JP2015089055A - 光学モジュールおよび原子発振器 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光学モジュール100は、光を射出する面発光レーザー10と、面発光レーザー10から射出された光が照射され、かつ、当該照射された光の偏光状態を解消する偏光解消素子20と、偏光解消素子20を透過した光が照射される偏光素子30と、偏光素子30を透過した光が照射され、かつ、偏光素子30の偏光透過軸に対して速軸が45度回転して設けられるλ/4板40と、アルカリ金属ガスが封入され、かつ、λ/4板40を透過した光が照射されるガスセル50と、ガスセル50を透過した光の強度を検出する光検出部60と、を含む。
【選択図】図1
Description
Trapping)を利用した原子発振器が提案され、装置の小型化や低消費電力化が期待されている。CPTを利用した原子発振器は、アルカリ金属原子に異なる2種類の波長(周波数)を有するコヒーレント光を照射すると、コヒーレント光の吸収が停止する電磁誘起透過現象(EIT現象:Electromagnetically Induced Transparency)を利用した発振器である。
原子発振器の光学モジュールであって、
光を射出する面発光レーザーと、
前記面発光レーザーから射出された光が照射され、かつ、当該照射された光の偏光状態を解消する偏光解消素子と、
前記偏光解消素子を透過した光が照射される偏光素子と、
前記偏光素子を透過した光が照射され、かつ、前記偏光素子の偏光透過軸に対して速軸が45度回転して設けられるλ/4板と、
アルカリ金属ガスが封入され、かつ、前記λ/4板を透過した光が照射されるガスセルと、
前記ガスセルを透過した光の強度を検出する光検出部と、
を含む。
前記偏光解消素子は、前記偏光解消素子に照射された光を、前記偏光解消素子を通過する場所によって異なる偏光状態にしてもよい。
前記偏光解消素子は、前記偏光解消素子に照射された光を、前記偏光解消素子を通過する時間によって異なる偏光状態にしてもよい。
前記面発光レーザーから射出される光の偏光方向は、第1の方向から前記第1の方向と直交する第2の方向に変化させてもよい。
本発明に係る光学モジュールを含む。
まず、本実施形態に係る光学モジュールについて、図面を参照しながら説明する。ここでは、本実施形態に係る光学モジュールを原子発振器に適用した例について説明する。図1は、本実施形態に係る光学モジュール100を含んで構成された原子発振器1を示すブロック図である。
円偏光の長軸とは、光の電場の振動ベクトルの先端が楕円運動する楕円偏光において、この振動ベクトルの先端が描く楕円の長軸をいう。また、楕円偏光の短軸とは、当該楕円の短軸をいう。なお、図1では、偏光光を実線の白抜き矢印で示し、無偏光の光を点線の白抜き矢印で示し、電場の振動ベクトルの先端が円運動をする光(円偏光の光)を破線の白抜き矢印で示している。
ある。偏光素子30は、偏光解消素子20で偏光状態が解消された光、例えば無偏光の光を、偏光光に変換する。このとき、偏光素子30を透過する偏光光の偏光方向は、偏光透過軸30tの方向である。
子、セシウム原子等)が封入されたものである。このガスセル50に対して、アルカリ金属原子の2つの基底準位のエネルギー差に相当する周波数(波長)を有する2つの光波が照射されると、アルカリ金属原子がEIT現象を起こす。例えば、アルカリ金属原子がセシウム原子であれば、D1線における基底準位GL1と基底準位GL2のエネルギー差に相当する周波数が9.19263・・・GHzなので、周波数差が9.19263・・・GHzの2つの光波が照射されるとEIT現象を起こす。
次に、光学モジュール100の動作について、図1〜図3を参照しながら説明する。
ル100では、面発光レーザー10が射出する偏光光の偏光方向が90度回転しても、λ/4板40に入射する偏光光の偏光方向、およびその光量を一定にすることができるため、ガスセル50に照射される円偏光の回転方向および光量を一定にすることができる。
本実施形態に係る光学モジュール100は、例えば、以下の特徴を有する。
ことができる。したがって、光学モジュール100によれば、上述した問題が生じないため、原子発振器1の周波数安定性を高めることができる。
結果が同一の構成、あるいは目的及び効果が同一の構成)を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成又は同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。
Claims (5)
- 原子発振器の光学モジュールであって、
光を射出する面発光レーザーと、
前記面発光レーザーから射出された光が照射され、かつ、当該照射された光の偏光状態を解消する偏光解消素子と、
前記偏光解消素子を透過した光が照射される偏光素子と、
前記偏光素子を透過した光が照射され、かつ、前記偏光素子の偏光透過軸に対して速軸が45度回転して設けられるλ/4板と、
アルカリ金属ガスが封入され、かつ、前記λ/4板を透過した光が照射されるガスセルと、
前記ガスセルを透過した光の強度を検出する光検出部と、
を含む、ことを特徴とする光学モジュール。 - 前記偏光解消素子は、前記偏光解消素子に照射された光を、前記偏光解消素子を通過する場所によって異なる偏光状態にする、ことを特徴とする請求項1に記載の光学モジュール。
- 前記偏光解消素子は、前記偏光解消素子に照射された光を、前記偏光解消素子を通過する時間によって異なる偏光状態にする、ことを特徴とする請求項1に記載の光学モジュール。
- 前記面発光レーザーから射出される光の偏光方向は、第1の方向から前記第1の方向と直交する第2の方向に変化する、ことを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載の光学モジュール。
- 請求項1ないし4のいずれか1項に記載の光学モジュールを含む、ことを特徴とする原子発振器。
