JP6442902B2

JP6442902B2 - 眼科装置

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Publication number: JP6442902B2
Application number: JP2014156738A
Authority: JP
Inventors: 遠藤　雅和; 雅和遠藤; 佳史村田; 昌明羽根渕
Original assignee: Nidek Co Ltd
Current assignee: Nidek Co Ltd
Priority date: 2014-07-31
Filing date: 2014-07-31
Publication date: 2018-12-26
Anticipated expiration: 2034-07-31
Also published as: JP2016032577A

Description

本開示は、被検眼の断層像を撮影するための眼科装置に関する。

光走査光学系（例えば、ガルバノミラー）を用いて眼底上で測定光を走査し、眼底像を得る眼科装置としては、眼底断層像撮影装置（例えば、光干渉断層計（Optical Coherence Tomography: OCT））、眼底正面像撮影装置（例えば、走査型検眼装置（Scanning Laser Opthalmoscope: SLO））などが知られている（特許文献１参照）。

ところで、近年、例えば、光学素子を光路に対して挿脱することによって、被検眼の眼底と前眼部とで、作動距離を切り換えて撮影を行う眼科装置が提案されている。

また、光干渉光学系によって被検眼の深さ情報（眼軸長、前房深度等）を得る装置が知られている。

特開２００８−２９４６７号公報

しかしながら、従来の装置の場合、軸合わせ等の光学的調整が難しくなる可能性があった。また、明瞭な画像が得られない場合があり得る。また、レンズを退避させる場合、スペースが必要であり、コンパクト化の妨げになり得る。

上記の問題点を鑑み、先行技術の問題点の少なくとも一つ以上を少なくとも軽減することを技術課題とする。

上記課題を解決するために、本開示は、以下のような構成を備えることを特徴とする。

（１）被検眼の深さ情報を取得するための眼科装置であって、光源からの光を測定光と参照光とに分割する分割手段と、対物レンズユニットを含み、前記被検眼に前記測定光を導くための導光光学系と、前記測定光を被検眼上で走査する走査手段と、
前記走査手段側に配置され、前記光学系の光軸に対して３次元的に静止した状態で屈折力を変更可能な第１の屈折力可変手段と、前記第１の屈折力可変手段よりも被検眼側に配置され、前記光学系の光軸に対して３次元的に静止した状態で屈折力を変更可能な第２の屈折力可変手段と、前記第１の屈折力可変手段と前記第２の屈折力可変手段を制御して前記測定光の集光位置を光学部材を挿脱させることなく眼底と前眼部との間で変更する制御手段と、前記導光光学系を介して被検眼に導かれた前記測定光と、前記参照光との干渉光を検出する検出手段であって、前記制御手段の制御に応じた前記干渉光のそれぞれを検出する検出手段と、前記検出手段による前記干渉光の検出結果に基づいて、前記前眼部と前記眼底部の断層画像をそれぞれ形成する画像形成手段と、を備え、前記制御手段は、眼底に測定光を集光させる場合、前記第１の屈折力可変手段と前記第２の屈折力可変手段との合成系の後側焦点を前記対物レンズユニットの前側焦点に一致させることによって、前記対物レンズユニットに関して物体側テレセントリックになるように制御し、前眼部に測定光を集光させる場合、前記第１の屈折力可変手段と前記第２の屈折力可変手段との合成系をアフォーカルにすることによって、前記対物レンズユニットに関して像側テレセントリックになるように制御することと特徴とする。

本実施例の眼科装置の構成を示す概略図である。焦点位置可変系を説明するための図である。焦点位置可変系の一例である液晶レンズを説明する図である。屈折力可変素子を２つ備えた焦点距離可変系を説明するための図である。表示モニタに表示された眼底と前眼部の断層画像の一例を示す画像である。導光光学系の一例を示す図である。屈折力可変系の制御の一例を説明するための図である。屈折力可変系の制御の一例を説明するための図である。

＜概要＞
以下、第１実施形態の概要を説明する。第１実施形態の眼科装置は、例えば、被検眼の深さ情報を取得するための眼科装置１である（図１参照）。眼科装置１は、例えば、フーリエドメイン光コヒーレンストモグラフィー（ＦＤ−ＯＣＴ）を基本的構成とする。眼科装置１は、干渉光学系１００（ＯＣＴ光学系）、制御部７０を含む。ＦＤ−ＯＣＴとしては、波長掃引式ＯＣＴ（ＳＳ−ＯＣＴ：Swept source-OCT）、スペクトルドメインＯＣＴ（ＳＤ−ＯＣＴ：Spectral Domain OCT）が代表的である。もちろん、これに限定されず、タイムドメインＯＣＴ（ＴＤ−ＯＣＴ）であってもよい。

眼科装置１は、分割器（例えば、ファイバーカップラー２６）と、導光光学系１０と、屈折力可変系１３と、制御部７０と、検出部８３を主に備える（図１参照）。分割器は、例えば、光源からの光を測定光と参照光とに分割する。導光光学系１０は、例えば、対物レンズ１１を含み、被検眼Ｅに測定光を導く。

屈折力可変系１３は、例えば、導光光学系１０の光軸Ｌ１に対して静止した状態で屈折力を変更可能である（図４参照）。なお、屈折力可変系１３は、例えば、導光光学系１０の光路に対して３次元的に固定されてもよいし、移動可能であってもよい。

制御部７０は、屈折力可変系１３を制御して測定光の集光位置を変更する。検出部８３は、導光光学系１０を介して被検眼Ｅに導かれた測定光と、参照光との干渉光を検出する。例えば、検出部８３は、制御部７０の制御に応じた干渉光のそれぞれを検出してもよい。

本実施形態の眼科装置１は、例えば、屈折力可変系１３を備えることによって、装置の大型化または複雑化を抑えた構成で、集光位置を変更してもよい。

なお、屈折力可変系１３は、例えば、屈折力を電気的に変更するための構造として屈折力可変素子（例えば、液晶レンズ１４ａ，１４ｂ、液体レンズ、非線形光学部材、分子部材、回転非対称な光学部材など）を備えてもよい。なお、屈折力可変系１３は、例えば、屈折力可変素子を２つ以上備えてもよい。これによって、集光位置の制御をより好適に行ってもよい。なお、屈折力可変系１３は、例えば、液晶レンズ１４ａ，１４ｂなどを備えてもよい。液晶レンズ１４ａ，１４ｂは、例えば、電圧を印加することで屈折力が変化する屈折力可変素子である。

