JP2016076705A - Ledデバイスにmems製造を組み込んだ実装方法およびアセンブリ - Google Patents

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    • H01L2224/844Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
    • H01L2224/84438Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/84439Silver [Ag] as principal constituent
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    • H01L2224/844Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
    • H01L2224/84438Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/84444Gold [Au] as principal constituent
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    • H01L2224/844Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
    • H01L2224/84438Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/84447Copper [Cu] as principal constituent
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    • H01L2224/844Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
    • H01L2224/84438Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/84455Nickel [Ni] as principal constituent
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    • H01L2224/85438Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/85439Silver (Ag) as principal constituent
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    • H01L2224/85455Nickel (Ni) as principal constituent
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    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/89Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using at least one connector not provided for in any of the groups H01L2224/81 - H01L2224/86
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    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/91Methods for connecting semiconductor or solid state bodies including different methods provided for in two or more of groups H01L2224/80 - H01L2224/90
    • H01L2224/92Specific sequence of method steps
    • H01L2224/922Connecting different surfaces of the semiconductor or solid-state body with connectors of different types
    • H01L2224/9222Sequential connecting processes
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    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/93Batch processes
    • H01L2224/94Batch processes at wafer-level, i.e. with connecting carried out on a wafer comprising a plurality of undiced individual devices
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    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/28Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
    • H01L24/29Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
    • HELECTRICITY
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    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/34Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/39Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process
