JP2015202428A - ペースト塗布装置における塗布条件の設定方法、ペースト垂れ下がり状態の検出方法及びペースト塗布方法並びに電子部品実装システム - Google Patents
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Abstract
Description
まず図1及び図2を参照して、本発明の実施の形態1における電子部品実装システムについて説明する。電子部品実装システムは基板に電子部品を実装する機能を有するものであり、ペースト塗布装置M1、電子部品搭載装置M2を含んで成る。ペースト塗布装置は、塗布対象物である基板に対して電子部品接合用の接着剤であるペーストを塗布する。電子部品搭載装置は、ペースト塗布装置よりも下流側(図1の紙面右側)に配設されペースト塗布装置M1においてペーストが塗布された基板に電子部品を搭載する。
次に図10を参照して、本発明の実施の形態2におけるノズル15Aの上昇高さの設定方法について説明する。本実施の形態では、仮設定高さを所定の回数変更して試し塗布及び撮像による画像データの取得を実行し、その後得られた複数の異なる仮設定高さにおける画像データから最適なもの、すなわち最適な「糸切り」状態の仮設定高さを選定して、その仮設定高さをノズル上昇高さとして設定する点で実施の形態1と異なる。まず、上昇高さ設定部53は試し塗布ステージ21上の試し塗布面Sに試し塗布を行う(ST31:試し塗布工程)。次いで、試し塗布後に仮設定高さH3近傍まで上昇したノズル15A及びノズル15Aの昇降経路を側方側から撮像して所望の画像データを取得する(ST32:画像データ取得工程)。
次に図11を参照して、本発明の実施の形態3におけるノズル15Aの上昇高さの設定方法について説明する。本実施の形態においては、1つの仮設定高さH3又は変更後仮設定高さH3aにおいて、複数回の試し塗布及び撮像を実行することで複数個のサンプルを得て、その複数個のサンプルによって1つの仮設定高さH3及び変更後仮設定高さH3aにおける「糸切り」状態の判定を行う点で実施の形態1及び実施の形態2と異なる。ここでは、実施の形態2で説明した方法に基づいて説明する。まず、上昇高さ設定部53は試し塗布面Sに試し塗布を行う(ST41:試し塗布工程)。次いで、試し塗布後に仮設定高さH3近傍まで上昇したノズル15A及びノズル15Aの昇降経路を側方側から撮像して所望の画像データを取得する(ST42:画像データ取得工程)。
6A,6B Y軸移動テーブル(塗布ヘッド移動機構)
10 X軸移動テーブル(ヘッド移動機構)
14A 第1の塗布ヘッド(塗布ヘッド)
14B 第2の塗布ヘッド(塗布ヘッド)
15A 第1のノズル(ノズル)
15B 第2のノズル(ノズル)
16A 第1のモータ(ヘッド昇降機構)
16B 第2のモータ(ヘッド昇降機構)
21 試し塗布ステージ
26 サイドカメラ(撮像手段)
50 制御部
M1 ペースト塗布装置
M2 電子部品搭載装置
S 試し塗布面
H1 上昇高さ
H3 仮設定高さ
H3a 変更後仮設定高さ
P ペースト
Pa ペースト部
Claims (6)
- ペーストを吐出するノズルを有し、前記ノズルによって塗布対象物にペーストを塗布するペースト塗布装置における塗布条件の設定方法であって、
仮設定高さから前記ノズルを下降させて塗布ステージ上に設定された試し塗布面にペーストを試し塗布した後、前記ノズルを前記仮設定高さまで上昇させる試し塗布工程と、
ペーストを試し塗布した後に前記仮設定高さ近傍まで上昇した前記ノズル及び前記ノズルの昇降経路を側方側から撮像することによって画像データを取得する画像データ取得工程と、
前記画像データに基づいて前記ノズルからのペーストの垂れ下がり状態を検出するペースト垂れ下がり状態検出工程と、
ペーストの垂れ下がり状態の検出結果に基づいて、前記塗布対象物にペーストを塗布する際の前記ノズルの上昇高さを設定する上昇高さ設定工程とを含むことを特徴とするペースト塗布装置における塗布条件の設定方法。 - 前記ペースト垂れ下がり状態検出工程において、前記ノズルから垂れ下がるペーストの先端部がその下方に位置する基板上のペースト部に接触していない状態を示す「糸切り」が検出されなかった場合、前記仮設定高さをさらに所定量だけ高くした変更後仮設定高さから前記ノズルを下降させてペーストの試し塗布を再び行う再試し塗布工程と、
試し塗布を再び行った後に前記変更後仮設定高さ近傍まで上昇した前記ノズル及び前記ノズルの昇降経路を側方側から撮像することによって画像データの再取得を行う画像データ再取得工程と、