なお、眼科装置１は、さらに走査部（例えば、走査光学系２３）と、画像形成部（例えば、制御部７０など）を備えてもよい。走査部は、例えば、被検体上において測定光を走査する。画像形成部は、例えば、検出部８３による干渉光の検出結果に基づいて、前眼部Ｅｃと眼底部Ｅｒの断層画像をそれぞれ形成する。この場合、制御部７０は、例えば、屈折力可変系１３を制御して、走査部によって走査される測定光の横断方向における走査位置に応じて、測定光の集光位置を調整してもよい。これによって、被検眼Ｅの形状に合わせて測定光の集光位置を調整してもよい。

なお、眼科装置１は、さらに切替部（例えば、参照ミラー３１，参照ミラー駆動部５０，制御部７０など）を備えてもよい。切替部は、例えば、測定光または参照光の光路長を眼底部Ｅｒと前眼部Ｅｃのいずれかに対応した光路長に切り替える。

この場合、制御部７０は、切替部による光路長の切り替えと、屈折力可変系１３による屈折力の変更とを同期させてもよい。これによって、被検眼Ｅの撮影をスムーズに行ってもよい。

さらに、制御部７０は、例えば、切替部を制御して眼底部と前眼部のいずれかに対応した光路長に交互に切り替えると共に、屈折力可変系１３を制御して切替部によって設定された対応する被検眼部位に集光位置を変化させてもよい。

さらに、制御部７０は、光路長に合わせて集光位置を変更してもよいし、集光位置に合わせて光路長が変更されてもよい。つまり、特定の被検眼部位の深さ情報を得るために、切換手段と屈折力可変部１３が連動して制御され、深さ情報を得る対象部位の変化に応じて光路長と集光位置が設定されればよい。

なお、制御部７０は、屈折力可変系１３を制御して測定光の集光位置を少なくとも３つ変更してもよい。さらに、制御部７０は、屈折力可変系１３を制御して、被検眼部位への集光位置を眼底と前眼部との間で交互に変化させてもよい。

以下、第２実施形態の概要について説明する。第２実施形態の眼科装置は、例えば、被検眼の断層画像を撮影するための眼科装置１である（図１参照）。眼科装置１は、例えば、フーリエドメイン光コヒーレンストモグラフィー（ＦＤ−ＯＣＴ）を基本的構成とする。眼科装置１は、干渉光学系１００（ＯＣＴ光学系）、制御部７０を含む。ＦＤ−ＯＣＴとしては、波長掃引式ＯＣＴ（ＳＳ−ＯＣＴ：Swept source-OCT）、スペクトルドメインＯＣＴ（ＳＤ−ＯＣＴ：Spectral Domain OCT）が代表的である。もちろん、これに限定されず、タイムドメインＯＣＴ（ＴＤ−ＯＣＴ）であってもよい。なお、眼科装置１は、例えば、ＯＣＴ原理を用いて被検眼Ｅの深さ情報を得るための干渉計に係る構成を有してもよい。

第２実施形態の眼科装置１は、例えば、分割部（例えば、ファイバーカップラー２６など）と、導光光学系１０と、集光位置可変系１２と、検出部８３と、画像形成手段（例えば、制御部７０など）と、を主に備える（図１，図４参照）。

分割部は、例えば、光源からの光を測定光と参照光とに分割する。導光光学系１０は、例えば、対物レンズユニット１１を含み、被検眼Ｅに測定光を導光かつ集光させる。検出部８３は、例えば、導光光学系１０を介して被検眼Ｅに導かれた測定光と、参照光との干渉光を検出する。例えば、検出部８３は、制御部７０の制御に応じた干渉光のそれぞれを検出してもよい。画像形成手段は、例えば、検出部８３による干渉光の検出結果に基づいて、前眼部Ｅｃと眼底部Ｅｒの断層画像をそれぞれ形成する。

集光位置可変系１２は、例えば、導光光学系１０の光路中に配置され、前眼部Ｅｃと眼底Ｅｒとの間で測定光の集光位置を光軸方向に変更させる。なお、集光位置可変系１２は、例えば、駆動部（例えば、制御部７０など）を備えてもよい。駆動部は、例えば、集光位置を変更するための少なくとも２つの光学部材（例えば、液晶レンズ１４ａ，１４ｂなど）を駆動させてもよいし、対物レンズユニットからの射出角度を変更するための少なくとも２つの光学部材（例えば、液晶レンズ１４ａ，１４ｂなど）を駆動させてもよい。

なお、駆動部は、モータによって光学部材を物理的に変位させてもよいし、電気的制御によって光学部材の屈折力を変化させてもよい。集光位置可変系１２は、眼底部Ｅｒの断層画像を得る際は、導光光学系１０の対物レンズユニット１１に入射する光束がテレセントリックになるように屈折力を設定してもよい。さらに集光位置可変系１２は、前眼部Ｅｃの断層画像を得る際は、導光光学系１０の対物レンズユニット１１から射出される光束がテレセントリックになるように屈折力を設定してもよい。

なお、集光位置可変系１２は、駆動部を制御し、眼底部の断層画像を得る際、走査光学系の走査面と瞳孔が共役関係になるように光学部材を駆動させてもよい。さらに集光位置可変系１２は、駆動部を制御し、前眼部の断層画像を得る際、前眼部観察時、走査光学系の走査面と瞳孔面が瞳‐像関係になり、瞳孔面への照射光束がテレセントリックになるように、光学部材を駆動させてもよい。

＜実施例＞
本実施例を図面に基づいて説明する。図１は、本実施例に係る眼科装置の光学系及び制御系を示す図である。なお、本実施例においては、被検眼の奥行き方向をＺ方向（光軸Ｌ１方向）、奥行き方向に垂直な平面上の水平方向成分をＸ方向、鉛直方向成分をＹ方向として説明する。

＜全体構成＞
本装置は、光コヒーレンストモグラフィーデバイス（ＯＣＴデバイス）１である。図１において、ＯＣＴデバイス１は、干渉光学系（ＯＣＴ光学系）２００と、固視標投影ユニット３００と、制御部（例えばＣＰＵ）７０と、導光光学系１０を備える。

＜光学系＞
ＯＣＴ光学系２００は、測定光源から発せられた光束を測定光と参照光に分割する。さらに、ＯＣＴ光学系２００は、分割された測定光束を被検眼眼底Ｅｒに導き，参照光を参照光学系に導いた後、眼底Ｅｒで反射又は後方散乱された測定光と参照光とが合成された光の干渉信号を検出器（受光素子）８３により検出する。

ＯＣＴ光学系２００は、例えば、ファイバーカップラー２６と、測定光源２７と、光ファイバ３８ａ，３８ｂ，３８ｃ，３８ｄと、測定光学系２００ａと、参照光学系２００ｂと、分光光学系８００と、を備える。

