JP2015517126A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2015517126A5
JP2015517126A5 JP2015509064A JP2015509064A JP2015517126A5 JP 2015517126 A5 JP2015517126 A5 JP 2015517126A5 JP 2015509064 A JP2015509064 A JP 2015509064A JP 2015509064 A JP2015509064 A JP 2015509064A JP 2015517126 A5 JP2015517126 A5 JP 2015517126A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bond
composition
epoxy
crosslinkable
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2015509064A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2015517126A (ja
JP6449145B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority claimed from PCT/US2013/037626 external-priority patent/WO2013163100A1/en
Publication of JP2015517126A publication Critical patent/JP2015517126A/ja
Publication of JP2015517126A5 publication Critical patent/JP2015517126A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6449145B2 publication Critical patent/JP6449145B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Description

実施態様に関わらず、多官能性エポキシ化合物は、反射防止膜等のマイクロリソグラフィプロセスに用いる組成物を生成するのに利用することができる。該組成物は、多官能性エポキシ化合物を適切な溶剤系中に、好ましくは実質的に均質な分散をするための周囲条件および十分な時間で、単に分散または溶解することにより形成される。好適な組成物は、組成物の総質量を100質量%とした場合、約0.2〜約50質量%の多官能性エポキシ化合物、好ましくは約0.2〜約10質量%の多官能性エポキシ化合物、より好ましくは約0.2〜約4質量%の多官能性エポキシ化合物を含む。上で示したように、多官能性エポキシ化合物は、反射防止組成物において用いられる前に、ろ過するのが好ましい。よって、組成物中の未反応の触媒の程度は、実質的に減少する。1以上の実施態様において、反射防止組成物は、組成物の総質量を100質量%とした場合、約0.01質量%未満の触媒残渣、より好ましくは約0.001質量%未満の触媒残渣を含むことになる。

Claims (34)

  1. マイクロエレクトロニクス製作用の、感光性、現像液可溶性の反射防止組成物であって、前記組成物は、溶剤系中に分散または溶解された、ポリマー性の多官能性エポキシ化合物およびビニルエーテル架橋剤を含み、前記ポリマー性の多官能性エポキシ化合物は、それに結合する少なくとも1つの架橋可能な発色団と、閉じたエポキシド環および/または開環したエポキシ基であるエポキシ部分と、を含み、前記架橋可能な発色団は2〜10の架橋可能な基を有することを特徴とする組成物。
  2. 少なくとも1つの前記架橋可能な発色団は、置換または非置換の芳香族化合物、脂肪族化合物、硫黄含有化合物、ならびにハロゲン含有化合物からなる群から選択される、請求項1に記載の組成物。
  3. 前記架橋可能な基は、‐OH、Ar‐OH、および‐COOHからなる群から選択される、請求項2に記載の組成物。
  4. 少なくとも1つの前記架橋可能な発色団は、ポリマー性の多官能性エポキシ化合物に各エポキシ部分を介して結合している、請求項1に記載の組成物。
  5. 前記ポリマー性の多官能性エポキシ化合物は、下記式のエポキシ部分を少なくとも1つ含む、請求項4に記載の組成物:

    式中、*は、化合物との結合部分であり、各yは0または1、各Xは前記架橋可能な発色団、各Lはそれぞれ、アミノ結合、エーテル結合、チオ結合、チオエーテル結合、ヒドラジン結合、スルフィナート結合、スルホン結合、スルホンアミド結合、エステル結合、カーボネート結合、カルバメート結合、アミド結合または尿素結合であり、各Rは、存在する場合、それぞれ酸素原子または‐CH‐であり、ならびに各Rはそれぞれ、‐H、アルキル、スルホネート、エステル、カーボネート、カルバメート、またはそれらの官能基化誘導体である。
  6. Lがエステル結合であり、Rが、存在する場合には‐O‐である、請求項5に記載の組成物。
  7. 前記ポリマー性の多官能性エポキシ化合物は、ホモポリマーおよび2種のコモノマーだけのコポリマーからなる群から選択される、請求項1に記載の組成物。
  8. 前記ポリマー性の多官能性エポキシ化合物は、ポリマーのコアユニットの側鎖に複数のエポキシ部分を有するポリマー性化合物である、請求項1に記載の組成物。
  9. 前記コアユニットは、単一の芳香族化合物、線状または分岐分子、ならびにアクリル、ポリエステル、エポキシ/クレゾールノボラック、ポリエーテル、多糖、ポリイミド、およびポリアミドのモノマー繰り返し単位からなる群から選択される請求項8に記載の組成物。
  10. 前記コアユニットは、下記式の繰り返しモノマーを含み、