    • H01L24/40Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process of an individual strap connector
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    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
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    • H01L27/15Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission
    • H01L27/153Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission in a repetitive configuration, e.g. LED bars
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Abstract

【課題】グループとして複数のLEDチップを実装するための効率的な一体化方法を容易にする、LEDチップパッケージアセンブリを提供する。【解決手段】伸縮可能な金属配線を介して、電気的に接続されるLEDチップ5は、それぞれ、ピックアンドプレースマウントとLEDチップのワイヤボンディングプロセスに取って代わる。ウェハレベルのMEMS技術は、並列に配線を吊り下げ、様々な接触パッドに接続を形成するために利用される。LEDチップを接続するボンディングワイヤは、バネ形状にすることができる伸縮可能な金属配線を水平に配列することで、接続された複数のLEDチップ間の距離の伸長及び収縮を可能にする。テープはさらに、LEDチップをボンディングするように設けられており、一つ以上の事前に決められた距離を超えてLEDチップ間の距離を拡大するサイズに拡張される。【選択図】図40

Description

本発明は、LEDチップに向けたパッケージング及び実装構造であって、詳しくは、LEDチップ上に形成される伸縮可能な金属配線のパターンによって接続されるLEDチップを形成する、及び、LEDチップをグループとして基板上に伸縮可能に実装することが可能になる、パッケージング及び実装構造及び一体化製造方法に関する。
LEDは、サイズが小型で、消費電力が低く、温度が低く、長寿命であるため、従来のタングステンフィラメント電球や蛍光灯から徐々に交換するように、照明を提供するためにLEDが一般的に利用されている。
LEDライトストリング又はフィラメントの製造のために、回路基板上に事前に決められた位置に応じて、多数のLEDチップが適切に配置される必要がある。
従来では、ピックアンドプレースプロセス(pick−and−place process)を使用するなどのアライメント法(整列方法)により、複数のLEDチップは、回路基板上に個別に実装され、配置されている。その後、LEDチップ間の電気的接続を作製するためワイヤボンディングが実施される。LEDチップの実装方法は、LEDチップマウンタを用いて行うことができる。
従来のLEDチップ実装と配置の方法は、個別にLEDを実装するためのピックアンドプレースプロセスは、時間がかかり、タスクを実行するために高価な装置を必要とするという、欠点を含んでいる。また、LEDを電気的に接続するワイヤボンディング工程は、時間がかかる。したがって、従来の技術は改善の必要性がある。
本発明の1つの目的は、グループとして複数のLEDチップを実装するための効率的な一体化(統合・integrated)の方法を容易にする、LEDチップパッケージアセンブリを提供することである。複数のLEDチップは、伸縮可能な金属配線パターンを介して、相互に電気的に接続されるように予め配線されている。
本発明の別の目的は、LEDチップが伸縮可能な金属配線の既存のパターンを介して互いに既に電気的に接続されながら、グループとして複数のLEDチップを同時に実装する方法を提供することである。これは、ピックアンドプレース実装工程によって、及び複数のLEDチップのワイヤボンディング工程によって、個々のLEDチップを夫々実装することの必要性に、取って代わる。
目的の1つを達成するために、MEMS技術下でのウェハレベル処理技術は、LEDチップの様々な接触パッドに接続されているだけでなく、中断されている平行な配線のパターンを形成するために利用される。
目的の1つを達成するために、複数のLEDチップを接続するボンディングワイヤは、ばね状に作製することができる、平行な方向に構成される複数の伸縮可能に金属配線に形成されている。伸縮可能な金属配線の伸縮可能な性質により、使用中、及び実装中、伸縮可能な金属配線が、損傷を受けたり、断線することなく、LEDチップ間を接続する距離を広めたり縮めたりすることが可能になる。
目的の一つを達成するために、MEMS技術を使用することで、吊り下げられており、伸長又は/及び収縮が可能な、多数の伸縮可能な金属配線を、一つの基板又は1つのウェハ上に同時に、製造することを可能にする。したがって、本発明の実施形態は、効率的にLEDチッププロセスの個別のワイヤボンディングに取って代わることができる。
個々のLEDチップのための個別ピックアンドプレース実装方法を使用する必要性に取って代わる目的を達成するために、本発明の実施形態は、他のLEDからの距離が事前に決められた距離に配置されるLEDチップを利用して、LEDチップが一時的に接着しているテープを実質的に均一に拡張し伸長することを利用することなどによる、一定又は可変速度などの一貫性のある方法で、拡張し又は伸長することができる。これにより、LEDチップレイアウトの異なるサイズ要件の要求を満たすようにする。
