JP2009276327A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009276327A5 JP2009276327A5 JP2008130631A JP2008130631A JP2009276327A5 JP 2009276327 A5 JP2009276327 A5 JP 2009276327A5 JP 2008130631 A JP2008130631 A JP 2008130631A JP 2008130631 A JP2008130631 A JP 2008130631A JP 2009276327 A5 JP2009276327 A5 JP 2009276327A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- magnification
- measured
- cell
- low
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Description
また、請求項15に記載の発明は、請求項1又は請求項5に記載の光画像計測装置であって、前記第2の形成手段は、光源からの光を信号光と参照光とに分割し、前記被測定物体に対する該信号光の照射位置を走査し、各照射位置を経由した該信号光と参照物体を経由した該参照光とを干渉させて干渉光を生成し、該干渉光を検出して前記被測定物体の画像を形成する手段を含む、ことを特徴とする。
Claims (15)
- 所定のビーム径を有する信号光を被測定物体に照射し、前記被測定物体を経由した前記信号光を参照光と干渉させて干渉光を生成し、前記干渉光を検出して前記被測定物体の細胞の形態を描写可能な倍率の細胞画像を形成する第1の形成手段と、
前記細胞画像の倍率よりも低い倍率の前記被測定物体の低倍画像を形成する第2の形成手段と、
前記低倍画像を解析し、前記低倍画像における前記細胞画像の位置を特定する特定手段と、
を備えることを特徴とする光画像計測装置。 - 前記特定手段は、前記低倍画像に描写された前記被測定物体の画像における特徴部位を特定し、該特定された特徴部位に基づいて前記低倍画像における前記細胞画像の位置を特定する、
ことを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。 - 前記低倍画像は、前記被測定物体の周囲の形態を表す画像を含み、
前記特定手段は、前記周囲の形態を表す画像における特徴部位を特定し、該特定された特徴部位に基づいて前記低倍画像における前記細胞画像の位置を特定する、
ことを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。 - 前記第1の形成手段及び前記第2の形成手段は、それぞれ光学系を含み、
前記特定手段は、前記低倍画像とともに、前記二つの光学系の位置関係に基づいて、前記低倍画像における前記細胞画像の位置を特定する、
ことを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。 - 所定のビーム径を有する信号光を被測定物体に照射し、前記被測定物体を経由した前記信号光を参照光と干渉させて干渉光を生成して検出する光学系を含み、前記検出結果に基づいて前記被測定物体の細胞の形態を描写可能な倍率の細胞画像を形成する第1の形成手段と、
前記被測定物体を経由した光を検出する光学系を含み、該検出結果に基づいて前記細胞画像の倍率よりも低い倍率の前記被測定物体の低倍画像を形成する第2の形成手段と、
前記二つの光学系の位置関係に基づいて、前記低倍画像における前記細胞画像の位置を特定する特定手段と、
を備えることを特徴とする光画像計測装置。 - 前記二つの光学系は、互いの光軸が所定の角度を成すように配置されており、
前記特定手段は、前記位置関係としての前記所定の角度に基づいて、前記低倍画像における前記細胞画像の位置を特定する、
ことを特徴とする請求項4又は請求項5に記載の光画像計測装置。 - 前記二つの光学系は、互いの光軸が一致するように配置されており、
前記特定手段は、前記細胞画像の中心位置と低倍画像の中心位置とを一致させるように、前記低倍画像における前記細胞画像の位置を特定する、
ことを特徴とする請求項4又は請求項5に記載の光画像計測装置。 - 表示手段と、
前記特定手段により特定された前記細胞画像の位置を表す情報を前記低倍画像とともに表示する制御手段と、
を備えることを特徴とする請求項1又は請求項5に記載の光画像計測装置。 - 前記第1の形成手段は、前記被測定物体に対する信号光の照射位置を変更する変更手段を含み、前記被測定物体の複数の異なる部位のそれぞれの細胞画像を形成し、
前記特定手段は、前記複数の細胞画像のそれぞれの前記低倍画像における位置を特定する、
ことを特徴とする請求項1又は請求項5に記載の光画像計測装置。 - 表示手段と、
前記複数の細胞画像のそれぞれを解析し、前記複数の細胞画像のそれぞれに描写された細胞の異常の有無を判断する判断手段と、
前記異常の有無の判断結果と、前記特定手段により特定された前記細胞画像の位置とに基づいて、前記低倍画像における前記異常の有無の分布情報を前記表示手段に表示させる制御手段と、
を備えることを特徴とする請求項9に記載の光画像計測装置。 - 表示手段と、
操作手段と、
前記複数の細胞画像のそれぞれを前記表示手段に表示させ、更に、前記表示された細胞画像の細胞の異常の有無が前記操作手段を用いて指定された後に、前記異常の有無の指定結果と、前記特定手段により特定された前記細胞画像の位置とに基づいて、前記低倍画像における前記異常の有無の分布情報を前記表示手段に表示させる制御手段と、
を備えることを特徴とする請求項9に記載の光画像計測装置。 - 表示手段と、
前記特定手段により特定された前記複数の細胞画像のそれぞれの前記低倍画像における位置に基づいて、前記複数の細胞画像を並べて前記表示手段に表示させる制御手段と、
を備えることを特徴とする請求項9に記載の光画像計測装置。 - 前記被測定物体の過去の低倍画像における過去の細胞画像の位置情報を予め記憶する記憶手段を備え、
前記第1の形成手段は、前記被測定物体に対する信号光の照射位置を変更する変更手段を含み、
前記特定手段は、新たな低倍画像と前記位置情報とに基づいて、前記新たな低倍画像における前記過去の細胞画像の位置を特定し、
前記変更手段は、該特定された位置に対応する前記被測定物体の部位に信号光の照射位置を一致させ、
前記第1の形成手段は、前記被測定物体の当該部位に信号光を照射し、前記被測定物体を経由した該信号光を参照光と干渉させて干渉光を生成し、該干渉光を検出して前記被測定物体の新たな細胞画像を形成する、
ことを特徴とする請求項1又は請求項5に記載の光画像計測装置。 - 前記第2の形成手段は、前記被測定物体を撮影する撮影手段を含む、
ことを特徴とする請求項1又は請求項5に記載の光画像計測装置。 - 前記第2の形成手段は、光源からの光を信号光と参照光とに分割し、前記被測定物体に対する該信号光の照射位置を走査し、各照射位置を経由した該信号光と参照物体を経由した該参照光とを干渉させて干渉光を生成し、該干渉光を検出して前記被測定物体の画像を形成する手段を含む、