    各Rはそれぞれ、未反応エポキシ部分、または下記式の開環エポキシ部分である、請求項8に記載の組成物:

    式中、*は化合物との結合部分であり、各yは0または1、各Xは前記架橋可能な発色団、各Lはそれぞれ、アミノ結合、エーテル結合、チオ結合、チオエーテル結合、ヒドラジン結合、スルフィナート結合、スルホン結合、スルホンアミド結合、エステル結合、カーボネート結合、カルバメート結合、アミド結合または尿素結合であり、各Rは、存在する場合、それぞれ酸素原子または‐CH‐であり、ならびに各Rはそれぞれ、‐H、アルキル、スルホネート、エステル、カーボネート、カルバメート、またはそれらの官能基化誘導体である。
  11. 前記コアユニットは、下記式の繰り返しモノマーを含む、請求項8に記載の組成物:

    各yは0または1;各Arは重合アリール基;各Rはそれぞれ、未反応エポキシ部分、または下記式の開環エポキシ部分:

    式中、*は化合物との結合部分であり、各yは0または1、各Xは前記架橋可能な発色団、各Lはそれぞれ、アミノ結合、エーテル結合、チオ結合、チオエーテル結合、ヒドラジン結合、スルフィナート結合、スルホン結合、スルホンアミド結合、エステル結合、カーボネート結合、カルバメート結合、アミド結合または尿素結合であり、各Rは、存在する場合、それぞれ酸素原子または‐CH‐であり、各Rはそれぞれ、‐H、アルキル、スルホネート、エステル、カーボネート、カルバメート、またはそれらの官能基化誘導体であり、ならびに各Rは、存在する場合、‐CH‐である。
  12. 前記組成物は、溶剤系に分散または溶解された、前記ポリマー性の多官能性エポキシ化合物と、前記ビニルエーテル架橋剤と、随意的に光酸発生剤とから本質的になる、請求項1に記載の組成物。
  13. 前記ビニルエーテル架橋剤は、下記式の多官能性ビニルエーテルである、請求項1に記載の組成物:

    R’はアリールおよびアルキルからなる群から選択され、各Rはそれぞれ、アルキル、アルコキシ、カルボニル、およびそれら2以上の組み合わせからなる群から選択され、nは少なくとも2である。
  14. マイクロエレクトロニクス構造を形成する方法であって、前記方法は:
    (a)表面を有する基板を用意し;
    (b)前記表面上に感光性、現像液可溶性の反射防止層を形成し、前記反射防止層は、溶剤系に分散または溶解された、ポリマー性の多官能性エポキシ化合物およびビニルエーテル架橋剤を含む反射防止組成物から形成され、前記ポリマー性の多官能性エポキシ化合物はそれに結合する少なくとも1つの架橋可能な発色団と、閉じたエポキシド環および/または開環したエポキシ基であるエポキシ部分と、を含み、前記架橋可能な発色団は2〜10の架橋可能な基を有し;ならびに
    (c)前記反射防止層上に画像形成層を形成することを含む方法。
  15. 前記方法はさらに、前記形成(b)の後に前記反射防止層を熱的に架橋することを含み、前記架橋によりフォトレジスト溶剤に実質的に不溶である反射防止層が得られる、請求項14に記載の方法。
  16. 前記架橋は、前記架橋可能な発色団の前記架橋可能な基を通じて起こる、請求項15に記載の方法。
  17. 前記方法はさらに、
    (d)前記画像形成層と前記反射防止層を光に露光して、前記画像形成層と前記反射防止層の露光部分を得て;
    (e)前記画像形成層と前記反射防止層をアルカリ性現像液に接触させて、前記基板表面から前記露光部分を除去することを含む、請求項15に記載の方法。
  18. 前記露光(d)は、前記反射防止層に脱架橋をもたらす、請求項17に記載の方法。
  19. 前記反射防止層はアルカリ性現像液において初期溶解度を有し、前記露光(d)の後、前記反射防止層の前記露光部分はアルカリ性現像液において最終溶解度を有し、前記最終溶解度は前記初期溶解度よりも大きい、請求項17に記載の方法。
  20. 前記接触(e)後、反射防止膜厚5nm未満が前記露光部分に残る、請求項17に記載の方法。
  21. 前記接触(e)後、前記画像形成層と前記反射防止層は、そこに形成された各開口部を有し、前記開口部は、前記基板表面が見えるように実質的に位置合わせされる、請求項17に記載の方法。
  22. 前記構造にイオンを注いで、少なくともいくらかのイオンが基板内に注入され、基板中にイオン注入領域を形成し、前記イオン注入領域は前記開口部より下に形成されることをさらに含む、請求項21に記載の方法。
  23. 前記反射防止組成物は、酸発生剤を実質的に含まず、前記画像形成層は、前記露光(d)の間に酸を発生し、それによって、前記反射防止層の前記露光部分を脱架橋する、請求項17に記載の方法。
  24. 前記露光(d)は、前記架橋剤と、前記化合物の前記架橋可能な発色団との間に形成された結合を切ることとなる、請求項17に記載の方法。
  25. 前記露光(d)は、波長193nm〜365nmを有する光に前記画像形成層と前記反射防止を露光することを含む、請求項17に記載の方法。
  26. マイクロエレクトロニクス構造であって:
    表面を有する基板;
    前記基板表面に隣接する、硬化した感光性、現像液溶解性の反射防止層、前記反射防止層は、溶剤系に分散または溶解された、ポリマー性の多官能性エポキシ化合物およびビニルエーテル架橋剤を含む反射防止組成物から形成され、前記ポリマー性の多官能性エポキシ化合物はそれに結合する少なくとも1つの架橋可能な発色団と、閉じたエポキシド環および/または開環したエポキシ基であるエポキシ部分と、を含み、前記架橋可能な発色団は2〜10の架橋可能な基を有し;ならびに
    前記反射防止層に隣接する画像形成層を含むことを特徴とする構造。
  27. 前記反射防止層の平均厚さが20nm〜60nmである、請求項26に記載のマイクロエレクトロニクス構造。
  28. 前記反射防止層は、水性溶媒およびアルカリ性現像液に実質的に不溶である、請求項26に記載のマイクロエレクトロニクス構造。
  29. 前記反射防止層の、n値が少なくとも1.3、およびk値が少なくとも0.2である、請求項26に記載のマイクロエレクトロニクス構造。
  30. 前記基板は、ケイ素、SiGe、SiO、Si、アルミニウム、タングステン、タングステン珪化物、ガリウム砒化物、ゲルマニウム、タンタル、窒化タンタル、サンゴ、ブラックダイヤ、リンまたはホウ素ドープガラス、イオン注入層、窒化チタン、酸化ハフニウム、酸窒化ケイ素、およびそれらの混合物からなる群から選択されるマイクロエレクトロニクス基板である、請求項26に記載のマイクロエレクトロニクス構造。
  31. 前記反射防止組成物は、組成物の総質量を100質量%とした場合、0.01質量%未満の触媒を含む、請求項14に記載の方法。
  32. 前記ポリマー性の多官能性エポキシ化合物は、ポリマーのコアユニットの側鎖に複数のエポキシ部分を有する、請求項14に記載の方法。
  33. 前記ポリマーのコアユニットは、下記式の繰り返しモノマーを含み、

