JP2015014631A - 反射防止膜及びそれを有する光学素子 - Google Patents

反射防止膜及びそれを有する光学素子 Download PDF

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Abstract

【課題】広帯域な波長域において良好な反射防止性能を有する反射防止膜、及び、それを有する光学素子を提供する。【解決手段】基準波長550nmにおける屈折率が1.48〜2.15の材料よりなる基板30の光入射面又は光出射面の少なくとも一方の面に形成される9層構成よりなる反射防止膜101であって、反射防止膜101は前記基板30側から空気側に向かって順に、第1層11から第9層19とし、屈折率を基準波長の屈折率、光学膜厚を光学膜厚=(基準波長の屈折率)?(厚さ)とし、第1層11から第9層19の屈折率と光学膜厚を適切に設定したこと。【選択図】図1

Description

本発明は、反射防止膜及びそれを有する光学素子に関し、デジタルカメラ、ビデオカメラ、TVカメラ等の光学系に用いるときに好適なものである。
光学系に含まれるレンズやフィルター等の光学素子の多くは、光学ガラスや光学プラスチック等の透明部材(基板)を用いて製作されている。このような基板は、屈折率が大きくなると、光入射面と光出射面(光入出射面)の反射率が高くなる。光入出射面の反射率が高い光学素子を光学系に用いると、像面に到達する有効光量が少なくなってしまうとともに、光学素子の光入出射面から反射した不要な反射が像面に入射してゴーストやフレアとなり、光学系の光学性能を低下させる原因となる。このため、基板を用いた光学素子には、その光入射面に反射防止機能を付与することが行われている。
また光入出射面で反射し、像面に到達する不要なゴーストやフレアは光学素子への光束の入射角度や光学素子の形状により大きく変化する。このため基板に付与する反射防止膜としては、出来るだけ広い波長帯域で、かつ種々な入射角度において、良好なる反射防止効果が得られることが望まれている。基板の光入出射面に付与する反射防止膜として、蒸着により基板の光入出射面に薄膜の誘電体膜を複数層重ねた多層の反射防止膜が知られている。一般的に、反射防止膜はより多くの層を重ねるほど反射防止効果が高く、反射防止としての波長帯域も広くなる。
一方、蒸着膜で使用される材料として、例えば屈折率1.38のフッ化マグネシウムより低い屈折率をもつ材料を反射防止膜の最表層(最も空気層側)に使用すれば、高性能な反射防止機能を容易に得ることができる。この他、屈折率の低い材料として、シリカやフッ化マグネシウム等の無機系材料、シリコン樹脂や非晶質のフッ素樹脂などの有機材料を用いることが知られている(特許文献1)。これらの材料は層内に空隙を形成することにより屈折率を下げることができる。特許文献1の反射防止膜には、波長400nm〜波長700nmの範囲で屈折率を1.3程度まで下げたフッソ系樹脂が提案されている。
更に波長400nm〜波長700nmの範囲で屈折率を1.2程度まで下げたフッ化マグネシウム膜を最上層とした9層構造の反射防止膜が提案されている。
特開2012−141594号公報
波長400nm〜波長800nmの広帯域の波長域において反射率を低くし、良好なる反射防止機能を得るには、基板の屈折率や基板に付与する薄膜の材料の屈折率や膜厚、そして層数等を適切に設定することが重要になってくる。これらの構成が不適切であると、広帯域の波長域で良好なる反射防止効果を得るのが困難になる。
本発明は、広帯域な波長域において良好な反射防止性能を有する反射防止膜及びそれを有する光学素子の提供を目的とする。
本発明の反射防止膜は、基準波長550nmにおける屈折率が1.48〜2.15の材料よりなる基板の光入射面又は光出射面の少なくとも一方の面に形成される9層構成よりなる反射防止膜であって、前記反射防止膜は前記基板側から空気側に向かって順に、第1層、第2層、第3層、第4層、第5層、第6層、第7層、第8層、第9層とし、屈折率を基準波長の屈折率、光学膜厚を光学膜厚=(基準波長の屈折率)×(厚さ)とし、前記第1層の屈折率をn1、光学膜厚をd1(nm)、前記第2層の屈折率をn2、光学膜厚をd2(nm)、前記第3層の屈折率をn3、光学膜厚をd3(nm)、前記第4層の屈折率をn4、光学膜厚をd4(nm)、前記第5層の屈折率をn5、光学膜厚をd5(nm)、前記第6層の屈折率をn6、光学膜厚をd6(nm)、前記第7層の屈折率をn7、光学膜厚をd7(nm)、前記第8層の屈折率をn8、光学膜厚をd8(nm)、前記第9層の屈折率をn9、光学膜厚をd9(nm)とし、前記第1層目から前記第8層目までの隣接する層の屈折率の差の最大値をΔnとするとき、
1.60≦n1≦1.70、15nm≦d1≦140nm、
2.00≦n2≦2.40、20nm≦d2≦120nm、
1.60≦n3≦1.70、11nm≦d3≦70nm、
2.00≦n4≦2.40、20nm≦d4≦165nm、
1.60≦n5≦1.70、15nm≦d5≦45nm、
2.00≦n6≦2.40、90nm≦d6≦175nm、
1.60≦n7≦1.70、50nm≦d7≦110nm、
2.00≦n8≦2.40、20nm≦d8≦50nm、
1.20≦n9≦1.28、140nm≦d9≦160nm
0.40≦Δn≦0.67
を満たすことを特徴としている。
本発明によれば、広帯域な波長域において良好な反射防止性能を有する反射防止膜及びそれを有する光学素子が得られる。
本発明の光学素子の一実施形態を示す断面概略図 本発明の実施例1の光学素子の反射率特性 本発明の実施例2の光学素子の反射率特性 本発明の実施例3の光学素子の反射率特性 本発明の実施例4の光学素子の反射率特性 本発明の実施例5の光学素子の反射率特性 本発明の実施例6の光学素子の反射率特性 本発明の実施例7の光学素子の反射率特性 本発明の実施例8の光学素子の反射率特性 本発明の反射防止膜を有する光学素子を用いた撮像光学系の断面図 比較例1の光学素子の反射率特性 比較例2の光学素子の反射率特性
以下に、本発明の好ましい実施の形態を、添付の図面に基づいて詳細に説明する。本発明の反射防止膜は、基準波長550nmにおける屈折率nkが1.48〜2.15の材料よりなる基板の光入射面又は光出射面の少なくとも一方の面に形成される9層構成よりなる反射防止膜である。反射防止膜は基板側から空気側に向かって順に、第1層、第2層、第3層、第4層、第5層、第6層、第7層、第8層、第9層とし、屈折率を基準波長の屈折率、光学膜厚を光学膜厚=(基準波長の屈折率)×(厚さ)とする。このとき、各層の屈折率と光学膜厚を適切に設定している。
反射防止膜は、入射角度が0度において波長420nmから波長760nmの範囲内において反射率の最大値が0.1%以下である。
図1は、本発明の実施形態にかかわる反射防止膜を有する光学素子の説明図である。図1において100は光学素子、30は透明な基板、101は反射防止膜である。115は空気層である。光学素子100はレンズ、フィルター等からなり、基板30の光入出射面のうち少なくとも一方の面に反射防止膜101を有する。反射防止膜101は、基板30側から空気層115側へ順に、第1層11から第9層19までの薄膜を基板30に順次積層して構成されている。
本発明の反射防止膜101において、基準波長(設計波長)λは550nmである。基板30の材料の基準波長での屈折率(以下「基板の屈折率」と称する)nkは1.48≦nk≦2.15である。第1層目11の材料の基準波長での屈折率(以下「第1層目11の屈折率と称する」以下、他の層についても同様である)n1は1.60≦n1≦1.70、光学膜厚d1((基準波長の屈折率)×(厚さ))は15nm≦d1≦140nmである。
第2層目12の屈折率n2は2.0≦n2≦2.40、光学膜厚d2は20nm≦d2≦120nmである。第3層目13の屈折率n3は1.60≦n3≦1.70、光学膜厚d3は11nm≦d3≦70nmである。第4層目14の屈折率n4は2.0≦n4≦2.40、光学膜厚d4は20nm≦d4≦165nmである。第5層目15の屈折率n5は1.60≦n5≦1.70、光学膜厚d5は15nm≦d5≦45nmである。第6層目16の屈折率n6は2.0≦n6≦2.40、光学膜厚d6は90nm≦d6≦175nmである。
第7層目17の屈折率n7は1.60≦n7≦1.70、光学膜厚d7は50nm≦d7≦110nmである。第8層目18の屈折率n8は2.0≦n8≦2.40、光学膜厚d8は20nm≦d8≦50nmである。第9層目19の屈折率n9は1.20≦n9≦1.28、光学膜厚d9は140nm≦d9≦160nmである。
反射防止膜を構成する9つの層には少なくとも互いに屈折率が異なる材料よりなる3種類の層が含まれている。3種類の層のうち1つは、チタン、タンタル、ジルコニア、クロム、ニオブ、セリウム、ハフニウム、イットリウムのいずれかの酸化物の単体又は酸化物の混合物のいずれからなる、屈折率が2.00から2.40の高屈折率層である。他の1つは酸化アルミナAlの単体又はそれを含む混合物(化合物)からなる、屈折率が1.60から1.70の中屈折率層である。他の1つは、シリコンの酸化物の単体またはそれを含む混合物からなる、屈折率が1.20から1.28の低屈折率層である。
第1層目11は基板30と接しており、基板30の屈折率の影響を受けやすい。第1層目11の屈折率n1と、第2層目12の屈折率n2がn1<n2なる様に第1層目11の屈折率n1が第2層目12の屈折率n2に比べて小さくなるように設定することが好ましい。これによれば反射特性の敏感度を低く抑える事ができる。さらに、各々の層の屈折率は、次の条件式を満たすことが好ましい。
n2>n3<n4>n5<n6>n7<n8>n9・・・(1)
条件式(1)は薄膜の屈折率の相対関係を表すものである。すなわち、第3層目13の屈折率は第2層目12の屈折率と第4層目14の屈折率よりも低い。また、第5層目15の屈折率は第4層目14の屈折率と第6層目16の屈折率よりも低く、第7層目17の屈折率は第6層目16の屈折率と第8層目18の屈折率よりも低く、第9層目19の屈折率は第8層目18の屈折率より低い関係で設定することが好ましい。
第1層目11の屈折率n1から第8層目18の屈折率n8の隣接する最大屈折率差をΔnとすると、0.40≦Δn≦0.67であることが好ましい。この範囲に設定することにより、リップルの少ない広波長帯域化と低反射を両立することができる。第1層目11から第9層目19までの光学膜厚は、設定した範囲を外れると、反射防止作用のある波長帯域がせまくなる、反射特性のリップルの高さがおおきくなるなど、反射防止性能の劣化や角度特性が低下する。このため、前述した設定した範囲であることが望ましい。
空気115側の最上層である第9層19は、屈折率を下げる必要があるため、SiO、MgFのような屈折率の低い材料よりなる低屈折率層であることが好ましい。さらに屈折率を低いものにするため第9層19はシリカを主成分とした中空微粒子であることが好ましい。ここで主成分とは重量比が50%以上を占める成分のことである。
中空微粒子はバインダーにより結合する。中空微粒子は内部に空隙(空孔)を有するため、空隙に含まれる空気(屈折率1.0)によって屈折率を下げることが出来る。空孔は単孔、多孔どちらでも良く適宜選択することが出来る。さらに、中空微粒子の内部に空隙があることで、空隙に水分や不純物の吸着を防ぐことができる。このため、耐環境性が良くなり、屈折率変化の少ない安定した光学特性を得ることができる。
中空微粒子はバインダーにより結合する必要があるため、ゾルゲル法で作製することが好ましい。塗工方法としては特に限定されることはなく、ディップコート法、スピンコート法、スプレーコート法、ロールコート法など液状塗工材料の一般的な塗工方法を用いることができる。レンズのような曲面を有する基材へ薄膜を膜厚が均一になるように成膜できる観点から、塗料をスピンコートで成膜することが好ましい。塗工後は乾燥を行う。乾燥は乾燥機、ホットプレート、電気炉などを用いることができる。乾燥条件は、基材に影響を与えず且つ中空粒子内の有機溶媒を蒸発できる程度の温度と時間とする。
一般的には300℃以下の温度を用いることが好ましい。塗工回数は通常1回が好ましいが、乾燥と塗工を複数回繰り返しても良い。第1層目11から第8層目18の材料は無機系膜からなり、成膜の簡便さから、真空蒸着法やスパッタ法により成膜されることが望ましい。第1層11はフッ化ランタン、フッ化セリウム、フッ化ネオジウム、アルミニウム酸化物(Al)の単体乃至は混合物の層(中屈折率層)からなることが望ましい。