本発明のこれらの及び他の目的は、種々の図及び図面に示されている好ましい実施形態の以下の詳細な説明を読んだ後、当業者には明らかになるであろう。
一態様によれば、LEDチップパッケージアセンブリは、グループとして複数のLEDチップを実装するための効率的な一体化方法を容易にする。
本発明の第1の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図を例示である。 本発明の第1の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図を例示である。 本発明の第1の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図を例示である。 本発明の第1の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図を例示である。 本発明の第1の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図を例示である。 本発明の第1の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図を例示である。 本発明の第1の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図を例示である。 本発明の第2の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図の例示である。 本発明の第2の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図を例示である。 本発明の第2の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図を例示である。 本発明の第2の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図を例示である。 本発明の第2の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図を例示である。 本発明の第2の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図を例示である。 本発明の第2の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図を例示である。 本発明の第2の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図を例示である。 本発明の第3の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図の例示である。 本発明の第3の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図の例示である。 本発明の第3の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図の例示である。 本発明の第3の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図の例示である。 本発明の第3の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図の例示である。 本発明の第3の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図の例示である。 本発明の第3の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図の例示である。 図本発明の第4の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図の例示である。 本発明の第4の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図の例示である。 本発明の第4の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図の例示である。 本発明の第4の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図の例示である。 本発明の第4の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図の例示である。 本発明の第4の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図の例示である。 本発明の第4の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図の例示である。 本発明の第4の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図の例示である。 本発明の第4の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図の例示である。 本発明の第5の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図の例示である。 本発明の第5の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図の例示である。 本発明の第5の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図の例示である。 本発明の第5の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図の例示である。 本発明の第5の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図の例示である。 本発明の第5の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図の例示である。 本発明の第5の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図の例示である。 本発明の第5の実施形態に係る一体化製造方法の概略的な断面図の例示である。 図37に示す第5の実施形態において、隣接するボンディング端子を接続する透明基板と伸縮可能な金属配線のバネ構造上に配置されたLEDチップを示す上面図である。 基板の各部分に複数のLEDチップを含む複数の基板片に切断された基板を示す。
