JP2015184167A - Icp発光分光分析装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】測定する波長に合わせた適切な集光レンズ位置により原子発光線のロスを最小限に押さえたICP発光分光分析装置を提供する。
【解決手段】ICP発光分光分析装置1は、誘導結合プラズマ発生部10と、集光部20と、分光器30と、制御部50とから概略構成されている。集光部20は、誘導結合プラズマ発生部10と分光器30との間に配置され、集光レンズ21と、入射窓22と、駆動部23と、位置演算部24と、を備えている。位置演算部24は、予め制御部50にインプットされた原子発光線の波長に基づき、集光レンズ21の誘導結合プラズマ発生部10および分光器30に対して、原子発光線の進行方向における最適位置を演算する。演算部24の演算結果に基づいて駆動部23は、集光レンズ21を特定の波長に対して最適化された位置に移動させる。
【選択図】図1
Description
本発明は、溶液試料に含まれる元素(例えば微量不純物元素)の分析を行うICP(Inductively Coupled Plasma;高周波誘導結合プラズマ)発光分光分析装置に関する。
ICP発光分光分析での溶液試料を、誘導結合プラズマ(ICP)で原子化あるいはイオン化し、その際、発光する原子発光線(スペクトル線)を分光分析して微量不純物の定量分析・定性分析を行うのがICP発光分光分析装置である。そして、原子発光線を分光分析するための分光器に効率よく光を入射させるための集光光学系が使用されている(特許文献1)。
しかしながら、従来の固定されたレンズ系では、レンズの材質や形状によって決定される特定の波長を除いた波長に対しては、分光器の入射位置とレンズ系の焦点が異なるため、原子発光線に対する集光率のロスを生じるという問題があった。
色収差に対する対策としては、ミラーを組み合わせた集光系が考えられるが、複数枚のミラーが必要になるためのコスト増や、反射面の劣化などからくる保守効率の悪さなどの課題がある。
本発明は、上記事由に鑑みてなされたものであり、その目的は、測定する波長に合わせた適切な集光レンズ位置により装置の構成を煩雑にすることなく、低コストで原子発光線のロスを最小限に押さえたICP発光分光分析装置を提供することにある。
本発明のICP発光分光分析装置は、分析対象の元素を誘導結合プラズマにより原子化またはイオン化し、原子発光線を得る誘導結合プラズマ発生部と、前記原子発光線を集光する集光レンズと、前記原子発光線を入射窓を介して取り入れた後、分光して検出する分光器と、前記原子発光線の波長に基づき、前記集光レンズの前記誘導結合プラズマ発生部および前記分光器に対して、前記原子発光線の進行方向における最適位置を演算する位置演算部と、前記最適位置に応じて、前記集光レンズを前記誘導結合プラズマ発生部および前記分光器に対し、相対的に移動させる駆動部と、を備える。
本発明のICP発光分光分析装置の一態様として例えば、前記集光レンズの中心点から前記誘導結合プラズマ発生部にて生成された前記誘導結合プラズマまでの水平距離がA、前記集光レンズの中心点から前記入射窓までの水平距離がB、前記原子発光線の波長により決定される前記集光レンズの焦点距離がFのとき、前記位置演算部は、1/A+1/B=1/Fが成立する前記集光レンズの位置を前記最適位置として演算する。
本発明によれば、測定したい原子発光線の波長に基づいて、位置演算部で最適位置を演算し、演算結果に基づいて駆動部により集光レンズを最適位置に移動させている。集光レンズを最適位置に移動させることにより、焦点がずれたことによる感度低下を生じること無く、全ての波長領域において高感度の測定が可能となる。また、波長に合わせた最適位置であれば、分光器に測定に対して適切な強度の原子発光線を入射させることができ、100nmから900nm程度の広範囲の波長を測定するICP発光分光分析装置の性能を発揮することが可能となる。
以下、本発明に係るICP発光分光分析装置の好適な実施形態を、図1〜図3に基づいて詳述する。
図1は、本発明に係るICP発光分光分析装置の一例を示す概念図である。
ICP発光分光分析装置1は、誘導結合プラズマ発生部10と、集光部20と、分光器30と、制御部50とから概略構成されている。誘導結合プラズマ発生部10は、スプレーチャンバ11と、ネブライザー12と、プラズマトーチ13と、高周波コイル14と、ガス制御部15と、高周波電源16とから概略構成されている。集光部20は、誘導結合プラズマ発生部10と分光器30との間に配置され、集光レンズ21と、入射窓22と、駆動部23と、位置演算部24を備えている。
分光器30は、回折格子、ミラー等の光学部品31と、検出器33とを備えている。