さらに、第2層目12と第8層目18は、チタン、タンタル、ジルコニア、クロム、ニオブ、セリウム、ハフニウム、イットリウムの酸化物の単体乃至は混合物の層(高屈折率層)からなることが望ましい。構成する材料は少ない方が望ましい。少ない材料で構成することにより、加工バラツキを少なく抑えることができ、光学特性の安定化をはかることができる。
以上のように本発明によれば、波長400nmから波長800nmの広帯域な波長に対し、高性能な反射防止性能を有した反射防止膜が得られる。それを光学系に用いたとき、ゴーストやフレアの発生を低減することができる。
以下に、本発明の反射防止膜の具体的な実施例を示す。ただし、これらは例に過ぎず、本発明の反射防止膜の実施例はこれらの構成に限定されるものではない。
[実施例1]
実施例1では、屈折率が1.49から2.10の基板上に、図1に示すような9層構成の反射防止膜を表1に示した膜構成及び光学膜厚で作製した。表の数値は光学膜厚[nm]で基準波長は550nmとしている。基板屈折率は基準波長での屈折率である。光学膜厚ndは次のとおりである。
光学膜厚=(基準波長での屈折率)×(厚さ)
実施例1−1及び実施例1−8は実施例1において基板の屈折率、各層の光学膜厚を変化させたときを示す。以下の各実施例においても同様である。
本実施例において、第1層目から第8層目までは真空蒸着法により成膜した。第1層目から第8層目までの隣接する層の最大屈折率差Δnは0.54で2種類の材料で構成した。また、第9層は、屈折率が1.25になるように調整した中空SiOの混合調整液をスピンコーターで塗工後、1時間の焼成により成膜した。
図2(a)、(b)、(c)、(d)、(e)、(f)、(g)、(h)に波長400nmから波長800nmの範囲での、0度、45度入射における実施例1−1乃至実施例1−8の反射率特性を示す。実施例1−1乃至実施例1−8の反射防止膜は、波長400nmから波長800nmまでの波長範囲で、0度入射における反射率は0.2%以下であり、波長420nmから波長770nmの範囲においては0.1%以下である。
45度入射においても波長400nmから波長750nmの範囲において1.0%以下であり、波長800nmにおいてもすべて1.5%以下である。よって、本実施例の反射防止膜は、広帯域で反射防止効果が高い、高性能な反射防止膜であることがわかる。
[実施例2]
実施例2では、屈折率が1.49から2.10の基板上に、図1に示すような9層構成の反射防止膜を表2に示した膜構成及び膜厚で作製した。表の数値は光学膜厚[nm]で基準波長は550nmとしている。このとき、第1層目から第8層目までは真空蒸着法により成膜した。第1層目から第8層目までの隣接する層の最大屈折率差Δnは0.54で2種類の材料で構成した。また、第9層は、屈折率が1.22になるように調整した中空SiOの混合調整液をスピンコーターで塗工後、1時間の焼成により成膜した。
図3(a)、(b)、(c)に波長400nmから波長800nmの範囲での、0度、45度入射における実施例2−1乃至実施例2−3の反射率特性を示す。実施例2−1乃至実施例2−3の反射防止膜は、波長400nmから波長800nmの波長範囲で、0度入射における反射率は0.1%以下である。45度入射においても波長400nmから波長770nmの範囲において1.0%以下であり、波長800nmにおいてもすべて1.5%以下である。よって、本実施例の反射防止膜は、広帯域で反射防止効果が高い、高性能な反射防止膜であることがわかる。
[実施例3]
実施例3では、屈折率が1.49から2.10の基板上に、図1に示すような9層構成の反射防止膜を表3に示した膜構成及び膜厚で作製した。表の数値は光学膜厚[nm]で基準波長は550nmとしている。このとき、第1層目から第8層目までは真空蒸着法により成膜した。第1層目から第8層目までの隣接する層の最大屈折率差Δnは0.54で2種類の材料で構成した。また、第9層は、屈折率が1.27になるように調整した中空SiOの混合調整液をスピンコーターで塗工後、1時間の焼成により成膜した。