本発明は、例として示され、同じ参照符号が同様の要素を示している、添付の図面の図の構成に限定されるものではない。本開示の多くの側面は、より良い、以下の図面を参照して理解することができる。また、図面において同じ参照符号は、全体を通して対応する要素を指定している。可能な限り、同じ参照番号は、実施形態の同一または類似の要素を指すために図面全体を通して使用される。
本明細書に提示される例示の実施形態では、各LEDチップのpパッド及びnパッドは、LEDチップの同じ側であってもよいし、両方の側であってもよい。
本発明の第1の実施形態に係る、複数のLEDチップを、実装し、電気的に接続するための一体化された製造方法について、下記説明する。
図1を参照して、LEDチップ5及び複数の金属層10,15は両方ともLEDウェハ18の一方の面に形成されている。本実施形態では、金属層10はチタンを含み金属層15は銅を含む。最初にチタン(Ti)10が堆積され、その次に銅層(Cu)15が続くように、チタン層10及び銅層15は電子銃蒸着法によって堆積される。さらに、複数のボンディングパッド(接合パッド)20がLEDチップ5に形成される。
図2に示すように、フォトレジスト層25は、金属層10,15(Ti/Cu)の上部を覆うように形成される。フォトレジスト層25はネガ型レジストであって、使用される現像液は、有機溶媒であり得る。そして、フォトレジスト層25は現像され、フォトマスクによって露光される、ネガ型フォトレジストの未露光領域は、溶剤によって溶解除去される。フォトマスク(不図示)は、複数の伸縮可能な金属配線及び複数の電極の(固体)パターンを有するように設計される。現像及び露光工程の後、後の処理において、パターニングされたフォトレジスト層25がマスク自体として機能するように、フォトマスク(不図示)上のパターンは、パターニングされた(パターン化)フォトレジスト層25へ転写される。パターン化フォトレジスト層25の除去された部分は、開口部27と呼ばれる。
他の実施形態では、フォトレジスト層25はポジ型レジストであってもよく、フォトマスクは、拡張可能な金属配線及び開口部(露光領域)となる複数の接触電極のパターンで有り得る。 図2に示すように、パターン化フォトレジスト層25を形成するためにフォトマスクを使用しながら、プラズマエッチングを行うことができる。
図3に示すように、パターン化フォトレジスト層25をマスクとして使用し、例えば、銅(Cu)などの金属材料29は、エッチングされた開口部27、又は、パターン化フォトレジスト層25へ充填されることによって、伸縮可能な金属配線30を形成する。伸縮可能な金属配線30は、(LEDウェハ18の上面に平行な平面の下に見て)バネ形状とすることができる。例えば、ボンディングパッド20の上に位置するように複数の接触電極35を形成する。また、メッキ層37が、ボンディングパッド20の上に位置する複数の接触電極35の上面に形成される。メッキ層37は、銅又は金の材料であり得る。
図4に示すように、第1のテープ45は、複数のLEDチップ5の複数のボンディングパッド20に隣接し、さらに複数の伸縮可能な金属配線30に隣接している、パターン化フォトレジスト層25の一方の側に接続されている。本実施形態では、第1のテープ45は担体(キャリア)として扱われ、第1のテープ45はフレキシブル(柔軟)で、伸縮性がある、片面上に接着層がコーティングされた半透明のプラスチック材料である。第1のテープ45に接続されたリング46は、次の工程の間、第1のテープ45を支持する、円形ブレースなどの、キャリア(不図示)の一部である。このキャリアの支持により、ソフトな第1のテープ45が、幾何学的に固定された状態で拘束されて、安定した方法で伸長されることができる。さらに、リング46は、第1のテープ45上でしっかりと留めるように、及び次の製造プロセス中に同じ位置で第1のテープ45を拘束するように構造を維持するために使用することができる。
図5に示すように、複数のスクライブ線48が、LEDウェハ18の他方の面47上の、LEDチップ5に隣接する側で、形成される。これらは、LEDチップ5を分離して断片化するのに利用され得る。
図6に示すように、断片化(break-off)工程の間に第1のテープ45がLEDチップ5に接着した状態を保持しながら、LEDはスクライブ線48に沿って裁断される。
断片化工程の後、第1のテープ45が除去され得る。その後、第2のテープ55は、LEDウェハ18の他方の面47に接着された後、第1のテープ45が除去される。
本実施形態では、リング56は、第2のテープ55を支持するキャリアの一部である。上述のように、第2のテープ55上にしっかりと留まる構造を維持し、続く製造工程において、第2のテープ55を特定の位置で拘束するために、リング56が使用されることができる。パターン化フォトレジスト層25は、溶媒又は酸によるウェット・ストリッピング(stripping)あるいはプラズマガス・ストリッピングによって、除去される。
LEDウェハ18に接続される金属層(Ti/Cu)10,15は、選択的にエッチングされる。したがって、銅金属層29の一部は、接触電極35に接着されたたエッチングされてにないチタン層10とともに、ばねの一部、又は伸縮可能な金属配線30の一部として、及び接触電極35として、残る。
銅をエッチングすることなく、チタンをエッチングできるエッチング液を用いたウェットエッチングによって、チタン金属層10を選択的にエッチングした後、(選択エッチング後の、元の銅金属層の左上部分の残りから、)複数のLEDチップ5を接続する、複数の伸縮可能な金属配線30のパターンが、形成される。その中で、伸縮可能な金属配線30は、隣接するLEDチップ5を互いに夫々接続される。
