JP2015203863A - 撮像素子及び撮像装置 - Google Patents
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Abstract
Description
また、前記シアニン色素は、例えば600〜1200nmに極大吸収波長を有し、400〜600nmの範囲の吸収極大波長におけるモル吸光係数と、600〜1200nmの範囲の吸収極大波長におけるモル吸光係数との比が0.1以下のものを使用することができる。
一方、前記赤外光吸収層は、前記シアニン色素と、バインダー樹脂とを含有する樹脂組成物により形成することができる。
そのとき、前記バインダー樹脂としては、400〜600nmに吸収極大波長を有しない熱硬化型又は光硬化型樹脂を用いることができる。
具体的には、前記バインダー樹脂には、シロキサン結合を主骨格とする樹脂を用いることができる。
前記赤外光吸収層は、更に、前記シアニン色素とは吸収極大波長が異なる1又は2種以上の色素を含有していてもよい。
又は、前記赤外光吸収層は、前記シアニン色素を含有する第1吸収層と、前記シアニン色素とは吸収極大波長が異なる色素を含有する第2吸収層とが積層されて構成されていてもよい。
前記赤外光吸収層の厚さは、例えば0.5〜200μmである。
本開示の撮像素子は、前記オンチップレンズを高屈折率材料により形成し、前記平坦化層を前記オンチップレンズよりも屈折率が低い低屈折率材料で形成することができる。
また、前記化学式1におけるX−は、例えば、テトラフルオロアンチモン酸イオン、ビス(ハロゲノアルキルスルホニル)イミドイオン、テトラキス(ハロゲノアルキル)ホウ酸イオン及びビス(ジカルボキシレート)ホウ酸イオンから選択される少なくとも1種のアニオンとすることができる。
更に、前記赤外光吸収層の上には、保護層が設けられていてもよい。
本開示の撮像素子は、高屈折率材料からなる第1反射層と、前記第1反射層よりも低屈折率材料からなる第2反射層とが交互に積層されたバンドパス層を備えていてもよい。
また、本開示の撮像素子は、最上層に光反射防止層が設けられていてもよい。
更に、本開示の撮像素子は、前記オンチップレンズと光電変換層との間にカラーフィルタ層を設けることもできる。
その場合、前記カラーフィルタ層は、600〜1200nmに極大吸収波長を有していてもよい。
本開示の撮像素子は、前記赤外光吸収層を支持する支持基板を有していてもよい。
また、本開示の撮像素子は、前記平坦化層上に接着層を設けることもできる。
また、本開示の撮像装置は、前記撮像素子の光電変換層に入射光を集光する撮像光学系を備え、前記撮像光学系の中又は前記撮像素子と前記撮像光学系との間に、赤外光を吸収又は反射する赤外光カットフィルタが設けられていてもよい。
1.第1の実施形態
(赤外光吸収層を備える撮像素子の例)
2.第2の実施形態
(赤外光吸収層上に保護層が設けられた撮像素子の例)
3.第3の実施形態
(最上層に光反射防止層が設けられた撮像素子の例)
4.第4の実施形態
(赤外光吸収層上に赤外光反射層が設けられた撮像素子の例)
5.第5の実施形態
(支持基板上に赤外光吸収層が形成されている撮像素子の例)
6.第6の実施形態
(赤外光吸収層を備える撮像装置の例)
先ず、本開示の第1の実施形態に係る撮像素子について説明する。図1は本実施形態の撮像素子の構成例を模式的に示す断面図である。本実施形態の撮像素子10は、ビデオカメラやデジタルスチルカメラ等の撮像装置に搭載されるものであり、図1に示すように、オンチップレンズ3、平坦化層4及び赤外光吸収層5等を備えている。具体的には、本実施形態の撮像素子10は、光電変換層1の上に、カラーフィルタ層2、オンチップレンズ3、平坦化層4及び赤外光吸収層5が、この順に形成されている。
光電変換層1は、入射した光を電気信号として検出するものであり、例えばシリコン等の基板11に、複数の光電変換素子12が形成されている。光電変換層1の構造は、特に限定されるものではなく、CCDやCMOS構造等を採用することができる。また、光電変換層1は、光電変換素子12が2次元的(行列状)に配置されたイメージセンサであってもよく、光電変換素子12が1次元的(線状)に配置されたラインセンサであってもよい。
