニット２には、照明光学系１０と撮影光学系３０とが設けられている。照明光学系１０は眼底Ｅｆに照明光を照射する。撮影光学系３０は、この照明光の眼底反射光を撮像装置（ＣＣＤイメージセンサ（単にＣＣＤと呼ぶことがある）３５、３８）に導く。また、撮影光学系３０は、ＯＣＴユニット１００からの測定光を被検眼Ｅに導くとともに、被検眼Ｅを経由した測定光をＯＣＴユニット１００に導く。

照明光学系１０の観察光源１１は、例えばハロゲンランプ又はＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ）により構成される。観察光源１１から出力された光（観察照明光）は、曲面状の反射面を有する反射ミラー１２により反射され、集光レンズ１３を経由し、可視カットフィルタ１４を透過して近赤外光となる。更に、観察照明光は、撮影光源１５の近傍にて一旦集束し、ミラー１６により反射され、リレーレンズ１７、１８、絞り１９及びリレーレンズ２０を経由する。そして、観察照明光は、孔開きミラー２１の周辺部（孔部の周囲の領域）にて反射され、ダイクロイックミラー４６を透過し、対物レンズ２２により屈折されて眼底Ｅｆを照明する。

観察照明光の眼底反射光は、対物レンズ２２により屈折され、ダイクロイックミラー４６を透過し、孔開きミラー２１の中心領域に形成された孔部を通過し、ダイクロイックミラー５５を透過し、合焦レンズ３１を経由し、ミラー３２により反射される。更に、この眼底反射光は、ハーフミラー３３Ａを透過し、ダイクロイックミラー３３により反射され、集光レンズ３４によりＣＣＤイメージセンサ３５の受光面に結像される。ＣＣＤイメージセンサ３５は、例えば所定のフレームレートで眼底反射光を検出する。表示装置３には、ＣＣＤイメージセンサ３５により検出された眼底反射光に基づく画像（観察画像）が表示される。なお、撮影光学系３０のピントが前眼部に合わせられている場合、被検眼Ｅの前眼部の観察画像が表示される。

撮影光源１５は、例えばキセノンランプ又はＬＥＤにより構成される。撮影光源１５から出力された光（撮影照明光）は、観察照明光と同様の経路を通って眼底Ｅｆに照射される。撮影照明光の眼底反射光は、観察照明光のそれと同様の経路を通ってダイクロイックミラー３３まで導かれ、ダイクロイックミラー３３を透過し、ミラー３６により反射され、集光レンズ３７によりＣＣＤイメージセンサ３８の受光面に結像される。表示装置３には、ＣＣＤイメージセンサ３８により検出された眼底反射光に基づく画像（撮影画像）が表示される。なお、観察画像を表示する表示装置３と撮影画像を表示する表示装置３は、同一のものであってもよいし、異なるものであってもよい。また、被検眼Ｅを赤外光で照明して同様の撮影を行う場合には、赤外の撮影画像が表示される。また、撮影光源としてＬＥＤを用いることも可能である。

ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）３９は、固視標や視力測定用指標を表示する。固視標は被検眼Ｅを固視させるための指標であり、眼底撮影時やＯＣＴ計測時などに使用される。

ＬＣＤ３９から出力された光は、その一部がハーフミラー３３Ａにて反射され、ミラー３２により反射され、合焦レンズ３１及びダイクロイックミラー５５を経由し、孔開きミラー２１の孔部を通過する。孔部を通過した光は、ダイクロイックミラー４６を透過し、対物レンズ２２により屈折されて眼底Ｅｆに投影される。ＬＣＤ３９の画面上における固視標の表示位置を変更することにより、被検眼Ｅの固視位置を変更できる。

更に、眼底カメラユニット２には、従来の眼底カメラと同様にアライメント光学系５０とフォーカス光学系６０とが設けられている。アライメント光学系５０は、被検眼Ｅに対する装置光学系の位置合わせ（アライメント）を行うための指標（アライメント指標）を生成する。フォーカス光学系６０は、被検眼Ｅに対してフォーカス（ピント）を合わせるための指標（スプリット指標）を生成する。

アライメント光学系５０のＬＥＤ５１から出力された光（アライメント光）は、絞り５２、５３及びリレーレンズ５４を経由してダイクロイックミラー５５により反射され、孔開きミラー２１の孔部を通過する。孔部を通過した光は、ダイクロイックミラー４６を透過し、対物レンズ２２により被検眼Ｅの角膜に投影される。

アライメント光の角膜反射光は、対物レンズ２２、ダイクロイックミラー４６及び上記孔部を経由し、その一部がダイクロイックミラー５５を透過し、合焦レンズ３１を通過し、ミラー３２により反射され、ハーフミラー３３Ａを透過する。ハーフミラー３３Ａを透過した光は、ダイクロイックミラー３３により反射され、集光レンズ３４によりＣＣＤイメージセンサ３５の受光面に投影される。ＣＣＤイメージセンサ３５による受光像（アライメント指標）は、観察画像とともに表示装置３に表示される。ユーザは、従来の眼底カメラと同様の操作を行ってアライメントを実施する。また、演算制御ユニット２００がアライメント指標の位置を解析して光学系を移動させることによりアライメントを行ってもよい（オートアライメント機能）。

フォーカス調整を行う際には、照明光学系１０の光路上に反射棒６７の反射面が斜設される。フォーカス光学系６０のＬＥＤ６１から出力された光（フォーカス光）は、リレーレンズ６２を通過し、スプリット指標板６３により２つの光束に分離され、二孔絞り６４を通過する。二孔絞り６４を通過した光は、ミラー６５により反射され、集光レンズ６６により反射棒６７の反射面に一旦結像されて反射される。更に、フォーカス光は、リレーレンズ２０を経由し、孔開きミラー２１により反射され、ダイクロイックミラー４６を透過し、対物レンズ２２により屈折されて眼底Ｅｆに投影される。

フォーカス光の眼底反射光は、アライメント光の角膜反射光と同様の経路を通ってＣＣＤイメージセンサ３５により検出される。ＣＣＤイメージセンサ３５による受光像（スプリット指標）は、観察画像とともに表示装置３に表示される。演算制御ユニット２００は、従来と同様に、スプリット指標の位置を解析して合焦レンズ３１及びフォーカス光学系６０を移動させてピント合わせを行う（オートフォーカス機能）。また、スプリット指標を視認しつつ手動でピント合わせを行ってもよい。

ダイクロイックミラー４６は、眼底撮影用の光路からＯＣＴ用の光路を分岐させている。ダイクロイックミラー４６は、ＯＣＴに用いられる波長帯の光を反射し、眼底撮影用の光を透過させる。このＯＣＴ用の光路には、ＯＣＴユニット１００側から順に、コリメータレンズユニット４０と、光路長変更部４１と、光スキャナ４２と、合焦レンズ４３と、ミラー４４と、リレーレンズ４５とが設けられている。合焦レンズ４３は、ＯＣＴ用の光路に沿って移動可能である。

コリメータレンズユニット４０と光路長変更部４１との間の光路（測定光の光路）に対し、板ガラス４７が挿脱される。板ガラス４７は、既知の厚さと既知の屈折率を有し、光（測定光及びその戻り光）を透過させる平行平面板である。板ガラス４７は、コリメータレンズユニット４０と光スキャナ４２との間の光路の任意の位置で挿脱されてよい。後述するように、被検眼Ｅの深さ方向のピクセル分解能（表示分解能）の較正値を求めるとき、板ガラス４７が当該光路に配置される。被検眼Ｅの深さ方向は、対物レンズ２２の対物光軸（ＯＣＴユニット１００の光軸、干渉光学系の光軸、ＯＣＴ用の光路の光軸）の方向である。

光路長変更部４１は、図１に示す矢印の方向に移動可能とされ、ＯＣＴ用の光路の光路長を変更する。この光路長の変更は、被検眼Ｅの眼軸長に応じた光路長の補正や、干渉状態の調整などに利用される。光路長変更部４１は、例えばコーナーキューブと、これを移動する機構とを含んで構成される。

光スキャナ４２は、被検眼Ｅの瞳孔と光学的に共役な位置に配置されている。光スキャナ４２は、ＯＣＴ用の光路を通過する光（測定光ＬＳ）の進行方向を変更する。それにより、被検眼Ｅを測定光ＬＳでスキャンすることができる。光スキャナ４２は、例えば、測定光ＬＳをｘ方向にスキャンするガルバノミラーと、ｙ方向にスキャンするガルバノミラーと、これらを独立に駆動する機構とを含んで構成される。それにより、測定光ＬＳをｘｙ平面上の任意の方向にスキャンすることができる。

〔ＯＣＴユニット〕
ＯＣＴユニット１００の構成の一例を図２に示す。ＯＣＴユニット１００には、被検眼ＥのＯＣＴ画像を取得するための光学系が設けられている。この光学系は、従来のスペクトラルドメインタイプのＯＣＴ装置と同様の構成を有する。すなわち、この光学系は、広帯域光源からの光（低コヒーレンス光）を参照光と測定光とに分割し、被検眼Ｅの眼底Ｅｆを経由した測定光と参照光路を経由した参照光とを干渉させて干渉光を生成し、この干渉光のスペクトル成分を検出するように構成されている。この検出結果（検出信号）は演算制御ユニット２００に送られる。

光源ユニット１０１は広帯域の低コヒーレンス光Ｌ０を出力する。低コヒーレンス光Ｌ０は、例えば、近赤外領域の波長帯（約８００ｎｍ〜９００ｎｍ程度）を含み、数十マイクロメートル程度の時間的コヒーレンス長を有する。なお、人眼では視認できない波長帯、例えば１０４０〜１０６０ｎｍ程度の中心波長を有する近赤外光を低コヒーレンス光Ｌ０として用いてもよい。