［ＯＣＴ光源］
ＯＣＴ光源２７はＯＣＴ光学系２００の測定光及び参照光として用いられる低コヒーレントの光を発する光源であり、例えば、ＳＬＤ光源等が用いられる。ＯＣＴ光源２７には、例えば、中心波長８４０ｎｍで５０ｎｍの帯域を持つ光源が用いられる。

［ファイバ］
光ファイバ３８ａ，３８ｂ，３８ｃ，３８ｄは、内部に光を通過させ、ＯＣＴ光源２７、カップラー２６、測定光学系２００ａ、参照光学系２００ｂ、分光光学系８００等を繋ぐ。

［ファイバーカップラー］
ファイバーカップラー２６は光分割部材と光結合部材としての役割を兼用する。ＯＣＴ光源２７から発せられた光は、導光路としての光ファイバ３８ａを介して、ファイバーカップラー２６によって参照光と測定光とに分割される。測定光は光ファイバ３８ｂを介して被検眼Ｅへと向かい、参照光は光ファイバ３８ｃ（ポラライザ（偏光素子）３３）を介して参照ミラー３１へと向かう。

［測定光学系］
測定光学系２００ａは、例えば、測定光を被検眼眼底Ｅｒに導く。測定光学系２００ａは、コリメータレンズ２１、フォーカス用光学部材（フォーカシングレンズ）２４、走査光学系（光スキャナ）２３と、リレーレンズ２２等が配置されている。走査光学系２３は、例えば、２つのガルバノミラーによって構成され、走査駆動機構５１の駆動により、ＯＣＴ光源２７から発せられた測定光を眼底上で二次元的（ＸＹ方向）に走査させるために用いられる。なお、走査光学系２３は、例えば、ＡＯＭ（音響光学素子）やレゾナントスキャナ等によって構成されていてもよい。

フォーカシングレンズ２４は、駆動部２４ａの駆動によって、光軸方向に移動可能となっており、被検者眼底Ｅｒに対する視度を補正するために用いられる。

なお、フォーカシングレンズ２４は、駆動部２４ａの駆動によって光軸方向に移動され、その移動可能範囲が設定されている。フォーカシングレンズ２４は、例えば、屈折力が−１４Ｄに対応する位置（−１４Ｄの屈折力でフォーカスが合う位置）から屈折力が＋１４Ｄに対応する位置までの範囲を移動可能である。

光ファイバ３８ｂの端部３９ｂから出射した測定光は、コリメータレンズ２１によってコリメートされる。その後、測定光は、フォーカシングレンズ２４を介して走査光学系２３に達し、２つのガルバノミラーの駆動により反射方向が変えられる。そして、走査光学系２３で反射された測定光は、リレーレンズ２２を介して、後述するダイクロイックミラー４０で反射された後、導光光学系１０を介して、被検眼眼底に集光される。

そして、眼底Ｅｒで反射した測定光は、導光光学系１０を介して、ダイクロイックミラー４０で反射され、ＯＣＴ光学系２００に向かう。その後、眼底Ｅｒで反射した測定光は、リレーレンズ２２、走査光学系２３の２つのガルバノミラー、フォーカシングレンズ２４及びコリメータレンズ２１を介して、光ファイバ３８ｂの端部３９ｂに入射する。端部３９ｂに入射した測定光は、光ファイバ３８ｂ、ファイバーカップラー２６、光ファイバ３８ｄを介して、光ファイバ３８ｄの端部８４ａに達する。

［参照光学系］
参照光学系２００ｂは、参照光を生成する。参照光は、眼底Ｅｒによって反射された測定光の反射光と合成される光である。参照光学系２００ｂは、マイケルソンタイプであってもよいし、マッハツェンダタイプであっても良い。参照光学系２００ｂは、例えば、反射光学系（例えば、参照ミラー３１）によって形成され、カップラー２６からの光を反射光学系により反射することにより再度カップラー２６に戻し、検出器８３に導く。他の例としては、参照光学系２００ｂは、透過光学系（例えば、光ファイバー）によって形成され、カップラー２６からの光を戻さず透過させることにより検出器８３へと導く。

例えば、参照光を参照ミラー３１に向けて出射する光路には、光ファイバ３８ｃ、参照光を出射する光ファイバ３８ｃの端部３９ｃ、コリメータレンズ２９、参照ミラー３１が配置されている。光ファイバ３８ｃは、参照光の偏光方向を変化させるため、駆動機構３４により回転移動される。すなわち、光ファイバ３８ｃ及び駆動機構３４は、偏光方向を調整するためのポラライザ３３として用いられる。なお、ポラライザとしては、上記構成に限定されず、測定光の光路又は参照光の光路に配置されるポラライザを駆動させることにより、測定光と参照光の偏光状態を略一致させるものであればよい。例えば、１／２波長板や１／４波長板を用いることやファイバに圧力を加えて変形させることで偏光状態を変えるもの等が適用できる。

なお、ポラライザ３３（偏光コントローラ）は、測定光と参照光の偏光方向を一致させるために、測定光と参照光の少なくともいずれかの偏光方向を調整する構成であればよい。例えば、ポラライザ３３は、測定光の光路に配置された構成であってもよい。

また、参照ミラー駆動部５０は、参照ミラー３１を駆動させ、参照光の光路長を調整する。

光ファイバ３８ｃの端部３９ｃから出射した参照光は、コリメータレンズ２９で平行光束とされ、参照ミラー３１で反射される。その後、参照光はコリメータレンズ２９によって集光されて光ファイバ３８ｃの端部３９ｃに入射する。端部３９ｃに入射した参照光は、光ファイバ３８ｃ、光ファイバ３８ｃ（ポラライザ３３）を介して、ファイバーカップラー２６に達し、ファイバ３８ｄを介して分光光学系８００に導かれる。

［分光光学系］
分光光学系８００は、例えば、参照光と測定光による干渉光を周波数（波長）毎に分光し、分光された干渉光を検出器８３（本実施例においては、１次元受光素子）に受光させる。

そして、ＯＣＴ光源２７から発せられた光によって前述のように生成される参照光と被検眼眼底Ｅｒに照射された測定光である眼底反射光は、ファイバーカップラー２６にて合成されて干渉光とされる。その後、干渉光は、光ファイバ３８ｄを通じて端部８４ａから出射される。分光光学系８００（スペクトロメータ部）は、周波数毎の干渉信号を得るために干渉光を周波数成分に分光する。分光光学系８００（スペクトロメータ部）は、例えば、コリメータレンズ８０、グレーティングミラー（回折格子）８１、集光レンズ８２、検出器８３を有する。検出器８３は、赤外域に感度を有する一次元素子（ラインセンサ）を用いている。

