JP5483873B2 - 光断層撮像装置、および光断層撮像方法 - Google Patents
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Description
例えば、眼を観察する光学機器として、前眼部撮影機、眼底カメラ、共焦点レーザー走査検眼鏡(Scanning Laser Ophthalmoscope:SLO)、等様々な機器が使用されている。
中でも、多波長光波干渉を利用した光コヒーレンストモグラフィ(OCT:Optical Coherence Tomography)による光断層画像撮像装置は、試料の断層像を高分解能に得ることができる装置である。
この装置は、眼科用機器として網膜の専門外来では必要不可欠な装置になりつつある。
以下、これをOCT装置と記す。
上記OCT装置によると、低コヒーレント光である測定光を、サンプルに照射し、そのサンプルからの後方散乱光を、干渉系を用いることで高感度に測定することができる。
また、OCT装置は該測定光を、該サンプル上にスキャンすることで、断層像を高分解能に得ることができる。
そのため、被検眼の眼底における網膜の断層像を高分解能に撮像することも可能であることから、網膜の眼科診断等において広く利用されている。
高速な撮像による場合には、固視微動に代表される眼球運動による画像のブレや欠落を防ぐことが可能となる。
被検眼における特定の奥行き毎に情報を取得するタイムドメイン方式に対して、フーリエドメイン方式は、奥行き方向の情報を一括して取得するため、高速な撮像が可能となる。
しかしながら、フーリエドメイン方式による場合、奥行き方向の情報の一括取得が、撮像において幾つかの制限になることが明らかとなっている。
ここでは、OCT装置の測定光の合焦範囲における情報のみを抽出し、横分解能の劣化を防ぐように構成されている。
非特許文献1においては、フーリエドメイン方式のOCT装置において、断層画像撮像時の測定感度が、参照ミラーの位置に依存することが説明されている。
すなわち、測定感度が被検査物の奥行きに制限されていることについて説明されている。
上記した従来例の特許文献1では、フーリエドメイン方式のOCT装置を用いて、高横分解能の断層画像を取得するに際し、該断層画像から高横分解能の部分を抽出することにより達成する方法が開示されている。
しかしながら、ここでは、眼底に代表される被検査物が動きを伴う場合や、特定の層に注目する場合に関しては言及されていない。
また、上記した非特許文献1では、フーリエドメイン方式のOCT装置において、測定感度が被検査物の奥行きに制限されにくい構成が実現されているが、光周波数コムと呼ばれる特殊な光源を利用しているため、構成が煩雑である。
また、本発明は、被検査物が眼底である場合には網膜の特定の層について測定感度及び横分解能が高く、簡単な構成の光断層撮像装置および光断層撮像方法を提供することを目的とする。
本発明の光断層撮像装置は、測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて該被検査物の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、
前記被検査物に対して前記測定光を走査する走査手段と、
前記被検査物に前記測定光を集光させるための集光手段と、
前記被検査物の複数の断層画像から前記被検査物の所定の部位の深さ方向の3次元の位置情報を取得する位置情報取得手段と、
前記走査手段により前記測定光を走査しながら、前記取得された3次元の位置情報に基づいて前記集光手段の光軸方向の位置を変更する制御手段と、
を有することを特徴とする。
また、本発明の光断層撮像装置は、前記位置情報取得手段は、前記被検査物の互いに交差する複数の断層画像から前記被検査物の所定の部位の深さ方向の3次元の位置情報を取得することを特徴とする。
また、本発明の光断層撮像装置は、前記位置情報取得手段は、前記被検査物の互いに交差する複数の断層画像から3次元の面の情報を前記3次元の位置情報として取得し、
前記制御手段は、前記走査手段により前記測定光を走査しながら、前記3次元の面に沿って前記集光手段の光軸方向の位置を変更することを特徴とする。
また、本発明の光断層撮像装置は、前記測定光の光路長と前記参照光の光路長との光路長差を変更する光路長差変更手段を更に有し、
前記制御手段は、前記走査手段により前記測定光を走査しながら、前記取得された3次元の位置情報に基づいて前記集光手段の光軸方向の位置及び前記光路長差を変更することを特徴とする。
また、本発明の光断層撮像装置は、前記走査手段により前記測定光を走査しながら前記取得された3次元の位置情報に基づいて前記集光手段の光軸方向の位置及び前記光路長差を変更した後に、前記所定の部位の画像を取得する画像取得手段を更に有することを特徴とする。
また、本発明の光断層撮像装置は、前記被検査物が、被検眼であり、前記所定の部位が、該被検眼における網膜の特定の層であることを特徴とする。
また、本発明の光断層撮像装置は、前記網膜の特定の層が、網膜色素上皮層と神経線維層とのうち少なくとも一方であることを特徴とする。
また、本発明の光断層撮像システムは、上記いずれかに記載の光断層撮像装置と、
眼底カメラ本体部と、
前記被検眼における眼底の表面画像を撮像するカメラ部と、
を有することを特徴とする。
また、本発明の光断層撮像システムは、前記眼底カメラ本体部と前記カメラ部とが、アダプターを介して接続可能に構成されていることを特徴とする。
また、本発明の光断層撮像方法は、測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて該被検査物の断層画像を取得する光断層撮像方法であって、
前記被検査物の複数の断層画像から前記被検査物の所定の部位の深さ方向の3次元の位置情報を取得する工程と、
前記被検査物に対して前記測定光を走査する走査手段により前記測定光を走査しながら、前記取得された3次元の位置情報に基づいて、前記被検査物に前記測定光を集光させるための集光手段の光軸方向の位置を変更する工程と、
を有することを特徴とする。
また、本発明の光断層撮像方法は、前記位置情報を取得する工程において、前記被検査物の互いに交差する複数の断層画像から前記被検査物の所定の部位の深さ方向の3次元の位置情報を取得することを特徴とする。
また、本発明の光断層撮像方法は、前記位置情報を取得する工程において、前記被検査物の互いに交差する複数の断層画像から3次元の面の情報を前記3次元の位置情報として取得し、
前記位置を変更する工程において、前記走査手段により前記測定光を走査しながら、前記3次元の面に沿って前記集光手段の光軸方向の位置を変更することを特徴とする。
また、本発明の光断層撮像方法は、前記走査手段により前記測定光を走査しながら、前記取得された3次元の位置情報に基づいて、前記測定光の光路長と前記参照光の光路長との光路長差を変更する工程を更に有することを特徴とする。
また、本発明の光断層撮像方法は、前記走査手段により前記測定光を走査しながら前記取得された3次元の位置情報に基づいて前記集光手段の光軸方向の位置及び前記光路長差を変更した後に、前記所定の部位の画像を取得する工程を更に有することを特徴とする。
