JP2010279681A5 - 光画像撮像装置及びその方法 - Google Patents
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本発明は、つぎのように構成した光画像撮像装置及びその方法を提供するものである。
本発明に係る光画像撮像装置は、
測定光を照射した被検査物からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波した光を用いて、前記被検査物の画像を取得する光画像撮像装置であって、
前記測定光を前記被検査物に合焦させる光学手段と、
前記戻り光の収差を測定する収差測定手段と、
前記収差測定手段により測定された収差に基づいて、前記被検査物の深さ方向における合焦位置を調整するように前記光学手段を調整する調整手段と、
前記深さ方向における異なる合焦位置に対応する前記被検査物の複数の断層画像を取得する取得手段と、
を有することを特徴とする。
測定光を照射した被検査物からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波した光を用いて、前記被検査物の画像を取得する光画像撮像装置であって、
前記測定光を前記被検査物に合焦させる光学手段と、
前記戻り光の収差を測定する収差測定手段と、
前記収差測定手段により測定された収差に基づいて、前記被検査物の深さ方向における合焦位置を調整するように前記光学手段を調整する調整手段と、
前記深さ方向における異なる合焦位置に対応する前記被検査物の複数の断層画像を取得する取得手段と、
を有することを特徴とする。
また、本発明に係る光画像撮像方法は、
測定光を照射した被検査物からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波した光を用いて、前記被検査物の画像を取得する光画像撮像方法であって、
前記被検査物の収差を測定する工程と、
前記測定された収差に基づいて、前記被検査物の深さ方向における合焦位置を調整するように、前記測定光を前記被検査物に合焦させる光学手段を調整する工程と、
前記深さ方向における異なる合焦位置に対応する前記被検査物の複数の断層画像を取得する工程と、
を有することを特徴とする。
測定光を照射した被検査物からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波した光を用いて、前記被検査物の画像を取得する光画像撮像方法であって、
前記被検査物の収差を測定する工程と、
前記測定された収差に基づいて、前記被検査物の深さ方向における合焦位置を調整するように、前記測定光を前記被検査物に合焦させる光学手段を調整する工程と、
前記深さ方向における異なる合焦位置に対応する前記被検査物の複数の断層画像を取得する工程と、
を有することを特徴とする。
Claims (18)
- 測定光を照射した被検査物からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波した光を用いて、前記被検査物の画像を取得する光画像撮像装置であって、
前記測定光を前記被検査物に合焦させる光学手段と、
前記戻り光の収差を測定する収差測定手段と、
前記収差測定手段により測定された収差に基づいて、前記被検査物の深さ方向における合焦位置を調整するように前記光学手段を調整する調整手段と、
前記深さ方向における異なる合焦位置に対応する前記被検査物の複数の断層画像を取得する取得手段と、
を有することを特徴とする光画像撮像装置。 - 前記調整手段は、前記収差を表現しているツェルニケ多項式におけるデフォーカスの成分とアスティグマの成分とのうち少なくとも一つの成分に基づいて、前記光学手段を調整することを特徴とする請求項1に記載の光画像撮像装置。
- 前記光学手段は、第1及び第2のレンズを有し、
前記調整手段は、前記デフォーカスの成分に基づいて前記第1のレンズを調整し、前記第1のレンズの調整の後に前記アスティグマの成分に基づいて前記第2のレンズを調整することを特徴とする請求項2に記載の光画像撮像装置。 - 前記調整手段により前記デフォーカスの成分に基づいて前記光学手段を調整した後に、前記収差のうち前記デフォーカスの成分と前記アスティグマの成分とのうち少なくとも一つの成分を除いた収差に基づいて、前記測定光と前記戻り光とのうち少なくとも一つの光の収差の補正を行う収差補正手段を有することを特徴とする請求項2または3に記載の光画像撮像装置。
- 前記調整手段は、前記収差を表現しているツェルニケ多項式におけるデフォーカスの成分が閾値以下になるように、前記光学手段の光軸方向の位置を調整することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の光画像撮像装置。
- 光源からの光を前記測定光と前記参照光とに分割する手段と、
前記戻り光と参照光路を経由した前記参照光とを干渉させる手段と、
前記干渉した光による信号の強度を検出する手段と、を有し、
前記取得手段は、前記検出する手段の検出結果に基づいて、前記複数の断層画像を取得することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の光画像撮像装置。 - 前記複数の断層画像に基づいて新たな断層画像を生成する生成手段を有することを特徴とする請求項1から6のいずれか1項に記載の光画像撮像装置。
- 前記光学手段は、シリンドリカルレンズを有し、
前記調整手段は、前記収差を表現しているツェルニケ多項式におけるアスティグマ成分に基づいて、前記シリンドリカルレンズを調整することを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の光画像撮像装置。 - 測定光を照射した被検査物からの戻り光を用いて、前記被検査物の画像を取得する光画像撮像装置であって、
前記戻り光の収差を表現しているツェルニケ多項式におけるアスティグマの成分に基づいて、前記測定光の光路に設けられたシリンドリカルレンズを調整する調整手段を有することを特徴とする光画像撮像装置。 - 前記調整手段は、
前記ツェルニケ多項式におけるデフォーカスの成分に基づいて、前記測定光の光路に設けられた球面レンズを調整し、
前記球面レンズを調整した後に、前記アスティグマの成分に基づいて前記シリンドリカルレンズを調整することを特徴とする請求項9に記載の光画像撮像装置。 - 前記被検査物は、被検眼であり、
前記被検眼に注視させるための固視標を有することを特徴とする請求項1から10のいずれか1項に記載の光画像撮像装置。 - 測定光を照射した被検査物からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを合波した光を用いて、前記被検査物の画像を取得する光画像撮像方法であって、
前記被検査物の収差を測定する工程と、
前記測定された収差に基づいて、前記被検査物の深さ方向における合焦位置を調整するように、前記測定光を前記被検査物に合焦させる光学手段を調整する工程と、
前記深さ方向における異なる合焦位置に対応する前記被検査物の複数の断層画像を取得する工程と、
を有することを特徴とする光画像撮像方法。 - 前記調整する工程では、前記収差を表現しているツェルニケ多項式におけるデフォーカスの成分とアスティグマの成分とのうち少なくとも一つの成分に基づいて、前記光学手段を調整することを特徴とする請求項12に記載の光画像撮像方法。
- 前記複数の断層画像に基づいて新たな断層画像を生成する工程を有することを特徴とする請求項12あるいは13に記載の光画像撮像方法。
- 前記光学手段は、シリンドリカルレンズを有し、
前記調整する工程では、前記収差を表現しているツェルニケ多項式におけるアスティグマ成分に基づいて、前記シリンドリカルレンズを調整することを特徴とする請求項12乃至14のいずれか1項に記載の光画像撮像方法。 - 測定光を照射した被検査物からの戻り光を用いて、前記被検査物の画像を取得する光画像撮像方法であって、
前記戻り光の収差を表現しているツェルニケ多項式におけるアスティグマ成分に基づいて、前記測定光の光路に設けられたシリンドリカルレンズを調整する工程を有することを特徴とする光画像撮像方法。 - 前記調整する工程では、
前記ツェルニケ多項式におけるデフォーカスの成分に基づいて、前記測定光の光路に設けられた球面レンズを調整し、
前記球面レンズを調整した後に、前記アスティグマの成分に基づいて前記シリンドリカルレンズを調整することを特徴とする請求項16に記載の光画像撮像方法。 - 請求項12乃至17のいずれか1項に記載の光画像撮像方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
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