ここで、端部８４ａから出射された干渉光は、コリメータレンズ８０にて平行光とされた後、グレーティングミラー８１にて周波数成分に分光される。そして、周波数成分に分光された干渉光は、集光レンズ８２を介して、検出器８３の受光面に集光する。これによって、検出器８３上で干渉縞のスペクトル情報（スペクトル信号）が記録される。そして、検出器８３からの出力信号に基づいて、フーリエ変換を用いて解析することで、眼の断層像（眼底断層像）を撮像する。すなわち、そのスペクトル情報が制御部７０へと入力され、フーリエ変換を用いて解析することで、被検眼の深さ方向における情報が計測可能となる。

ここで、制御部７０は、走査光学系２３により測定光を眼底上で所定の横断方向に走査することにより断層像を取得できる。例えば、Ｘ方向もしくはＹ方向に走査することにより、被検眼眼底のＸＺ面もしくはＹＺ面における断層像（眼底断層像）を取得できる（なお、本実施形態においては、このように測定光を眼底に対して一次元走査し、断層像を得る方式をＢスキャンとする）。なお、取得された眼底断層像は、制御部７０に接続されたメモリ７２に記憶される。さらに、走査光学系２３の駆動を制御して、測定光をＸＹ方向に二次元的に走査することにより、検出器８３からの出力信号に基づき被検者眼眼底のＸＹ方向に関する二次元動画像や被検眼眼底の三次元画像を取得できる。

［固視標投影ユニット］
次に、固視標投影ユニット３００について説明する。固視標投影ユニット３００は、眼Ｅの視線方向を誘導するための光学系を有する。固視標投影ユニット３００は、眼Ｅに呈示する固視標を有し、複数の方向に眼Ｅを誘導できる。

例えば、固視標投影ユニット３００は、可視光を発する可視光源を有し、視標の呈示位置を二次元的に変更させる。これにより、視線方向が変更され、結果的に撮像部位が変更される。例えば、撮影光軸と同方向から固視標が呈示されると、眼底の中心部が撮像部位として設定される。また、撮影光軸に対して固視標が上方に呈示されると、眼底の上部が撮像部位として設定される。すなわち、撮影光軸に対する視標の位置に応じて撮影部位が変更される。

固視標投影ユニット３００としては、例えば、マトリクス状に配列されたＬＥＤの点灯位置により固視位置を調整する構成、光源からの光を光スキャナによって走査させ、光源の点灯制御により固視位置を調整する構成、等、種々の構成が考えられる。また、投影ユニット３００は、内部固視灯タイプであってもよいし、外部固視灯タイプであってもよい。

［ダイクロイックミラー］
本実施例のＯＣＴデバイス１は、例えば、ダイクロイックミラー４０を備える。例えば、ダイクロイックミラー４０は、ＯＣＴ光学系２００の測定光として用いられる波長成分の光を反射し、固視標投影ユニット３００に用いられる波長成分の光を透過する特性を有する。

＜制御系＞
また、制御部７０には、表示モニタ７５、メモリ７２、操作部７４、参照ミラー駆動部５０、フォーカシングレンズ駆動部２４ａ、光ファイバ３８ｃの駆動機構３４、後述する焦点距離可変１２等が接続されている。

＜導光光学系＞
導光光学系１０は、被検眼Ｅに測定光を導くために設けられる。導光光学系１０は、例えば、対物レンズユニット１１、集光位置可変系１２等を備える。

［集光位置可変系］
集光位置可変系１２は、例えば、導光光学系１０を通る測定光の集光位置を変化させる。集光位置可変系１２は、例えば、光学素子の挿脱機構を備えてもよい。そして、集光位置可変系１２は、導光光学系１０の光軸に対して光学素子を挿脱することによって導光光学系１０を通る測定光の集光位置を変化させてもよい。なお、集光位置可変系１２として、例えば、屈折力を変更可能な屈折力可変系１３が用いられてもよい。屈折力可変系１３は、例えば、屈折力を変化させることによって、測定光の集光位置を変化させてもよい。

なお、本実施例においては、集光位置可変系１２として屈折力可変系１３を用いた場合について説明する。屈折力可変系１３は、例えば、屈折力を変化させることによって、測定光の集光位置を眼底部Ｅｒと前眼部Ｅｃで切り換える。なお、屈折力可変系１３は、連続的に屈折力を変更してもよい。

屈折力可変系１３は、例えば、被検眼Ｅに対して対物レンズユニット１１の奥側に配置される。本実施例においては、屈折力可変系１３は、対物レンズユニット１１とダイクロイックミラー４０の間に配置される。ただし、屈折力可変系１３は、対物レンズユニット１１に関して被検眼側に配置されてもよいし、対物レンズユニット１１の中間に配置されてもよい。

図２（ａ）は、屈折力可変系１３の屈折力を制御して、測定光を眼底部Ｅｒに集光させたときの状態を示す。測定光を眼底部Ｅｒに集光させる場合、制御部７０は屈折力可変系１３を制御し、導光光学系１０によって被検眼に照射される測定光が平行光束になるように、屈折力可変系１３の屈折力を変化させる。被検眼が正視眼であれば、角膜及び水晶体等の屈折力によって、測定光は眼底Ｅｒに集光する。被検眼が正視眼でなければ、被検眼Ｅの屈折度数に合わせて屈折力可変系１３の屈折力を調整してもよい。

図２（ｂ）は、屈折力可変系１３の屈折力を制御して、測定光を前眼部Ｅｃに集光させたときの状態を示す。測定光を前眼部Ｅｃに集光させる場合、制御部７０は屈折力可変系１３を制御し、導光光学系１０によって被検眼Ｅに照射される測定光が被検眼Ｅの前眼部Ｅｃに集光するように、屈折力可変系１３の屈折力を変化させる。

このように、屈折力可変系１３は、屈折力可変系１３自体を光軸Ｌ１に対して移動されることなく、制御部７０によって電気的に駆動されることで屈折力を変化させることができる。このため、屈折力可変系１３は、光軸Ｌ１に対して３次元的に固定されてもよい。

なお、本実施例の屈折力可変系１３は、例えば、第１と第２の２つの屈折力可変系１３ａ，１３ｂを備える（図４参照）。ここで、第１屈折力可変系１３ａは、例えば、走査光学系側に配置される。第２屈折力可変系１３ｂは、例えば、第１屈折力可変系１３ａよりも被検眼側に配置される。第１屈折力可変系１３ａは、例えば、液晶レンズ１４ａを備える。第２屈折力可変系１３ｂは、例えば、液晶レンズ１４ｂを備える。

