KR100820752B1 - 평판표시소자의 프로브 검사장치 및 이를 이용한 프로브검사방법 - Google Patents
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Abstract
Description
상기 오차 측정기는, 구동 장치에 의해 하강되는 상기 프로브 헤드의 일측에 부착되어 상기 타겟 픽셀을 촬상하는 카메라; 및 상기 타겟 픽셀의 중심점과 촬영된 셀 서치 영역의 중심점 간의 상대적 위치를 입력받은 후 형상 인식을 통해 좌표값을 측정하는 보정 프로그램을 이용하여 상기 프로브 핀의 위치 좌표값을 측정함과 아울러, 상기 보정 프로그램을 이용하여 소정의 기준 좌표값에 대한 상기 위치 좌표값의 오차값을 산출하는 오차 측정부를 구비한다.
상기 오차 측정부는, 입력되는 영상 프레임들의 표준 편차값을 산출하며, N번째 프레임과 N-1번째 프레임의 표준 편차값을 비교하여 표준 편차값의 차이가 최대가 될 때의 프레임을 초점이 맞는 프레임으로 인식한다.
상기 기준 좌표값은, 상기 오차 측정부에 미리 입력된 상기 원장 글라스의 보정 격자별 위치 정보이다.
또한, 화소전극들 및 패드들이 형성된 원장 글라스의 전기적 특성을 검사하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 평판표시소자의 프로브 검사방법은, 프로브 핀이 상기 원장 글라스의 타겟 픽셀에 접촉되도록 상기 프로브 핀을 지지하는 프로브 헤드를 소정의 기준 좌표값에 따라 상기 타겟 픽셀 상으로 이동시키는 단계와; 상기 타겟 픽셀에서의 상기 프로브 핀의 위치 좌표값을 측정하여 측정한 위치 좌표값과 상기 소정의 기준좌표값 간의 오차값을 산출하는 단계와; 산출된 상기 오차값만큼 리니어 모터의 구동을 제어하여 상기 프로브 핀의 위치 좌표값이 상기 소정의 기준좌표값에 일치되도록 하는 단계를 포함한다.
상기 목적 외에 본 발명의 다른 목적 및 특징들은 첨부도면을 참조한 실시 예에 대한 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.
오차 측정기(155)는 구동 장치에 의해 하강되는 상기 프로브 헤드의 일측에 부착되어 타겟 픽셀을 촬상하는 카메라(150)와, 타겟 픽셀의 중심점과 촬영된 셀 서치 영역의 중심점(십자선 얼라인 마크) 간의 상대적 위치를 입력받아 형상 인식을 통해 좌표값을 측정하는 보정 프로그램을 이용하여 프로브 핀(160)의 위치 좌표값을 측정함과 아울러, 상기 보정 프로그램을 이용하여 소정의 기준 좌표값에 대한 상기 위치 좌표값의 오차값을 산출하는 오차 측정부(152)를 포함한다.
한편, 오차 측정부(152)는 카메라 초점이 맞을 때의 카메라 위치값(Z 좌표값)을 상기 오차값(X Y 좌표값)과 함께 저장한 후 제어부(180)로 공급한다. 카메라 초점이 맞을 때의, 즉 오토 포커싱이 이뤄진 후의 카메라 위치값은 제어부로 공급되어 이 후의 셀 얼라인 단계 수행시 장비의 동작시간을 단축시키는 데 사용된다.
Claims (8)
- 화소전극들 및 패드들이 형성된 원장 글라스의 전기적 특성을 검사하기 위한 평판표시소자의 프로브 검사장치에 있어서,상기 원장 글라스의 타겟 픽셀에 접촉되는 프로브 핀과;상기 프로브 핀을 지지하기 위한 프로브 헤드와;소정의 기준 좌표값에 따라 상기 프로브 헤드를 상기 타겟 픽셀 상으로 이동시키기 위한 리니어 모터와;상기 타겟 픽셀 상에서의 상기 프로브 핀의 위치 좌표값을 측정하여 측정된 위치 좌표값과 상기 소정의 기준 좌표값 간의 오차값을 산출하기 위한 오차 측정기와;산출된 상기 오차값만큼 상기 리니어 모터의 구동을 제어하여 상기 프로브 핀의 위치 좌표값이 상기 소정의 기준 좌표값에 일치되도록 하는 제어부를 구비하는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 프로브 검사장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 오차 측정기는,구동 장치에 의해 하강되는 상기 프로브 헤드의 일측에 부착되어 상기 타겟 픽셀을 촬상하는 카메라; 및상기 타겟 픽셀의 중심점과 촬영된 셀 서치 영역의 중심점 간의 상대적 위치를 입력받은 후 형상 인식을 통해 좌표값을 측정하는 보정 프로그램을 이용하여 상기 프로브 핀의 위치 좌표값을 측정함과 아울러, 상기 보정 프로그램을 이용하여 소정의 기준 좌표값에 대한 상기 위치 좌표값의 오차값을 산출하는 오차 측정부를 구비하는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 프로브 검사장치.