再取得した画像データから、前記ノズルからのペーストの垂れ下がり状態の検出を再び行うペースト垂れ下がり状態再検出工程とを含み、
前記ペースト垂れ下がり状態再検出工程において「糸切り」が検出された場合、前記上昇高さ設定工程において、前記変更後仮設定高さに基づいて前記塗布対象物にペーストを塗布する際の前記上昇高さを設定することを特徴とする請求項1に記載のペースト塗布装置における塗布条件の設定方法。 - 前記ペースト垂れ下がり状態検出工程において「糸切り」が検出された場合、前記仮設定高さをさらに所定量だけ低く設定した変更後仮設定高さから前記ノズルを下降させてペーストの試し塗布を再び行う再試し塗布工程と、
試し塗布を再び行った後に前記変更後仮設定高さ近傍まで上昇した前記ノズル及び前記ノズルの昇降経路を側方側から撮像することによって画像データの再取得を行う画像データ再取得工程と、
再取得した画像データから、前記ノズルからのペーストの垂れ下がり状態の検出を再び行うペースト垂れ下がり状態再検出工程とを含み、
前記ペースト垂れ下がり状態再検出工程において「糸切り」が検出されない場合、前記上昇高さ設定工程において、「糸切り」を最後に検出したときの前記変更後仮設定高さに基づいて前記塗布対象物にペーストを塗布する際の上昇高さを設定することを特徴とする請求項1に記載のペースト塗布装置における塗布条件の設定方法。 - ペーストを吐出するノズルを有し、前記ノズルを昇降させることによって塗布対象物にペーストを塗布するペースト塗布装置におけるペーストの垂れ下がり状態の検出方法であって、
所定の高さから前記ノズルを下降させて試し塗布ステージ上に設定された試し塗布面にペーストを試し塗布した後、前記ノズルを前記所定の高さまで上昇させる試し塗布工程と、
ペーストを試し塗布した後に前記所定の高さ近傍まで上昇した前記ノズル及び前記ノズルの昇降経路を側方側から撮像することによって画像データを取得する画像データ取得工程と、
前記画像データに基づいて前記ノズルからのペーストの垂れ下がり状態を検出するペースト垂れ下がり状態検出工程とを含むことを特徴とするペースト塗布装置におけるペースト垂れ下がり状態の検出方法。 - ペーストを吐出するノズルを有し、前記ノズルによって塗布対象物にペーストを塗布するペースト塗布装置におけるペースト塗布方法であって、
仮設定高さから前記ノズルを下降させて塗布ステージ上に設定された試し塗布面にペーストを試し塗布する試し塗布工程と、
ペーストを試し塗布した後に前記仮設定高さ近傍まで上昇した前記ノズル及び前記ノズルの昇降経路を側方側から撮像することによって画像データを取得する画像データ取得工程と、
前記画像データに基づいて前記ノズルからのペーストの垂れ下がり状態を検出するペースト垂れ下がり状態検出工程と、
ペーストの垂れ下がり状態の検出結果に基づいて、前記塗布対象物にペーストを塗布する際の前記ノズルの上昇高さを設定する上昇高さ設定工程と、
前記上昇高さ設定工程において設定した上昇高さから前記ノズルを下降させて前記塗布対象物にペーストを塗布し、前記上昇高さまで上昇させるペースト塗布工程とを含むことを特徴とするペースト塗布装置におけるペースト塗布方法。 - 塗布対象物である基板にペーストを塗布するペースト塗布装置と、前記ペースト塗布装置においてペーストが塗布された基板に電子部品を搭載する電子部品搭載装置を含んで成る電子部品実装システムであって、
前記ペースト塗布装置は、ペーストが吐出されるノズルを有する塗布ヘッドと、前記塗布ヘッドを水平方向に移動させるヘッド移動手段と、前記塗布ヘッドを昇降させるヘッド昇降手段と、ペーストが試し塗布される試し塗布ステージと、試し塗布を終えた後の前記ノズル及び前記ノズルの昇降経路を撮像する撮像手段と、前記ヘッド移動手段、ヘッド昇降手段及び撮像手段を制御することによってペーストの塗布動作を実行する制御部とを備え、
前記制御部は、仮設定高さからノズルを下降させて前記塗布ステージ上に設定された試し塗布面にペーストを試し塗布し、ペーストを試し塗布した後に前記仮設定高さ近傍まで上昇した前記ノズル及び前記ノズルの昇降経路を側方側から撮像することによって画像データを取得し、前記画像データに基づいて前記ノズルからのペーストの垂れ下がり状態を検出し、ペーストの垂れ下がり状態の検出結果に基づいて、前記基板にペーストを塗布する際の前記ノズルの上昇高さを設定することを特徴とする電子部品実装システム。
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