図4(a)、(b)、(c)に波長400nmから波長800nmの範囲での、0度、45度入射における実施例3−1乃至実施例3−3の反射率特性を示す。実施例3−1から実施例3−3の反射防止膜は、波長400nmから波長800nmの波長範囲で、0度入射における反射率は0.2%以下であり、波長420nmから波長770nmの範囲においては0.1%以下である。45度入射においても波長400nmから波長750nmの範囲において1.0%以下であり、波長800nmにおいてもすべて1.5%以下である。
よって、本実施例の反射防止膜は、広帯域で反射防止効果が高い、高性能な反射防止膜であることがわかる。実施例1や実施例2と比較すると最も空気層側の第9層目の屈折率が1.27よりも高くなると屈折率の低い基板に対し、リップルが発生しやすくなるため、最も空気層側の屈折率は1.28以下であることが好ましい。
[実施例4]
実施例4では、屈折率が1.49から2.10の基板上に、図1に示すような9層構成の反射防止膜を表4に示した膜構成及び膜厚で作製した。表の数値は光学膜厚[nm]で基準波長は550nmとしている。このとき、第1層目から第8層目までは真空蒸着法により成膜した。第1層目から第8層目までの隣接する層の最大屈折率差Δnは0.54で2種類の材料で構成した。また、第9層は、屈折率が1.20になるように調整した中空SiOの混合調整液をスピンコーターで塗工後、1時間の焼成により成膜した。
図5(a)、(b)、(c)に波長400nmから波長800nmの範囲での、0度、45度入射における実施例4−1乃至実施例4−3の反射率特性を示す。実施例4−1乃至実施例4−3の反射防止膜は、波長400nmから波長800nmの波長範囲で、0度入射における反射率は0.2%以下であり、波長420nmから波長780nmの範囲においては0.1%以下である。45度入射においても波長400nmから波長770nmの範囲において1.0%以下であり、波長800nmにおいてもすべて1.5%以下である。よって、本実施例の反射防止膜は、広帯域で反射防止効果が高い、高性能な反射防止膜であることがわかる。
[実施例5]
実施例5では、屈折率が1.49から2.10の基板上に、図1に示すような9層構成の反射防止膜を表5に示した膜構成及び膜厚で作製した。表の数値は光学膜厚[nm]で基準波長は550nmとしている。このとき、第1層目から第8層目までは真空蒸着法により成膜した。第1層目から第8層目までの隣接する層の最大屈折率差Δnは0.48で2種類の材料で構成した。また、第9層は、屈折率が1.20になるように調整した中空SiOの混合調整液をスピンコーターで塗工後、1時間の焼成により成膜した。
図6(a)、(b)、(c)に波長400nmから波長800nmの範囲での、0度、45度入射における実施例5−1乃至実施例5−3の反射率特性を示す。実施例5−1乃至実施例5−3の反射防止膜は、波長400nmから波長800nmの波長範囲で、0度入射における反射率は0.2%以下であり、波長420nmから波長780nmの範囲においては0.1%以下である。45度入射においても波長400nmから波長770nmの範囲において1.0%以下であり、波長800nmにおいてもすべて1.5%以下である。よって、本実施例の反射防止膜は、広帯域で反射防止効果が高い、高性能な反射防止膜であることがわかる。
[実施例6]
実施例6では、屈折率が1.49から2.10の基板上に、図1に示すような9層構成の反射防止膜を表6に示した膜構成及び膜厚で作製した。表の数値は光学膜厚[nm]で基準波長は550nmとしている。このとき、第6層目から第8層目までは真空蒸着法により成膜した。第1層目から第8層目までの隣接する層の最大屈折率差Δnは0.48で2種類の材料で構成した。また、第9層は、屈折率が1.20になるように調整した中空SiOの混合調整液をスピンコーターで塗工後、1時間の焼成により成膜した。
図7(a)、(b)、(c)に波長400nmから波長800nmの範囲での、0度、45度入射における実施例6−1乃至実施例6−3の反射率特性を示す。実施例6−1乃至実施例6−3の反射防止膜は、波長400nmから波長800nmの波長範囲で、0度入射における反射率は0.2%以下であり、波長420nmから波長780nmの範囲においては0.1%以下である。45度入射においても波長400nmから波長750nmの範囲において1.0%以下であり、波長800nmにおいてもすべて1.8%以下である。
よって、本実施例の反射防止膜は、広帯域で反射防止効果が高い、高性能な反射防止膜であることがわかる。図7(a)、(b)、(c)の反射率特性から最大屈折率差Δnが小さい場合、基板の材料の屈折率が高くなると、リップルが発生しやすくなるため、最大屈折率差Δnは0.40以上であることが好ましい。
[実施例7]
実施例7では、屈折率が1.49から2.10の基板上に、図1に示すような9層構成の反射防止膜を表7に示した膜構成及び膜厚で作製した。表の数値は光学膜厚[nm]で基準波長は550nmとしている。このとき、第1層目から第8層目までは真空蒸着法により成膜した。第1層目から第8層目までの隣接する層の最大屈折率差Δnは0.66で2種類の材料で構成した。また、第9層は、屈折率が1.27になるように調整した中空SiOの混合調整液をスピンコーターで塗工後、1時間の焼成により成膜した。
図8(a)、(b)、(c)に波長400nmから波長800nmの範囲での、0度、45度入射における実施例7−1乃至実施例7−3の反射率特性を示す。実施例7−1乃至実施例7−3の反射防止膜は、波長400nmから波長800nmの波長範囲で、0度入射における反射率は0.2%以下であり、波長420nmから波長780nmの範囲においては0.1%以下である。45度入射においても波長400nmから波長770nmの範囲において1.0%以下であり、波長800nmにおいてもすべて1.5%以下である。よって、本実施例の反射防止膜は、広帯域で反射防止効果が高い、高性能な反射防止膜であることがわかる。
[実施例8]
実施例8では、屈折率が1.49から2.10の基板上に、図1に示すような9層構成の反射防止膜を表8に示した膜構成及び膜厚で作製した。表の数値は光学膜厚[nm]で基準波長は550nmとしている。このとき、第1層目から第8層目までは真空蒸着法により成膜した。第1層目から第8層目までの隣接する層の最大屈折率差Δnは0.66で2種類の材料で構成した。また、第9層は、屈折率が1.27になるように調整した中空SiOの混合調整液をスピンコーターで塗工後、1時間の焼成により成膜した。
図9(a)、(b)、(c)に波長400nmから波長800nmの範囲での、0度、45度入射における実施例8−1乃至実施例8−3の反射率特性を示す。実施例8−1乃至実施例8−3の反射防止膜は、波長400nmから波長800nmの波長範囲で、0度入射における反射率は0.2%以下であり、波長420nmから波長780nmの範囲においては0.1%以下である。45度入射においても波長400nmから波長770nmの範囲において1.0%以下であり、波長800nmにおいてもすべて1.5%以下である。
よって、本実施例の反射防止膜は、広帯域で反射防止効果が高い、高性能な反射防止膜であることがわかる。図9(a)、(b)、(c)の反射率特性から最大屈折率差Δnが大きい場合、基板の材料の屈折率が低くなると、リップルが発生しやすくなるため、最大屈折率差Δnは0.67以下であることが好ましい。
図10には、本発明の反射防止膜を付与した光学素子と、それを用いた撮像光学系(結像光学系)の要部概略図である。図10において300は撮像光学系であり、デジタルカメラ、ビデオカメラおよび交換レンズなどの光学機器に用いられる。撮像光学系300は単一の焦点距離よりなる場合を示したが、ズームレンズであっても良い。図10において、103は撮像面であり、CCDセンサ又はCMOSセンサ等の固体撮像素子(光電変換素子)が配置される。102は開口絞りである。G101乃至G111はそれぞれ光学素子としてのレンズである。これらのレンズのうち、少なくとも1つの光学素子の光入射面または光出射面のうち少なくとも1つの面に前述した構成の反射防止膜が付与されている。
以下に本発明の光学系300の数値実施例を示す。各数値実施例においてiは物体側から面の順序を示し、riは物体側より第i番目の面の曲率半径、diは物体側より第i番目と第i+1番目の間隔、ndi、νdiは第i番目の光学素子の屈折率とアッベ数である。fは焦点距離、FNOはFナンバー、ωは半画角(度)である。