光源ユニット１０１は、スーパールミネセントダイオード（Ｓｕｐｅｒ Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ Ｄｉｏｄｅ：ＳＬＤ）や、ＬＥＤや、ＳＯＡ（Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ Ｏｐｔｉｃａｌ Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）等の光出力デバイスを含んで構成される。

光源ユニット１０１から出力された低コヒーレンス光Ｌ０は、光ファイバ１０２によりファイバカプラ１０３に導かれて測定光ＬＳと参照光ＬＲとに分割される。

参照光ＬＲは、光ファイバ１０４により導かれてアッテネータ（光減衰器）１０５に到達する。アッテネータ１０５は、公知の技術を用いて、演算制御ユニット２００の制御の下、光ファイバ１０４により導かれる参照光ＬＲの光量を自動で調整する。アッテネータ１０５により光量が調整された参照光ＬＲは、光ファイバ１０４により導かれて偏波コントローラ（偏波調整器）１０６に到達する。偏波コントローラ１０６は、例えば、ループ状にされた光ファイバ１０４に対して外部から応力を与えることで、光ファイバ１０４内を導かれる参照光ＬＲの偏光状態を調整する装置である。なお、偏波コントローラ１０６の構成はこれに限定されるものではなく、任意の公知技術を用いることが可能である。偏波コントローラ１０６により偏光状態が調整された参照光ＬＲは、ファイバカプラ１０９に到達する。

ファイバカプラ１０３により生成された測定光ＬＳは、光ファイバ１０７により導かれ、コリメータレンズユニット４０により平行光束とされる。更に、測定光ＬＳは、光路長変更部４１、光スキャナ４２、合焦レンズ４３、ミラー４４、及びリレーレンズ４５を経由してダイクロイックミラー４６に到達する。上記のように、コリメータレンズユニット４０と光路長変更部４１との間の測定光ＬＳの光路に対して、板ガラス４７が挿脱可能に設けられている。板ガラス４７は、演算制御ユニット２００の制御の下、移動機構４７Ａにより移動される。ダイクロイックミラー４６に到達した測定光ＬＳは、ダイクロイックミラー４６により反射され、対物レンズ２２により屈折されて眼底Ｅｆに照射される。測定光ＬＳは、眼底Ｅｆの様々な深さ位置において散乱（反射を含む）される。眼底Ｅｆによる測定光ＬＳの後方散乱光は、往路と同じ経路を逆向きに進行してファイバカプラ１０３に導かれ、光ファイバ１０８を経由してファイバカプラ１０９に到達する。

ファイバカプラ１０９は、測定光ＬＳの後方散乱光と、アッテネータ１０５等を経由した参照光ＬＲとを干渉させる。これにより生成された干渉光ＬＣは、光ファイバ１１０により導かれて出射端１１１から出射される。更に、干渉光ＬＣは、コリメータレンズ１１２により平行光束とされ、回折格子（分光器）１１３により分光（スペクトル分解）され、ズーム光学系１１４により集光されてＣＣＤイメージセンサ１１５の受光面に投影される。なお、図２に示す回折格子１１３は透過型であるが、例えば反射型の回折格子など、他の形態の分光素子を用いることも可能である。

ＣＣＤイメージセンサ１１５は、例えばラインセンサであり、２以上の受光素子（検出素子）が配列され、分光された干渉光ＬＣの各スペクトル成分を検出して電荷に変換する。ＣＣＤイメージセンサ１１５は、この電荷を蓄積して検出信号を生成し、これを演算制御ユニット２００に送る。

この実施形態ではマイケルソン型の干渉計を採用しているが、例えばマッハツェンダー型など任意のタイプの干渉計を適宜に採用することが可能である。また、ＣＣＤイメージセンサに代えて、他の形態のイメージセンサ、例えばＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ Ｍｅｔａｌ Ｏｘｉｄｅ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）イメージセンサなどを用いることが可能である。

〔演算制御ユニット〕
演算制御ユニット２００の構成について図３及び図４を参照しつつ説明する。なお、図３及び図４においては、眼科撮影装置１のいくつかの構成要素が省略されており、この実施形態を説明するために特に必要な構成要素が選択的に示されている。

演算制御ユニット２００は、ＣＣＤイメージセンサ１１５から入力される検出信号を解析して被検眼ＥのＯＣＴ画像を形成する。そのための演算処理は、従来のスペクトラルドメインタイプのＯＣＴ装置と同様である。また、演算制御ユニット２００は、眼底カメラユニット２、表示装置３及びＯＣＴユニット１００の各部を制御する。例えば演算制御ユニット２００は、被検眼ＥのＯＣＴ画像を表示装置３に表示させる。演算制御ユニット２００は、制御部２１０と、画像形成部２２０と、データ処理部２３０とを含む。

演算制御ユニット２００は、例えば、従来のコンピュータと同様に、マイクロプロセッサ、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ハードディスクドライブ、通信インターフェイスなどを含む。ハードディスクドライブ等の記憶装置には、眼科撮影装置１を制御するためのコンピュータプログラムが記憶されている。演算制御ユニット２００は、各種の回路基板、例えばＯＣＴ画像を形成するための回路基板を備えていてもよい。また、演算制御ユニット２００は、キーボードやマウス等の操作デバイス（入力デバイス）や、ＬＣＤ等の表示デバイスを備えていてもよい。

（制御部）
眼科撮影装置１の制御系は、制御部２１０を中心に構成される。制御部２１０は、例えば、マイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、通信インターフェイス等を含んで構成される。制御部２１０には、主制御部２１１と記憶部２１２が設けられている。

（主制御部）
主制御部２１１は前述の各種制御を行う。特に、図３に示すように、主制御部２１１は、眼底カメラユニット２に対し、合焦駆動部３１Ａ及び４３Ａ、ＣＣＤイメージセンサ３５及び３８、ＬＣＤ３９、光路長変更部４１、光スキャナ４２、及び移動機構４７Ａ等を制御する。また、主制御部２１１は、ＯＣＴユニット１００に対し、光源ユニット１０１、アッテネータ１０５、偏波コントローラ１０６、ズーム光学系１１４、及びＣＣＤイメージセンサ１１５等を制御する。

合焦駆動部３１Ａは、主制御部２１１の制御の下、合焦レンズ３１を光軸方向に移動させる。それにより、撮影光学系３０の合焦位置が変更される。なお、主制御部２１１は、図示しない光学系駆動部を制御して、眼底カメラユニット２に設けられた光学系を３次元的に移動させることができる。この制御は、アライメントやトラッキングにおいて用いられる。トラッキングとは、被検眼Ｅの運動に合わせて装置光学系を移動させるものである。トラッキングを行う場合には、事前にアライメントとピント合わせが実行される。トラッキングは、被検眼Ｅを動画撮影して得られる画像に基づき被検眼Ｅの位置や向きに合わせて装置光学系をリアルタイムで移動させることにより、アライメントとピントが合った好適な位置関係を維持する機能である。

合焦駆動部４３Ａは、主制御部２１１の制御の下、測定光ＬＳの光路に沿って合焦レンズ４３を移動させる。それにより、測定光ＬＳの合焦位置が変更される。測定光ＬＳの合焦位置は、測定光ＬＳのビームウェストの深さ位置（ｚ位置）に相当する。

移動機構４７Ａは、主制御部２１１の制御の下、測定光ＬＳの光路に対して板ガラス４７を挿脱させる。それにより、測定光ＬＳの光路に板ガラス４７を配置させたり、測定光ＬＳの光路から板ガラス４７を退避させたりすることができる。

光源ユニット１０１は、主制御部２１１の制御の下、光源ユニット１０１から出力された光Ｌ０の光束径を変更する。それにより、被検眼Ｅに入射する測定光ＬＳの光束径（ビーム径）が変更される。例えば、主制御部２１１は、光Ｌ０の光路に配置された絞りを制御したり、互いに光束径が異なる複数の光源の１つを選択し、選択された光源からの光を光Ｌ０として出力させたりする。また、測定光ＬＳの光路に絞りを設け、主制御部２１１は、この絞りを制御することにより測定光ＬＳの光束径を変更するようにしてもよい。

ズーム光学系１１４は、２以上のレンズ（例えば、２つの凸レンズと、２つの凸レンズの間に配置された１つの凹レンズ）を含み、主制御部２１１の制御の下、レンズ間隔の変更が可能に構成されている。レンズ間隔を変更することにより、画角が変更され、ＣＣＤイメージセンサ１１５の検出面における１検出素子あたりのスペクトルの波長幅を変更することが可能である。

深さ方向のピクセル分解能Δｚは、次の式（１）で表される。式（１）において、定数をＣとし、ＣＣＤイメージセンサ１１５の受光スペクトルの中心波長をλ_０とし、ＣＣＤイメージセンサ１１５の検出面における１検出素子あたりのスペクトルの波長幅をΔλとし、ＣＣＤイメージセンサ１１５の検出面に配列される検出素子数（表示点数）をＮとしている。

式（１）に示す通り、ＣＣＤイメージセンサ１１５の検出面における１検出素子あたりのスペクトルの波長幅Δλを変更することにより、深さ方向のピクセル分解能Δｚを変更することができる。波長幅Δλを大きくすることによりピクセル分解能Δｚを小さくし、波長幅Δλを小さくすることによりピクセル分解能Δｚを大きくすることができる。深さ方向のピクセル分解能Δｚを変更することにより、深さ方向の表示範囲を変更することができる。