図2〜図6の示す本実施形態で行われている製造工程は、MEMSの製造工程とみなすことができる。
図7に示すように、第2のテープ55が加熱又はUV光の照射を適用することによって除去されている間、接触電極35は、拡張テーブル38に、接続される又は取り付けられる。拡張テーブル38は、LEDウェハ18を保持するための中心膨張領域(不図示)を有する、複数の並進ステージ(X,Y,Z,ラジアル)からなる、製造された金属アセンブリである。拡張テーブル38の中央拡張領域のサイズはウェハサイズに依存している。拡張テーブル38は、LEDウェハ18の側面を拡張するための中央の拡張領域を所定の間隔で囲むように構成される、複数の延伸アーム(不図示)をさらに含む。
LEDチップ5は既に取り外され、スクライブライン48に沿って断片化されているので、様々なタイプの所望の基板上にLEDチップ5を実装するために、所望の長さと幅にするために、第2のテープ55を伸長させることで、LEDチップ5をさらに分離させることができる。一方、伸縮可能な金属配線30は、収縮状態では、実質的に平行な方向に配列されたバネ形状の構造を有しているので、伸縮可能な金属配線の伸長状態では、LEDチップ5の伸長された接続は、互いに電気的な接続状態を維持している。
伸縮可能な金属配線30は、は、拡張/拡大状態又は縮小/短縮状態のいずれかで導電性ワイヤとして機能することができる。
多数の伸縮可能な金属配線30は、一枚のウェハに配置されるように製造され、多数のLEDチップ、例えば、1つの6インチウエハ上に、96000個のLEDチップを同時に接続するための特定のパターンに構成される。
伸縮可能な金属配線30の伸縮物性によって、接続されたLEDチップの一対の距離を変化させ、増加することができるので、伸縮可能な金属配線30が短すぎたり絡まったりすることについて心配する必要がなく、LEDチップ5の配置及び実装の柔軟性に対応することを可能にするようになる。
本発明の第2の実施形態に係る、複数のLEDチップを、実装し、電気的に接続するための一体化された製造方法について、下記説明する。
図8に示すように、金属シード層100は、テンプレート基板105の一面106に形成されている。金属シード層100は、チタンを含む。金属シード層100は、電子銃蒸着によって堆積させることができる。
図9に示すように、フォトレジスト層110は、金属シード層100の上部を覆うように形成され、フォトレジスト層110は、ポジ型レジストまたはネガ型レジストであり、そして、エッチングされる、又はマスクとして機能するために、露光される/現像される。
図10に示すように、パターン化フォトレジスト層110をマスクとして用いて、銅(Cu)を含む金属層117を、パターン化フォトレジスト層110の開口部119内に充填することによって、バネ形状であることができる複数の伸縮可能な金属配線120を形成する、及び複数の接触電極125を形成する。伸縮可能な金属配線120は、テンプレート基板105を覆う、所定のパターン(不図示)を形成する。各伸縮可能な金属配線120は、隣接する接触電極125の対の両端に接続されている。
図11〜図12に示すように、パターン化フォトレジスト層110は、ウェット・ストリッピング(溶媒又は酸)あるいはプラズマガス・ストリッピングなどの方法により除去される。
そして、接触電極125に電気的に接続する伸縮可能な金属配線120がテンプレート基板105上に残るように、選択的なエッチングが実行される。
即ち、接触電極125の下にある金属シード層100bの一部が残っている一方、伸縮可能な金属配線の下に配置された金属シード層100aの一部が選択なエッチングによって除去される。
図9〜図12の示す本実施形態で行われている製造工程は、MEMSの製造工程とみなすことができる。
図13に示すように、第1のテープ130は、複数のLEDチップ5の一方に接続されており、各LEDチップ5は、一対の接触パッド135を備えている。第1のテープ130にボンディングされる。各LEDチップ5の一対の接触パッド135は、図10に示すように形成された、(テンプレート基板105に結合される)一対の接触電極125に対応して位置合わせされる。
図14に示すように、接触パッド135は、一方の側に対応する接触電極125とボンディングされ、他側に金属シード層100bの対応する部分に接続されている。第1のテープ130はLEDチップ5から除去されることで、中間LEDチップアセンブリ140を形成する。
図15に示すように、加熱、UV光の照射、又は有機溶媒を使用すること等による方法によって、中間LEDチップアセンブリ140からテンプレート基板105を除去しながら、LEDチップ5に沿った中間LEDチップアセンブリ140は、最終基板145に接続され、チップオングラス(COG)又はチップオンボード(COB)構造となる。
COG構造は、支持体として、ガラス基板又は透明基板を含み、COB構造は支持体としてPCB基板を含んでいる。
本発明の第3の実施形態に係る、複数のLEDチップを、電気的に接続するための一体化された製造方法について、下記説明する。図16に示すように、1つのLEDチップ5及び銅などの材料からなる複数のボンディングパッド20が、基板103の一方の表面に形成されている。
図17に示すように、金属層116は、例えば、電子銃蒸着のような方法によって堆積されることで、LEDチップ5やボンディングパッド20を覆う。
図18に示すように、フォトレジスト層110は、金属層116の上部を覆うように形成されている。次いで、フォトレジスト層110は、マスクとして機能するように、エッチングされる又はパターニングされる。
図19に示すように、エッチングされた又はパターン化フォトレジスト層110は、マスクとして使用されて、銅(Cu)などの金属材料が、パターン化フォトレジスト層110の複数の開口部に充填されることで、複数の伸縮可能な金属配線170を形成する。
伸縮可能な金属配線170は、基板の上方に位置するLEDチップ5のボンディングパッド20の上方に位置する接触電極35を形成するのと同様に、バネ形状を有するショートワイヤの形態であってもよい。