また、本発明の光断層撮像方法は、前記被検査物が、被検眼であり、
前記所定の部位が、該被検眼における網膜の特定の層であることを特徴とする。
また、本発明の光断層撮像方法は、前記網膜の特定の層が、網膜色素上皮層と神経線維層とのうち少なくとも一方であることを特徴とする。
また、本発明は、上記の光断層撮像方法の各工程をコンピュータに実行させるプログラムを構成したことを特徴とする。
また、被検査物が眼底である場合には網膜の特定の層について測定感度及び横分解能が高く、簡単な構成の光断層撮像装置および光断層撮像方法を提供することが可能になる。
する。
本実施形態においては、上記した本発明の構成を適用して、例えば、次のような光断層撮像装置(以下、これを光断層画像撮像装置と記す。)および光断層撮像方法(以下、これを光断層画像の撮像方法と記す。)を構成することができる。(1)本実施形態の光断層画像撮像装置は、図1に示されるように、光源(101)からの光を測定光(106)と参照光105とに分割し、前記測定光を被検査物(被検眼107)に導くと共に前記参照光を参照ミラー(114)に導き、前記被検査物によって反射あるいは散乱された前記測定光による戻り光と、前記参照ミラーによって反射された参照光とを用い、
前記被検査物の断層画像を撮像するフーリエドメイン方式による光断層画像撮像装置が構成される。
その際、本発明は、上記説明した課題を解決するために、つぎのように構成される。
すなわち、前記参照光の光路長を調整(前記測定光の光路長と前記参照光の光路長との光路長差を変更)する光路長調整手段(光路長差変更手段)(117−1)と、
前記被検査物に前記測定光を集光させる集光手段の光軸方向の位置を調整(変更)する位置調整手段(117−2)と、
前記被検査物の撮像を予定する部位に関し予め取得された情報に基づいて、前記光路長調整手段と前記位置調整手段とを制御する制御手段(125)と、を有する構成とされる。
このような構成により、被検査物の所望の部位における測定感度を最適に制御することが可能になる。その結果、前記所望の部位においてコントラストが高い断層画像を得ることが可能になる。
また、被検査物の所望の部位における測定光のビーム径を最適に制御することが可能になる。その結果、前記所望の部位において横分解能が高い断層画像を得ることが可能になる。結果として、前記所望の部位において高測定感度・高横分解能の断層画像を得ることが可能になる。
(2)また、本実施形態の光断層画像撮像装置は、前記予め取得された情報が、前記撮像を予定する部位について互いに略直交する少なくとも2つ以上の断層画像(図3の144、145)から算出された3次元平面の情報であり、
前記制御手段は、前記算出された3次元平面(図3の150)に沿って、前記光路長調整手段と前記集光手段の位置調整手段とを制御し、前記被検査物の3次元断層画像による撮像が可能に構成されている。
このような構成により、前記3次元平面を、互いに略直交する少なくとも2つ以上の前記断層画像を用いて算出することで、1つ以上の前記3次元平面を予測して算出することが可能になる。
そして、算出した3次元平面を用いて、各制御を行い、所望の撮像面において、高測定感度・高横分解能の断層画像を得ることが可能になる。
(3)また、本実施形態の光断層画像撮像装置は、前記3次元平面が算出されたことを通知する、通知手段を有する構成とすることができる。
このような構成により、算出した3次元平面(図3の150)を確認することができる。
また、断層画像の撮像の前に、算出した3次元平面を確認することで、より確度の高い断層画像を得ることが可能になる。
(4)また、本実施形態の光断層画像撮像装置は、前記被検査物を被検眼とし、前記3次元平面が該被検眼における網膜の特定の層を検査の対象とすることができる。
これにより、網膜組織の所定の部位に対して、高測定感度・高横分解能の断層画像を得ることが可能になる。
(5)また、本実施形態の光断層画像撮像装置は、前記網膜の特定の層として、網膜色素上皮層を検査の対象とすることができる。
このように、前記網膜の特定の層に網膜色素上皮層を選択すると、網膜色素上皮層における測定光の反射率が高いという理由から、前記網膜の特定の層を認識しやすい。
結果として、前記撮像面を正確に算出することが可能となり、結果として、高測定感度・高横分解能の断層画像を得ることが可能になる。
(6)また、本実施形態の光断層画像撮像装置は、前記網膜の特定の層として、神経線維層を検査の対象とすることができる。
このように、前記網膜の特定の層に神経線維層を選択すると、神経線維層における測定光の反射率が高いという理由から、前記網膜の特定の層を認識しやすい。結果として、前記撮像面を正確に算出することが可能となり、結果として、高測定感度・高横分解能の断層画像を得ることが可能になる。
(7)また、本実施形態の光断層画像撮像装置は、前記被検眼における眼底の断層画像を撮像する光断層画像撮像装置における眼底カメラ本体部と、前記被検眼における眼底の表面画像を撮像するカメラ部と、を有する構成とすることができる。
これにより、眼底カメラとOCT装置との両方の機能を1つの装置で実現することが可能になる。そのため、スペースの利用効率が高く、採算性の高いOCT装置を実現することが可能になる。
(8)また、本実施形態の光断層画像撮像装置は、前記眼底カメラ本体部と、眼底の表面画像を撮像するカメラ部とが、アダプターを介して接続可能に構成することができる。
これにより、既存の眼底カメラを利用して、OCT装置の機能を実現することが可能になる。
(9)また、本実施形態においては、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を被検査物に導くと共に前記参照光を参照ミラーに導き、
前記被検査物によって反射あるいは散乱された前記測定光による戻り光と、
前記参照ミラーによって反射された参照光とを用い、
前記被検査物の断層画像を撮像するフーリエドメイン方式による光断層画像の撮像方法を構成することができる。
具体的には、前記被検査物の撮像を予定する部位に関する情報を予め取得するため、前記撮像を予定する部位について互いに略直交する少なくとも2つ以上の断層画像を撮像する第1の工程と、
前記撮像された2つ以上の断層画像を、画像処理する第2の工程と、
前記画像処理された2つ以上の断層画像を用いて、3次元平面を算出する第3の工程と、
前記被検査物に前記測定光を集光させる集光手段の位置を調整する位置調整手段と、前記参照光の光路長を調整する光路長調整手段と、を制御する制御手段を用い、
前記位置調整手段を制御して前記測定光を前記3次元平面に集光させると共に、前記光路長調整手段を制御して前記参照ミラーを前記撮像面に対応する位置に移動させ、前記被検査物の3次元断層画像を撮像する第4の工程と、
を備えた構成とすることができる。
これにより、効率的に高測定感度・高横分解能の断層画像を得ることが可能になる。
(10)また、本実施形態の光断層画像の撮像方法は、前記第1の工程から前記第4の工程のうち、少なくとも一つの工程を自動的に行うようにすることができる。
これにより、効率的に高測定感度・高横分解能の断層画像を得ることが可能になる。