なお、液晶レンズ１４ａ，１４ｂは、可変焦点レンズの一種であり、印加する電圧を制御することによって屈折力が連続的に変化する構造を備えるレンズである。液晶レンズ１４ａ，１４ｂは、例えば、図３（ａ）に示すように、液晶層６１が対抗する２つの透明電極６３，６４に挟まれた構造になっている。

本実施例の透明電極６３は中央部に開口部Ｈが設けられ、電圧を加えることによって、液晶層６１に不均一な電場を発生させる。不均一な電場によって、液晶層６１の中の液晶分子６２の配向分布に勾配が生じる（図３（ｂ）参照）。さらに、液晶分子６２の配向分布に勾配が生じると、液晶層６１の屈折率分布にも勾配が生じる。例えば、図３（ｂ）に示すように、開口部Ｈの中心から周辺に向かって液晶層６１の屈折率が小さくなる。光は屈折率の低いところから高いところに屈折するという性質があるため、液晶層６１がレンズのような特性を持つようになる。したがって、制御部７０は、液晶層６１に加える電圧を制御することによって、焦点距離を任意に変化させることができる。

本実施例の眼科装置は、例えば、上記のような液晶レンズ１４ａ，１４ｂの屈折力を変化させることによって、測定光の集光位置を変化させる。例えば、測定光の集光位置を眼底部Ｅｒから前眼部Ｅｃに切り換える場合、制御部７０は、液晶レンズ１４ａ，１４ｂに加える電圧を変化させて測定光の集光位置を変化させる。より詳細には、制御部７０は、液晶レンズ１４ａ，１４ｂの電極に加える電圧を大きくすることで、液晶レンズ１４ａ，１４ｂの屈折力を大きくする。例えば、図４（ａ）のように、導光光学系１０を通過した測定光が眼底部Ｅｒに集光している状態において、液晶レンズ１４ａ，１４ｂの屈折力が大きくなると、図４（ｂ）のように測定光が前眼部Ｅｃに集光するようになる。このように、制御部７０は電圧を変化させることによって液晶レンズ１４ａ，１４ｂの屈折力を変化させ、測定光の集光位置を変化させてもよい。

＜眼底前眼切換方法＞
以上のような構成の眼科装置（ＯＣＴデバイス１）において、眼底部Ｅｒの撮影と前眼部Ｅｃの撮影の切り換えについて説明する。

まず、眼底部Ｅｒを撮影する場合、制御部７０は、導光光学系１０から出射される測定光が平行光束になるように、屈折力可変系１３を所定の屈折力に調整する。さらに、制御部７０は参照ミラー駆動部５０を制御して参照ミラー３１を移動させ、光路長を調整する。例えば、制御部７０は、予め設定された所定の第１位置に参照ミラー３１を移動させる。これによって、参照ミラー３１によって反射された参照光と、眼底部Ｅｒによって反射された測定光の光路長が等しくなり、ファイバーカップラー２６にて参照光と測定光が合波されると干渉信号が生成される。検出器８３は、この干渉信号を取得し、画像生成手段（例えば、制御部７０）に送る。画像生成手段は、干渉信号を受け取ると、眼底断層画像Ｗ１（図５参照）を取得する。

続いて、前眼部Ｅｃの撮影に切り換える場合、制御部７０は屈折力可変系１３を制御して、測定光が前眼部Ｅｃに集光するように屈折力を調整する。例えば、前述のように、屈折力可変系１３の屈折力を大きくし、測定光が前眼部Ｅｃに集光するように切り換える。さらに、制御部７０は、参照ミラー駆動部５０を制御して参照ミラー３１を移動させ、光路長を調整する。例えば、制御部７０は、予め設定された所定の第２位置に参照ミラー３１を移動させる。これによって、参照ミラー３１によって反射された参照光と、前眼部Ｅｃによって反射された測定光の光路長が等しくなり、ファイバーカップラー２６にて参照光と測定光が合波されると干渉信号が生成させる。検出器８３は、この干渉信号を取得し、画像生成手段に送る。画像生成手段は、干渉信号を受け取ると、前眼部断層画像Ｗ２を生成する（図５参照）。

以上のように、測定光の集光位置を切り換える際に参照ミラー３１を切り換えることによって、眼底部Ｅｒと前眼部Ｅｃの両方の断層画像を取得することができる。レンズ等の光学部材を駆動させて屈折力を変化させる場合に比べ、液晶レンズ等の屈折力可変素子（例えば、液晶レンズ、液体レンズなど）を用いて屈折力を変化させる場合は、より速く屈折力を切り換えできる。

このように、眼底部Ｅｒと前眼部Ｅｃの断層画像を高速で取得できるため、両者をほぼ同時に表示モニタ７５に表示することが可能である。このように、眼底部Ｅｒと前眼部Ｅｃを別々に撮影することなく同時に撮影できるため、眼底部Ｅｒと前眼部Ｅｃの断層画像を容易に見比べることができる。さらに、同時に撮影して表示することができるため、別々に撮影する場合に比べて、撮影時間が短縮される。なお、制御部７０は、時系列的に近い前眼部Ｅｒと眼底部Ｅｃの画像を一枚に合成して表示モニタ７５に表示させてもよい。例えば、交互に撮影された眼底部と前眼部の断層画像を一枚に合成してもよい。

なお、眼底部Ｅｒと前眼部Ｅｃの撮影を素早く切り換えることによって、眼底撮影時と前眼撮影時の被検眼Ｅの位置ずれが少なくて済む。従って、眼底部Ｅｒと前眼部Ｅｃのずれが少ないため、眼底断層像と前眼断層像からより精度よく眼軸長を求めることができる。

以上のように、本実施例の屈折力可変系１３は、光軸Ｌ１に対して固定された状態で、測定光の集光位置を変化させることができる。したがって、屈折力可変系１３は、レンズ等の光学素子の駆動によって屈折力を変化させる構成に比べ、高速で眼底・前眼の切り換えを行うことができる。

なお、本実施例の屈折力可変系１３は、連続的に屈折力を変化させることができる。これによって、眼屈折力可変系１３は、眼軸長の異なる様々な被検眼に対して集光位置の切り替えを連続的に行うことができる。

また、屈折力可変系１３は、サーボモータなどの機械的な駆動系を備える必要がなく、装置の省スペース化を実現できる。

また、屈折力可変系１３に機械的な駆動系を設ける必要がないため、装置組み立て時のキャリブレーションが容易に行える。仮に、レンズ等の光学部材を駆動させることによって、光軸Ｌ１に挿脱するようにした場合、レンズの駆動軸または駆動停止位置等の調整が必要となり、装置の組み立てに手間がかかる。また、測定光を３つ以上の集光位置に切り換えて照射させる場合、レンズが複数必要になり、それぞれに対してキャリブレーションが必要となる。

これに比べ、本実施例の屈折力可変系１３は、光軸Ｌ１に対して３次元的に固定されているため、装置組み立て時のキャリブレーションが容易である。

なお、本実施例の導光光学系１０は、集光位置可変系１２によってテレセントリック光学系を形成している。例えば、眼底撮影において測定光を投光する際、本実施例の集光位置可変系１２は、対物レンズユニット１１に関して物体側テレセントリックになるように制御される。つまり、集光位置可変系１２は、集光位置可変系１２を介して対物レンズユニット１１に入射する測定光の主光線が、対物レンズユニット１１の光軸に対して平行になるように測定光を入射させる。この結果、対物レンズユニット１１を通過した測定光の主光線は、走査光学系２３による走査位置に関係なく、対物レンズユニット１１の後側焦点を通る。なお、典型的には、対物レンズユニット１１の後側焦点と被検眼の瞳孔とが一致するようにアライメントが行われる。

さらに前眼撮影において測定光を投光する際、本実施例の集光位置可変系は、対物レンズユニット１１に関して像側テレセントリックになるように制御される。屈折力可変系１３は、例えば、集光位置可変系１２を介して対物レンズユニット１１に入射する測定光の主光線が、走査光学系２３による走査位置に関係なく、対物レンズユニット１１の前側焦点を通るように測定光を入射させる。この結果、対物レンズユニット１１を通過した測定光の主光線は、対物レンズユニット１１の光軸に対して平行となる。

このように、本実施例の集光位置可変系１２は、眼底撮影と前眼部撮影の切り換えに応じて屈折力を変化させることによって、対物レンズユニット１１の入射光束をテレセントリックとするか、出射光束をテレセントリックとするか切り換えできる。集光位置可変系１２は、眼底撮影時と前眼撮影時とで対物レンズユニット１１に関して物体側テレセントリック及び像側テレセントリックの状態を切り換えることで、それぞれの撮影に適した状態の測定光を被検眼に投光できる。

＜導光光学系の条件＞
なお、本実施例のように、集光位置可変系１２が２つの屈折力可変系１３ａ，１３ｂを備える場合、あるいは２つの光学素子を駆動させる駆動機構を備える場合、導光光学系１０はテレセントリック光学系を形成させるために以下に示す条件を満たすことが好ましい。

例えば、眼底撮影時おいて、測定光学系は、「走査光学系の走査面と瞳孔が共役関係である」という第１条件を満たすことが好ましい。さらに、前眼部撮影時において、例えば、導光光学系１０は、「走査光学系の走査面と瞳孔面が瞳−像の関係である」という第２条件、「瞳孔面への入射光束がテレセントリックである」という第３条件を満たすことが好ましい。

以下、図４を用いて、前述の条件について説明する。なお、以下の説明では、焦点位置可変系１２として屈折力可変系１３を用いた構成を例に挙げて説明する。なお、図４において、眼底観察時の第１屈折力可変系１３ａの焦点距離をＧｒ_１、第２屈折力可変系１３ｂの焦点距離をＧｒ_２とする。さらに、前眼部観察時の第１屈折力可変系１３ａの焦点距離をＧｃ_１、第２屈折力可変系１３ｂの焦点距離をＧｃ_２とする。加えて、走査光学系２３の操作面から第１屈折力可変系１３ａの主点までの距離をＺ、第１屈折力可変系１３ａの主点から第２屈折力可変系１３ｂの主点までの距離をＸ、第２屈折力可変系１３ｂの主点から、対物レンズユニット１１の前側焦点までの距離をΔとする。ここで、主点とは、被検眼へ導光する際の後側主点かつ被検眼からの反射・後方散乱光を回収して測定光学系に戻す際の前側主点である点と呼ぶべきだが、誤解の余地がない場合には、簡単のため主点という。

まず、前述の第１条件について説明する。眼底観察時において導光光学系１０が第１条件を満たす場合、以下に示す式（１）、及び式（２）を満たす必要がある。

なお、式（１）は、第２屈折力可変系１３ａと第２屈折力可変系１３ｂとの合成系である屈折力可変系１３の後側焦点が対物レンズユニット１１の前側焦点に一致する条件である。式（２）は、屈折力可変系１３の前側焦点が走査光学系２３の走査面上にある条件である。これらを満たすことで、走査光学系２３の走査面の共役像（絞り像）が瞳孔面に形成される。すなわち、第１条件を満足することが出来る。

次いで、前述の第２条件について説明する。前眼部観察時において導光光学系１０が第２条件を満たす場合、以下に示す式（３）を満たす必要がある。

式（３）は、距離Ｘが前眼部撮影時の第１屈折力可変系１３ａと第２屈折力可変系１３ｂのそれぞれの焦点距離の和に等しくなることを示している。すなわち、前眼部撮影時において、第１屈折力可変系１３ａと第２屈折力可変系１３ｂの合成系がアフォーカルであることを示している。
続いて、前述の第３条件について説明する。前眼部観察時において導光光学系１０が第３条件を満たす場合、以下に示す式（４）を満たす必要がある。

式（４）は、前眼部撮影時において、対物レンズユニット１１より射出される測定光束をテレセントリックにするための条件である。すなわち、屈折力可変系１３によって作られる走査光学系２３の走査面の共役像（絞り像）の位置が、対物レンズユニット１１の前側焦点に一致することを示している。
本装置において、これら４つの式（１）〜（４）を全て満足した場合、第１条件〜第３条件を満たすことができる理想的な構成となる。
なお、実際の装置構成においては、この理想的な構成を厳密に実現する必要はない。

眼底観察時に対物レンズユニット１１より射出される測定光が被検眼Ｅの瞳孔面と瞳共役であるかは、屈折力可変系１３の焦点が対物レンズユニットの前側焦点とどれだけ一致しているかで決定されており、実際の装置構成においてその差異が小さければ、第１条件を満たしているのと同等の効果が得られる。際しては、次式（５）を満足するように構成すると良い。

ここでΔｒは次式（６）で定義される関数である。

ここで、（５）式は、被検眼の眼底における上記理想的な構成の導光光学系からの外れ（食い違い）が、屈折力にして±１４Ｄ（ディオプター）内に収まることを示している。これは、以下のようにして導出される。
実際の装置構成における第１屈折力可変系１３ａの主点と第２屈折力可変系１３ｂの主点の距離Ｘは、第１屈折力可変系１３ａの第一屈折面から第２屈折力可変系１３ｂの第一屈折面までの光学距離ｄにほぼ等しいので、屈折力可変系１３の焦点が出来るのは、第２屈折力可変系１３ｂの主点からΔｒ（ｄ）離れた位置である。
一方、前記理想的な構成の導光光学系における屈折力可変系１３の焦点位置は、式（１）右辺のＸに式（３）を代入して、Δｒ（Ｇｃ_１＋Ｇｃ_２）と書くことができる。
従って、眼底における上記理想的な構成の導光光学系からの外れは、Δｒ（ｄ）とΔｒ（Ｇｃ_１＋Ｇｃ_２）の差が対物レンズユニットの縦倍率だけ拡大または縮小されたものであるから、屈折力で表すと次式となる。

