JP2016109600A - X線回折測定システム - Google Patents
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- 対象とする測定対象物に向けてX線を出射するX線出射器と、
前記X線出射器から出射されるX線を断面直径5mm以上の略平行光にする径調整手段と、
前記X線出射器から径調整手段を介して出射されるX線が測定対象物に照射されたとき、前記測定対象物にて発生する回折X線の強度を検出する複数のX線検出センサであって、前記X線出射器から出射されるX線の光軸上の点を中心にした所定の円の2つ以上の円周位置付近に、前記中心からの距離をそれぞれ異ならせて配置されているX線検出センサと、
前記X線出射器と前記径調整手段と前記X線検出センサとを含む筐体と、
前記筐体の前記測定対象物に対する位置と姿勢が、前記X線出射器から出射されるX線が前記測定対象物の表面に垂直に照射され、前記測定対象物の表面におけるX線の照射点と前記X線検出センサとの間の距離が設定された距離になるよう維持されたまま、前記筐体を前記測定対象物に対して移動させる移動手段と、
前記複数のX線検出センサにおける前記中心からの距離がそれぞれ記憶され、前記X線検出センサの検出した回折X線の強度を前記中心からの距離に対応させて記憶し、前記中心からの距離に対する回折X線の強度の変化に基づいて特性値を計算する評価手段とを備えたことを特徴とするX線回折測定システム。 - 請求項1に記載のX線回折測定システムにおいて、
前記X線検出センサは、入射したX線により発生する蛍光の強度を光電子増倍管で検出するものであることを特徴とするX線回折測定システム。 - 請求項1または請求項2に記載のX線回折測定システムにおいて、
前記移動手段により前記筐体が移動した距離を検出する移動距離検出手段を備え、
前記評価手段は、計算した特性値を前記移動距離検出手段が検出した移動距離と対応させることを特徴とするX線回折測定システム。 - 請求項1または請求項2に記載のX線回折測定システムにおいて、
前記評価手段が計算した特性値と予め記憶されている許容値とを比較して合否判定を行う判定手段と、
前記移動手段により前記筐体とともに移動し、前記判定手段が不合格判定をしたとき、前記測定対象物における不合格判定に対応する箇所又は不合格判定に対応する箇所の近傍にマークをつけるマーク手段とを備えたことを特徴とするX線回折測定システム。 - 請求項3または請求項4に記載のX線回折測定システムにおいて、
前記測定対象物は既設の線路のレールであり、
前記移動手段は、前記既設の線路のレール上を走行可能な列車であり、
前記筐体は、前記列車の底面に、前記出射されるX線が既設の線路のレール上面に照射されるよう取り付けられていることを特徴とするX線回折測定システム。
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