[実施例1]
実施例1においては、本発明を適用した、光断層画像撮像装置(OCT装置)について説明する。
ここでは特に、被検眼の断層画像(OCT像)を撮像する装置について説明する。
ここで説明するOCT装置は、フーリエドメイン方式のOCT装置(Fourier Domain OCT)である。
図1に、本実施例におけるOCT装置の光学系全体の概略構成について説明する図を示す。
図1において、100はOCT装置、101は光源、103はビームスプリッタ、105は参照光、106は測定光、142は合波された光、107は被検眼、108は戻り光、110はシングルモードファイバーである。
111、120、135はレンズ、114はミラー、115は分散補償用ガラス、117は電動ステージ、119はXYスキャナ、125はパソコンである。
126は角膜、127は網膜、139はラインカメラ、140はフレームグラバー、141は透過型グレーティングである。
図中、光源101から出射した光がビームスプリッタ103によって参照光105と測定光106とに分割される。
測定光106は、観察対象である被検眼107によって反射あるいは散乱された戻り光108となって戻され、ビームスプリッタ103によって、参照光105と合波される。
参照光105と戻り光108とは合波された後、透過型グレーティング141によって波長毎に分光され、ラインカメラ139に入射される。
ラインカメラ139は各位置(波長)毎に光強度を電圧に変換し、その信号を用いて、被検眼107の断層像が構成される。
光源101は代表的な低コヒーレント光源であるSLD(Super Luminescent Diode)である。
波長は830nm、バンド幅50nmである。ここで、バンド幅は、得られる断層像の光軸方向の分解能に影響するため、重要なパラメーターである。
また、光源の種類は、ここではSLDを選択したが、低コヒーレント光が出射できればよく、ASE(Amplified Spontaneous Emission)等も用いることができる。
また、波長は眼を測定することを鑑みると、近赤外光が適する。さらに波長は、得られる断層像の横方向の分解能に影響するため、なるべく短波長であることが望ましい。ここでは830nmとする。観察対象の測定部位によっては、他の波長を選んでも良い。
光源101から出射された光はシングルモードファイバー110を通して、レンズ111に導かれ、ビーム径1mmの平行光になるよう、調整される。
ビームスプリッタ103によって分割された参照光105はミラー114−2に入射されて方向を変え、レンズ135−1によりミラー114−1に集光され、反射されることで、再びビームスプリッタ103に向かう。
次に、参照光105はビームスプリッタ103を通過し、ラインカメラ139に導かれる。ここで、115は分散補償用ガラスである。
分散補償用ガラス115は被検眼107に測定光106が往復した時の分散を、参照光105に対して補償するものである。
ここでは、日本人の平均的な眼球の直径として代表的な値を想定し、L1=23mmとする。
さらに、117−1は電動ステージであり、矢印で図示している方向に移動することができ、参照光105の光路長を、調整・制御することができる。
また、電動ステージ117−1はパソコン125により高速に制御することができ、本発明の特徴としている。
ビームスプリッタ103によって分割された測定光106は、XYスキャナ119のミラーに入射される。
ここでは、簡単のため、XYスキャナ119は一つのミラーとして記したが、実際にはXスキャン用ミラーとYスキャン用ミラーとの2枚のミラーが近接して配置され、網膜127上を光軸に垂直な方向にラスタースキャンするものである。また、測定光106の中心はXYスキャナ119のミラーの回転中心と一致するように調整されている。
レンズ120−1、120−2は網膜127を走査するための光学系であり、測定光106を角膜126の付近を支点として、網膜127をスキャンする役割がある。
ここでは、レンズ120−1、120−2の焦点距離はそれぞれ50mm、50mmである。
また、117−2は電動ステージであり、矢印で図示している方向に移動することができ、付随するレンズ120−2の位置を、調整・制御することができる。レンズ120−2の位置を調整することで、被検眼107の網膜127の所望の層に測定光106を集光し、観察することが可能になる。
また、被検眼107が屈折異常を有してい場合にも対応できる。測定光106は被検眼107に入射すると、網膜127からの反射や散乱により戻り光108となり、ビームスプリッタ103で反射され、ラインカメラ139に導かれる。
ここで、電動ステージ117−2は、パソコン125により高速に制御することができるように構成されており、これは本実施例のOCT装置において特徴的構成と言えるものである。
OCT装置100は、マイケルソン干渉系による干渉信号の強度から構成される断層像(OCT像)を取得することができる。
その測定系について説明すると、網膜127にて反射や散乱された光である戻り光108は、ビームスプリッタ103で反射される。
ここで、参照光105と戻り光108とはビームスプリッタ103の後方で合波されるように調整される。
そして、合波された光142は透過型グレーティング141によって波長毎に分光され、レンズ135−2で集光され、ラインカメラ139にて光の強度が各位置(波長)毎に電圧に変換される。
具体的には、ラインカメラ139上には波長軸上のスペクトル領域の干渉縞が観察されることになる。
得られた電圧信号群はフレームグラバー140にてデジタル値に変換されて、パソコン125にてデータ処理を行い断層像を形成する。
ここでは、ラインカメラ139は1024画素を有し、合波された光142の波長毎(1024分割)の強度を得ることができる。
OCT装置100は、XYスキャナ119を制御し、ラインカメラ139で干渉縞を取得することで、網膜127の断層像を取得することができる(図1)。
ここでは、図2を用いて網膜127の断層像(光軸に平行な面)の取得方法について説明する。
図2(a)は被検眼107の模式図であり、OCT装置100によって観察されている様子を示している。
図2(a)に示すように、測定光106は角膜126を通して、網膜127に入射すると様々な位置における反射や散乱により戻り光108となり、それぞれの位置での時間遅延を伴って、ラインカメラ139に到達する。
上述のように、ラインカメラ139で取得されるのは波長軸上のスペクトル領域の干渉縞となる。次に、波長軸上の情報である該干渉縞を、ラインカメラ139と透過型グレーティング141との特性を考慮して、光周波数軸の干渉縞に変換する。
さらに、変換された光周波数軸の干渉縞を逆フーリエ変換することで、深さ方向の情報が得られる。
結果として、XZ面での戻り光108の強度の2次元分布が得られ、それはすなわち断層像132である(図2(c))。
本来は、断層像132は上記説明したように、該戻り光108の強度をアレイ状に並べたものであり、例えば該強度をグレースケールに当てはめて、表示されるものである。ここでは、得られた断層像の境界のみ強調して表示している。