    各R はそれぞれ、未反応エポキシ部分、または下記式の開環エポキシ部分である、請求項32に記載の方法:

    式中、*は化合物との結合部分であり、各yは0または1、各Xは前記架橋可能な発色団、各Lはそれぞれ、アミノ結合、エーテル結合、チオ結合、チオエーテル結合、ヒドラジン結合、スルフィナート結合、スルホン結合、スルホンアミド結合、エステル結合、カーボネート結合、カルバメート結合、アミド結合または尿素結合であり、各Rは、存在する場合、それぞれ酸素原子または‐CH ‐であり、ならびに各R はそれぞれ、‐H、アルキル、スルホネート、エステル、カーボネート、カルバメート、またはそれらの官能基化誘導体である。
  34. マイクロエレクトロニクス構造を形成する方法であって、前記方法は:
    (a)表面を有する基板を用意し;
    (b)前記表面上に感光性、現像液可溶性の反射防止層を形成し、前記反射防止層は、溶剤系に分散または溶解された、ポリマー性の多官能性エポキシ化合物およびビニルエーテル架橋剤を含む反射防止組成物から形成され、前記ポリマー性の多官能性エポキシ化合物は、ポリマーのコアユニットの側鎖に複数のエポキシ部分と、前記ポリマー性の多官能エポキシ化合物に結合する少なくとも1つの架橋可能な発色団と、を含み、前記架橋可能な発色団は2〜10の架橋可能な基を有し、前記エポキシ部分は閉じたエポキシド環および/または開環したエポキシ基であり、前記ポリマーのコアユニットは下記式の繰り返しモノマーを含み、

    各R はそれぞれ、未反応エポキシ部分、または下記式の開環エポキシ部分であり:

    式中、*は化合物との結合部分であり、各yは0または1、各Xは前記架橋可能な発色団、各Lはそれぞれ、アミノ結合、エーテル結合、チオ結合、チオエーテル結合、ヒドラジン結合、スルフィナート結合、スルホン結合、スルホンアミド結合、エステル結合、カーボネート結合、カルバメート結合、アミド結合または尿素結合であり、各Rは、存在する場合、それぞれ酸素原子または‐CH ‐であり、ならびに各R はそれぞれ、‐H、アルキル、スルホネート、エステル、カーボネート、カルバメート、またはそれらの官能基化誘導体である。
    ;ならびに
    (c)前記反射防止層上に画像形成層を形成することを含む方法。
JP2015509064A 2012-04-23 2013-04-22 感光性、現像液可溶性の底面反射防止膜材料 Active JP6449145B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201261636919P 2012-04-23 2012-04-23
US61/636,919 2012-04-23
PCT/US2013/037626 WO2013163100A1 (en) 2012-04-23 2013-04-22 Photosensitive, developer-soluble bottom anti-reflective coating material

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2015517126A JP2015517126A (ja) 2015-06-18
JP2015517126A5 true JP2015517126A5 (ja) 2017-06-15
JP6449145B2 JP6449145B2 (ja) 2019-01-09

Family

ID=49380422

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015509064A Active JP6449145B2 (ja) 2012-04-23 2013-04-22 感光性、現像液可溶性の底面反射防止膜材料

Country Status (7)