図５に、実施形態に係るズーム光学系１１４の動作説明図を示す。図５は、ズーム光学系１１４により画角が変更された場合の波長幅等の説明図を表す。

ズーム光学系１１４は、例えば、凸レンズ１１４Ａと、凹レンズ１１４Ｂと、凸レンズ１１４Ｃとを含む。凹レンズ１１４Ｂは、凸レンズ１１４Ａと凸レンズ１１４Ｃとの間に配置されている。主制御部２１１は、凸レンズ１１４Ａ、凹レンズ１１４Ｂ、及び凸レンズ１１４Ｃの少なくとも１つの位置を光軸方向に移動させることにより画角を変更することができる。図５においてＣＣＤイメージセンサ１１５の右側には、画角ごとに、縦軸（光軸方向）に強度（Ｉｎｔｅｎｓｉｔｙ）を表し、横軸（光軸に直交する方向）にＮ個の検出素子（検出画素）の配列位置を表す受光強度分布の模式図が示されている。

図５の上段では、ＣＣＤイメージセンサ１１５の光軸に直交する方向の略中央の位置（（Ｎ／２）位置）の検出素子では中心波長λ_０のスペクトルが最大強度の波長成分として検出される。ＣＣＤイメージセンサ１１５の下端部の位置（≒０位置）から上端部の位置（≒Ｎ位置）の検出素子では、回折格子１１３により分光された各波長のスペクトルが検出される。このとき、ＣＣＤイメージセンサ１１５の受光されるスペクトルの波長幅はΔλ_１であり、１検出素子あたりの波長幅はδλ_１（＝Δλ_１／Ｎ）であり、深さ方向のピクセル分解能はΔｚ_１である。測定光ＬＳの光路に板ガラス４７が配置されているとき、干渉光の検出結果から得られるＡスキャン画像又はＢスキャン画像には、板ガラス４７の表面と裏面とが描出される。

図５の上段より画角が狭くなるようにズーム光学系１１４が制御されると、図５の中段に示すように、ＣＣＤイメージセンサ１１５の略中央の位置（（Ｎ／２）位置））の検出素子では中心波長λ_０のスペクトルが最大強度の波長成分として検出される。一方、ＣＣＤイメージセンサ１１５の両端部では受光されない。このとき、ＣＣＤイメージセンサ１１５の受光スペクトルの波長幅はΔλ_２（Δλ_２＞Δλ_１）となり、１検出素子あたりの波長幅はδλ_２（＝Δλ_２／Ｎ、δλ_２＞δλ_１）となり、深さ方向のピクセル分解能はΔｚ_２（Δｚ_２＜Δｚ_１）となる。測定光ＬＳの光路に板ガラス４７が配置されているとき、干渉光の検出結果から得られるＡスキャン画像又はＢスキャン画像には、図５の上段より板ガラス４７の表面と裏面との間隔が広くなるように描出される。

図５の中段より更に画角が狭くなるようにズーム光学系１１４が制御されると、図５の下段に示すように、ＣＣＤイメージセンサ１１５の略中央の位置（（Ｎ／２）位置））の検出素子では中心波長λ_０のスペクトルが最大強度の波長成分として検出される。一方、ＣＣＤイメージセンサ１１５の中心部近傍だけスペクトルが受光される。このとき、ＣＣＤイメージセンサ１１５の受光スペクトルの波長幅はΔλ_３（Δλ_３＞Δλ_２＞Δλ_１）となり、１検出素子あたりの波長幅はδλ_３（＝Δλ_３／Ｎ、δλ_３＞δλ_２＞δλ_１）となり、深さ方向のピクセル分解能はΔｚ_３（Δｚ_３＜Δｚ_２＜Δｚ_１）となる。測定光ＬＳの光路に板ガラス４７が配置されているとき、干渉光の検出結果から得られるＡスキャン画像又はＢスキャン画像には、図５の中段より板ガラス４７の表面と裏面との間隔が広くなるように描出される。

以上のように、主制御部２１１は、ズーム光学系１１４を制御することにより深さ方向のピクセル分解能を変更することができる。主制御部２１１は、光源ユニット１０１等を制御して測定光ＬＳの光束径を変更したとき、更にズーム光学系１１４を制御して深さ方向のピクセル分解能を変更することが可能である。

主制御部２１１は、図３に示すように、表示制御部２１１Ａを含む。表示制御部２１１Ａは、画像形成部２２０により形成されたＯＣＴ画像や、データ処理部２３０によるデータ処理後の情報などを表示装置３に表示させる。

表示制御部２１１Ａは、深さ方向のピクセル分解能でＯＣＴ画像（断層像）等を表示装置３に表示させる。ピクセル分解能は、既定のピクセル分解能、又は後述するピクセル分解能の較正値である。ピクセル分解能は、深さ方向の表示分解能であり、１ピクセルあたりの深さ方向の長さを表す。後述するように、深さ方向のピクセル分解能が変更されたとき、ピクセル分解能の較正値は求められる。それにより、新たに形成されたＯＣＴ画像を較正値２１２Ａに基づいて表示装置３に表示させたり、較正値２１２Ａに基づいて新たにＯＣＴ画像を形成したりすることができる。

例えば、表示制御部２１１Ａは、ピクセル分解能を表す画像とＯＣＴ画像とを表示装置３に表示させる。表示制御部２１１Ａは、ＯＣＴ画像にピクセル分解能を表す画像を重畳させて表示装置３に表示させることが可能である。ピクセル分解能を表す画像には、１ピクセルあたりの深さ方向の長さを表すスケール画像、ピクセル分解能の値を表す画像などがある。スケール画像には、任意に変更可能な基準点を中心として当該ピクセル分解能を単位とした既定の長さを半径とする円画像、当該ピクセル分解能を単位とした既定の長さの線画像などがある。

（記憶部）
記憶部２１２は、各種のデータを記憶する。記憶部２１２に記憶されるデータとしては、例えば、ＯＣＴ画像の画像データ、眼底像の画像データ、ピクセル分解能、ピクセル分解能の較正値２１２Ａ、被検眼情報などがある。被検眼情報は、患者ＩＤや氏名などの被検者に関する情報や、左眼／右眼の識別情報などの被検眼に関する情報を含む。また、記憶部２１２には、眼科撮影装置１を動作させるための各種プログラムやデータが記憶されている。

（画像形成部）
画像形成部２２０は、ＣＣＤイメージセンサ１１５からの検出信号に基づいて、眼底Ｅｆの断層像の画像データを形成する。すなわち、画像形成部２２０は、干渉光学系による干渉光ＬＣの検出結果に基づいて被検眼Ｅの画像データを形成する。この処理には、従来のスペクトラルドメインタイプのＯＣＴと同様に、ノイズ除去（ノイズ低減）、フィルタ処理、ＦＦＴ（Ｆａｓｔ Ｆｏｕｒｉｅｒ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）などの処理が含まれている。このようにして取得される画像データは、複数のＡライン（被検眼Ｅ内における各測定光ＬＳの経路）における反射強度プロファイルを画像化することにより形成された一群の画像データを含むデータセットである。

画像形成部２２０は、ＣＣＤイメージセンサ１１５からの検出信号と後述のピクセル分解能の較正値とに基づいて、眼底Ｅｆの断層像の画像データを形成することが可能である。すなわち、画像形成部２２０は、干渉光学系による干渉光ＬＣの新たな検出結果とピクセル分解能の較正値とに基づいて被検眼Ｅの画像データを形成する。例えば、画像形成部２２０は、干渉光学系による干渉光の新たな検出結果に基づいて眼底Ｅｆの断層像を形成し、形成された断層像に対して、所定の基準分解能に対する較正値の比率に応じて深さ方向に画素の補間や間引きを行うことで較正値に対応した断層像を形成する。

画質を向上させるために、同じパターンでのスキャンを複数回繰り返して収集された複数のデータセットを重ね合わせる（加算平均する）ことができる。

画像形成部２２０は、例えば、前述の回路基板を含んで構成される。なお、この明細書では、「画像データ」と、それに基づく「画像」とを同一視することがある。また、被検眼Ｅの部位とその画像とを同一視することもある。

（データ処理部）
データ処理部２３０は、画像形成部２２０により形成されたＯＣＴ画像に対して各種のデータ処理（画像処理）や解析処理を施す。例えば、データ処理部２３０は、画像の輝度補正や分散補正等の補正処理を実行する。また、データ処理部２３０は、眼底カメラユニット２により得られた画像（眼底像、前眼部像等）に対して各種の画像処理や解析処理を施す。

データ処理部２３０は、断層像の間の画素を補間する補間処理などの公知の画像処理を実行することにより、被検眼Ｅのボリュームデータ（ボクセルデータ）を形成することができる。ボリュームデータに基づく画像を表示させる場合、データ処理部２３０は、このボリュームデータに対してレンダリング処理を施して、特定の視線方向から見たときの擬似的な３次元画像を形成する。

データ処理部２３０は、眼底像とＯＣＴ画像との位置合わせを行うことができる。眼底像とＯＣＴ画像とが並行して取得される場合には、双方の光学系が同軸であることから、（ほぼ）同時に取得された眼底像とＯＣＴ画像とを、撮影光学系３０の光軸を基準として位置合わせすることができる。また、眼底像とＯＣＴ画像との取得タイミングに関わらず、ＯＣＴ画像のうち眼底Ｅｆの相当する画像領域の少なくとも一部をｘｙ平面に投影して得られる正面画像と、眼底像との位置合わせをすることにより、そのＯＣＴ画像とその眼底像とを位置合わせすることも可能である。この位置合わせ手法は、眼底像取得用の光学系とＯＣＴ用の光学系とが同軸でない場合においても適用可能である。また、双方の光学系が同軸でない場合であっても、双方の光学系の相対的な位置関係が既知であれば、この相対位置関係を参照して同軸の場合と同様の位置合わせを実行することが可能である。