カラーフィルタ層2は、例えば赤色波長帯域を透過させる赤色カラーフィルタ2R、緑色波長帯域を透過させる緑色カラーフィルタ2G及び青色波長帯域を透過させる青色カラーフィルタ2Bの3色のカラーフィルタにより構成されている。なお、カラーフィルタ層2を構成する各カラーフィルタの透過波長は、前述した赤色、緑色及び青色の3色に限定されるものではなく、撮像素子の仕様等に応じて適宜選択することができる。また、各カラーフィルタを形成する材料も、特に限定されるものではなく、公知の材料を用いることができる。
オンチップレンズ3は、入射光を光電変換素子12に集光するものであり、例えば光透過性を有し、屈折率が1.5よりも高い高屈折率材料で形成されている。オンチップレンズ3を形成する高屈折率材料としては、例えばSiN等の高屈折率の無機材料が挙げられるが、エピスルフィド系樹脂、チエタン化合物やその樹脂等の高屈折率の有機材料を用いることもできる。
平坦化層4は、オンチップレンズ3のレンズ形状を吸収し、表面を平坦化するものであり、例えば光透過性を有し、オンチップレンズ3よりも屈折率が小さい低屈折率材料により形成することができる。そして、平坦化層4からオンチップレンズ3に入射した光は、平坦化層4とオンチップレンズ3の界面において屈折し、各オンチップレンズ3に対応する光電変換素子12に集光される。
赤外光吸収層5は、撮像素子10への入射光から赤外光成分を除去するものであり、下記化学式2で表されるシアニン色素を含有しており、例えば平坦化層4上に形成されている。
次に、本実施形態の撮像素子10の動作について説明する。図2は本実施形態の撮像素子10の動作を示す概念図である。図2に示すように、本実施形態の撮像素子10に入射した光(入射光L)は、赤外光吸収層5により赤外光成分が除去される。その後、赤外光成分が除去された入射光Lは、平坦化層4とオンチップレンズ5との界面で屈折し、カラーフィルタ層2の各カラーフィルタ2R、2G、2Bによって、所定波長帯域以外の成分が除去された後、光電変換素子12に集光される。そして、各光電変換素子12に入射した光は、光電変換され、電気信号として出力される。
次に、本開示の第2の実施形態に係る撮像素子について説明する。図3は本実施形態の撮像素子の構成例を模式的に示す断面図である。なお、図3においては、図1に示す第1の実施形態の撮像素子の構成要素と同じものには、同じ符号を付し、その詳細な説明は省略する。
図3に示すように、本実施形態の撮像素子20は、赤外光吸収層5の上面、側面又はその両方に保護層6が形成されている以外は、前述した第1の実施形態の撮像素子10と同様である。なお、図3には、赤外光吸収層5上に保護層6が形成されている例を示しているが、保護層6は赤外光吸収層5の側面上にのみ形成されていてもよく、また、赤外光吸収層5の上面及び側面の両方を覆うように形成することもできる。
保護層6は、赤外光吸収層5を化学的及び物理的に保護するものである。保護層6を形成する材料としては、酸化銀(I)(Ag2O)、一酸化銀(AgO)、酸化アルミニウム(Al2O3)、フッ化アルミニウム(AlF3)、フッ化バリウム(BaF2)、酸化セリウム(IV)(CeO2)、酸化クロム(III)(Cr2O3)、硫化クロム(III)(Cr2S3)、フッ化ガドリニウム(GdF3)、酸化ハフニウム(IV)(HfO2)、酸化インジウム錫(ITO)、フッ化ランタン(LaF3)、ニオブ酸リチウム(LiNbO3)、フッ化マグネシウム(MgF2)、酸化マグネシウム(MgO)、ヘキサフルオロアルミン酸ナトリウム(Na3AlF6)、五酸化ニオブ(Nb2O5)、ニッケルクロム合金(Ni−Cr)、ニッケルクロム合金の窒化物(NiCrNx)、窒酸化物(OxNy)、窒化シリコン(SiN4)、酸化シリコン(SiO)、二酸化シリコン(SiO2)、五酸化タンタル(Ta2O5)、三酸化チタン(Ti2O3)、五酸化チタン(Ti3O5)、酸化チタン(TiO)、二酸化チタン(TiO2)、酸化タングステン(WO3)、酸化イットリウム(Y2O3)、フッ化イットリウム(YF3)、硫化亜鉛(ZnS)、二酸化ジルコニウム(ZrO2)及び酸化インジウム(In2O3)等が挙げられるが、これらに限定されるものではない。
