JP2015017930A - 検査装置 - Google Patents
検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2015017930A JP2015017930A JP2013146210A JP2013146210A JP2015017930A JP 2015017930 A JP2015017930 A JP 2015017930A JP 2013146210 A JP2013146210 A JP 2013146210A JP 2013146210 A JP2013146210 A JP 2013146210A JP 2015017930 A JP2015017930 A JP 2015017930A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- metal mask
- mask sheet
- tension
- inspection
- deflection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
- H01L22/30—Structural arrangements specially adapted for testing or measuring during manufacture or treatment, or specially adapted for reliability measurements
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
Description
Claims (3)
- メタルマスクフレームに取付けられる前のメタルマスクシートに対して、予め設定された所定の検査用張力を付与する少なくとも一つの張力部と、
前記張力部により前記メタルマスクシートに張力が付与された状態において、前記メタルマスクシートの寸法を測定する寸法測定部、前記メタルマスクシートの撓みを測定する撓み測定部、及び前記メタルマスクシートの外観の欠陥を検査する外観検査部の中の少なくとも一つを有する検査装置。 - 請求項1による検査結果に基づいて、前記メタルマスクシートがメタルマスクの製造に用いる部材として適切か否かを判定、又は前記メタルマスクシートをランク分けする判定部を備えることを特徴とする検査装置。
- 前記張力部により前記メタルマスクシートに付与する張力を変化させる調節部と、
前記調節部により張力を変化させながら前記寸法測定部に前記メタルマスクシートの寸法を測定させること、及び前記調節部により張力を変化させながら前記撓み測定部に前記メタルマスクシートの撓みを測定させることの少なくとも一方を実行させる制御部と、
前記制御部を用いた測定結果に基づいて、前記メタルマスクシートに付与された張力と前記メタルマスクシートの伸び量、及び前記メタルマスクシートに付与された張力と前記メタルマスクシートの撓み量の関係の少なくとも一方を算出する算出部と
を備えることを特徴とする請求項1または2記載の検査装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013146210A JP6193028B2 (ja) | 2013-07-12 | 2013-07-12 | 検査装置 |
CN201310447050.XA CN104282589B (zh) | 2013-07-12 | 2013-09-25 | 检查装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013146210A JP6193028B2 (ja) | 2013-07-12 | 2013-07-12 | 検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015017930A true JP2015017930A (ja) | 2015-01-29 |
JP6193028B2 JP6193028B2 (ja) | 2017-09-06 |
Family
ID=52257362
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013146210A Active JP6193028B2 (ja) | 2013-07-12 | 2013-07-12 | 検査装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6193028B2 (ja) |
CN (1) | CN104282589B (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109428012A (zh) * | 2017-09-04 | 2019-03-05 | 三星显示有限公司 | 用于制造显示装置的设备 |
JP2019066400A (ja) * | 2017-10-04 | 2019-04-25 | 新東エスプレシジョン株式会社 | 検査装置及び検査方法 |
JP2020079766A (ja) * | 2018-11-14 | 2020-05-28 | 株式会社ダイフク | 物品情報取得システム |
KR20230067199A (ko) * | 2021-11-09 | 2023-05-16 | (주)샘테크 | 메탈 마스크 검사기 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102304697B1 (ko) * | 2020-05-27 | 2021-09-24 | (주)엠시스 | 메탈 마스크 검사 장치 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10296473A (ja) * | 1997-02-06 | 1998-11-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レーザ加工装置およびレーザ加工方法 |
JP2001062996A (ja) * | 1999-08-26 | 2001-03-13 | Toshiba Corp | メタルマスクのテンション測定方法及びその装置並びにテンション履歴管理方法及びその装置 |
JP2006310183A (ja) * | 2005-04-28 | 2006-11-09 | Dainippon Printing Co Ltd | 金属テープの取り付け方法、マスクユニットの製造方法及びテンション付加用治具 |
JP2009129728A (ja) * | 2007-11-26 | 2009-06-11 | Toppan Printing Co Ltd | メタルマスク用保持具およびメタルマスクの検査方法ならびに搬送方法 |
CN102717187A (zh) * | 2011-03-31 | 2012-10-10 | 昆山允升吉光电科技有限公司 | 金属掩模板组装机 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4293822B2 (ja) * | 2003-04-10 | 2009-07-08 | 大日本印刷株式会社 | 金属薄板の枠貼り方法及び装置 |