データ処理部２３０は、図４に示すように、較正値算出部２３１と、分解能指定部２３２とを含む。

較正値算出部２３１は、ピクセル分解能が変更された状態でＯＣＴユニット１００における干渉光の検出結果に基づいて、ピクセル分解能の較正値を求める。図５に示すように、ズーム光学系１１４によってＣＣＤイメージセンサ１１５の検出面における１検出素子あたりのスペクトルの波長幅を変更することによりピクセル分解能が変更される。較正値算出部２３１は、板ガラス４７が測定光ＬＳの光路に配置された状態における干渉光の検出結果に基づいて板ガラス４７の表面に相当する第１位置と板ガラス４７の裏面に相当する第２位置とを特定し、第１位置と第２位置との間の距離に基づいて較正値を求める。

較正値算出部２３１は、既存の分解能ｒに代わる分解能の較正値（ｒ＋Δｒ）を直接に求める。なお、較正値算出部２３１は、既存の分解能ｒに対する補正値Δｒを求め、加算値（ｒ＋Δｒ）を較正値として求めてもよい。

較正値算出部２３１は、式（２）に従い較正値δを求めることが可能である。式（２）において、板ガラス４７の屈折率をｎ_１とし、板ガラス４７の光軸方向の厚さをｄ_１とし、板ガラス４７の表面に相当する第１位置と裏面に相当する第２位置との間の光軸方向の表示点数をＮとし、被検眼Ｅにおける測定光ＬＳの照射部位の屈折率をｎ_２としている。被検眼Ｅの眼底Ｅｆに測定光ＬＳを照射する場合、ｎ_２＝１．３８とすることができるが、屈折率ｎ_２は、測定光ＬＳの照射部位に応じて任意に変更可能である。

制御部２１０（主制御部２１１）は、ＯＣＴ画像の画像データ又は眼底像の画像データに、較正値算出部２３１により求められた較正値を付帯させて較正値２１２Ａとして記憶部２１２に記憶させる。制御部２１０、画像形成部２２０及びデータ処理部２３０のそれぞれは、記憶部２１２に記憶された較正値２１２Ａを読み出し、その後のＯＣＴ画像の形成や解析や表示などに用いることができる。

例えば、表示制御部２１１Ａは、記憶部２１２に記憶された較正値を深さ方向のピクセル分解能として、画像形成部２２０により干渉光の新たな検出結果に基づいて形成された被検眼Ｅの断層像を表示装置３に表示させる。それにより、ピクセル分解能が変更された場合であっても、ピクセル分解能の較正値を求め、求められた較正値で表示装置３に表示させることができるので、被検眼Ｅの任意の部位の厚さ等の測定値の信頼性の低下を防止することが可能になる。

例えば、表示制御部２１１Ａは、較正値と異なるピクセル分解能で表示装置３に第１断層像を表示させ、かつ、記憶部２１２に記憶された較正値を深さ方向のピクセル分解能として、画像形成部２２０により形成された第２断層像を表示装置３に表示させる。第１断層像は、過去に取得された所定のピクセル分解能の断層像や、他の眼科撮影装置により取得された所定のピクセル分解能の断層像であってよい。それにより、異なる条件で取得された断層像や当該断層像から得られた測定値を比較することができる。このとき、表示制御部２１１Ａは、較正値算出部２３１により求められた較正値で第１断層像を表示装置３に表示させ、第１断層像と第２断層像とを同一分解能で表示させてもよい。

例えば、画像形成部２２０は、ＯＣＴユニット１００により得られた干渉光の新たな検出結果と記憶部２１２に記憶された較正値とに基づいて被検眼Ｅの断層像を形成することが可能である。例えば、表示制御部２１１Ａは、既定のピクセル分解能で、形成された断層像の縮尺を変更しつつ表示装置３に表示させることが可能である。それにより、ピクセル分解能が変更された場合であっても、ピクセル分解能の較正値を求め、求められた較正値に基づいて新たに断層像を形成することができるので、被検眼Ｅの任意の部位の厚さ等の測定値の信頼性の低下を防止することが可能になる。

分解能指定部２３２は、深さ方向のピクセル分解能を指定する。分解能指定部２３２は、主制御部２１１（制御部２１０）の制御の下、ピクセル分解能を指定することが可能である。例えば、主制御部２１１は、動作モードの変更に伴い、分解能指定部２３２に対し、動作モードに対応したピクセル分解能を指定させる。なお、分解能指定部２３２は、ユーザによるユーザインターフェイス２４０（操作部２４２）に対する操作内容に基づいてピクセル分解能を指定してもよい。主制御部２１１は、分解能指定部２３２により指定されたピクセル分解能に基づいてズーム光学系１１４を制御することによりピクセル分解能を変更する。この場合、画像形成部２２０は、干渉光の新たな検出結果に基づいて、分解能指定部２３２により指定されたピクセル分解能で被検眼Ｅの断層像を形成することができる。また、表示制御部２１１Ａは、分解能指定部２３２により指定されたピクセル分解能で被検眼Ｅの断層像を表示装置３に表示させることができる。

以上のように機能するデータ処理部２３０は、例えば、マイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、回路基板等を含んで構成される。ハードディスクドライブ等の記憶装置には、上記機能をマイクロプロセッサに実行させるコンピュータプログラムがあらかじめ格納されている。

（ユーザインターフェイス）
ユーザインターフェイス２４０には、表示部２４１と操作部２４２とが含まれる。表示部２４１は、前述した演算制御ユニット２００の表示デバイスや表示装置３を含んで構成される。操作部２４２は、前述した演算制御ユニット２００の操作デバイスを含んで構成される。操作部２４２には、眼科撮影装置１の筐体や外部に設けられた各種のボタンやキーが含まれていてもよい。また、表示部２４１は、眼底カメラユニット２の筺体に設けられたタッチパネルなどの各種表示デバイスを含んでいてもよい。

なお、表示部２４１と操作部２４２は、それぞれ個別のデバイスとして構成される必要はない。例えばタッチパネルのように、表示機能と操作機能とが一体化されたデバイスを用いることも可能である。その場合、操作部２４２は、このタッチパネルとコンピュータプログラムとを含んで構成される。操作部２４２に対する操作内容は、電気信号として制御部２１０に入力される。また、表示部２４１に表示されたグラフィカルユーザインターフェイス（ＧＵＩ）と、操作部２４２とを用いて、操作や情報入力を行うようにしてもよい。

ＯＣＴユニット１００から対物レンズ２２までの光学系は、実施形態に係る「干渉光学系」の一例である。主制御部２１１（制御部２１０）及びズーム光学系１１４は、実施形態に係る「分解能変更部」の一例である。表示装置３又は表示部２４１は、実施形態に係る「表示手段」の一例である。回折格子１１３は、実施形態に係る「分光部材」の一例である。主制御部２１１（制御部２１０）及び光源ユニット１０１は、実施形態に係る「光束径変更部」の一例である。

［動作例］
眼科撮影装置１の動作について説明する。

図６に、実施形態に係る眼科撮影装置１の動作例のフロー図を示す。図６は、ピクセル分解能の較正値の算出を行う場合の動作例を表す。

（Ｓ１）
主制御部２１１は、測定光ＬＳの光束径を変更するか否かを判定する。例えば、主制御部２１１は、動作モードの変更に伴い、動作モードに対応した光束径の変更制御を行う。測定光ＬＳの光束径を変更すると判定されたとき（Ｓ１：Ｙ）、眼科撮影装置１の動作はＳ２に移行する。測定光ＬＳの光束径を変更すると判定されなかったとき（Ｓ１：Ｎ）、眼科撮影装置１の動作はＳ１に戻る。

（Ｓ２）
測定光ＬＳの光束径を変更すると判定されたとき（Ｓ１：Ｙ）、主制御部２１１は、ズーム光学系１１４を制御することによりピクセル分解能を変更する。測定光ＬＳの光束径が大きくなるように変更されたとき、主制御部２１１は、ピクセル分解能の値が小さくなるようにズーム光学系１１４を制御する。測定光ＬＳの光束径が小さくなるように変更されたとき、主制御部２１１は、ピクセル分解能の値が大きくなるようにズーム光学系１１４を制御する。主制御部２１１は、測定光ＬＳの光束径の変化度合いに応じて、ピクセル分解能を変更することが可能である。

（Ｓ３）
主制御部２１１は、移動機構４７Ａを制御することにより板ガラス４７を測定光ＬＳの光路に配置させる。

（Ｓ４）
主制御部２１１は、光源ユニット１０１から光Ｌ０を出力させ、ＣＣＤイメージセンサ１１５により得られた干渉光の検出結果に基づいて画像形成部２２０にＡスキャン画像又はＢスキャン画像を形成させる。主制御部２１１は、画像形成部２２０により形成されたＡスキャン画像又はＢスキャン画像をデータ処理部２３０等に解析させ、板ガラス４７の表面に相当する第１位置と裏面に相当する第２位置を検出させる。

（Ｓ５）
主制御部２１１は、Ｓ４において検出された板ガラス４７の表面に相当する第１位置と裏面に相当する第２位置との間の距離を板ガラス４７の厚さｄ_１としてデータ処理部２３０等に特定させる。