ここでは、網膜色素上皮層に注目する場合について説明する。
電動ステージ117−1で参照ミラーであるミラー114−1の位置を、電動ステージ117−2でレンズ120−2の位置を、それぞれ制御することで、網膜127の断層像及び複数の断層画像からなる3次元画像を取得することができる(図1)。
図3に、本実施例における上記第1の構成例によるOCT装置を用いた3次元画像の取得方法について説明する図を示す。
図3(a)から図3(d)は、上記第1の構成例におけるOCT装置100の3次元画像の取得の手順について説明する図である。
ここでは、図3を用いて被検眼107の網膜127の3次元画像を取得する手段を説明する。
中でも、網膜127の組織の一つである網膜色素上皮層(RPE層)の付近を高測定感度・高横分解能に測定する場合について説明する。
ここでは、網膜色素上皮層に注目する場合について説明するが、その他の組織に注目して撮像を行うことも可能である。
また、コンピュータ等を用いて、以下の工程を自動的に行うように構成してもよい。これらのステツプ1〜4による工程のフローを図4に示す。
(1)ステツプ1において、網膜127の所望の部位(ここでは網膜色素上皮)を想定し、断層像X145と断層像Y144とを撮像する(図3(a))。
(2)ステツプ2において、取得した断層像X145と断層像Y144とから網膜色素上皮層X147と網膜色素上皮層Y146をそれぞれ画像処理により、抽出する(図3(b))。
(3)ステツプ3においては、ステツプ2で抽出した網膜色素上皮層X147と網膜色素上皮層Y146とを略含むように3次元平面150を予測して算出する(図3(c))。
(4)ステツプ4においては、ステツプ3で算出した3次元平面150に沿って、電動ステージ117−1、117−2を用い、ミラー114−1とレンズ120−2との位置(図1)を制御しながら複数の断層像X145を撮像し、網膜127の3次元画像を得る。
ステツプ4における具体的な断層像の撮像方法は、つぎのの通りである。
図3(d)は制御方法について説明する図であり、想定されるXZ平面の撮像範囲151に対して、測定光106が入射されている様子を概念的に示している。
ここで、143は網膜色素上皮層、148は測定光106が最も細くなる位置である焦点位置、149は焦点深度、151は撮像範囲、152は参照光路の光路長に対応する位置を表すコヒーレンスゲートである。
ここで、コヒーレンスゲート152は、焦点深度149の範囲で、焦点位置148より−Z側であり、撮像範囲151の外側になるように制御する。
コヒーレンスゲート152を撮像範囲の外側にすることで、フーリエドメイン方式のOCT装置に特有の現象である鏡像が出ないようにしている。
また、焦点位置148を網膜色素上皮143の近傍になるように制御し、網膜色素上皮層143の付近の横分解能を最適にしている。
また、図3(d)では測定光106の位置は代表的な3点のみ示したが、上記制御は各X軸上の各位置に対して行われる。
上記説明したように撮像することで、所望の部位(ここでは網膜色素上皮層143)を高測定感度・高横分解能に測定することが可能になる。
ここでは、ステツプ3において3次元平面150を算出し、ステツプ4での制御に用いたが、3次元平面150は他のOCT装置あるいは他の眼科機器で取得したものを用いてもよい。
ここでは、視神経乳頭に注目する場合について説明する。前述の第1の構成例と同様に、電動ステージ117−1で参照ミラーであるミラー114−1の位置を、電動ステージ117−2でレンズ120−2の位置を、それぞれ制御する。これにより、網膜127の断層像及び複数の断層画像からなる3次元画像を取得することができる(図1)。
図5に、上記第2の構成例によるOCT装置を用いた3次元画像の取得方法について説明する図を示す。
図5(a)から図5(d)は、上記第2の構成例におけるOCT装置100の3次元画像の取得の手順について説明する図である。
ここでは、図5を用いて被検眼107の網膜127の3次元画像を取得する手段を説明する。
中でも、網膜127の組織の一つである視神経乳頭の付近を高測定感度・高横分解能に測定する場合について説明する。
特に、該部位の視神経乳頭の神経線維層の厚さに注目している。
ここでは、視神経乳頭に注目する場合について説明するが、その他の組織に注目して撮像を行うことも可能である。
この第2の構成例による3次元画像の取得方法は以下の(1)〜(4)の工程を、例えば連続して行うものである。或いは、適宜工程を戻って行うこともできる。
また、コンピュータ等を用いて、以下の工程を自動的に行うように構成してもよい。これらのステツプ1〜4による工程のフローを図6に示す。
(1)ステツプ1において、網膜127の所望の部位(ここでは視神経乳頭)を想定し、該部位を横切るように断層像X145と断層像Y144とを撮像する(図5(a))。
(2)ステツプ2において、取得した断層像X145と断層像Y144とから、神経線維層X156と神経線維層Y155とを、それぞれ画像処理により抽出する(図5(b))。
(3)ステツプ3においては、ステツプ2で抽出した神経線維層X156と神経線維層Y155とを略含むように3次元平面150を予測して算出する(図5(c))。
(4)ステツプ4において、ステツプ3で算出した3次元平面150に沿って、電動ステージ117−1、117−2を用いて、ミラー114−1とレンズ120−2との位置(図1)を制御しながら、複数の断層像X145を撮像し、網膜127の3次元画像を得る。
ステツプ4における具体的な断層像の撮像方法は、つぎの通りである。
図5(d)は制御方法について説明する図であり、想定されるXZ平面の撮像範囲151に対して、測定光106が入射されている様子を概念的に示している。ここで、157は神経線維層、148は測定光106が最も細くなる位置である焦点位置、149は焦点深度、151は撮像範囲、152は参照光路の光路長に対応する位置を表すコヒーレンスゲートである。
ここで、コヒーレンスゲート152は、焦点深度149の範囲で、焦点位置148より+Z側であり、撮像範囲151の外側になるように制御する。
コヒーレンスゲート152を撮像範囲の外側にすることで、フーリエドメイン方式のOCT装置に特有の現象である鏡像が出ないようにしている。
また、焦点位置148を神経線維層157の近傍になるように制御し、神経線維層157の付近の横分解能を最適にしている。
また、図5(d)では測定光106の位置は代表的な4点のみ示したが、上記制御は各X軸上の各位置に対して行われる。
上記説明したように撮像することで、所望の部位(ここでは神経線維層157)を高測定感度・高横分解能に測定することが可能になる。
ここでは、ステツプ3において3次元平面150を算出し、ステツプ4での制御に用いたが、3次元平面150は他のOCT装置あるいは他の眼科機器で取得したものを用いてもよい。
実施例2においては、本発明を適用した、OCT装置について説明する。
ここでは特に、被検眼の断層画像(OCT像)及び眼底画像(平面像)を撮像する装置について説明する。本実施例においては、眼底カメラにアダプターを介してOCT撮像部を接続してなるOCT装置について説明する。本実施例は、スペースの利用効率が高く、採算性の高いOCT装置となっている。