図20に示すように、パターン化フォトレジスト層110は、ウェット・ストリッピング(溶媒又は酸)あるいはプラズマガス・ストリッピングなどの方法によって除去され、ディープスクライブレーザーを使用することを含むプロセスによって複数のスクライブ線48が基板103上に形成される。
図21に示すように、金属層116が選択的なエッチングによって除去されることで、LEDチップ5に接続されたボンディングパッド20が残る。LEDに接続するボンディングパッド20が残る。残っている金属層は、伸縮可能な金属配線170及び接触電極35のためのバネ構造として使用される。
チタン金属層の選択的なエッチングの後、複数のLEDチップ5を接続する複数の伸縮可能な金属配線170のパターンが銅金属層から形成され、そこでは、隣接するLEDチップ5が、伸縮可能な金属配線170によって、夫々互いに接続している。伸縮可能な金属配線170の下に位置する金属層は、選択的エッチングによって、実質的に除去される。
図22に示すように、スクライブ線48に沿って、既に切り離されたLEDチップとともに、上に形成されたLEDチップ5が個々に分離されている、基板103が、さらに溝がつけられ(scored)、スクライブされ(scribed)、分離されることによって、スクライブ基板片を形成する。このように、複数のLEDチップアセンブリは、隣接する複数のLEDチップ5を接続する伸縮可能な金属配線170のパターンを有している。
本発明の第3の実施形態に係る、複数のLEDチップを基板と電気的に接続するための一体化された製造方法について、下記説明する。図23に示すように、金属シード層100は、透明基板300の一方の側に形成される。金属シード層100は、電子銃蒸着によって堆積させることができる。
図24に示すように、フォトレジスト層110は、金属シード層100の上部を覆うように形成される。次に、フォトレジスト層110は、マスクとして機能するように、エッチング又はパターニングされる。
図25に示すように、パターン化フォトレジスト層110をマスクとして使用することで、銅などの金属材料を、パターン化フォトレジスト層110の開口部に充填させて、複数の伸縮可能な金属配線120を形成する。多数の伸縮可能な金属配線120は、ばねの形状を有している。
銅を含む金属材料117は、開口部119に充填されることで、複数の接触電極125が形成される。複数の伸縮可能な金属配線120は、透明基板300を覆う所定のパターンを形成する。各伸縮可能な金属配線120は、隣接する接触電極125の一対の両端に夫々接続されている。
図26に示すように、フォトレジスト層110は、ウェット・ストリッピング(溶媒又は酸)あるいはプラズマガス・ストリッピングを含む方法によって除去されることで、伸縮可能な金属配線120と、接触電極125を形成するための開口部に充填する金属とが残る。各伸縮可能な金属配線120は、隣接する接触電極125の対に接続されている。さらに、複数の接触電極125を接続する伸縮可能な金属配線120のパターンは、透明基板300上に形成される。
図27に示すように、複数の接触電極125を接続する伸縮可能な金属配線120が透明基板300上に残るように、金属シード層100を除去する選択的なエッチングが実施される。
伸縮可能な金属配線120の下に位置する金属シード層100は、選択的なエッチングによって、実質的に除去される。
図24〜図27に示す本実施形態で行われている製造工程は、MEMSの製造工程とみなすことができる。
図28に示すように、第1のテープ130は、複数のLEDチップ5の一方の側にボンディングされており、複数のLEDチップ5は夫々一対の接触パッド135を備えている。第1のテープ130に接着される各LEDチップ5の接触パッド135が、図25に示すように形成される(透明基板にボンディングされる)接触電極125に対して、位置合わせされる。
図29に示すように、コンタクトパッド135は、対応する接触電極125とボンディングされる。第1のテープ130がLEDチップ5から除去されて、中間LEDチップセンブリ140が形成される。
図30に示すように、透明基板300が切断され、折られる(break off)。
図31に示すように、伸縮可能な金属配線120によって接続されるLEDチップ5は、(Y軸に沿った)垂直方向に、及び、(X軸に沿った)水平方向に、移動可能及び/又は伸縮可能である。そのため、個々のLEDチップ5、及びフレキシブル基板(不図示)に接続された透明基板300の接続される個々の切片(基板片)を含む構成のための便利な使用が可能になる。
本発明の第4の実施形態に係る、複数のLEDチップを電気的に接続するための一体化された製造方法について、下記説明する。
図32に示すように、金属シード層100は、透明基板300の一方の側に形成される。金属シード層100は、電子銃蒸着によって堆積させることができる。
図33に示すように、フォトレジスト層110は、金属シード層100の上部を覆うように形成される。次に、フォトレジスト層110は、マスクとして機能するように、エッチングされる。
図34に示すように、エッチングされたフォトレジスト層110をマスクとして使用することで、銅などの金属材料を、パターン化フォトレジスト層110の開口部に充填させて、複数の伸縮可能な金属配線120を形成する。伸縮可能な金属配線120は、ばねの形状を有して得る。複数の伸縮可能な金属配線120は、透明基板300に対応する、領域を覆う所定のパターンを形成する。各伸縮可能な金属配線120は、隣接する接触電極125の一対の両端に夫々接続されている。
図35に示すように、エッチングされたフォトレジスト層110は、溶媒又は酸によるウェット・ストリッピングあるいはプラズマガス・ストリッピングを含む方法によって除去されるが、伸縮可能な金属配線120及びボンディング端子310を形成する金属が残る。各伸縮可能な金属配線120は、隣接するボンディング端子310の対に接続されている。さらに、多数のボンディング端子310を接続する伸縮可能な金属配線120のパターンは、透明基板300上に形成される。
図36に示すように、金属シード層100を除去する選択的なエッチングが実施されることで、複数のボンディング端子310を接続する伸縮金属伸縮可能な金属配線120が透明基板300上に残る伸縮可能な金属配線120の下に位置する金属シード層100は、選択的なエッチングによって、実質的に除去される。