KR20110027979A (ko) * | 2009-09-11 | 2011-03-17 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 마스크 불량 검사 장치 |
-
2013
- 2013-07-12 JP JP2013146210A patent/JP6193028B2/ja active Active
- 2013-09-25 CN CN201310447050.XA patent/CN104282589B/zh active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10296473A (ja) * | 1997-02-06 | 1998-11-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | レーザ加工装置およびレーザ加工方法 |
JP2001062996A (ja) * | 1999-08-26 | 2001-03-13 | Toshiba Corp | メタルマスクのテンション測定方法及びその装置並びにテンション履歴管理方法及びその装置 |
JP2006310183A (ja) * | 2005-04-28 | 2006-11-09 | Dainippon Printing Co Ltd | 金属テープの取り付け方法、マスクユニットの製造方法及びテンション付加用治具 |
JP2009129728A (ja) * | 2007-11-26 | 2009-06-11 | Toppan Printing Co Ltd | メタルマスク用保持具およびメタルマスクの検査方法ならびに搬送方法 |
CN102717187A (zh) * | 2011-03-31 | 2012-10-10 | 昆山允升吉光电科技有限公司 | 金属掩模板组装机 |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109428012A (zh) * | 2017-09-04 | 2019-03-05 | 三星显示有限公司 | 用于制造显示装置的设备 |
CN109428012B (zh) * | 2017-09-04 | 2023-07-18 | 三星显示有限公司 | 用于制造显示装置的设备 |
JP2019066400A (ja) * | 2017-10-04 | 2019-04-25 | 新東エスプレシジョン株式会社 | 検査装置及び検査方法 |
JP2020079766A (ja) * | 2018-11-14 | 2020-05-28 | 株式会社ダイフク | 物品情報取得システム |
JP7162503B2 (ja) | 2018-11-14 | 2022-10-28 | 株式会社ダイフク | 物品情報取得システム |
KR20230067199A (ko) * | 2021-11-09 | 2023-05-16 | (주)샘테크 | 메탈 마스크 검사기 |
KR102649699B1 (ko) | 2021-11-09 | 2024-03-20 | (주)샘테크 | 메탈 마스크 검사기 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6193028B2 (ja) | 2017-09-06 |
CN104282589A (zh) | 2015-01-14 |
CN104282589B (zh) | 2017-03-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6193028B2 (ja) | 検査装置 | |
KR100863700B1 (ko) | 비전 검사 시스템 및 이것을 이용한 피검사체의 검사 방법 | |
KR100911330B1 (ko) | 어레이 테스트 장치와, 상기 어레이 테스트 장치의 기판 일지점 위치 측정 방법과, 카메라 어셈블리에 촬상된 특정 위치좌표 측정 방법 | |
US9612208B2 (en) | Apparatus and method of testing a stick | |
JP6176789B2 (ja) | 電子部品検査装置 | |
US20100063619A1 (en) | System and method for inspection of chips on tray | |
WO2013145839A1 (ja) | 欠陥検出装置 | |
JP2013250101A (ja) | 基板検査装置および基板検査方法 | |
JP5963129B2 (ja) | 印刷検査装置、印刷検査システム、検査データの統計方法、プログラム及び基板の製造方法 | |
CN1670939A (zh) | 标记方法及标记装置和检查装置 | |
CN114127533A (zh) | 边缘强度测试方法及设备 | |
JPWO2012077542A1 (ja) | ガラス基板 | |
US6762846B1 (en) | Substrate surface profile and stress measurement | |
TWI729044B (zh) | 移動感測器座標檢測系統 | |
JP2012163370A (ja) | インライン基板検査方法及び装置 | |
KR100820752B1 (ko) | 평판표시소자의 프로브 검사장치 및 이를 이용한 프로브검사방법 | |
KR20070091236A (ko) | 결함 입자 측정 장치 및 결함 입자 측정 방법 | |
US9151719B2 (en) | Inspection apparatus | |
JP2010156685A (ja) | アレイテスト装置及び該アレイテスト装置の基板一地点位置測定方法 | |
JP5430996B2 (ja) | 回路基板検査装置 | |
JP6277347B2 (ja) | 可撓性回路基板を対象とする検査装置及び検査方法 | |
JP6986916B2 (ja) | 検査装置及び検査方法 | |
JP6775389B2 (ja) | 外観検査装置および外観検査方法 | |
JP6202385B2 (ja) | 蒸着マスクの検査方法および蒸着マスクの検査装置 | |
CN111812099A (zh) | 检测设备及检测方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160615 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20161227 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170215 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170725 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20170809 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6193028 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |