JP2015169645A - 試験装置および接続ユニット - Google Patents
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Abstract
Description
なお、関連する先行技術文献として下記の文献がある。
特開2011−128159号公報
Claims (11)
- 被試験デバイスを試験する試験装置であって、
前記被試験デバイスが着脱可能に接続されるインタポーザと、
前記インタポーザに固定された試験用デバイスと、
前記インタポーザに接続され、前記試験用デバイスを介さずに前記被試験デバイスに試験信号を入力する試験部と
を備え、
前記試験用デバイスは、前記被試験デバイスが出力する信号に応じて動作する試験装置。 - 前記試験用デバイスは、前記被試験デバイスからの信号に応じて動作し、動作結果に応じた信号を前記被試験デバイスに入力する
請求項1に記載の試験装置。 - 前記試験用デバイスは、前記インタポーザの外部と直接には電気信号を入出力しない
請求項2に記載の試験装置。 - 前記試験用デバイスは、無線通信または光通信により、前記インタポーザの外部と信号を入出力する
請求項3に記載の試験装置。 - 前記試験用デバイスは、前記インタポーザに設けられた配線を介して、前記被試験デバイスと信号を入出力する
請求項1から4のいずれか一項に記載の試験装置。 - 前記試験用デバイスは、無線通信または光通信により、前記被試験デバイスと信号を入出力する
請求項1から4のいずれか一項に記載の試験装置。 - 前記試験用デバイスは、前記被試験デバイスからの信号を記憶するメモリ部を有する
請求項1から6のいずれか一項に記載の試験装置。 - 前記試験用デバイスは、前記被試験デバイスに入力する信号を生成する信号生成部および前記被試験デバイスからの信号を処理する信号処理部の少なくとも一方を有する
請求項1から6のいずれか一項に記載の試験装置。 - 前記被試験デバイスを前記インタポーザに押圧する押圧部を更に備える
請求項1から8のいずれか一項に記載の試験装置。 - 前記インタポーザは、
前記試験用デバイスを前記被試験デバイスに接続する第1配線と、
前記試験部を前記被試験デバイスに接続し、前記第1配線よりも配線幅の大きい第2配線と
を有する請求項1から9のいずれか一項に記載の試験装置。 - 被試験デバイスを試験部に接続する接続ユニットであって、
前記被試験デバイスが着脱可能に接続されるインタポーザと、
前記インタポーザに固定された試験用デバイスと
を備え、
前記インタポーザは、前記試験用デバイスを介さずに前記被試験デバイスと前記試験部との間で信号を伝送する接続ユニット。
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