[数値実施例]
f=24.4 FNo =1.45 ω=41.4°

r01= 60.187 d01= 2.80 n1= 1.69680 ν1= 55.5
r02= 30.193 d02= 6.19
r03= 59.602 d03= 2.30 n2= 1.69680 ν2= 55.5
r04= 91.983 d04= 6.55
r05= 194.761 d05= 4.53 n3= 1.67790 ν3= 55.3
r06= -97.779 d06= 3.68
r07= 80.907 d07= 2.80 n4= 1.84666 ν4= 23.9
r08= 666.220 d08= 1.70 n5= 1.49700 ν5= 81.6
r09= 23.755 d09=11.64
r10= 31.225 d10= 7.37 n6= 1.80400 ν6= 46.6
r11= -57.233 d11= 0.15
r12=-409.276 d12= 1.89 n7= 1.71736 ν7= 29.5
r13= 39.492 d13= 5.04
r14= ∞ d14= 8.18
r15= -16.104 d15= 1.50 n8= 1.80518 ν8= 25.4
r16=2532.956 d16= 3.47 n9= 1.83481 ν9= 42.7
r17= -34.039 d17= 0.15
r18=-190.746 d18= 7.01 n10= 1.61800 ν10= 63.4
r19= -23.481 d19= 0.15
r20= -74.015 d20= 5.10 n11= 1.77250 ν11= 49.6
r21= -29.342
以上説明した各実施例は代表的な例にすぎず、本発明の実施に際しては、各実施例に対して種々の変形や変更が可能である。次に本発明の反射防止膜に対する比較例を示す。
[比較例1]
本発明との比較例1として、屈折率1.49(λ=550)の基板上に、反射防止膜を表9に示した膜構成で作製した。このとき、第1層目から8層目までは真空蒸着法により成膜した。第1層目から第8層目までの隣接する層の最大屈折率差Δnは0.54で2種類の材料で構成した。また、第9層は、波長λ=550nmでの屈折率が1.30になるように、調整した中空SiOの混合調整液をスピンコーターで塗工後、1時間の焼成により成膜した。
図11に波長400nmから波長800nmの範囲での、0度、45度入射における反射率特性を示す。比較例1の反射防止膜は、波長400nmから波長800nmの波長範囲で、0度入射における反射率が0.2%以上あり、波長420nmから波長720nmの範囲においも0.1%以上である。45度入射においても800nmにおいは2.0%以上であり、リップルも大きくなっている。よって、本発明の反射防止膜に比べ反射防止性能が劣っていることが確認できた。
[比較例2]
本発明との比較例2として、屈折率2.00(λ=550)の基板上に、反射防止膜を表10に示した膜構成で作製した。このとき、第1層目から8層目までは真空蒸着法により成膜した。第1層目から第8層目までの隣接する層の最大屈折率差Δnは0.84で3種類の材料で構成した。また、第9層は、λ=550nmでの屈折率が1.25になるように、調整した中空SiOの混合調整液をスピンコーターで塗工後、1時間の焼成により成膜した。
図12に波長400nmから波長800nmの範囲での、0度、45度入射における反射率特性を示す。比較例2の反射防止膜は、波長400nmから波長800nmの波長範囲で、0度入射における反射率が0.2%以上あり、45度入射においても波長630nmにおいは1.0%以上であり、リップルも大きくなっている。よって、本発明の反射防止膜に比べ反射防止性能が劣っていることが確認できた。
100 光学素子 11 第1層 12 第2層 13 第3層
14 第4層 15 第5層 16 第6層 17 第7層
18 第8層 19 第9層 30 基板 101 反射防止膜
102 開口絞り 103 撮像素子 115 空気層
G101〜G111 レンズ

Claims (9)