図7に、本実施例の上記全体の構成について説明する図を示す。
図7において、200はOCT装置、100は断層画像を撮像するOCT撮像部、300は眼底カメラ本体部、400はアダプター、500は眼底の表面画像を撮像するカメラ部である。
ここで、眼底カメラ本体部300とアダプター400とカメラ部500とは光学的に接続されている。ここで、眼底カメラ本体部300とアダプター400とは相対的に移動可能に保持されている。
そのため、大まかな光学的調整を行うことができる。また、アダプター400とOCT撮像部100とはシングルモードファイバー133を介して光学的に接続されている。
アダプター400とOCT撮像部100とはコネクター410とコネクター154とをそれぞれ有している。そのため、簡単に取り付け及び取り外しが可能である。
また、323はあご台であり、被検者のあごと額とを固定することで、被検眼の固定を促し、撮像を行う。125はパソコンであり、断層画像の構成や表示等を行う。
カメラ部500とアダプター400あるいは眼底カメラ本体部300とは汎用のカメラマウントで接続される。
図8に、OCT装置の光学系の構成について説明する図を示す。
図8において、200はOCT装置、107は被検眼、300は眼底カメラ本体部、400はアダプター、500はカメラ部、100はOCT撮像部である。
OCT装置200は、OCT撮像部100とカメラ部500とを用いて被検眼107の網膜127の断層画像(OCT像)及び眼底画像(平面像)を取得するように構成されている。
まず、眼底カメラ本体部300について説明する。被検眼107に対向して、対物レンズ302が設置され、その光軸上で孔あきミラー303によって光路351と光路352とに分岐される。
光路352は被検眼107の眼底を照明する照明光学系を形成している。眼底カメラ本体部300の下部には、被検眼107の位置合わせに用いられるハロゲンランプ316、被検眼107の眼底の撮像に用いるストロボ管314が設置されている。
ここで、313、315はコンデンサレンズ、317はミラーである。ハロゲンランプ316とストロボ管314とからの照明光はリングスリット312によってリング状の光束となり、孔あきミラー303によって反射され、被検眼107の眼底を照明する。
ここで、309、311はレンズ、310は光学フィルターである。
孔あきミラー303の右方にはフォーカスレンズ304と結像レンズ305が設置されている。
ここで、フォーカスレンズ304は光軸方向に移動可能に支持され、パソコン125によってその位置を制御でき、本発明の特徴としている。
次に、クイックリターンミラー318を介して、光路351は固視灯320及びエリアセンサ321に導かれている。
ここで、クイックリターンミラー318は赤外光の一部を反射及び透過し、可視光を反射するように設計されている。
赤外光の一部を反射及び透過するよう設計しているため、固視灯320とエリアセンサ321とOCT撮像部100とを同時に使用することが可能になっている。
また、319はダイクロイックミラーであり、固視灯320方向に可視光が、エリアセンサ321方向に赤外光がそれぞれ分岐されるよう設計されている。
次に、光路351はミラー306、フィールドレンズ322、ミラー307、リレーレンズ308を介して、アダプター400に導かれる。
アダプター400は光路351をダイクロイックミラー405を介して、断層画像撮像用の光路351−1と眼底画像撮像用の光路351−2とに分割することを最大の機能としている。
ここで、406、407はリレーレンズ、408はXYスキャナ、409はコリメートレンズである。
ここでは、リレーレンズ406、407は移動可能に保持され、細かな位置調整を行うことで、光路351−1と351−2との光軸を調整することができる。また、ここでは、簡単のため、XYスキャナ408は一つのミラーとして記したが、実際にはXスキャン用ミラーとYスキャン用ミラーとの2枚のミラーが近接して配置され、網膜127上を光軸に垂直な方向にラスタースキャンするものである。
また、XYスキャナ408はパソコン125によって制御される。また、光路351−1の光軸はXYスキャナ408の2つのミラーの回転中心と一致するように調整されている。
また、410は光ファイバーを取り付けるためのコネクターである。
カメラ部500は眼底画像を撮像するためのデジタル一眼レフカメラである。アダプター400とカメラ部500とは汎用のカメラマウントを介して接続される。そのため、容易に着脱が可能である。
501はエリアセンサであり、その表面に眼底像が形成される。
光路に光ファイバーを用いていることを除けば、実施例1と基本的に差異のない構成を備えている。
つぎに、OCT撮像部100の構成について説明する。
図9に、OCT撮像部100の構成について説明する図を示す。
図9において、101は光源、105は参照光、106は測定光、108は戻り光、114はミラーである。
115は分散補償用ガラス、117は電動ステージ、125はパソコンである。131は光カプラー、135はレンズ、139はラインカメラ、140はフレームグラバーである。130、133はシングルモードファイバー、154はコネクター、153は偏光コントローラである。
OCT撮像部100は、図9に示されるように、全体として、マイケルソン干渉系を構成している。
図9において、光源101から出射された光は参照光105と測定光106とに光カプラー131を介して、10:90に分割される。測定光106は光ファイバー130−4を介して、コネクター154に導かれる。その後、アダプター400と眼底カメラ本体部300とを介して、観察対象である被検眼107に到達する(図8)。
さらに、被検眼107にて、測定光106は反射や散乱により戻り光108となって戻され、光カプラー131によって、参照光105と合波される。参照光105と戻り光108とは合波された後、ラインカメラ139に入射され、得られた光強度を用いて、被検眼107の断層像が構成される。
光源101は代表的な低コヒーレント光源であるSLD(Super Luminescent Diode)であり、実施例1の光源101と同様であるため説明を省略する。光源101から出射された光はシングルモードファイバー130−1を通して、光カプラー131に導かれ、強度比90:10で分割され、それぞれ測定光106、参照光105となる。
光カプラー131にて分割された参照光105はシングルモードファイバー130−2を通して、レンズ135−3に導かれ、ビーム径1mmの平行光になるよう、調整される。
次に、参照光105は、レンズ135−4にて集光され、ミラー114にて反射されることで、再び光カプラー131に導かれる。
ここで、参照光105が通過した分散補償ガラス115は被検眼107に測定光106が往復した時の分散を、参照光105に対して補償するものである。
分散補償用ガラス115の長さはL1であり、ここでは日本人の平均的な眼球の直径と想定されるL1=23mmとする。
さらに、117は電動ステージであり、矢印で図示している方向に移動することができ、参照光105の光路長を、調整・制御することができる。