Country Link
US (1) US10331032B2 (ja)
EP (1) EP2841513B1 (ja)
JP (1) JP6449145B2 (ja)
KR (1) KR102115442B1 (ja)
CN (1) CN104428379B (ja)
TW (1) TWI633390B (ja)
WO (1) WO2013163100A1 (ja)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013109748A1 (en) * 2012-01-19 2013-07-25 Brewer Science Inc. Nonpolymeric antireflection compositions containing adamantyl groups
KR102115442B1 (ko) * 2012-04-23 2020-05-28 브레우어 사이언스 인코포레이션 감광성의 현상제-가용성 하부 반사-방지 코팅 재료
US9362120B2 (en) * 2014-03-31 2016-06-07 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Lithography process and composition with de-crosslinkable crosslink material
WO2016209828A1 (en) 2015-06-22 2016-12-29 Brewer Science Inc. Superplanarizing spin-on carbon materials
WO2017002653A1 (ja) * 2015-07-02 2017-01-05 日産化学工業株式会社 長鎖アルキル基を有するエポキシ付加体を含むレジスト下層膜形成組成物
TWI662370B (zh) * 2015-11-30 2019-06-11 南韓商羅門哈斯電子材料韓國公司 與外塗佈光致抗蝕劑一起使用之塗料組合物
US11262656B2 (en) * 2016-03-31 2022-03-01 Rohm And Haas Electronic Materials Korea Ltd. Coating compositions for use with an overcoated photoresist
TWI758326B (zh) * 2016-09-16 2022-03-21 日商日產化學工業股份有限公司 保護膜形成組成物
US10520821B2 (en) * 2016-11-29 2019-12-31 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Lithography process with enhanced etch selectivity
US10649339B2 (en) * 2016-12-13 2020-05-12 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Resist material and method for forming semiconductor structure using resist layer
CN107239002B (zh) * 2017-07-07 2019-12-06 深圳市华星光电技术有限公司 Uv固化粉末光阻组合物及其制作方法、彩膜基板的制作方法
WO2020099901A1 (en) * 2018-11-14 2020-05-22 Essilor International Composition for coating the edge of an optical lens
US11782345B2 (en) 2019-08-05 2023-10-10 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Bottom antireflective coating materials
DE102019134535B4 (de) 2019-08-05 2023-09-07 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Materialien für unteren antireflexbelag
JPWO2021070775A1 (ja) * 2019-10-09 2021-04-15
CN111487808B (zh) * 2020-05-14 2021-07-06 Tcl华星光电技术有限公司 显示面板

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3776729A (en) 1971-02-22 1973-12-04 Ibm Photosensitive dielectric composition and process of using the same
JP3852889B2 (ja) 1998-09-24 2006-12-06 富士写真フイルム株式会社 フォトレジスト用反射防止膜材料組成物
US6316165B1 (en) 1999-03-08 2001-11-13 Shipley Company, L.L.C. Planarizing antireflective coating compositions
EP1392508B1 (en) * 2001-04-17 2018-10-10 Brewer Science, Inc. Anti-reflective coating composition with improved spin bowl compatibility
US6670425B2 (en) 2001-06-05 2003-12-30 Brewer Science, Inc. Anti-reflective coating of polymer with epoxide rings reacted with light attenuating compound and unreacted epoxide rings
US6846612B2 (en) 2002-02-01 2005-01-25 Brewer Science Inc. Organic anti-reflective coating compositions for advanced microlithography
US7323289B2 (en) 2002-10-08 2008-01-29 Brewer Science Inc. Bottom anti-reflective coatings derived from small core molecules with multiple epoxy moieties
US7172849B2 (en) 2003-08-22 2007-02-06 International Business Machines Corporation Antireflective hardmask and uses thereof
US20050214674A1 (en) * 2004-03-25 2005-09-29 Yu Sui Positive-working photoimageable bottom antireflective coating
US20050255410A1 (en) * 2004-04-29 2005-11-17 Guerrero Douglas J Anti-reflective coatings using vinyl ether crosslinkers
US20070207406A1 (en) * 2004-04-29 2007-09-06 Guerrero Douglas J Anti-reflective coatings using vinyl ether crosslinkers
EP2866093A1 (en) 2004-05-14 2015-04-29 Nissan Chemical Industries, Limited Anti-reflective coating forming composition containing vinyl ether compound and polyimide
US7638262B2 (en) 2006-08-10 2009-12-29 Az Electronic Materials Usa Corp. Antireflective composition for photoresists
US7914974B2 (en) * 2006-08-18 2011-03-29 Brewer Science Inc. Anti-reflective imaging layer for multiple patterning process
WO2008072624A1 (ja) * 2006-12-13 2008-06-19 Nissan Chemical Industries, Ltd. 低分子溶解促進剤を含むレジスト下層膜形成組成物
JPWO2009038126A1 (ja) * 2007-09-20 2011-01-06 日産化学工業株式会社 分岐型ポリヒドロキシスチレンを含むレジスト下層膜形成組成物
CN101842414B (zh) 2007-10-30 2014-06-04 布鲁尔科技公司 可光成像的支化聚合物
EP2399169B1 (en) 2009-02-19 2019-04-17 Brewer Science, Inc. Acid-sensitive, developer-soluble bottom anti-reflective coatings
US8551686B2 (en) 2009-10-30 2013-10-08 Az Electronic Materials Usa Corp. Antireflective composition for photoresists
WO2013109748A1 (en) * 2012-01-19 2013-07-25 Brewer Science Inc. Nonpolymeric antireflection compositions containing adamantyl groups
KR102115442B1 (ko) * 2012-04-23 2020-05-28 브레우어 사이언스 인코포레이션 감광성의 현상제-가용성 하부 반사-방지 코팅 재료
WO2013165207A1 (ko) * 2012-05-03 2013-11-07 한국화학연구원 신규한 옥심에스테르 플로렌 화합물, 이를 포함하는 광중합 개시제 및 포토레지스트 조성물

