JP2011104125A5 - 補償光学装置、補償光学方法、撮像装置 - Google Patents

Description

本発明は、補償光学装置、補償光学方法、撮像装置に関し、特に被検眼の収差を測定して補正する機能を有する補償光学装置に関する。

本発明は、上記課題に鑑み、撮像対象である被検査物の位置が変化した際に、適正な収差の補正量となるまでに必要とされるフィードバック制御による時間を低減させ、撮像することが可能となる補償光学装置、補償光学方法、撮像装置の提供を目的とする。

本発明は、つぎのように構成した補償光学装置、補償光学方法、撮像装置を提供するものである。
本発明の補償光学装置は、被検眼からの戻り光に基づいて、該被検眼により生じる収差を測定する収差測定手段と、
前記収差測定手段により測定した収差に応じて、前記被検眼により生じる収差を補正する収差補正手段と、
前記収差補正手段で補正した光を前記被検眼に照射する照射手段と、
前記被検眼が所定の範囲外に移動した場合に、前記収差補正手段における補正特性を維持する制御手段と、
を有することを特徴とする。
また、本発明の補償光学方法は、被検眼からの戻り光に基づいて、該被検眼により生じる収差を測定する工程と、
前記測定した収差に応じて、前記収差補正手段を用いて前記被検眼により生じる収差を補正する工程と、
前記被検眼が所定の範囲外に移動した場合に、前記収差補正手段における補正特性を維持する工程と、
を有することを特徴とする。
また、本発明の撮像装置は、測定光を照射した測定対象からの戻り光の収差を測定する収差測定手段と、
前記収差測定手段の測定結果に基づいて、前記測定光と前記戻り光とのうち少なくとも１つの収差を補正する収差補正手段と、
前記収差測定手段により測定した収差量が所定値以下である場合に、前記測定対象の撮像を開始する撮像開始手段と、
を有することを特徴とする。

本発明によれば、撮像対象である被検査物の位置が変化した際に、適正な収差の補正量となるまでに必要とされるフィードバック制御による時間を低減させ、撮像することが可能となる補償光学装置、補償光学方法、撮像装置を実現することができる。

［実施例１］
実施例１として、図１を用いて本発明を適用した補償光学装置（補償光学系と記す。）を備えたＳＬＯによる被検査物の光画像を撮像する撮像装置および補償光学方法の構成例について説明する。
本実施例は、補償光学系を備えたＳＬＯによる光画像撮像装置によって、測定対象である被検査物を眼とし、眼底を撮像するようにした一例について説明するが、接眼部分の構成はＯＣＴ（光干渉断層装置）においても同様である。
図１において、１０１は光源であり、本実施例では波長８４０ｎｍのＳＬＤ光源を用いた。
光源１０１の波長は特に制限されるものではないが、特に眼底撮像用としては被験者の眩しさの軽減と分解能維持のために、８００〜１５００ｎｍ程度が好適に用いられる。
ここではＳＬＤ光源を用いたが、これ以外にレーザ等を用いるようにしてもよい。
但し、レーザを用いた場合にはスペックルノイズ軽減のために、長距離の光ファイバーを通過させる等の干渉性を低下させる構成を追加することが多い。
本実施例では眼底撮像と波面測定のための光源を共用しているが、それぞれを別光源とし
、途中で合波する構成も可能である。

Claims (21)

1. 被検眼からの戻り光に基づいて、該被検眼により生じる収差を測定する収差測定手段と、
   前記収差測定手段により測定した収差に応じて、前記被検眼により生じる収差を補正する収差補正手段と、
   前記収差補正手段で補正した光を前記被検眼に照射する照射手段と、
   前記被検眼が所定の範囲外に移動した場合に、前記収差補正手段における補正特性を維持する制御手段と、
   を有することを特徴とする補償光学装置。
2. 前記制御手段が、前記被検眼が前記所定の範囲内に戻った場合に、前記被検眼が前記所定の範囲外に移動する前の収差量に基づいて、前記被検眼により生じる収差を補正することを特徴とする請求項１に記載の補償光学装置。
3. 前記収差量が所定値以上である場合に、前記被検眼が所定の範囲外に移動したと判断する判断手段を有することを特徴とする請求項１または請求項２に記載の補償光学装置。
4. 前記判断手段が、前記収差量が前記移動した後の値から前記移動する前の値に戻った場合に、前記被検眼が前記所定の範囲内に移動したと判断することを特徴とする請求項３に記載の補償光学装置。
5. 前記制御手段は、前記収差測定手段の測定結果に基づいて前記収差補正手段をフィードバック制御することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の補償光学装置。
6. 前記収差測定手段で前記収差を測定する際に用いる光と、前記被検眼の画像を取得する際に用いる光とが異なる光源から発生された光であることを特徴とする請求項４または請求項５に記載の補償光学装置。
7. 前記収差補正手段が、前記照射手段で照射した光による前記被検眼からの戻り光に生じた収差を補正し、
   前記収差測定手段が、前記収差補正手段で補正された光の収差を測定することを特徴と
   する請求項４乃至６のいずれか１項に記載の補償光学装置。
8. 前記収差補正手段が、前記被検眼の前眼部に対して光学的に共役な位置に配置されることを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の補償光学装置。
9. 前記被検眼の位置と視線とのうちいずれか一方の変化を検知する検知手段を有し、
   前記制御手段が、前記検知手段の検知に応じて、前記収差補正手段の補正特性を維持することを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の補償光学装置。
10. 前記収差測定手段が、シャックハルトマンセンサーによって構成されていることを特徴とする請求項１乃至９のいずれか１項に記載の補償光学装置。
11. 前記収差補正手段が、可変形状ミラー又は空間位相変調器によって構成されていることを特徴とする請求項１乃至１０のいずれか１項に記載の補償光学装置。
12. 請求項１乃至１１のいずれか１項に記載の補償光学装置を用いて前記被検眼を撮像する撮像装置であって、
    前記照射手段で照射した光による前記被検眼からの戻り光に基づいて該測定対象の画像を取得する画像取得手段を有することを特徴とする撮像装置。
13. 光源からの光を前記収差補正手段に入射される光と参照光とに分離する分離手段を有し、
    前記画像取得手段が、前記照射手段で照射した光による前記被検眼からの戻り光と前記参照光とが干渉した干渉光に基づいて該被検眼の断層画像を取得することを特徴とする請求項１２に記載の撮像装置。
14. 前記画像の時間変化を検知する検知手段を有し、
    前記制御手段が、前記検知手段の検知に応じて、前記収差補正手段の補正特性を維持することを特徴とする請求項１２または請求項１３に記載の撮像装置。
15. 測定光を照射した測定対象からの戻り光の収差を測定する収差測定手段と、
    前記収差測定手段の測定結果に基づいて、前記測定光と前記戻り光とのうち少なくとも１つの収差を補正する収差補正手段と、
    前記収差測定手段により測定した収差量が所定値以下である場合に、前記測定対象の撮像を開始する撮像開始手段と、
    を有することを特徴とする撮像装置。
16. 測定光を照射した前記測定対象からの戻り光と該測定光に対応する参照光とが干渉した干渉光に基づいて、該測定対象の断層画像を取得する断層画像取得手段を有し、
    前記撮像開始手段が、前記収差量が所定値以下である場合に、前記断層画像取得手段を制御して前記測定対象の撮像を開始することを特徴とする請求項１５に記載の撮像装置。
17. 被検眼からの戻り光に基づいて、該被検眼により生じる収差を測定する工程と、
    前記測定した収差に応じて、前記収差補正手段を用いて前記被検眼により生じる収差を補正する工程と、
    前記被検眼が所定の範囲外に移動した場合に、前記収差補正手段における補正特性を維持する工程と、
    を有することを特徴とする補償光学方法。
18. 前記被検眼が前記所定の範囲内に戻った場合に、前記被検眼が前記所定の範囲外に移動する前の収差量に基づいて、前記被検眼により生じる収差を補正する工程を有することを特徴とする請求項１７に記載の補償光学方法。
19. 前記収差を測定する工程における測定結果に基づいて、前記収差補正手段をフィードバック制御する工程を有することを特徴とする請求項１７または請求項１８に記載の補償光学方法。
20. 前記フィードバック制御において、
    光源からの第１の光で測定した第１の収差に基づいて前記収差補正手段を制御して前記光源からの第２の光に生じる収差を補正する工程と、
    前記第１の収差に基づいて前記収差補正手段を制御して前記第２の光による前記被検眼からの戻り光に生じた収差を補正する工程と、
    前記補正された光の第２の収差を測定する工程と、
    前記第２の収差に基づいて前記収差補正手段を制御して前記光源からの第３の光に生じる収差を補正する工程と、
    を実行することを特徴とする請求項１９に記載の補償光学方法。
21. 請求項１７乃至２０のいずれか１項に記載の補償光学方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。