（Ｓ６）
主制御部２１１は、Ｓ５において特定された厚さｄ_１を用いて式（２）に従い較正値算出部２３１にピクセル分解能の較正値を算出させる。

（Ｓ７）
主制御部２１１は、Ｓ６において求められたピクセル分解能の較正値を記憶部２１２に記憶させる。なお、主制御部２１１は、今後新たに取得されたＯＣＴ画像に当該較正値を付帯させて記憶部２１２に記憶させてもよい。

（Ｓ８）
主制御部２１１は、移動機構４７Ａを制御することにより測定光ＬＳの光路から板ガラス４７を退避させる。

（Ｓ９）
主制御部２１１は、新たにＯＣＴ計測を実行させ、Ｓ６で求められたピクセル分解能の較正値で、取得されたＯＣＴ画像を表示装置３に表示させたり、当該較正値に基づき新たにＯＣＴ画像を形成させる。

Ｓ９では、例えば、観察光源１１からの照明光（可視カットフィルタ１４により近赤外光となる）で眼底Ｅｆを連続照明することにより、眼底Ｅｆの近赤外動画像の取得を開始する。この近赤外動画像は、連続照明が終了するまでリアルタイムで得られる。この動画像を構成する各フレームの画像は、記憶部２１２に一時記憶され、データ処理部２３０に逐次送られる。

なお、被検眼Ｅには、アライメント光学系５０によるアライメント指標と、フォーカス光学系６０によるスプリット指標とが投影されている。よって、近赤外動画像にはアライメント指標とスプリット指標とが描出されている。これら指標を用いてアライメントやピント合わせを行うことができる。また、被検眼Ｅには、ＬＣＤ３９による固視標も投影されている。被検者は、この固視標を凝視するように指示を受ける。

次に、データ処理部２３０は、光学系によって被検眼Ｅを動画撮影することにより得られるフレームを逐次に解析して、アライメント視標の位置を求め、光学系の移動量を算出する。主制御部２１１は、データ処理部２３０により算出された光学系の移動量に基づいて図示しない光学系駆動部を制御することにより、オートアライメントを行う。

続いて、データ処理部２３０は、光学系によって被検眼Ｅを動画撮影することにより得られるフレームを逐次に解析して、スプリット視標の位置を求め、合焦レンズ３１の移動量を算出する。主制御部２１１は、データ処理部２３０により算出された合焦レンズ３１の移動量に基づいて合焦駆動部３１Ａを制御することにより、オートフォーカスを行う。

続いて、主制御部２１１は、オートトラッキングを開始する。具体的には、データ処理部２３０は、光学系によって被検眼Ｅを動画撮影することにより逐次に得られるフレームをリアルタイムで解析して、被検眼Ｅの動き（位置の変化）を監視する。主制御部２１１は、逐次に取得される被検眼Ｅの位置に合わせて光学系を移動させるように図示しない光学系駆動部を制御する。それにより、被検眼Ｅの動きに対して光学系をリアルタイムで追従させることができ、アライメントとピントが合った好適な位置関係を維持することが可能となる。

主制御部２１１は、近赤外動画像を表示部２４１にリアルタイムで表示させる。ユーザは、操作部２４２を用いることにより、この近赤外動画像上に走査領域を設定する。設定される走査領域は１次元領域でも２次元領域でもよい。なお、測定光ＬＳの走査態様や注目部位（視神経乳頭、黄斑部、病変部等）があらかじめ設定されている場合などには、これら設定内容に基づいて主制御部２１１が走査領域を設定するように構成することも可能である。具体的には、データ処理部２３０による画像解析により注目部位を特定し、主制御部２１１が、この注目部位を含むように（例えば、この注目部位が中心に位置するように）所定パターンの領域を設定する。

また、過去に実施されたＯＣＴ計測と同じ走査領域を設定する場合（いわゆるフォローアップ）、主制御部２１１は、この過去の走査領域をリアルタイム近赤外動画像上に再現して設定することができる。その具体例として、主制御部２１１は、過去の検査で設定された走査領域を表す情報（走査態様等）と、この走査領域が設定された近赤外眼底像（静止画、例えばフレームでよい）とを対応付けて記憶部２１２に記憶させている（実用上は、患者ＩＤや左右眼情報とも対応付けられる）。主制御部２１１は、過去の近赤外眼底像と現在の近赤外動画像のフレームとの位置合わせを行い、過去の近赤外眼底像における走査領域に対応する現在の近赤外動画像中の画像領域を特定する。これにより、過去の検査で適用された走査領域が現在の近赤外動画像に対して設定される。

主制御部２１１は、光源ユニット１０１や光路長変更部４１を制御するとともに、Ｓ５で設定された走査領域に基づいて光スキャナ４２を制御することにより、眼底ＥｆのＯＣＴ計測を行う。

画像形成部２２０は、ＣＣＤイメージセンサ１１５により得られた検出信号に基づいて、当該Ａラインの断層像（画像）を形成する。走査態様が３次元スキャンである場合、データ処理部２３０は、画像形成部２２０により形成された複数の断層像に基づいて眼底Ｅｆの３次元画像を形成する。例えば、表示制御部２１１Ａは、Ｓ６で求められたピクセル分解能の較正値で、取得されたＯＣＴ画像を表示装置３に表示させる。以上で、眼科撮影装置１の動作は終了である（エンド）。

図７に、実施形態に係る眼科撮影装置１の他の動作例のフロー図を示す。図７は、既定のピクセル分解能を所望のピクセル分解能に変更する場合の動作例を表す。

（Ｓ１１）
主制御部２１１は、分解能指定部２３２にピクセル分解能を指定させる。ピクセル分解能の指定は、操作部２４２に対するユーザの操作内容に基づいて任意のタイミングで実行されてもよいし、眼科撮影装置１における既定のタイミング（例えば、動作モード変更時、出荷時、初期化時、所定の時間間隔等）で実行されてもよい。例えば、分解能指定部２３２は、ユーザによるユーザインターフェイス２４０（操作部２４２）に対する操作内容に基づいてピクセル分解能を指定する。

（Ｓ１２）
主制御部２１１は、分解能指定部２３２により指定されたピクセル分解能になるようにズーム光学系１１４を制御する。例えば、主制御部２１１は、分解能指定部２３２により指定されたピクセル分解能に基づいて、凸レンズ１１４Ａ、凹レンズ１１４Ｂ、及び凸レンズ１１４Ｃの少なくとも１つを光軸方向に所定の移動量だけ移動させる。

（Ｓ１３）
主制御部２１１は、Ｓ３と同様に、移動機構４７Ａを制御することにより板ガラス４７を測定光ＬＳの光路に配置させる。

（Ｓ１４）
主制御部２１１は、Ｓ４と同様に、光源ユニット１０１から光Ｌ０を出力させ、ＣＣＤイメージセンサ１１５により得られた干渉光の検出結果に基づいて画像形成部２２０にＡスキャン画像又はＢスキャン画像を形成させる。主制御部２１１は、画像形成部２２０により形成されたＡスキャン画像又はＢスキャン画像をデータ処理部２３０等に解析させ、板ガラス４７の表面に相当する第１位置と裏面に相当する第２位置を検出させる。

（Ｓ１５）
主制御部２１１は、Ｓ５と同様に、Ｓ１４において検出された板ガラス４７の表面に相当する第１位置と裏面に相当する第２位置との間の距離を板ガラス４７の厚さｄ_１としてデータ処理部２３０等に特定させる。

（Ｓ１６）
主制御部２１１は、Ｓ６と同様に、Ｓ１５において特定された厚さｄ_１を用いて式（２）に従い較正値算出部２３１にピクセル分解能の較正値を算出させる。

（Ｓ１７）
主制御部２１１は、Ｓ１１において指定されたピクセル分解能とＳ１６において求められた較正値との差分を求め、求められた差分が所定の閾値以内であるか否かを判定する。求められた差分が所定の閾値以内であると判定されたとき（Ｓ１７：Ｙ）、眼科撮影装置１の動作はＳ１９に移行する。求められた差分が所定の閾値以内であると判定されなかったとき（Ｓ１７：Ｎ）、眼科撮影装置１の動作はＳ１８に移行する。

（Ｓ１８）
求められた差分が所定の閾値以内であると判定されなかったとき（Ｓ１７：Ｎ）、主制御部２１１は、求められた差分に応じてズーム光学系１１４を制御する。例えば、主制御部２１１は、凸レンズ１１４Ａ、凹レンズ１１４Ｂ、及び凸レンズ１１４Ｃの少なくとも１つを、求められた差分に応じた方向及び移動量だけ移動させる。眼科撮影装置１の動作はＳ１４に移行する。

（Ｓ１９）
求められた差分が所定の閾値以内であると判定されたとき（Ｓ１７：Ｙ）、主制御部２１１は、Ｓ１６において求められたピクセル分解能の較正値を記憶部２１２に記憶させる。なお、主制御部２１１は、今後新たに取得されたＯＣＴ画像に当該較正値を付帯させて記憶部２１２に記憶させてもよい。

（Ｓ２０）
主制御部２１１は、Ｓ８と同様に、移動機構４７Ａを制御することにより測定光ＬＳの光路から板ガラス４７を退避させる。

（Ｓ２１）
主制御部２１１は、Ｓ９と同様に、新たにＯＣＴ計測を実行させ、Ｓ１６で求められたピクセル分解能の較正値で、取得されたＯＣＴ画像を表示装置３に表示させたり、当該較正値に基づき新たにＯＣＴ画像を形成させる。以上で、眼科撮影装置１の動作は終了である（エンド）。