次に、本開示の第3の実施形態に係る撮像素子について説明する。図4は本実施形態の撮像素子の構成例を模式的に示す断面図である。なお、図4においては、図1及び図3に示す第1及び第2の実施形態の撮像素子の構成要素と同じものには、同じ符号を付し、その詳細な説明は省略する。
図4に示すように、本実施形態の撮像素子30は、最上層に光反射防止層7が設けられている以外は、前述した第2の実施形態の撮像素子20と同様である。なお、図4には、保護層6を備える撮像素子を例に示しているが、光反射防止層7は保護層のない撮像素子にも設けることができ、その場合は、赤外光吸収層5の上に光反射防止層7を形成すればよい。
光反射防止層7は、赤外光吸収層5の表面での光反射を抑制するものである。光反射は、屈折率が異なる物質の界面で生じる。そこで、光反射防止層7として、屈折率が赤外光吸収層5と空気の間にある材料からなる層や、高屈折率材料と低屈折率材料を積層した構造の層を設けることにより、赤外光吸収層5の表面での光反射を低減することができる。
次に、本開示の第4の実施形態に係る撮像素子について説明する。図5は本実施形態の撮像素子の構成例を模式的に示す断面図である。なお、図5においては、図1及び図3に示す第1及び第2の実施形態の撮像素子の構成要素と同じものには、同じ符号を付し、その詳細な説明は省略する。
図5に示すように、本実施形態の撮像素子40は、赤外光吸収層5よりも上層にバンドパス層8が設けられている以外は、前述した第1の実施形態の撮像素子10と同様である。なお、本実施形態の撮像素子40においても、前述した第2の実施形態と同様に保護層が設けられていてもよく、その場合、保護層は、バンドパス層8よりも上層に設けられていてもよく、また、バンドパス層8と赤外光吸収層5との間に設けられていてもよい。更に、本実施形態の撮像素子40では、前述した第3の実施形態と同様に、最上層に光反射防止層を設けることもできる。
バンドパス層8は、紫色の光の一部若しくは全部と、それより短い波長の光、赤外光又はその両方を反射(遮蔽)するものであり、高屈折率材料からなる第1反射層と、この第1反射層よりも低屈折率材料からなる第2反射層とが交互に積層された構成となっている。
次に、本開示の第5の実施形態に係る撮像素子について説明する。図6は本実施形態の撮像素子の構成例を模式的に示す断面図である。なお、図6においては、図1に示す第1の実施形態の撮像素子の構成要素と同じものには、同じ符号を付し、その詳細な説明は省略する。
図6に示すように、本実施形態の撮像素子50は、赤外光吸収層5を支持する支持基板51を備えており、赤外光吸収層5は接着層52を介して平坦化層4に積層されている以外は、前述した第1の実施形態の撮像素子10と同様である。なお、本実施形態の撮像素子50においても、前述した第2の実施形態と同様に保護層が設けられていてもよく、また、前述した第3の実施形態と同様に、最上層に光反射防止層を設けることもできる。更に、前述した第4の実施形態と同様に、バンドパス層8が設けられていてもよい。
支持基板51は、赤外光吸収層5を支持可能な強度と透明性を有する材料により形成することができ、ガラスや透明樹脂シート等を用いることができる。
接着層52は、平坦化層4と赤外光吸収層5とを接着可能で、透明性を有する材料により形成することができる。接着層52の材料としては、合成樹脂等が挙げられる。
次に、本開示の第6の実施形態に係る撮像装置について説明する。本実施形態の撮像装置は、前述した第1〜5のいずれかの実施形態の撮像素子と、撮像素子の光電変換層に入射光を集光する撮像光学系等を備えている。本実施形態の撮像装置は、赤外光吸収層を備える撮像素子を用いているため、別途赤外光カットフィルタを設けなくても、入射光に含まれる赤外光を除去することが可能であり、撮像装置の小型化や撮像光学系の薄型化を実現することができる。
(1)
オンチップレンズと、
前記オンチップレンズ上に形成された平坦化層と、
前記平坦化層よりも上層に設けられ、下記化学式(A)で表されるシアニン色素を含有する赤外光吸収層と、
を有する撮像素子。