ネブライザー12内に供給されたキャリアガス(アルゴンガス)は、スプレーチャンバ11内にネブライザー12の先端から噴出され、キャリアガスの負圧吸引によって試料容器17の溶液試料17aが吸い上げられ、ネブライザー12の先端から試料が噴射される。噴射された溶液試料17aは、スプレーチャンバ11内で粒子の均一化と気流の安定化が図られ、ガス制御部15でコントロールされプラズマトーチ13に導かれる。そして、高周波コイル14に高周波電源16から高周波電流を流し、溶液試料17aの試料分子(又は原子)は加熱・励起されて発光し、プラズマトーチ13の上方で誘導結合プラズマ18(以下、プラズマと述べる)を生成する。
溶液試料17aの分析対象となる元素をプラズマ18により原子化又はイオン化された原子発光線は、集光部20に入射し、集光レンズ21で集光されて入射窓22を介して分光器30内に入射する。集光レンズ21は、駆動部23に支持され、位置演算部24の指令により分光器30に対して相対的に集光部20内を移動する(図中両矢印参照)。位置演算部24は、予めコンピュータ等からなる制御部50にインプットされた原子発光線の波長に基づき、集光レンズ21の誘導結合プラズマ発生部10および分光器30に対して、原子発光線の進行方向における最適位置を演算する。演算部24の演算結果に基づいて駆動部23は、集光レンズ21を特定の波長に対して最適化された位置(最適位置)に移動させる。
原子発光線は、真空になっている分光器30内の光学部品31により分光され、検出器33で検出される。分光器30で分光され検出された原子発光線は、制御部50でデータ処理して解析され、原子発光線(スペクトル線)の波長から溶液試料17aに含まれる元素(例えば微量不純物元素)の定性分析と原子発光線(スペクトル線)の強度から元素の定量分析が行われる。
図2は、本発明に係るICP発光分光分析装置の集光レンズを中心とした位置関係を示す模式図である。
図2では、集光レンズ21の中心点から誘導結合プラズマ発生部10にて生成されたプラズマ18までの水平距離がA、集光レンズ21の中心点から入射窓22までの水平距離がB、原子発光線の波長により決定される集光レンズ21の焦点距離がFとしている。プラズマ18と集光レンズ21と結像位置である入射窓22との関係式は、1/A+1/B=1/Fで表される。ここで、焦点距離Fは波長によって決まる。そして、位置演算部24は、1/A+1/B=1/Fが成立する集光レンズ21の位置を最適位置として演算することが可能となる。
効果をわかりやすくするために、下記のような光学系を仮定して、原子発光線の入射窓22に対する通過光量(%)を比較した。
原子発光線を点光源として、光軸となす角度を3.5とする光線を用い、プラズマ18と入射窓22までの距離(A+B)を300mmに固定した。集光レンズ21の大きさは、曲率半径R55、厚み15mm、有効口径φ50で材質が石英からなる凸レンズ形状を採用した。そして、入射窓22の大きさは20μm×20μmの正方形とした。以上の条件に基づいて、プラズマ18からの原子発光線の何%(通過光量)が入射窓22を通過するかを比較した。
解析(1):距離A(集光レンズ21の中心点からプラズマ18までの水平距離)を80.55cmとして、600nmの原子発光線の入射窓22を通過する通過光量を計算。
解析(2):距離Aを80.55cmとして、300nmの光が入射窓22を通過する通過光量を計算。
解析(3):距離Aを89.37cmとして、600nmの原子発光線の入射窓22を通過する通過光量を計算。
解析(2):距離Aを80.55cmとして、300nmの光が入射窓22を通過する通過光量を計算。
解析(3):距離Aを89.37cmとして、600nmの原子発光線の入射窓22を通過する通過光量を計算。
ここで、解析(1)と(3)は集光レンズ21の焦点Fがスリットの位置と一致しており、解析(2)のみ集光レンズ21の焦点Fと入射窓22の位置が一致していない。
それぞれの計算結果を以下に示す。
解析(1):入射窓22を通過する原子発光線は0.52%。
解析(2):入射窓22を通過する原子発光線は0.04%。
解析(3):入射窓22を通過する原子発光線は0.81%。
解析(1):入射窓22を通過する原子発光線は0.52%。
解析(2):入射窓22を通過する原子発光線は0.04%。
解析(3):入射窓22を通過する原子発光線は0.81%。
以上の結果から、焦点Fが合っていない状態だと、原子発光線の強度が0.52%から0.04%に低下してしまうが、焦点位置を調整することにより、原子発光線の0.81%を分光器30に入射させることができる。このことから、集光レンズ21を移動させることにより、20倍の強度の原子発光線が分光器30に入射することになる。
本発明のICP発光分光分析装置1は、測定したい原子発光線の波長に基づいて、位置演算部24で最適位置を演算し、演算結果に基づいて駆動部23により集光レンズ21を最適位置に移動させている。集光レンズ21を最適位置に移動させることにより、焦点Fがずれたことによる感度低下を生じること無く、全ての波長領域において高感度の測定が可能となる。また、波長に合わせた最適位置であれば、分光器30に測定に対して適切な強度の原子発光線を入射させることができ、100nmから900nm程度の広範囲の波長を測定するICP発光分光分析装置1の性能を発揮することが可能となる。