- 제 2 항에 있어서,상기 오차 측정부는,입력되는 영상 프레임들의 표준 편차값을 산출하며, N번째 프레임과 N-1번째 프레임의 표준 편차값을 비교하여 표준 편차값의 차이가 최대가 될 때의 프레임을 초점이 맞는 프레임으로 인식하는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 프로브 검사장치.
- 제 3 항에 있어서,상기 기준 좌표값은,상기 오차 측정부에 미리 입력된 상기 원장 글라스의 보정 격자별 위치 정보인 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 프로브 검사장치.
- 화소전극들 및 패드들이 형성된 원장 글라스의 전기적 특성을 검사하기 위한 평판표시소자의 프로브 검사방법에 있어서,프로브 핀이 상기 원장 글라스의 타겟 픽셀에 접촉되도록 상기 프로브 핀을 지지하는 프로브 헤드를 소정의 기준 좌표값에 따라 상기 타겟 픽셀 상으로 이동시키는 단계와;상기 타겟 픽셀에서의 상기 프로브 핀의 위치 좌표값을 측정하여 측정한 위치 좌표값과 상기 소정의 기준좌표값 간의 오차값을 산출하는 단계와;산출된 상기 오차값만큼 리니어 모터의 구동을 제어하여 상기 프로브 핀의 위치 좌표값이 상기 소정의 기준좌표값에 일치되도록 하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 프로브 검사방법.
- 제 5 항에 있어서,상기 오차값을 산출하는 단계는,상기 타겟 픽셀을 연속적으로 촬상하는 단계와;상기 타겟 픽셀의 중심점과 촬영된 셀 서치 영역의 중심점(얼라인 마크) 간의 상대적 위치를 입력받은 후 형상 인식을 통해 좌표값을 측정하는 보정 프로그램을 실행하여 상기 프로브 핀의 위치 좌표값을 측정하는 단계와;상기 보정 프로그램을 실행하여 소정의 기준 좌표값에 대한 상기 위치 좌표값의 오차값을 산출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 프로브 검사방법.
- 제 6 항에 있어서,상기 프로브 핀의 위치 좌표값을 측정하기 위해,촬상 된 다수의 프레임들 중에서 카메라 초점이 맞는 프레임을 선택하는 단계를 더 포함하고;상기 선택 단계는 상기 촬상 된 다수의 프레임들의 표준 편차값을 산출하고, N번째 프레임과 N-1번째 프레임의 표준 편차값을 비교하여 표준 편차값의 차이가 최대가 될 때의 프레임을 초점이 맞는 프레임으로 선택하는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 프로브 검사방법.
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Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20070116514A KR20070116514A (ko) | 2007-12-10 |
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Family
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Family Applications (1)
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Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100820752B1 (ko) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101064553B1 (ko) * | 2009-12-23 | 2011-09-14 | 양 전자시스템 주식회사 | 프로브 핀의 위치 자동 보정 기능을 갖는 프로브 구동 장치 |
JP2012204695A (ja) * | 2011-03-25 | 2012-10-22 | Tokyo Electron Ltd | プローブカード検出装置、ウエハの位置合わせ装置及びウエハの位置合わせ方法 |
KR101971139B1 (ko) * | 2012-09-04 | 2019-04-23 | 엘지디스플레이 주식회사 | 표시패널 검사장치 및 검사방법과 이를 사용한 표시장치 제조방법 |
CN104914375B (zh) * | 2015-05-11 | 2017-08-25 | 南京协辰电子科技有限公司 | 飞针测试机的偏差校正方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR870000599A (ko) * | 1985-06-27 | 1987-02-19 | 마쯔시다덴기산교 가부시기가이샤 | 반도체 검사장치 및 반도체 검사방법 |
KR19990023807A (ko) * | 1997-08-22 | 1999-03-25 | 가네꼬 히사시 | 표시 패널용의 프로브 장치 및 프로브 위치 설정 방법 |
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2006
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KR870000599A (ko) * | 1985-06-27 | 1987-02-19 | 마쯔시다덴기산교 가부시기가이샤 | 반도체 검사장치 및 반도체 검사방법 |
KR19990023807A (ko) * | 1997-08-22 | 1999-03-25 | 가네꼬 히사시 | 표시 패널용의 프로브 장치 및 프로브 위치 설정 방법 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
KR20070116514A (ko) | 2007-12-10 |
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