これが±１４Ｄより小さい条件から、（５）が導出される。
なお上記条件式は眼科装置で一般的に用いられる±１４の視度調整範囲に抑えられていることとしたが、±１４Ｄより大きな範囲でもよく、被検眼Ｅの遠視または近視の度合いを考慮した範囲が好ましい。ただし、本装置１の測定精度を高めるためには、より０に近いことが好ましい。例えば、±１０Ｄより小さい範囲が好ましい。この場合の式を式（８）に示す。

同様に、前眼部観察時においても、対物レンズユニット１１より射出される測定光が被検眼の瞳孔面に集光しかつテレセントリックであるかは、屈折力可変系１３によって作られる、走査光学系２３の走査面の共役像（絞り像）の位置が対物レンズユニット１１の前側焦点にとどれだけ一致するかで決定されている。実際の装置構成においてその差異が小さければ、第２条件、第３条件を満たしているのと同等の効果が得られる。際しては、次式（９）を満足するように構成すると良い。

ここでΔｃは次式（１０）で定義される関数である。

ここで、（９）式は、被検眼Ｅの前眼部における上記理想的な構成の導光光学系からの外れ（食い違い）が、最軸外主光線の射出角度にして±３°以内に収まることを示している。

すなわち、実際の装置構成における第１屈折力可変系１３ａの主点と第２屈折力可変系１３ｂの主点の距離は、第１屈折力可変系１３ａの第一屈折面から第２屈折力可変系１３ｂの第一屈折面までの光学距離ｄにほぼ等しい。また、屈折力可変系１３がほぼアフォーカルに構成できているものとすれば、式（２）は成り立っていると考えてよい。従って、屈折力可変系１３によって作られる、走査光学系２３の走査面の共役像（絞り像）の位置は、第２屈折力可変系１３ｂの主点から、次式だけ後方となる。

これは、式（１０）で定義したΔｃ（ｓ）を用いて次式で表される。

一方、理想的な構成の導光光学系における屈折力可変系１３によって作られる、走査光学系２３の走査面の共役像（絞り像）の位置は、式（４）右辺のＺに式（２）を代入し、更にＸを式（３）で置換したものとして、次式で表すことができる。

従って、前眼部における上記理想的な構成の導光光学系からの外れは、式（１２）と式（１３）の差（すなわち、Δｃ（ｄ）とΔｃ（Ｇｃ_１＋Ｇｃ_２）の差）であって、対物レンズユニット１１の焦点距離Ｆ_Ｏとの比程度の最軸外主光線の角度変化となって現れる。これが±３°より小さい条件として、式（９）が導出される。

なお、傾角θの範囲は±３°より大きな範囲でもよく、テレセントリックと見なすことがでる範囲が好ましい。ただし、導光光学系１０のテレセントリック性を高めるためには、傾角θは、より０に近いことが好ましい。このため、傾角θの範囲は、例えば、±２°より小さい範囲が好ましい。この場合の式を式（１４）に示す。

なお、図６に示す例では、第１屈折力可変系１３ａは、例えば、液晶レンズ１４ａと光学素子１５を備える。さらに、第２屈折力可変系１３ｂは、例えば、液晶レンズ１３ｂと光学素子１６を備える。この場合、上記の条件を満たすことを確認するには、眼底撮影および前眼部撮影時の第１屈折力可変系１３ａと第２屈折力可変系１３ｂの焦点距離Ｇｒ_１，Ｇｒ_２，Ｇｃ_１，Ｇｃ_２と、対物レンズユニット１１の焦点距離Ｆ_ｏを求める。さらに、第１屈折力可変系１３ａの第１屈折面である光学素子１５の前面から、第２屈折力可変系１３ｂの第１屈折面である液晶レンズ１４ｂの前面までの距離ｄを計測する。そして、式（５）または式（７）、及び式（９）または式（１４）に代入することで、上記の条件を満たすか否か確認できる。

以上のように、屈折力可変系１３は、眼底撮影時と前眼撮影時とで対物レンズユニット１１に関するテレセントリックの状態を切り換えることで、眼底部Ｅｒと前眼部Ｅｃのそれぞれの撮影に適した状態の測定光を被検眼Ｅに投光できる。

導光光学系１０は、少なくとも前眼部撮影時に前眼部に対してテレセントリックな測定光を照射してもよい。テレセントリックな測定光によって、被検眼Ｅの位置の変化による撮影画像の倍率変化を低減させることができる。これによって、撮影画像から精度よく距離計測が行える。

なお、前眼撮影時にテレセントリックな測定光を照射することによって、被検眼Ｅの作動距離方向の位置ずれによって生じる断層画像の歪みが生じにくくなる。これによって、検者は、歪みの少ない断層画像を観察することができ、断層画像による診断を行い易い。

さらに、前眼部撮影時にテレセントリックな測定光を照射することによって、被測定部からの戻り光（反射光または後方散乱光）の回収効率が向上するため、画像の周辺部が暗くなることを低減できる。

なお、本実施例のように、液晶レンズ等の屈折率可変素子を用いた構成でなくとも、上記の条件式を当てはめることによって、テレセントリック光学系を実現することができる。例えば、光学素子（例えば、一般的な光学レンズ）を駆動部によって駆動させて、導光光学系１０の集光位置を切り換える構成（例えば、光軸Ｌ１方向に光学素子を移動させる機構、導光光学系１０の光路に光学素子を挿脱させる機構）であっても、上記の条件を満たせば、被検眼Ｅの眼底部Ｅｒと前眼部Ｅｃが良好に撮影できる。

なお、本実施例においては、屈折力可変系１３に液晶レンズを用いるものとしたが、これに限らない。例えば、屈折力可変系１３には、液体レンズ、非線形光学部材、分子部材、回転非対称な光学部材等が用いられてもよい。液体レンズは、例えば、２種類の液体の境界面を電圧等によって変化させ、屈折率を変化させる部材である。
非線形光学部材は、例えば、電場を印加した際に非線形光学効果によって屈折率分布を変化させる部材である。例えば、非線形光学部材としては、タンタル酸ニオブ酸カリウム（ＫＴＮ）等の結晶が挙げられる。分子部材は、例えば、化学変化または熱変化による組成変化によって屈折率分布が変化する分子材料である。例えば、分子材料は、カリックスレゾルシンアレーン誘導体などの短波長の光による異性化を利用した材料（フォトクロミック材料）、電子注入によるエネルギーレベルの変化を利用した屈折率可変材料（例えば、石英系のガラス）等であってもよい。また、熱による物性変化を利用したサーモロミック材料等であってもよい。