図3は、本発明に係るICP発光分光分析装置のブロック図である。ブロック図を用いて具体的操作方法を説明する。
(1)実験者が測定したい波長を制御部50にインプットする。
(2)制御部50は、入力された波長データを基に駆動部23の、例えばステッピングモータのパルス数を演算する。
(3)演算されたパルス数を基に位置演算部24は、集光レンズ21の最適位置を算出する。
(4)位置演算部24の指令により駆動部23は、集光レンズ21を最適位置に移動させる。
(5)高周波電源16から高周波電流を流し、溶液試料17aの試料分子(又は原子)は加熱・励起されて発光させ、プラズマ18を生成する。
(2)制御部50は、入力された波長データを基に駆動部23の、例えばステッピングモータのパルス数を演算する。
(3)演算されたパルス数を基に位置演算部24は、集光レンズ21の最適位置を算出する。
(4)位置演算部24の指令により駆動部23は、集光レンズ21を最適位置に移動させる。
(5)高周波電源16から高周波電流を流し、溶液試料17aの試料分子(又は原子)は加熱・励起されて発光させ、プラズマ18を生成する。
分光器30を通過し、検出器33で増幅信号に変換された原子発光線は、増幅演算部51で演算され、制御部50に測定データとして記録される。増幅演算部51は、分光器30に対しては波長掃引制御を行い、検出器33に対しては検出器電圧や積分時間などの制御を行う。
上述の操作方法は一例であり、実験者がプラズマ18により原子化又はイオン化された原子発光線の波長を測定して、集光レンズ21の位置を微調整して原子発光線の強度の最大値を検出する位置に集光レンズ21を移動させても良い。
尚、実験者が測定したい波長を基に、プラズマ18や分光器30の最適位置を計算して、プラズマ18や分光器30を最適位置に移動することも可能である。
尚、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、適宜、変形、改良、等が可能である。その他、上述した実施形態における各構成要素の材質、形状、寸法、数値、形態、数、配置箇所、等は本発明を達成できるものであれば任意であり、限定されない。
本発明に係るICP発光分光分析装置は、波長に合わせた最適位置に集光レンズを移動させる用途に適用可能である。
1:ICP発光分光分析装置
10:誘導結合プラズマ発生部
18:誘導結合プラズマ
20:集光部
21:集光レンズ
22:入射窓
23:駆動部
24:位置演算部
30:分光器
33:検出器
50:制御部
10:誘導結合プラズマ発生部
18:誘導結合プラズマ
20:集光部
21:集光レンズ
22:入射窓
23:駆動部
24:位置演算部
30:分光器
33:検出器
50:制御部
Claims (2)
- 分析対象の元素を誘導結合プラズマにより原子化またはイオン化し、原子発光線を得る誘導結合プラズマ発生部と、
前記原子発光線を集光する集光レンズと、
前記原子発光線を入射窓を介して取り入れた後、分光して検出する分光器と、
前記原子発光線の波長に基づき、前記集光レンズの前記誘導結合プラズマ発生部および前記分光器に対して、前記原子発光線の進行方向における最適位置を演算する位置演算部と、
前記最適位置に応じて、前記集光レンズを前記誘導結合プラズマ発生部および前記分光器に対し、相対的に移動させる駆動部と、
を備えるICP発光分光分析装置。 - 請求項1に記載のICP発光分光分析装置であって、
前記集光レンズの中心点から前記誘導結合プラズマ発生部にて生成された前記誘導結合プラズマまでの水平距離がA、前記集光レンズの中心点から前記入射窓までの水平距離がB、前記原子発光線の波長により決定される前記集光レンズの焦点距離がFのとき、前記位置演算部は、1/A+1/B=1/Fが成立する前記集光レンズの位置を前記最適位置として演算する、ICP発光分光分析装置。
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JP2015184167A true JP2015184167A (ja) | 2015-10-22 |
Family
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Family Applications (1)
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JP2014061612A Pending JP2015184167A (ja) | 2014-03-25 | 2014-03-25 | Icp発光分光分析装置 |
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JP (1) | JP2015184167A (ja) |
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