＜第２実施形態＞
第１実施形態では、スペクトラルドメインタイプのＯＣＴの手法を適用した場合について説明したが、実施形態に係る眼科撮影装置は、スウェプトソースタイプのＯＣＴの手法が適用されたものであってもよい。第２実施形態に係る眼科撮影装置の構成は第１実施形態に係る眼科撮影装置１の構成とほぼ同様であるため、以下では、第２実施形態に係る眼科撮影装置の構成について第１実施形態との相違点を中心に説明する。

第２実施形態に係る眼科撮影装置の光学系の構成が第１実施形態に係る眼科撮影装置１の光学系の構成と異なる点は、ＯＣＴユニットの構成である。第２実施形態に係る眼科撮影装置には、ＯＣＴユニット１００に代えてＯＣＴユニット３００が設けられている。

図８に、第２実施形態に係るＯＣＴユニット３００の光学系の構成例を示す。図８において、図２と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

図８に示す光学系は、波長掃引型（波長走査型）光源からの光を測定光と参照光とに分割し、被検眼Ｅからの測定光の戻り光と参照光路を経由した参照光とを干渉させて干渉光を生成し、この干渉光を検出する干渉光学系である。干渉光学系による干渉光の検出結果（検出信号）は、干渉光のスペクトルを示す信号であり、演算制御ユニット２００ａに送られる。

光源ユニット３０１は、一般的なスウェプトソースタイプのＯＣＴ装置と同様に、出射光の波長を掃引（走査）可能な波長掃引型（波長走査型）光源３０２を含む。波長掃引型光源３０２は、共振器を備え、中心波長が１０５０ｎｍの光を発するレーザ光源を含む。波長掃引型光源３０２は、所定の波長掃引範囲の掃引開始タイミングでトリガー信号Ａｔｒｉｇを出力する。光源ユニット３０１は、所定の波長掃引範囲において時間軸に沿って波数が連続的（直線的）に変化するクロックＫＣを生成し、クロックＫＣに同期して波長が掃引された光Ｌ０を出力する。従って、光源ユニット３０１は、トリガー信号Ａｔｒｉｇに同期して所定の波長掃引範囲において波長が掃引された光Ｌ０を出力することができる。光源ユニット３０１は、人眼では視認できない近赤外の波長帯において、出力波長を時間的に変化させる。

波長掃引型光源３０２から出力された光は、光ファイバ３０３によりファイバカプラ３０４に導かれて光Ｌ０と光Ｌ１とに分岐される。光Ｌ１は、光ファイバ３０６によりファイバカプラ３０７に導かれて光Ｌ１０と光Ｌ１１とに分岐される。光Ｌ１０は、光ファイバ３０９によりファイバカプラ３１０に導かれる。光Ｌ１１は、光ファイバ３０８によりファイバ長可変ユニット３１１に導かれる。ファイバ長可変ユニット３１１は、ファイバ長を変更する光学部材である。アクチュエータ３１２は、演算制御ユニット２００ａの制御の下、ファイバ長可変ユニット３１１を駆動することにより所定の光路長分だけファイバ長を変更させる。ファイバ長可変ユニット３１１から出力された光は、光ファイバ３１３によりファイバカプラ３１０に導かれる。ファイバカプラ３１０は、光ファイバ３１３により導かれてきた光と光ファイバ３０９により導かれてきた光との合成光を生成する。ファイバカプラ３１０から出力された合成光は、光ファイバ３１４により検出器３１５に導かれる。検出器３１５は、ファイバカプラ３１０により生成された合成光を検出する。検出器３１５の検出結果が、クロックＫＣとなる。すなわち、光源ユニット３０１は、例えば、波長掃引型光源３０２から出力された光を分岐し、その分岐光を更に分岐することにより得られた２つの分岐光の一方を光学的に遅延させた後、これらの合成光を検出した結果に基づいてクロックＫＣを生成する。

光Ｌ０は、光ファイバ３０５によりファイバカプラ３２０に導かれて測定光ＬＳと参照光ＬＲとに分割される。

参照光ＬＲは、光ファイバ３２１によりアッテネータ３２２に導かれて、演算制御ユニット２００ａの制御の下で光量が調整される。アッテネータ３２２により光量が調整された参照光ＬＲは、光ファイバ３２３により偏波コントローラ３２４に導かれる。偏波コントローラ３２４は、例えば、偏波コントローラ１０６と同様の構成を有する。偏波コントローラ３２４により偏光状態が調整された参照光ＬＲは、光ファイバ３２５によりファイバカプラ３２６に導かれる。

一方、ファイバカプラ３２０により生成された測定光ＬＳは、光ファイバ３２７により導かれ、コリメータレンズユニット４０により平行光束とされる。平行光束にされた測定光ＬＳは、光路長変更部４１、光スキャナ４２、合焦レンズ４３、ミラー４４、及びリレーレンズ４５を経由してダイクロイックミラー４６に到達する。コリメータレンズユニット４０と光路長変更部４１との間の光路（測定光の光路）に対し、板ガラス４７が挿脱される。測定光ＬＳは、ダイクロイックミラー４６により反射され、対物レンズ２２により屈折されて被検眼Ｅに照射される。測定光ＬＳは、被検眼Ｅの様々な深さ位置において散乱（反射を含む）される。このような後方散乱光を含む測定光ＬＳの戻り光は、往路と同じ経路を逆向きに進行してファイバカプラ３２０に導かれ、光ファイバ３２８を経由してファイバカプラ３２６に到達する。

ファイバカプラ３２６は、光ファイバ３２５を介して入射された測定光ＬＳと、光ファイバ３２８を介して入射された参照光ＬＲとを合成して（干渉させて）干渉光を生成する。ファイバカプラ３２６は、所定の分岐比（例えば１：１）で、測定光ＬＳと参照光ＬＲとの干渉光を分岐することにより、一対の干渉光ＬＣを生成する。ファイバカプラ３２６から出射した一対の干渉光ＬＣは、それぞれ光ファイバ３２９、３３０により検出器３４０に導かれる。

検出器３４０は、例えば一対の干渉光ＬＣをそれぞれ検出する一対のフォトディテクタを有し、これらによる検出結果の差分を出力するバランスドフォトダイオード（Ｂａｌａｎｃｅｄ Ｐｈｏｔｏ Ｄｉｏｄｅ）である。検出器３４０は、その検出結果（検出信号）をＤＡＱ（Ｄａｔａ Ａｃｑｕｉｓｉｔｉｏｎ Ｓｙｓｔｅｍ）３５０に送る。ＤＡＱ３５０には、光源ユニット３０１からクロックＫＣとトリガー信号Ａｔｒｉｇとが供給される。クロックＫＣは、光源ユニット３０１において、波長掃引型光源により所定の波長範囲内で掃引（走査）される各波長の出力タイミングに同期して生成される。ＤＡＱ３５０は、トリガー信号Ａｔｒｉｇにより波長掃引開始タイミングが指定されると、クロックＫＣに基づき、検出器３４０の検出結果をサンプリングする。ＤＡＱ３５０は、サンプリングされた検出器３４０の検出結果を演算制御ユニット２００ａに送る。演算制御ユニット２００ａは、例えば一連の波長走査毎に（Ａライン毎に）、検出器３４０により得られた検出結果に基づくスペクトル分布にフーリエ変換等を施すことにより、各Ａラインにおける反射強度プロファイルを形成する。更に、演算制御ユニット２００ａは、各Ａラインの反射強度プロファイルを画像化することにより画像データを形成する。

図９に、第２実施形態に係る演算制御ユニット２００ａの構成例を示す。図９において、図３又は図８と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

第２実施形態に係る演算制御ユニット２００ａが第１実施形態に係る演算制御ユニット２００と異なる点は、ＯＣＴユニット１００に代えてＯＣＴユニット３００が制御対象である点である。

検出器３１５により得られた検出強度Ｉは、式（３）のように表される。式（３）において、光Ｌ１０の強度をＩ_１とし、光Ｌ１１の強度をＩ_２とし、光Ｌ１０の光路長をＬ_１とし、光Ｌ１１の光路長をＬ_２とし、ファイバ長可変ユニット３１１により変更された光路長をΔとしている。また、ｋ＝２π／λ（λは、波長掃引された各光の波長）である。

主制御部２１１は、光源ユニット３０１のアクチュエータ３１２を制御することにより光Ｌ１１の光路長を変更することができるため、クロックＫＣにおけるクロックの間隔を変更することができる。式（３）は、クロックＫＣにおけるクロックの間隔を変更することにより、検出強度Ｉが変化することを示す。ピクセル分解能ΔｚとΔｋ（＝｜Ｌ_１＋Δ−Ｌ_２｜×ｋ）とはフーリエペアの変数（Δｚ×Δｋ＝定数）であるため、クロックＫＣにおけるクロックの間隔を変更することによりピクセル分解能Δｚを変更することが可能である。

以上のように、第２実施形態によれば、スウェプトソースタイプのＯＣＴにおいてピクセル分解能Δｚを変更することができる。このとき、第１実施形態と同様に、測定光ＬＳの光路に板ガラス４７を配置させ、干渉光の検出結果から得られるＡスキャン画像又はＢスキャン画像に描出された板ガラス４７の表面に相当する位置と裏面に相当する位置との間の距離を特定することで、ピクセル分解能の較正値が求められる。