(ここで、R1及びR2は、鎖状若しくは環状のアルキル基、前記アルキル基中の1又は2以上の水素原子が、ハロゲン原子、アルコキシ基、アルカノイルオキシ基、アミノ基、チオール基及びメルカプト基のうち少なくとも1種の官能基で置換されたもの、前記アルキル基の末端若しくはインドリン環から炭素数が2個以上離れた位置にビニル基、アクリル基、カルボニル基、カルボキシル基、アルケニル基、アルケニルオキシ基、アルコキシカルボニル基、ニトリル基、カルボキシル基、カルボニル基、スルホニル基、スルファモイル基、カルバモイル基、ベンゾイルオキシ基及びシアノ基のうち少なくとも1種の反応性基が導入されたもの、フェニル基又はベンジル基であり、同一でも異なっていてもよい。また、X−は、アニオンを表す。)
(2)
前記シアニン色素は、前記化学式(A)におけるR1及びR2のいずれか一方又は両方が、炭素数が1〜16の直鎖状アルキル基、前記アルキル基の末端にシロキサン、アルコキシシラン、アクリル若しくはエポキシ構造を導入したもの、ポリエーテル基、ベンジル基又はフェニル基である(1)に記載の撮像素子。
(3)
前記シアニン色素は、600〜1200nmに極大吸収波長を有し、かつ400〜600nmの範囲の吸収極大波長におけるモル吸光係数と、600〜1200nmの範囲の吸収極大波長におけるモル吸光係数との比が、0.1以下である(1)又は(2)に記載の撮像素子。
(4)
前記赤外光吸収層は、前記シアニン色素と、バインダー樹脂とを含有する樹脂組成物により形成されている(1)〜(3)のいずれかに記載の撮像素子。
(5)
前記バインダー樹脂は、400〜600nmに吸収極大波長を有しない熱硬化型又は光硬化型樹脂である(4)に記載の撮像素子。
(6)
前記バインダー樹脂は、シロキサン結合を主骨格とする樹脂である(4)又は(5)に記載の撮像素子。
(7)
前記赤外光吸収層は、更に、前記シアニン色素とは吸収極大波長が異なる1又は2種以上の色素を含有する(1)〜(6)のいずれかに記載の撮像素子。
(8)
前記赤外光吸収層は、前記シアニン色素を含有する第1吸収層と、前記シアニン色素とは吸収極大波長が異なる色素を含有する第2吸収層とが積層されて構成されている(1)〜(6)のいずれかに記載の撮像素子。
(9)
前記赤外光吸収層は、厚さが0.5〜200μmである(1)〜(8)のいずれかに記載の撮像素子。
(10)
前記オンチップレンズは高屈折率材料により形成されており、前記平坦化層は前記オンチップレンズよりも屈折率が低い低屈折率材料で形成されている(1)〜(9)のいずれかに記載の撮像素子。
(11)
前記シアニン色素は、前記化学式(A)におけるX−が、テトラフルオロアンチモン酸イオン、ビス(ハロゲノアルキルスルホニル)イミドイオン、テトラキス(ハロゲノアルキル)ホウ酸イオン及びビス(ジカルボキシレート)ホウ酸イオンから選択される少なくとも1種のアニオンである(1)〜(10)のいずれかに記載の撮像素子。
(12)
前記赤外光吸収層の上に保護層が設けられている(1)〜(11)のいずれかに記載の撮像素子。
(13)
前記赤外光吸収層よりも上層に、高屈折率材料からなる第1反射層と、前記第1反射層よりも低屈折率材料からなる第2反射層とが交互に積層された赤外光反射層が設けられている(1)〜(12)のいずれかに記載の撮像素子。
(14)
最上層に光反射防止層が設けられている(1)〜(13)のいずれかに記載の撮像素子。
(15)
前記オンチップレンズと光電変換層との間にカラーフィルタ層が設けられている(1)〜(14)のいずれかに記載の撮像素子。
(16)
前記カラーフィルタ層は、600〜1200nmに極大吸収波長を有する(15)に記載の撮像素子。
(17)
前記赤外光吸収層を支持する支持基板を有する(1)〜(15)のいずれかに記載の撮像素子。
(18)
前記平坦化層上に接着層が設けられている(1)〜(16)のいずれかに記載の撮像素子。
(19)
(1)〜(18)のいずれかに記載の撮像素子を備える撮像装置。
(20)
前記撮像素子の光電変換層に入射光を集光する撮像光学系を備え、
前記撮像光学系の中又は前記撮像素子と前記撮像光学系との間に、赤外光を吸収又は反射する赤外光カットフィルタが設けられている(19)に記載の撮像装置。
2 カラーフィルタ層
3 オンチップレンズ
4 平坦化層
5 赤外光吸収層
6 保護層
7 光反射防止層
8 バンドパス層
10、20、30、40、50 撮像素子
11 基板