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2015517126A5 (ja)
JP6449145B2 (ja) 感光性、現像液可溶性の底面反射防止膜材料
CN1152074C (zh) 用于形成辐射吸收涂层的组合物和由其形成的抗反射涂层
US9291909B2 (en) Composition comprising a polymeric thermal acid generator and processes thereof
JP4918162B2 (ja) 193nmリソグラフィー用の二重層の感光性で現像液に可溶な底面反射防止塗膜
JP6096202B2 (ja) 感光性樹脂組成物、これを用いたパターンの製造方法
TWI564659B (zh) I-line光阻成分及使用其形成精細圖案的方法
TW201245859A (en) Chemically amplified positive-imageable organic insulator composition and method of forming organic insulator using thereof
TWI665525B (zh) 含有具有雜原子的環狀有機基之含矽阻劑底層膜形成組成物
TWI775797B (zh) 多觸發光阻劑組合物及方法
JP6255740B2 (ja) ポジ型感光性樹脂組成物、硬化膜、保護膜、絶縁膜、半導体装置、表示体装置、およびポジ型感光性樹脂組成物の製造方法
TW201921107A (zh) 光酸產生劑以及包含其的厚層用光阻組成物
JP6148967B2 (ja) 積層体、有機半導体製造用キットおよび有機半導体製造用レジスト組成物
CN113227281B (zh) 膜形成用组合物
KR20130107210A (ko) 감방사선성 조성물
KR101733961B1 (ko) 감광성 조성물, 수지 조성물, 경화막 및 그의 제조 방법 그리고 전자 부품
KR20200103771A (ko) 알칼리 가용성 수지 및 가교결합제를 포함하는 네거티브 톤 리프트 오프 레지스트 조성물 및 기판 상에 금속 필름 패턴을 제조하는 방법
TWI832967B (zh) 微透鏡用感光性樹脂組成物
WO2010087232A1 (ja) ネガ型感光性絶縁樹脂組成物及びそれを用いたパターン形成方法
CN110892325B (zh) 光致抗蚀剂组合物
US20210311391A1 (en) Photosensitive resin composition, method for forming resist pattern, method for manufacturing plated formed body, and semiconductor device
JP6878949B2 (ja) 感光性樹脂組成物、樹脂膜及び樹脂膜を備える電子装置
JP6844339B2 (ja) 熱硬化性樹脂組成物
JP5321498B2 (ja) 封止材パターンの形成方法
JP2019161091A (ja) 感光性樹脂組成物および有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法