また、電動ステージ117はパソコン125によって制御され、本発明の特徴としている。
光カプラー131によって分割された測定光106はシングルモードファイバー130−4を介して、コネクター154に導かれる。
その後、光ファイバー133、コネクター410、アダプター400、眼底カメラ本体部300を介して、測定光106は被検眼107の網膜に導かれる(図8)。
測定光106が被検眼107に入射すると、網膜127からの反射や散乱により戻り光108となる。
戻り光108は、再び、眼底カメラ本体部300、アダプター400、コネクター410、シングルモードファイバー133、コネクター154を順に介して、光カプラー131に導かれる。
そして、合波された光142は透過型グレーティング141によって波長毎に分光され、レンズ135−5で集光され、ラインカメラ139にて光の強度が各位置(波長)毎に電圧に変換される。
具体的には、ラインカメラ139上には波長軸上のスペクトル領域の干渉縞が観察されることになる。
得られた電圧信号群はフレームグラバー140にてデジタル値に変換されて、パソコン125にてデータ処理を行い断層像を形成する。
ここでは、ラインカメラ139は1024画素を有し、合波された光142の波長毎(1024分割)の強度を得ることができる。
また、OCT装置を用いた断層像の取得方法についても、実施例1と略同一であるため、詳細な説明を省略する。
OCT装置200は、XYスキャナ408を制御し、ラインカメラ139で干渉縞を取得することで、網膜127の断層像を取得することができる(図8)。
また、本発明の特徴であるOCT装置を用いた3次元画像の取得方法についても、実施例1と略同一であるため詳細な説明を省略する。
ここでは、参照ミラーであるミラー114と焦点位置を調整するフォーカスレンズ304とを、それぞれ制御することで、網膜127の断層像及び複数の断層画像からなる3次元画像を取得することができる(図8、図9)。
103:ビームスプリッタ
105:参照光
106:測定光
107:被検眼
108:戻り光
110、130、133:シングルモードファイバー
111、120、135、309、311:レンズ
114、306、307、317:ミラー
115:分散補償用ガラス
117:電動ステージ
119、408:XYスキャナ
125:パソコン
126:角膜
127:網膜
131:光カプラー
132:断層像
139:ラインカメラ
140:フレームグラバー
141:透過型グレーティング
142:合波された光
143:網膜色素上皮層
144:断層像Y
145:断層像X
146:網膜色素上皮層Y
147:網膜色素上皮層X
148:焦点位置
149:焦点深度
150:3次元平面
151:撮像範囲
152:コヒーレンスゲート
153:偏光コントローラ
154、410:コネクター
155:神経線維層Y
156:神経線維層X
157:神経線維層
200:OCT装置
300:眼底カメラ本体部
302:対物レンズ
303:孔あきミラー
304:フォーカスレンズ
305:結像レンズ
308、406、407:リレーレンズ
310:光学フィルター
312:リングスリット
313、315:コンデンサレンズ
314:ストロボ管
316:ハロゲンランプ
318:クイックリターンミラー
319、405:ダイクロイックミラー
320:固視灯
321:エリアセンサ
322:フィールドレンズ
351、352:光路
400:アダプター
409:コリメートレンズ
500:カメラ部
Claims (17)
- 測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて該被検査物の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、
前記被検査物に対して前記測定光を走査する走査手段と、
前記被検査物に前記測定光を集光させるための集光手段と、
前記被検査物の複数の断層画像から前記被検査物の所定の部位の深さ方向の3次元の位置情報を取得する位置情報取得手段と、
前記走査手段により前記測定光を走査しながら、前記取得された3次元の位置情報に基づいて前記集光手段の光軸方向の位置を変更する制御手段と、
を有することを特徴とする光断層撮像装置。 - 前記位置情報取得手段は、前記被検査物の互いに交差する複数の断層画像から前記被検査物の所定の部位の深さ方向の3次元の位置情報を取得することを特徴とする請求項1に記載の光断層撮像装置。
- 前記位置情報取得手段は、前記被検査物の互いに交差する複数の断層画像から3次元の面の情報を前記3次元の位置情報として取得し、
前記制御手段は、前記走査手段により前記測定光を走査しながら、前記3次元の面に沿って前記集光手段の光軸方向の位置を変更することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の光断層撮像装置。 - 前記測定光の光路長と前記参照光の光路長との光路長差を変更する光路長差変更手段を更に有し、
前記制御手段は、前記走査手段により前記測定光を走査しながら、前記取得された3次元の位置情報に基づいて前記集光手段の光軸方向の位置及び前記光路長差を変更することを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の光断層撮像装置。 - 前記走査手段により前記測定光を走査しながら前記取得された3次元の位置情報に基づいて前記集光手段の光軸方向の位置及び前記光路長差を変更した後に、前記所定の部位の画像を取得する画像取得手段を更に有することを特徴とする請求項4に記載の光断層撮像装置。
- 前記被検査物が、被検眼であり、
前記所定の部位が、該被検眼における網膜の特定の層であることを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の光断層撮像装置。 - 前記網膜の特定の層が、網膜色素上皮層と神経線維層とのうち少なくとも一方であることを特徴とする請求項6に記載の光断層撮像装置。
- 請求項1乃至7のいずれか1項に記載の光断層撮像装置と、
眼底カメラ本体部と、
前記被検眼における眼底の表面画像を撮像するカメラ部と、
を有することを特徴とする光断層撮像システム。 - 前記眼底カメラ本体部と前記カメラ部とが、アダプターを介して接続可能に構成されていることを特徴とする請求項8に記載の光断層撮像システム。
- 測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて該被検査物の断層画像を取得する光断層撮像方法であって、
前記被検査物の複数の断層画像から前記被検査物の所定の部位の深さ方向の3次元の位置情報を取得する工程と、
前記被検査物に対して前記測定光を走査する走査手段により前記測定光を走査しながら、前記取得された3次元の位置情報に基づいて、前記被検査物に前記測定光を集光させるための集光手段の光軸方向の位置を変更する工程と、
を有することを特徴とする光断層撮像方法。 - 前記位置情報を取得する工程において、前記被検査物の互いに交差する複数の断層画像から前記被検査物の所定の部位の深さ方向の3次元の位置情報を取得することを特徴とする請求項10に記載の光断層撮像方法。