12 光電変換素子
51 支持基板
52 接着層
Claims (20)
- オンチップレンズと、
前記オンチップレンズ上に形成された平坦化層と、
前記平坦化層よりも上層に設けられ、下記化学式(A)で表されるシアニン色素を含有する赤外光吸収層と、
を有する撮像素子。
(ここで、R1及びR2は、鎖状若しくは環状のアルキル基、前記アルキル基中の1又は2以上の水素原子が、ハロゲン原子、アルコキシ基、アルカノイルオキシ基、アミノ基、チオール基及びメルカプト基のうち少なくとも1種の官能基で置換されたもの、前記アルキル基の末端若しくはインドリン環から炭素数が2個以上離れた位置にビニル基、アクリル基、カルボニル基、カルボキシル基、アルケニル基、アルケニルオキシ基、アルコキシカルボニル基、ニトリル基、カルボキシル基、カルボニル基、スルホニル基、スルファモイル基、カルバモイル基、ベンゾイルオキシ基及びシアノ基のうち少なくとも1種の反応性基が導入されたもの、フェニル基又はベンジル基であり、同一でも異なっていてもよい。また、X−は、アニオンを表す。) - 前記シアニン色素は、前記化学式(A)におけるR1及びR2のいずれか一方又は両方が、炭素数が1〜16の直鎖状アルキル基、前記アルキル基の末端にシロキサン、アルコキシシラン、アクリル若しくはエポキシ構造を導入したもの、ポリエーテル基、ベンジル基又はフェニル基である請求項1に記載の撮像素子。
- 前記シアニン色素は、600〜1200nmに極大吸収波長を有し、400〜600nmの範囲の吸収極大波長におけるモル吸光係数と、600〜1200nmの範囲の吸収極大波長におけるモル吸光係数との比が、0.1以下である請求項1に記載の撮像素子。
- 前記赤外光吸収層は、前記シアニン色素と、バインダー樹脂とを含有する樹脂組成物により形成されている請求項1に記載の撮像素子。
- 前記バインダー樹脂は、400〜600nmに吸収極大波長を有しない熱硬化型又は光硬化型樹脂である請求項4に記載の撮像素子。
- 前記バインダー樹脂は、シロキサン結合を主骨格とする樹脂である請求項4に記載の撮像素子。
- 前記赤外光吸収層は、更に、前記シアニン色素とは吸収極大波長が異なる1又は2種以上の色素を含有する請求項1に記載の撮像素子。
- 前記赤外光吸収層は、前記シアニン色素を含有する第1吸収層と、前記シアニン色素とは吸収極大波長が異なる色素を含有する第2吸収層とが積層されて構成されている請求項1に記載の撮像素子。
- 前記赤外光吸収層は、厚さが0.5〜200μmである請求項1に記載の撮像素子。
- 前記オンチップレンズは高屈折率材料により形成されており、前記平坦化層は前記オンチップレンズよりも屈折率が低い低屈折率材料で形成されている請求項1に記載の撮像素子。
- 前記シアニン色素は、前記化学式(A)におけるX−が、テトラフルオロアンチモン酸イオン、ビス(ハロゲノアルキルスルホニル)イミドイオン、テトラキス(ハロゲノアルキル)ホウ酸イオン及びビス(ジカルボキシレート)ホウ酸イオンから選択される少なくとも1種のアニオンである請求項1に記載の撮像素子。
- 前記赤外光吸収層の上に保護層が設けられている請求項1に記載の撮像素子。
- 高屈折率材料からなる第1反射層と、前記第1反射層よりも低屈折率材料からなる第2反射層とが交互に積層されたバンドパス層を備える請求項1に記載の撮像素子。
- 最上層に光反射防止層が設けられている請求項1に記載の撮像素子。
- 前記オンチップレンズと光電変換層との間にカラーフィルタ層が設けられている請求項1に記載の撮像素子。
- 前記カラーフィルタ層は、600〜1200nmに極大吸収波長を有する請求項15に記載の撮像素子。
- 前記赤外光吸収層を支持する支持基板を有する請求項1に記載の撮像素子。
- 前記平坦化層上に接着層が設けられている請求項1に記載の撮像素子。
- 請求項1に記載の撮像素子を備える撮像装置。
- 前記撮像素子の光電変換層に入射光を集光する撮像光学系を備え、
前記撮像光学系の中又は前記撮像素子と前記撮像光学系との間に、赤外光を吸収又は反射する赤外光カットフィルタが設けられている請求項19に記載の撮像装置。
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