ことを特徴とする請求項1又は請求項5に記載の光画像計測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008130631A JP2009276327A (ja) | 2008-05-19 | 2008-05-19 | 光画像計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008130631A JP2009276327A (ja) | 2008-05-19 | 2008-05-19 | 光画像計測装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009276327A JP2009276327A (ja) | 2009-11-26 |
JP2009276327A5 true JP2009276327A5 (ja) | 2012-07-19 |
Family
ID=41441881
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008130631A Pending JP2009276327A (ja) | 2008-05-19 | 2008-05-19 | 光画像計測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2009276327A (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8599383B2 (en) | 2009-05-06 | 2013-12-03 | The Regents Of The University Of California | Optical cytometry |
WO2013019984A1 (en) * | 2011-08-02 | 2013-02-07 | The Regents Of The University Of California | Rapid, massively parallel single-cell drug response measurements via live cell interferometry |
JP6108827B2 (ja) * | 2012-12-28 | 2017-04-05 | キヤノン株式会社 | 眼科装置および位置合わせ方法 |
JP6076111B2 (ja) * | 2013-02-07 | 2017-02-08 | 浜松ホトニクス株式会社 | 塊状細胞評価方法および塊状細胞評価装置 |
CN105229162B (zh) | 2013-05-24 | 2019-04-19 | 加利福尼亚大学董事会 | 通过质量响应变化鉴定所需的t淋巴细胞 |
EP3000395B1 (en) * | 2014-09-19 | 2018-05-23 | IMEC vzw | System and method for monitoring a subject's eye |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3571689B2 (ja) * | 2001-11-30 | 2004-09-29 | オリンパス株式会社 | 光断層イメージング装置 |
JP2005013514A (ja) * | 2003-06-26 | 2005-01-20 | Olympus Corp | 光イメージング装置 |
EP2275026A1 (en) * | 2005-09-29 | 2011-01-19 | The General Hospital Corporation | Arrangements and methods for providing multimodality microscopic imaging of one or more biological structures |
JP4855150B2 (ja) * | 2006-06-09 | 2012-01-18 | 株式会社トプコン | 眼底観察装置、眼科画像処理装置及び眼科画像処理プログラム |
JP5095167B2 (ja) * | 2006-09-19 | 2012-12-12 | 株式会社トプコン | 眼底観察装置、眼底画像表示装置及び眼底観察プログラム |
-
2008
- 2008-05-19 JP JP2008130631A patent/JP2009276327A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP2508871A1 (en) | Inspection apparatus, measurement method for three-dimensional shape, and production method for structure | |
JP4784555B2 (ja) | 形状評価方法、形状評価装置および三次元検査装置 | |
JP2009276327A5 (ja) | ||
JP2010181172A5 (ja) | ||
JP2008276227A5 (ja) | ||
US9990724B2 (en) | Image recording simulation in a coordinate measuring machine | |
JP2008298739A (ja) | 偏芯量測定装置 | |
JP4939304B2 (ja) | 透明膜の膜厚測定方法およびその装置 | |
JP2012223264A5 (ja) | ||
JPWO2013002290A1 (ja) | 薬剤検出装置及び薬剤検出方法 | |
CN103857478A (zh) | 轧机以及用于确定多机座轧机中的轧机机座的轧制孔型或引导机座的引导孔型的装置和方法 | |
JPWO2012120662A1 (ja) | ガラスびん検査装置及びテレセントリックレンズユニット | |
CN102908162A (zh) | Dr设备及其光野射野的检测装置和调试光野射野的方法 | |
JP2009300125A5 (ja) | ||
JP2014044070A (ja) | 食品検査装置 | |
JP2010249589A (ja) | 歪み計測方法及び歪み計測装置 | |
JP2017021020A5 (ja) | ||
CN109997202A (zh) | 用于检测和/或检查圆柱形部件表面上的磨耗的设备和方法 | |
JP2007069217A (ja) | 離型剤塗布状態検出方法及び離型剤塗布状態検出装置 | |
JP2011169821A (ja) | X線分析装置およびx線分析のマッピング方法 | |
JP2010501841A (ja) | 2層3次元オブジェクトを単一視点方式の光学オムブルスコープによって非接触測定する方法 | |
JP2009250909A (ja) | 測定装置 | |
JP5725528B2 (ja) | 光束平行度測定装置 | |
JP5223478B2 (ja) | 散乱特性評価装置 | |
JP5768349B2 (ja) | スリット光輝度分布設計方法および光切断凹凸疵検出装置 |