- 前記位置情報を取得する工程において、前記被検査物の互いに交差する複数の断層画像から3次元の面の情報を前記3次元の位置情報として取得し、
前記位置を変更する工程において、前記走査手段により前記測定光を走査しながら、前記3次元の面に沿って前記集光手段の光軸方向の位置を変更することを特徴とする請求項10または請求項11に記載の光断層撮像方法。 - 前記走査手段により前記測定光を走査しながら、前記取得された3次元の位置情報に基づいて、前記測定光の光路長と前記参照光の光路長との光路長差を変更する工程を更に有することを特徴とする請求項10から12のいずれか1項に記載の光断層撮像方法。
- 前記走査手段により前記測定光を走査しながら前記取得された3次元の位置情報に基づいて前記集光手段の光軸方向の位置及び前記光路長差を変更した後に、前記所定の部位の画像を取得する工程を更に有することを特徴とする請求項13に記載の光断層撮像方法。
- 前記被検査物が、被検眼であり、
前記所定の部位が、該被検眼における網膜の特定の層であることを特徴とする請求項10から14のいずれか1項に記載の光断層撮像方法。 - 前記網膜の特定の層が、網膜色素上皮層と神経線維層とのうち少なくとも一方であることを特徴とする請求項15に記載の光断層撮像方法。
- 請求項10から16のいずれか1項に記載の光断層撮像方法の各工程をコンピュータに実行させるプログラム。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008331805A JP5483873B2 (ja) | 2008-12-26 | 2008-12-26 | 光断層撮像装置、および光断層撮像方法 |
PCT/JP2009/071355 WO2010074098A1 (en) | 2008-12-26 | 2009-12-16 | Optical tomographic imaging apparatus and imaging method for optical tomographic image |
US13/131,108 US8651662B2 (en) | 2008-12-26 | 2009-12-16 | Optical tomographic imaging apparatus and imaging method for optical tomographic image |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008331805A JP5483873B2 (ja) | 2008-12-26 | 2008-12-26 | 光断層撮像装置、および光断層撮像方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010151704A JP2010151704A (ja) | 2010-07-08 |
JP2010151704A5 JP2010151704A5 (ja) | 2012-02-16 |
JP5483873B2 true JP5483873B2 (ja) | 2014-05-07 |
Family
ID=42287706
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008331805A Expired - Fee Related JP5483873B2 (ja) | 2008-12-26 | 2008-12-26 | 光断層撮像装置、および光断層撮像方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8651662B2 (ja) |
JP (1) | JP5483873B2 (ja) |
WO (1) | WO2010074098A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010151713A (ja) * | 2008-12-26 | 2010-07-08 | Canon Inc | 光断層画像の撮像方法及びその装置 |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5743411B2 (ja) | 2009-05-08 | 2015-07-01 | キヤノン株式会社 | 光画像撮像装置及びその方法 |
JP5641744B2 (ja) | 2010-02-10 | 2014-12-17 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及びその制御方法 |
JP5836564B2 (ja) | 2010-03-12 | 2015-12-24 | キヤノン株式会社 | 眼科撮像装置、および眼科撮像方法、そのプログラム |
WO2012104097A1 (de) * | 2011-02-04 | 2012-08-09 | Heidelberg Engineering Gmbh | Verfahren und vorrichtung für die sequenzielle aufnahme von interferometrischen tiefenschnittbildern in verschiedenen tiefen, insbesondere zur analyse des auges |
US9618319B2 (en) * | 2011-02-18 | 2017-04-11 | The General Hospital Corporation | Laser speckle microrheometer for measuring mechanical properties of biological tissue |
JP5792967B2 (ja) | 2011-02-25 | 2015-10-14 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置及び画像処理システム |
JP5818458B2 (ja) | 2011-02-25 | 2015-11-18 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、撮影システム、画像処理方法及びプログラム |
JP5822485B2 (ja) | 2011-02-25 | 2015-11-24 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法、画像処理システム、slo装置、およびプログラム |
JP2012229958A (ja) * | 2011-04-25 | 2012-11-22 | Disco Abrasive Syst Ltd | 3次元計測装置 |
JP6098079B2 (ja) * | 2011-09-29 | 2017-03-22 | 株式会社ニデック | 眼底断層像撮影装置 |
JP2013146447A (ja) * | 2012-01-20 | 2013-08-01 | Canon Inc | 撮影装置、画像処理方法、及びプログラム |