図33〜図36に示す本実施形態で行われている製造工程は、MEMSの製造工程とみなすことができる。
図37に示すように、複数のLEDチップ5は、複数のLEDチップ5のボンディングパッド20を介して、第1のテープ130上に形成されている。
次いで、加熱、UV光の照射、又は有機溶媒の利用等の方法によって、第1のテープ130及び第1のテープ130上に形成されるLEDチップ5は、透明基板300と接続される。ここで、ボンディング端子310と伸縮可能な金属配線120は、必要に応じて第1のテープ130へ取り付けることができる。
第5の実施形態では、図38aに示すワイヤボンディング構造180又は図38bに示すような金属化構造190のいずれかを、外部電源又は他のLEDチップ5に接続する電気経路を形成するために、採用することができる。
図38aに示すように、透明基板200は、個々の透明基板片300aの複数に切断されて分割され、各基板片300aは1つのLEDチップを保持する。ボンディング端子310の1つからLEDチップ5のボンディングパッド20の1つまでのワイヤボンディングを用いることで、電気接続が行われる。
一方、図34及び図35の工程で形成されるボンディング端子310と、伸縮可能な金属配線120とは互いに電気的に接続される。
図38bに示すように、透明基板300を、個々の透明基板片300bの複数に切断し、分割されて、各基板片300bは、1つのLEDチップ5を保持する/含む。
リソグラフィ及び金属化技術を使用することで、ボンディング端子310からLEDチップ5のボンディングパッド20の1つまでに電気的な接続が行われる。
一方、一方、図34及び図35の工程で形成されるボンディング端子310と、伸縮可能な金属配線120とは互いに電気的に接続される。
図39は、本発明の第5実施形態に係る、透明基板300上のLEDチップ5の配置と、及び図37に示す隣接するボンディング端子310を接続する伸縮可能な金属配線120のバネ構造とを示す上面図を表している。
第1の実施形態〜第5の実施形態を含む図示の実施形態では、伸縮可能な金属配線の厚さtは(第1の実施形態の図3に一例として示す)は、0ミクロン〜0100ミクロンの間とすることができる。別の実施形態では、厚さtは70ミクロン未満でありうる。
上記の実施形態のいくつかに示されるように、LEDチップを支持しているテープは、
伸縮可能な金属配線から所定距離離れていてもよく、或いは伸縮可能な金属配線に近接して/隣接していてもよい。上記実施形態で使用されるテープは、一方向以上の方向に、膨張及び拡張することができる。図示された実施形態の全てにおいて、伸縮可能な金属配線は、吊り下げられて(浮かんで)いることができる。上記実施形態において、テープは、接着層(不図示)によって被覆された薄膜層(不図示)で作製されている。接着剤層は、アクリル系組成物で製作されている。薄膜層は、PVC組成物で製作されている。また、伸縮可能な金属配線は、ニッケル(Ni)、銀(Ag)、または金(Au)などの他の金属で作製してもよい。
他の代替の実施形態では、LEDチップのパッドを、LEDチップの反対側の表面上または同一面上に形成してもよい。これにより、pパッドとnパッドとを、LEDチップの異なる側に存在させることができる。
一実施形態では、基板50は、基板50は複数のLEDチップ5を保持しており、基板50は、複数の基板片51へと切断されうる。各基板片51は、図40に示すように、1つ以上のLEDチップ5を保持しうる。
本発明の実施形態での伸縮可能な金属配線の幅は、70um未満、例えば、5um、10um、27um、57um又は62umなどと、することができる。伸縮可能な金属配線の長さは、例えば、収縮時では255um、伸長時に、1200umとすることができる。一方、伸縮可能な金属配線の収縮したときの長さは、Aとして定量化することができ、伸縮可能な金属配線の延長したときの長さは、4.0A〜3.5Aとして推定できる。
伸縮可能な金属配線の曲率半径(R)と厚さ(t)との比<t/2R>は、伸縮可能な金属配線の材料の降伏ひずみを超えることはできない。
なお、本実施形態およびその利点は、前述の説明から理解されると考えられている。また、実施形態の精神および範囲から逸脱またはその材料の利点のすべてを犠牲にすることなく、様々な変更がされ得ることが明らかであろう。

Claims (15)

  1. 複数のLEDチップと、
    所定のパターンを形成する複数の伸縮可能な金属配線と、
    複数の電極と、
    金属シード層と、を有し、
    前記金属シード層は前記複数の電極に接続されており、
    前記伸縮可能な金属配線の1つが前記複数の電極のうちの2つへ接続され、
    前記2つの電極は、前記複数のLEDチップの2つに、夫々接続されており、
    前記伸縮可能な金属配線の1つが前記複数のLEDチップとの電気的接続を維持しながら、1つの軸に沿った、ある距離に伸長することが可能である、
    発光デバイスアセンブリ。
  2. 前記複数のLEDチップに接着されたテープをさらに有しており、
    前記複数のLEDチップは、互いに一つ以上の事前に決められた距離で配置され、前記複数のLEDチップの間の距離が予め設定された幅になるまで広がるように、前記テープが引き延ばされる、
    請求項1に記載の発光デバイスアセンブリ。
  3. 前記伸縮可能な金属配線の厚さは0ミクロン〜100ミクロンの間である、
    請求項1に記載の発光デバイスアセンブリ。
  4. 当該発光デバイスアセンブリは、基板をさらに有しており、
    前記基板は複数の基板片を含んでおり、
    前記各基板片は、少なくとも1つのLEDチップを保持し、
    前記基板片上にある、隣接するLEDチップ間の距離が増加することが可能であるように、隣接する基板片の間の距離が、拡張可能である、
    請求項1に記載の発光デバイスアセンブリ。
  5. 当該発光デバイスアセンブリは、基板をさらに有しており、
    前記基板は、拡張テーブル、チップオンガラス(COG)型又はチップオンボード(COB)型の最終基板、複数のスクライブ基板片、及び複数の透明基板片、を構成するグループから選択され、