なお、光源ユニット３０１は、主制御部２１１の制御の下、光源ユニット３０１から出力された光Ｌ０の光束径を変更することが可能である。例えば、主制御部２１１は、光Ｌ０の光路に配置された絞りを制御したり、互いに光束径が異なる複数の光源の１つを選択し、選択された光源からの光を光Ｌ０として出力させたりする。また、測定光ＬＳの光路に絞りを設け、主制御部２１１は、この絞りを制御することにより測定光ＬＳの光束径を変更するようにしてもよい。

ＯＣＴユニット３００から対物レンズ２２までの光学系は、実施形態に係る「干渉光学系」の一例である。主制御部２１１（制御部２１０）及び光源ユニット３０１は、実施形態に係る「分解能変更部」の一例である。

＜第２実施形態の変形例＞
第２実施形態では、ファイバ長可変ユニット３１１により光Ｌ１０の光路長と光Ｌ１１の光路長との差を変更するようにしたが、実施形態に係るＯＣＴユニット３００の構成はこれに限定されるものではない。第２実施形態の変形例に係る眼科撮影装置の構成は第２実施形態に係る眼科撮影装置の構成とほぼ同様であるため、以下では、第２実施形態の変形例に係る眼科撮影装置の構成について第２実施形態との相違点を中心に説明する。

図１０に、第２実施形態の変形例に係るＯＣＴユニット３００ａの光学系の構成例を示す。図１０において、図８と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

第２実施形態の変形例に係るＯＣＴユニット３００ａの光学系の構成が第２実施形態に係るＯＣＴユニット３００の光学系の構成と異なる点は、光源ユニット３０１に代えて光源ユニット３０１ａが設けられた点である。光源ユニット３０１ａの構成が光源ユニット３０１の構成と異なる点は、ファイバ長可変ユニット３１１に代えてコーナーキューブ３６２が設けられた点である。

具体的には、光Ｌ１０は、光ファイバ３０９によりファイバカプラ３１０に導かれる。光Ｌ１１は、光ファイバ３０８によりコリメータレンズユニット３６０に導かれて平行光束となる。平行光束とされた光Ｌ１１は、コーナーキューブ３６２に導かれる。コーナーキューブ３６２は、コリメータレンズユニット３６０により平行光束となった光Ｌ１１の進行方向を逆方向に折り返す。コーナーキューブ３６２に入射する光Ｌ１１の光路と、コーナーキューブ３６２から出射する光Ｌ１１の光路とは平行である。コーナーキューブ３６２は、光Ｌ１１の入射光路及び出射光路に沿う方向に移動可能とされている。コーナーキューブ３６２は、主制御部２１１の制御の下、移動機構３６２Ａにより移動される。この移動により光Ｌ１１の光路の長さが変更される。

コーナーキューブ３６２を経由した光Ｌ１１は、コリメータレンズユニット３６３によって平行光束から集束光束に変換されて光ファイバ３１３に入射し、ファイバカプラ３１０に導かれる。

ファイバカプラ３１０は、光ファイバ３１３により導かれてきた光と光ファイバ３０９により導かれてきた光との合成光を生成する。ファイバカプラ３１０から出力された合成光は、検出器３１５により検出される。検出器３１５の検出結果が、クロックＫＣとなる。すなわち、光源ユニット３０１ａは、例えば、波長掃引型光源３０２から出力された光を分岐し、その分岐光を更に分岐することにより得られた２つの分岐光の一方を光学的に遅延させた後、これらの合成光を検出した結果に基づいてクロックＫＣを生成する。

第２実施形態の変形例では、第２実施形態と同様の原理でクロックＫＣにおけるクロックの間隔を変更することによりピクセル分解能Δｚを変更することが可能である。

以上のように、第２実施形態の変形例によれば、第２実施形態と同様に、スウェプトソースタイプのＯＣＴにおいてピクセル分解能Δｚを変更することができる。このとき、第１実施形態と同様に、測定光ＬＳの光路に板ガラス４７を配置させ、干渉光の検出結果から得られるＡスキャン画像又はＢスキャン画像に描出された板ガラス４７の表面に相当する位置と裏面に相当する位置との間の距離を特定することで、ピクセル分解能の較正値が求められる。

なお、光源ユニット３０１ａは、光源ユニット３０１と同様に、主制御部２１１の制御の下、光源ユニット３０１から出力された光Ｌ０の光束径を変更することが可能である。

ＯＣＴユニット３００ａから対物レンズ２２までの光学系は、実施形態に係る「干渉光学系」の一例である。主制御部２１１（制御部２１０）及び光源ユニット３０１ａは、実施形態に係る「分解能変更部」の一例である。

［作用・効果］
実施形態に係るＯＣＴ装置の作用及び効果について説明する。

実施形態に係るＯＣＴ装置は、干渉光学系（ＯＣＴユニット１００から対物レンズ２２までの光学系、ＯＣＴユニット３００から対物レンズ２２までの光学系、ＯＣＴユニット３００ａから対物レンズ２２までの光学系）と、分解能変更部（主制御部２１１及びズーム光学系１１４、主制御部２１１及び光源ユニット３０１、主制御部２１１及び光源ユニット３０１ａ）と、較正値算出部（較正値算出部２３１）とを含む。干渉光学系は、光源からの光（光Ｌ０）を測定光（測定光ＬＳ）と参照光（参照光ＬＲ）とに分割し、測定光を被測定物体（被検眼Ｅ）に照射し、被測定物体からの戻り光と参照光との干渉光（干渉光ＬＣ）を検出する。分解能変更部は、干渉光学系の光軸方向の分解能（深さ方向の分解能、ピクセル分解能、表示分解能）を変更する。較正値算出部は、分解能変更部により分解能が変更された状態における干渉光の検出結果に基づいて、分解能の較正値を求める。

このような構成によれば、干渉光学系の光軸方向の分解能を変更することにより干渉光学系の光軸方向の表示範囲を変更した場合でも、変更後の分解能を較正値として特定することができる。それにより、ユーザは較正値を用いて正確な測定値を取得できるようになるため、被測定物体の所定の部位の厚さ等の測定値の信頼性の低下を防止することができる。従って、測定値の信頼性を低下させることなく、簡素な構成で表示範囲の変更が可能なＯＣＴ装置を提供することが可能になる。

また、実施形態に係るＯＣＴ装置は、画像形成部（画像形成部２２０）と、表示制御部（表示制御部２１１Ａ）とを含んでもよい。画像形成部は、干渉光学系により得られた干渉光の新たな検出結果に基づいて被測定物体の断層像を形成する。表示制御部は、較正値で断層像を表示手段（表示装置３、表示部２４１）に表示させる。

このような構成によれば、分解能が変更された場合であっても、分解能の較正値を求め、求められた較正値に基づいて表示手段に表示させることができるので、被測定物体の任意の部位の厚さ等の測定値の信頼性の低下を防止することが可能になる。

また、実施形態に係るＯＣＴ装置では、表示制御部は、断層像と較正値を表す画像とを表示手段に表示させてもよい。

このような構成によれば、求められた較正値を表す画像を断層像とともに表示手段に表示させるようにしたので、被測定物体の任意の部位の厚さ等の正確な測定値を容易に取得することができる。

また、実施形態に係るＯＣＴ装置では、表示制御部は、被測定物体の断層像を較正値と異なる分解能で表示手段に表示させ、かつ、画像形成部により形成された断層像を較正値で表示手段に表示させてもよい。

このような構成によれば、異なる条件で取得された断層像や当該断層像から得られた測定値を比較することが可能になる。

また、実施形態に係るＯＣＴ装置は、干渉光学系により得られた干渉光の新たな検出結果と較正値とに基づいて被測定物体の断層像を形成する画像形成部（画像形成部２２０）を含んでもよい。

このような構成によれば、分解能が変更された場合であっても、分解能の較正値を求め、求められた較正値に基づいて新たに断層像を形成することができるので、被測定物体の任意の部位の厚さ等の測定値の信頼性の低下を防止することが可能になる。

また、実施形態に係るＯＣＴ装置は、記憶部（記憶部２１２）と、較正値を断層像の画像データに付帯させて記憶部に記憶させる制御部（制御部２１０、主制御部２１１）と、を含んでもよい。

このような構成によれば、断層像の画像データに付帯された較正値（分解能）を読み出すことができるので、任意の分解能で断層像を解析し、高い信頼性を有する測定値を取得することが可能になる。

また、実施形態に係るＯＣＴ装置では、干渉光学系は、干渉光を分光する分光部材（回折格子１１３）と、２以上の検出素子が配列され、分光部材により分光されたスペクトルを検出する検出器（ＣＣＤイメージセンサ１１５）と、を含み、分解能変更部は、分光部材と検出器との間に配置されたズーム光学系（ズーム光学系１１４）を含み、ズーム光学系によって検出器の検出面における１検出素子あたりのスペクトルの波長幅を変更することにより分解能を変更してもよい。

このような構成によれば、スペクトラルドメインタイプのＯＣＴ装置において分解能を変更した場合であっても、被測定物体の任意の部位の厚さ等の測定値の信頼性の低下を防止することが可能になる。特に、ズーム光学系を用いて分解能を変更するようにしたので、簡素な構成で、被測定物体の任意の部位の厚さ等の測定値の信頼性の低下を防止することが可能になる。

また、実施形態に係るＯＣＴ装置では、光源は、所定の波長掃引範囲において時間軸に沿って波数が連続的に変化するクロック（クロックＫＣ）に同期して波長が掃引された光を出力する波長掃引光源（波長掃引型光源３０２）を含み、分解能変更部は、クロックの間隔を制御することにより分解能を変更してもよい。

このような構成によれば、スウェプトソースタイプのＯＣＴ装置において分解能を変更した場合であっても、被測定物体の任意の部位の厚さ等の測定値の信頼性の低下を防止することが可能になる。特に、クロックの間隔を制御することにより分解能を変更するようにしたので、簡素な構成で、被測定物体の任意の部位の厚さ等の測定値の信頼性の低下を防止することが可能になる。

また、実施形態に係るＯＣＴ装置は、測定光を透過させる光学部材（板ガラス４７）と、測定光の光路に対して光学部材を挿脱させる移動機構（移動機構４７Ａ）と、を含み、較正値算出部は、光学部材が測定光の光路に配置された状態における干渉光の検出結果に基づいて光学部材の表面に相当する第１位置と光学部材の裏面に相当する第２位置とを特定し、第１位置と第２位置との間の距離に基づいて較正値を求めてもよい。

このような構成によれば、測定光の光路に対して光学部材を挿脱させることにより較正値を求めるようにしたので、簡素な構成で、信頼性を低下させることなく被測定物体の任意の部位の厚さ等の測定値の取得が可能になる。

また、実施形態に係るＯＣＴ装置は、光学部材の屈折率をｎ_１とし、光学部材の光軸方向の厚さをｄ_１とし、第１位置と第２位置との間の光軸方向の表示点数をＮとし、被測定物体における測定光の照射部位の屈折率をｎ_２とし、較正値をδとしたとき、較正値算出部は、式δ＝（ｎ_１×ｄ_１）／Ｎ／ｎ_２に従い較正値を求めてもよい。

このような構成によれば、簡素な処理で高精度に分解能の較正値を求めることができる。

実施形態に係るＯＣＴ装置は、干渉光学系（ＯＣＴユニット１００から対物レンズ２２までの光学系、ＯＣＴユニット３００から対物レンズ２２までの光学系、ＯＣＴユニット３００ａから対物レンズ２２までの光学系）と、分解能指定部（分解能指定部２３２）と、分解能変更部（主制御部２１１及びズーム光学系１１４、主制御部２１１及び光源ユニット３０１、主制御部２１１及び光源ユニット３０１ａ）とを含む。干渉光学系は、光源からの光（光Ｌ０）を測定光（測定光ＬＳ）と参照光（参照光ＬＲ）とに分割し、測定光を被測定物体（被検眼Ｅ）に照射し、被測定物体からの戻り光と参照光との干渉光（干渉光ＬＣ）を検出する。分解能指定部は、分解能を指定する。分解能変更部は、分解能指定部により指定された分解能に基づいて干渉光学系の光軸方向の分解能を変更する。

このような構成によれば、分解能指定部により指定されたように干渉光学系の光軸方向の分解能を設定するようにしたので、表示範囲が変更された場合でも分解能が特定されるため、測定値の信頼性を低下させることなく、簡素な構成で表示範囲の変更が可能なＯＣＴ装置を提供することが可能になる。

また、実施形態に係るＯＣＴ装置は、分解能指定部により指定された分解能で被測定物体の断層像を表示手段（表示装置３、表示部２４１）に表示させる表示制御部（表示制御部２１１Ａ）を含んでもよい。

このような構成によれば、所望の分解能で断層像を表示手段に表示させることが可能になる。

また、実施形態に係るＯＣＴ装置は、干渉光学系により得られた干渉光の新たな検出結果と分解能とに基づいて被測定物体の断層像を形成する画像形成部（画像形成部２２０）を含んでもよい。

このような構成によれば、所望の分解能で断層像を形成することが可能になる。

また、実施形態に係るＯＣＴ装置は、測定光の光束径を変更する光束径変更部（主制御部２１１（制御部２１０）及び光源ユニット１０１、主制御部２１１及び光源ユニット３０１、主制御部２１１及び光源ユニット３０１ａ）を含み、光束径変更部により光束径が変更されたとき、分解能変更部は、分解能を変更してもよい。

このような構成によれば、測定光の光束径を変更したときに分解能を変更するようにしたので、光束径の変更に伴う解像度の変更に応じて分解能を変更し、測定値の信頼性を低下させることなく、簡素な構成で表示範囲の変更が可能なＯＣＴ装置を提供することが可能になる。

以上に説明した構成は、この発明を好適に実施するための一例に過ぎない。よって、この発明の要旨の範囲内における任意の変形（省略、置換、付加等）を適宜に施すことが可能である。適用される構成は、例えば目的に応じて選択される。また、適用される構成に応じ、当業者にとって自明の作用効果や、本明細書において説明された作用効果が得られる。

１ 眼科撮影装置
２ 眼底カメラユニット
３ 表示装置
４７ 板ガラス
１００、３００、３００ａ ＯＣＴユニット
１１４ ズーム光学系
２００、２００ａ 演算制御ユニット
２１０ 制御部
２１１ 主制御部
２１１Ａ 表示制御部
２１２ 記憶部
２２０ 画像形成部
２３０ データ処理部
２３１ 較正値算出部
２４０ ユーザインターフェイス
２４１ 表示部
２４２ 操作部
Ｅ 被検眼

Claims (14)

1. 光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を被測定物体に照射し、前記被測定物体からの戻り光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系と、
   前記干渉光学系の光軸方向の分解能を変更する分解能変更部と、
   前記分解能変更部により前記分解能が変更された状態における前記干渉光の検出結果に基づいて、前記分解能の較正値を求める較正値算出部と、
   を含むＯＣＴ装置。
2. 前記干渉光学系により得られた干渉光の新たな検出結果に基づいて前記被測定物体の断層像を形成する画像形成部と、
   前記較正値で前記断層像を表示手段に表示させる表示制御部と、
   を含む
   ことを特徴とする請求項１に記載のＯＣＴ装置。
3. 前記表示制御部は、前記断層像と前記較正値を表す画像とを前記表示手段に表示させる
   ことを特徴とする請求項２に記載のＯＣＴ装置。
4. 前記表示制御部は、被測定物体の断層像を前記較正値と異なる分解能で前記表示手段に表示させ、かつ、前記画像形成部により形成された前記断層像を前記較正値で前記表示手段に表示させる
   ことを特徴とする請求項２又は請求項３に記載のＯＣＴ装置。
5. 前記干渉光学系により得られた干渉光の新たな検出結果と前記較正値とに基づいて前記被測定物体の断層像を形成する画像形成部を含む
   ことを特徴とする請求項１に記載のＯＣＴ装置。
6. 記憶部と、
   前記較正値を前記断層像の画像データに付帯させて前記記憶部に記憶させる制御部と、
   を含む
   ことを特徴とする請求項２〜請求項５のいずれか一項に記載のＯＣＴ装置。
7. 前記干渉光学系は、
   前記干渉光を分光する分光部材と、
   ２以上の検出素子が配列され、前記分光部材により分光されたスペクトルを検出する検出器と、
   を含み、
   前記分解能変更部は、
   前記分光部材と前記検出器との間に配置されたズーム光学系を含み、前記ズーム光学系によって前記検出器の検出面における１検出素子あたりのスペクトルの波長幅を変更することにより前記分解能を変更する
   ことを特徴とする請求項１〜請求項６のいずれか一項に記載のＯＣＴ装置。
8. 前記光源は、所定の波長掃引範囲において時間軸に沿って波数が連続的に変化するクロックに同期して波長が掃引された光を出力する波長掃引光源を含み、
   前記分解能変更部は、前記クロックの間隔を制御することにより前記分解能を変更する
   ことを特徴とする請求項１〜請求項６のいずれか一項に記載のＯＣＴ装置。
9. 前記測定光を透過させる光学部材と、
   前記測定光の光路に対して前記光学部材を挿脱させる移動機構と、
   を含み、
   前記較正値算出部は、前記光学部材が前記測定光の光路に配置された状態における前記干渉光の検出結果に基づいて前記光学部材の表面に相当する第１位置と前記光学部材の裏面に相当する第２位置とを特定し、前記第１位置と前記第２位置との間の距離に基づいて前記較正値を求める
   ことを特徴とする請求項１〜請求項８のいずれか一項に記載のＯＣＴ装置。
10. 前記光学部材の屈折率をｎ_１とし、前記光学部材の前記光軸方向の厚さをｄ_１とし、前記第１位置と前記第２位置との間の前記光軸方向の表示点数をＮとし、前記被測定物体における前記測定光の照射部位の屈折率をｎ_２とし、較正値をδとしたとき、前記較正値算出部は、式δ＝（ｎ_１×ｄ_１）／Ｎ／ｎ_２に従い前記較正値を求める
    ことを特徴とする請求項９に記載のＯＣＴ装置。
11. 光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を被測定物体に照射し、前記被測定物体からの戻り光と前記参照光との干渉光を検出する干渉光学系と、
    分解能を指定する分解能指定部と、
    前記分解能指定部により指定された分解能に基づいて前記干渉光学系の光軸方向の分解能を変更する分解能変更部と、
    を含むＯＣＴ装置。
12. 前記分解能指定部により指定された分解能で前記被測定物体の断層像を表示手段に表示させる表示制御部を含む
    ことを特徴とする請求項１１に記載のＯＣＴ装置。
13. 前記干渉光学系により得られた干渉光の新たな検出結果と前記分解能とに基づいて前記被測定物体の断層像を形成する画像形成部を含む
    ことを特徴とする請求項１１又は請求項１２に記載のＯＣＴ装置。
14. 前記測定光の光束径を変更する光束径変更部を含み、
    前記光束径変更部により前記光束径が変更されたとき、前記分解能変更部は、前記分解能を変更する
    ことを特徴とする請求項１〜請求項１３のいずれか一項に記載のＯＣＴ装置。

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