JP6108811B2 (ja) | 2012-02-21 | 2017-04-05 | キヤノン株式会社 | 撮像装置 |
JP6039908B2 (ja) | 2012-02-21 | 2016-12-07 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び撮像装置の制御方法 |
WO2013169934A1 (en) * | 2012-05-08 | 2013-11-14 | King Abdullah University Of Science And Technology | Submicron resolution spectral-domain optical coherence tomography |
WO2014163897A1 (en) | 2013-03-13 | 2014-10-09 | Optimedica Corporation | Free floating patient interface for laser surgery system |
EP3434235B1 (en) | 2013-03-13 | 2023-04-26 | AMO Development, LLC | Laser eye surgery system |
JP2015085043A (ja) * | 2013-10-31 | 2015-05-07 | 株式会社ニデック | 眼底撮影装置 |
JP6442902B2 (ja) * | 2014-07-31 | 2018-12-26 | 株式会社ニデック | 眼科装置 |
WO2020044712A1 (ja) * | 2018-08-29 | 2020-03-05 | 株式会社トプコン | 眼科装置、及びその制御方法 |
JP2020039667A (ja) * | 2018-09-12 | 2020-03-19 | 株式会社トプコン | 眼科撮影装置、その制御方法、プログラム、及び記録媒体 |
KR102180648B1 (ko) * | 2019-08-05 | 2020-11-19 | 주식회사 휴비츠 | 3차원 단층촬영 검사 장치 및 방법 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3279698B2 (ja) * | 1993-02-16 | 2002-04-30 | 株式会社トプコン | 生体眼の計測装置 |
JP4846938B2 (ja) * | 2001-08-14 | 2011-12-28 | 株式会社トプコン | 眼特性測定装置 |
WO2006078802A1 (en) * | 2005-01-21 | 2006-07-27 | Massachusetts Institute Of Technology | Methods and apparatus for optical coherence tomography scanning |
US7365856B2 (en) | 2005-01-21 | 2008-04-29 | Carl Zeiss Meditec, Inc. | Method of motion correction in optical coherence tomography imaging |
JP2007101250A (ja) | 2005-09-30 | 2007-04-19 | Fujifilm Corp | 光断層画像化方法 |
CN101400295B (zh) * | 2006-01-19 | 2011-12-07 | 光视有限公司 | 通过光学相干层析x射线摄影技术检查眼睛的方法 |
JP4971864B2 (ja) * | 2007-04-18 | 2012-07-11 | 株式会社トプコン | 光画像計測装置及びそれを制御するプログラム |
JP5448353B2 (ja) * | 2007-05-02 | 2014-03-19 | キヤノン株式会社 | 光干渉断層計を用いた画像形成方法、及び光干渉断層装置 |
JP4971872B2 (ja) * | 2007-05-23 | 2012-07-11 | 株式会社トプコン | 眼底観察装置及びそれを制御するプログラム |
JP5339828B2 (ja) | 2007-10-04 | 2013-11-13 | キヤノン株式会社 | 光干渉断層撮像装置及び光干渉断層撮像方法 |
JP5306041B2 (ja) | 2008-05-08 | 2013-10-02 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及びその方法 |
JP5478840B2 (ja) | 2008-05-19 | 2014-04-23 | キヤノン株式会社 | 光断層撮像装置および光断層撮像装置の制御方法 |
JP5546112B2 (ja) | 2008-07-07 | 2014-07-09 | キヤノン株式会社 | 眼科撮像装置および眼科撮像方法 |
JP5473265B2 (ja) | 2008-07-09 | 2014-04-16 | キヤノン株式会社 | 多層構造計測方法および多層構造計測装置 |
JP5371315B2 (ja) | 2008-07-30 | 2013-12-18 | キヤノン株式会社 | 光干渉断層撮像方法および光干渉断層撮像装置 |
JP4732541B2 (ja) | 2008-10-24 | 2011-07-27 | キヤノン株式会社 | アダプター、光断層画像撮像装置、プログラム、眼科装置 |
JP5455001B2 (ja) | 2008-12-26 | 2014-03-26 | キヤノン株式会社 | 光断層撮像装置および光断層撮像装置の制御方法 |
-
2008
- 2008-12-26 JP JP2008331805A patent/JP5483873B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2009
- 2009-12-16 WO PCT/JP2009/071355 patent/WO2010074098A1/en active Application Filing
- 2009-12-16 US US13/131,108 patent/US8651662B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010151713A (ja) * | 2008-12-26 | 2010-07-08 | Canon Inc | 光断層画像の撮像方法及びその装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010151704A (ja) | 2010-07-08 |
US20110234975A1 (en) | 2011-09-29 |
US8651662B2 (en) | 2014-02-18 |
WO2010074098A1 (en) | 2010-07-01 |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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