    前記複数のLEDチップは前記基板に実装され、
    隣接するLEDチップが実装される間の距離が予め設定された幅まで大きくすることが可能であるように、隣接するLEDチップとの間の距離は伸長可能である、
    請求項1に記載の発光デバイスアセンブリ。
  6. 収縮状態における前記伸縮可能な金属配線は、バネ構造を有している、
    請求項1に記載の発光デバイスアセンブリ。
  7. 複数のLEDチップを備えるLEDウェハ上にチタン層及び銅層を形成する工程と、
    フォトレジスト層を形成して、パターニングする工程と、
    パターン化された前記フォトレジスト層の中に銅材料を充填することによって、複数の伸縮可能な金属配線と、複数の接触電極とを形成する工程と、
    前記伸縮可能な金属配線に隣接するフォトレジスト層の一方の側に第1のテープを接着する工程と、
    前記LEDチップに隣接する前記LEDウェハの第1の表面上に複数のスクライブ線を形成する工程と、
    前記第1のテープが前記LEDチップに接着したまま、前記スクライブ線に沿ってLEDウェハを断片化する工程と、
    前記LEDウェハの第2の表面に第2のテープを接着する工程と、
    前記第1のテープ及び前記フォトレジスト層を除去する工程と、
    前記チタン層及び前記銅層を選択的にエッチングすることによって、前記LEDチップに接続される前記複数の伸縮可能な金属配線のパターンを形成する工程と、
    拡張テーブルを提供する工程と、
    前記複数の接触電極を前記拡張テーブルへ取り付ける工程と、
    加熱により、前記第2のテープを取り除く工程と、を有する、
    複数のLEDチップを電気的に接続する一体化製造方法。
  8. 第1の基板上に、チタン金属シード層及びフォトレジスト層を夫々形成する工程と、
    マスクとして機能するように前記フォトレジスト層をエッチングすることで、複数の開口部を生成する工程と、
    前記開口部を銅材料で充填することで、複数の伸縮可能な金属配線及び複数の接触電極を形成する工程であって、伸縮可能な金属配線は前記第1の基板を覆う所定のパターンを形成し、各伸縮金属配線は、隣接する接触電極の対と、伸縮可能な金属配線の両端で接続される、工程と、
    前記フォトレジスト層を除去する工程と、
    前記接触電極と、前記接触電極の下にあるチタン金属シード層の一部とに接続される、
    前記伸縮可能な金属配線が、それぞれ第1の基板上に残るように、前記チタン金属シード層を選択的にエッチングする工程と、
    前記複数のLEDチップに第1のテープを接着する工程であって、前記各LEDチップは一対の接触パッドを備え、一対の接触パッドは、一対の電極に対応して位置合わせされる工程と、
    前記一対の接触電極へ前記一対の接触パッドを夫々接着する工程と、
    前記LEDチップから前記第1のテープを取り除くことで、中間LEDチップアセンブリを形成する工程と、を有する、
    複数のLEDチップを電気的に接続する一体化製造方法。
  9. 最終基板上に、前記中間LEDチップアセンブリを実装する工程と、
    前記中間LEDチップセンブリから前記第1の基板を除去する工程と、をさらに有する、
    請求項8に記載の一体化製造方法。
  10. 前記第1の基板はテンプレート基板であり、
    前記最終基板はガラス基板又はPCB板である、
    請求項9に記載の一体化製造方法。
  11. 前記第1の基板を、切断して断片化することにより基板片する工程をさらに有し、
    前記LEDチップは前記伸縮可能な金属配線によって接続され、
    前記LEDチップは垂直方向に移動可能であり、水平方向に拡張可能であるので、中間LEDチップアセンブリをフレキシブル基板へ実装することが可能になる、
    請求項8に記載の一体化製造方法。
  12. 前記第1の基板は透明基板である、
    請求項11に記載の一体化製造方法。
  13. 透明基板上にチタン金属シード層を形成する工程と、
    前記チタン金属シード層上にフォトレジスト層を形成して、エッチングする工程と、
    複数の伸縮可能な金属配線及び複数のボンディング端子を形成するために、前記フォトレジスト層の開口部に銅材料を充填する工程であって、
    伸縮可能な金属配線の夫々は、前記透明基板を覆う所定のパターンを形成する工程であって、で前記伸縮可能な金属配線の各々は、伸縮可能な金属配線の両端に隣接するボンディング端子対に接続されている、
    前記フォトレジスト層を除去する工程と、
    前記ボンディング端子に接続された前記伸縮可能な金属配線が前記透明基板上に残るように、前記チタン金属シード層の実質的な部分を除去するために選択的にエッチングする工程と、
    前記LEDチップの各々が一対のボンディングパッドを有している、複数のLEDチップの一方の側に、第1のテープを接着する工程と、
    前記透明基板を、個々の基板片に切断して断片化する工程と、
    前記透明基板の各部分は1つのLEDチップを保持しているおり、前記伸縮可能な金属配線で複数のLEDチップ間が接続される工程と、を有する、
    複数のLEDチップを電気的に接続する、一体化製造方法。
  14. 複数のボンディング端子の1つから複数のボンディングパッドの1つまで、ワイヤボンディングを用いた電気的接続を形成する工程と、をさらに有し、
    一の前記ボンディング端子は、他の前記ボンディング端子と、1つの伸縮可能な金属配線を介して接続される、
    請求項13に記載の一体化製造方法。
  15. 複数のボンディング端子の1つから複数のボンディングパッドの1つまで、リソグラフィおよび金属化を使用して、電気的接続を形成する工程と、をさらに有し、
    一の前記ボンディング端子は、他の前記ボンディング端子と、1つの伸縮可能な金属配線を介して接続される、
    請求項13に記載の一体化製造方法。
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