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Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10267756A (ja) * | 1997-03-28 | 1998-10-09 | Hoya Corp | 光スペクトラムアナライザ |
JP2000338154A (ja) * | 1999-03-25 | 2000-12-08 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | 反射型光変調器及び電界測定装置 |
JP2001196668A (ja) * | 1999-11-12 | 2001-07-19 | Agilent Technol Inc | 光 源 |
JP2003202272A (ja) * | 2002-01-08 | 2003-07-18 | Hitachi Cable Ltd | 高速波長検出装置 |
JP2004341453A (ja) * | 2003-05-19 | 2004-12-02 | Minolta Co Ltd | 偏光解消素子、その素子を用いた分光器及び光ファイバー増幅器 |
JP2010206160A (ja) * | 2009-02-06 | 2010-09-16 | Seiko Epson Corp | 量子干渉装置、原子発振器、および磁気センサー |
JP2013021278A (ja) * | 2011-07-14 | 2013-01-31 | Fuji Xerox Co Ltd | 面発光型半導体レーザ、面発光型半導体レーザ装置、光伝送装置および情報処理装置 |
JP2013098606A (ja) * | 2011-10-28 | 2013-05-20 | Seiko Epson Corp | 原子発振器 |
Family Cites Families (9)
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---|---|---|---|---|
US20100182582A1 (en) * | 2005-06-13 | 2010-07-22 | Asml Netherlands B.V, | Passive reticle tool, a lithographic apparatus and a method of patterning a device in a lithography tool |
JP4720635B2 (ja) | 2006-06-14 | 2011-07-13 | エプソントヨコム株式会社 | 原子発振器、受動形原子発振器、原子発振器の温度制御方法及び受動形原子発振器の温度制御方法 |
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JP5568019B2 (ja) * | 2008-02-07 | 2014-08-06 | ガン,ラハブ | 原子共振器を使用した周波数発生のためのデバイス、システム、および方法 |
US8237514B2 (en) * | 2009-02-06 | 2012-08-07 | Seiko Epson Corporation | Quantum interference device, atomic oscillator, and magnetic sensor |
JP2012191138A (ja) * | 2011-03-14 | 2012-10-04 | Seiko Epson Corp | ガスセルユニット、原子発振器および電子装置 |
JP6179327B2 (ja) * | 2013-09-30 | 2017-08-16 | セイコーエプソン株式会社 | 量子干渉装置、原子発振器、電子機器および移動体 |
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Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10267756A (ja) * | 1997-03-28 | 1998-10-09 | Hoya Corp | 光スペクトラムアナライザ |
JP2000338154A (ja) * | 1999-03-25 | 2000-12-08 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | 反射型光変調器及び電界測定装置 |
JP2001196668A (ja) * | 1999-11-12 | 2001-07-19 | Agilent Technol Inc | 光 源 |
JP2003202272A (ja) * | 2002-01-08 | 2003-07-18 | Hitachi Cable Ltd | 高速波長検出装置 |
JP2004341453A (ja) * | 2003-05-19 | 2004-12-02 | Minolta Co Ltd | 偏光解消素子、その素子を用いた分光器及び光ファイバー増幅器 |
JP2010206160A (ja) * | 2009-02-06 | 2010-09-16 | Seiko Epson Corp | 量子干渉装置、原子発振器、および磁気センサー |
JP2013021278A (ja) * | 2011-07-14 | 2013-01-31 | Fuji Xerox Co Ltd | 面発光型半導体レーザ、面発光型半導体レーザ装置、光伝送装置および情報処理装置 |
JP2013098606A (ja) * | 2011-10-28 | 2013-05-20 | Seiko Epson Corp | 原子発振器 |
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