  1. 基準波長550nmにおける屈折率が1.48〜2.15の材料よりなる基板の光入射面又は光出射面の少なくとも一方の面に形成される9層構成よりなる反射防止膜であって、
    前記反射防止膜は前記基板側から空気側に向かって順に、第1層、第2層、第3層、第4層、第5層、第6層、第7層、第8層、第9層とし、
    屈折率を基準波長の屈折率、光学膜厚を光学膜厚=(基準波長の屈折率)×(厚さ)とし、
    前記第1層の屈折率をn1、光学膜厚をd1(nm)、
    前記第2層の屈折率をn2、光学膜厚をd2(nm)、
    前記第3層の屈折率をn3、光学膜厚をd3(nm)、
    前記第4層の屈折率をn4、光学膜厚をd4(nm)、
    前記第5層の屈折率をn5、光学膜厚をd5(nm)、
    前記第6層の屈折率をn6、光学膜厚をd6(nm)、
    前記第7層の屈折率をn7、光学膜厚をd7(nm)、
    前記第8層の屈折率をn8、光学膜厚をd8(nm)、
    前記第9層の屈折率をn9、光学膜厚をd9(nm)
    とし、
    前記第1層目から前記第8層目までの隣接する層の屈折率の差の最大値をΔnとするとき、
    1.60≦n1≦1.70、15nm≦d1≦140nm、
    2.00≦n2≦2.40、20nm≦d2≦120nm、
    1.60≦n3≦1.70、11nm≦d3≦70nm、
    2.00≦n4≦2.40、20nm≦d4≦165nm、
    1.60≦n5≦1.70、15nm≦d5≦45nm、
    2.00≦n6≦2.40、90nm≦d6≦175nm、
    1.60≦n7≦1.70、50nm≦d7≦110nm、
    2.00≦n8≦2.40、20nm≦d8≦50nm、
    1.20≦n9≦1.28、140nm≦d9≦160nm、
    0.40≦Δn≦0.67
    を満たすことを特徴とする反射防止膜。
  2. 前記反射防止膜は、入射角度が0度において波長420nmから波長760nmの範囲内において反射率の最大値が0.1%以下であることを特徴とする請求項1に記載の反射防止膜。
  3. 前記反射防止膜を構成する9つの層には少なくとも互いに屈折率が異なる材料よりなる3種類の層が含まれており、
    前記3種類の層は、チタン、タンタル、ジルコニア、クロム、ニオブ、セリウム、ハフニウム、イットリウムのいずれかの酸化物の単体又は前記酸化物の混合物のいずれからなる、屈折率が2.00から2.40の高屈折率層と、酸化アルミナの単体又はそれを含む混合物からなる、屈折率が1.60から1.70の中屈折率層と、
    シリコンの酸化物の単体またはそれを含む混合物からなる、屈折率が1.20から1.28の低屈折率層から構成されることを特徴とする請求項1又は2に記載の反射防止膜。
  4. 前記第9層はシリカを主成分とした中空微粒子を有することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の反射防止膜。
  5. 前記第1層はAlの単体又はそれを含む化合物からなることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の反射防止膜。
  6. 前記第8層はチタン、タンタル、ジルコニア、クロム、ニオブ、セリウム、ハフニウム、イットリウムの酸化物の単体又はそれらの混合物からなることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の反射防止膜。
  7. 前記第9層はゾルゲル法で作製され、その他の層は真空蒸着法またはスパッタ法により作製されたものであることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の反射防止膜。
  8. 請求項1乃至7のいずれか1項に記載の反射防止膜を基板の光入射面又は光出射面の少なくとも一方の面に有することを特徴とする光学素子。
  9. 請求項8に記載の光学素子を有することを特徴とする光学系。
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