なお、制御部７０は、測定光のスキャン位置に応じて屈折力可変ユニットの屈折力を変化させてもよい。例えば、制御部７０は、前眼部の形状に応じて屈折力可変ユニットの屈折力を変化させてもよい。例えば、前眼部は対物レンズ側に凸な曲面であるので、角膜の周辺部を走査する場合は、角膜の中心部を走査する場合に比べて測定光を対物レンズから離れた位置に集光させるようにしてもよい。例えば、制御部７０は、屈折力可変ユニットの屈折力を小さくすることで、測定光を対物レンズから離れた位置に集光させるようにしてもよい。

このように、測定光のスキャン位置に応じて、測定光の集光位置を調整することによって、測定光が前眼部により精度の良い断層画像を取得することができる。

なお、本実施例において、制御部７０は、屈折力可変系１３の屈折力を制御することによって、光軸方向に連続的に集光位置を移動させてもよい。例えば、図７（ａ）に示すように、制御部７０は、ＸＹ平面の同じ位置において、複数回（図７の例では時間Ｔ１〜Ｔｎまでのｎ回）Ｂスキャンを行い、複数の断層画像を取得する。このとき、制御部７０は、屈折力可変系１３の屈折力を制御し、光軸方向に連続的に集光位置Ｄを移動させる。これによって、集光位置Ｄの異なる複数の断層画像が取得される。例えば、制御部７０は、集光位置Ｄの異なる複数の画像を加算平均処理することによって、撮影範囲全域にわたってコントラストの良い画像を生成してもよい（図７（ｂ）参照）。

なお、図７の例において、制御部７０は、集光位置Ｄを一定の速度ｖで移動させている。これによって、加算平均処理を行った場合、画像に深さ方向のコントラスト差が生じることを低減できる。ただし、集光位置の移動は等速でなくともよい。

なお、制御部７０は、屈折力可変系１３の屈折力を制御し、光軸方向に段階的に集光位置を移動させてもよい。例えば、図７に示すように、制御部７０は、集光位置を角膜、水晶体、眼底にそれぞれ移動させて撮影した画像を加算平均処理によって一つの画像に合成してもよい（図７（ｄ）参照）。これによって、角膜、水晶体、眼底等に対してフォーカスのあった画像を生成してもよい。

例えば、図８（ａ）に示すように、制御部７０は、屈折力可変系１３の屈折力を制御することによって、集光位置を角膜の位置Ｄ１に合わせる。そして、制御部７０は、ＯＣＴ光学系２００によって被検眼Ｅの断層画像を取得する。この場合、集光位置に設定された角膜の画像が良好に取得される。次いで、図８（ｂ）に示すように、制御部７０は、集光位置を水晶体の位置Ｄ２に合わせ、ＯＣＴ光学系２００によって被検眼Ｅの断層画像を取得する。この場合、集光位置に設定された水晶体の画像が良好に取得される。続いて、図８（ｃ）に示すように、制御部７０は、集光位置を眼底の位置Ｄ３に合わせ、ＯＣＴ光学系２００によって被検眼Ｅの断層画像を取得する。この場合、集光位置に設定された眼底の画像が良好に取得される。このように、集光位置を移動させることによって、各部位ごとにフォーカスの合った画像を取得してもよい。

なお、制御部７０は、屈折力可変系１３の屈折力を制御し、Ａ−ｓｃａｎ速度よりも早い速度で集光位置を移動させてもよい。例えば、１回のＡ−ｓｃａｎ中に集光位置を複数回往復して切り替えてもよい。これによって、撮影範囲全域にわたってフォーカスの合った画像を取得してもよい。

なお、ＯＣＴ光学系がＴＤ−ＯＣＴ（Time domain OCT）の場合、制御部７０は、集光位置の移動と、参照ミラー３１との移動を連動させてもよい。これによって、撮影範囲全域にわたってフォーカスの合った画像を取得してもよい。

１眼科装置
１０導光光学系
１１対物レンズユニット
１２集光位置可変系
１３屈折力可変系
２３走査光学系
２６ファイバーカップラー
７０制御部
８３検出器
２００ａ測定光学系
２００ｂ参照光学系

Claims

被検眼の深さ情報を取得するための眼科装置であって、
光源からの光を測定光と参照光とに分割する分割手段と、
対物レンズユニットを含み、前記被検眼に前記測定光を導くための導光光学系と、
前記測定光を被検眼上で走査する走査手段と、
前記走査手段側に配置され、前記光学系の光軸に対して３次元的に静止した状態で屈折力を変更可能な第１の屈折力可変手段と、
前記第１の屈折力可変手段よりも被検眼側に配置され、前記光学系の光軸に対して３次元的に静止した状態で屈折力を変更可能な第２の屈折力可変手段と、
前記第１の屈折力可変手段と前記第２の屈折力可変手段を制御して前記測定光の集光位置を光学部材を挿脱させることなく眼底と前眼部との間で変更する制御手段と、
前記導光光学系を介して被検眼に導かれた前記測定光と、前記参照光との干渉光を検出する検出手段であって、前記制御手段の制御に応じた前記干渉光のそれぞれを検出する検出手段と、
前記検出手段による前記干渉光の検出結果に基づいて、前記前眼部と前記眼底部の断層画像をそれぞれ形成する画像形成手段と、を備え、
前記制御手段は、
眼底に測定光を集光させる場合、前記第１の屈折力可変手段と前記第２の屈折力可変手段との合成系の後側焦点を前記対物レンズユニットの前側焦点に一致させることによって、前記対物レンズユニットに関して物体側テレセントリックになるように制御し、
前眼部に測定光を集光させる場合、前記第１の屈折力可変手段と前記第２の屈折力可変手段との合成系をアフォーカルにすることによって、前記対物レンズユニットに関して像側テレセントリックになるように制御することと特徴とする眼科装置。
前記測定光または前記参照光の光路長を眼底部と前眼部のいずれかに対応した光路長に切り替える切替手段を備えることを特徴とする請求項１の眼科装置。
前記屈折力可変手段を制御して、被検眼部位への集光位置を眼底と前眼部との間で交互で変化させることを特徴とする請求項１〜２のいずれかの眼科装置。