JP2014216574A - 粘性剤厚調整装置、搭載装置、基板装置の製造方法 - Google Patents

粘性剤厚調整装置、搭載装置、基板装置の製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】粘性剤中の異物によって回転部上の粘性剤の厚みが不均一となることを抑制し、且つ回転部の内周側又は外周側へ流れてしまう粘性剤量を低減する。【解決手段】粘性剤をのせた回転部と、該回転部の回転方向に対して傾斜して設けられ、該粘性剤の厚さを一定にし、該粘性剤中の異物を該回転部の内周側又は外周側へ案内する案内部と、該案内部における該回転方向の下流端部に接続され、該案内部の傾斜により該粘性剤が該内周側又は外周側に流れるのを制限する制限部と、該案内部と該制限部との接続部に設けられ該異物を通過させる開口部と、を備える。【選択図】図3

Description

本発明は、粘性剤厚調整装置、搭載装置、基板装置の製造方法に関する。
特許文献1には、導電性樹脂ペーストを一定の厚さにするスキージが、テーブルの半径方向に対してテーブルの回転方向と逆方向側に傾けて設けられた構成が開示されている。
特開平6−112242号公報
本発明は、粘性剤中の異物によって回転部上の粘性剤の厚みが不均一となることを抑制し、且つ回転部の内周側又は外周側へ流れてしまう粘性剤量を低減することを課題とする。
請求項1の発明は、粘性剤をのせた回転部と、該回転部の回転方向に対して傾斜して設けられ、該粘性剤の厚さを一定にし、該粘性剤中の異物を該回転部の内周側又は外周側へ案内する案内部と、該案内部における該回転方向の下流端部に接続され、該案内部の傾斜により該粘性剤が該内周側又は外周側に流れるのを制限する制限部と、該案内部と該制限部との接続部に設けられ該異物を通過させる開口部と、を備える。
請求項2の発明では、前記案内部は、前記異物を前記回転部の外周側へ案内し、前記制限部は、前記案内部の傾斜により前記粘性剤が外周側に流れるのを制限する。
請求項3の発明は、部品を位置決めする部品位置決め部と、基板を位置決めする基板位置決め部と、請求項1又は2に記載の粘性剤厚調整装置と、前記粘性剤厚調整装置の回転部にのせられた粘性剤としての接合剤を、前記基板位置決め部に位置決めされた基板に転写する転写部と、前記転写部で転写された接合剤上に、前記部品位置決め部で位置決めされた前記部品を移送する移送機構と、を備える。
請求項4の発明は、請求項3に記載の搭載装置の前記部品位置決め部によって前記部品を位置決めする部品位置決め工程と、前記基板位置決め部によって前記基板を位置決めする基板位置決め工程と、前記粘性剤厚調整装置の回転部にのせられた接合剤を、前記転写部によって前記基板位置決め部に位置決めされた前記基板に転写する接合剤転写工程と、前記転写部で転写された接合剤上に、前記部品位置決め工程で位置決めされた前記部品を前記移送機構によって移送する移送工程と、を有する。
本発明の請求項1の構成によれば、本構成における開口部及び制限部を備えない場合に比べ、粘性剤中の異物によって回転部上の粘性剤の厚みが不均一となることを抑制し、且つ回転部の内周側又は外周側へ流れてしまう粘性剤量を低減できる。
本発明の請求項2の構成によれば、回転部における遠心力を利用して異物を効果的に移動させることができる。
本発明の請求項3の構成によれば、本構成における粘性剤厚調整装置を備えない場合に比べ、基板に対する部品の接合不良を抑制できる。
本発明の請求項4の製造方法によれば、本製造方法における接合剤転写工程を有しない場合に比べ、基板に対する部品の接合不良を抑制できる。
本実施形態に係る製造装置の構成を示す斜視図である。 本実施形態に係る接合剤供給装置の構成を示す図3(A)のA−A線断面図である。 本実施形態に係る接合剤供給装置の構成を示す図である。(A)は平面図であり、(B)は側面図である。 本実施形態に係る調整部材の構成を示す斜視図である。 図4に示す調整部材のヘッド部材の構成を示す図である。(A)は正面図であり、(B)は側面図であり、(C)は底面図である。 本実施形態に係る、半導体素子のプリント配線基板への搭載に用いられるコレットの構成を示す斜視図である。 図6に示すコレットの側断面図である。 プリント配線基板に半導体素子が搭載された状態を示す平面図である。 比較例に係る接合剤供給装置の構成を示す図である。(A)は平面図であり、(B)は側面図である。 変形例に係る調整部材の構成を示す平面図である。 変形例に係る調整部材のヘッド部材の構成を示す底面図である。
以下に、本発明に係る実施形態の一例を図面に基づき説明する。
(製造装置10)
まず、本実施形態に係る製造装置10の構成を説明する。図1は、製造装置10の構成を示す斜視図である。なお、下記のX方向、−X方向、Y方向、−Y方向、Z方向(上方)及び−Z方向(下方)は、図中に示す矢印方向である。また、特記する場合を除き、「X方向」は「X方向または−X方向」、「Y方向」は「Y方向または−Y方向」、「Z方向」は「Z方向または−Z方向」の意である。また、図中の「○」の中に「×」が記載されたものは、紙面の手前から奥へ向かう矢印を意味し、図中の「○」の中に「・」が記載されたものは、紙面の奥から手前へ向かう矢印を意味する。
製造装置10は、プリント配線基板装置(基板装置の一例)を製造する製造装置であり、図1に示されるように、半導体素子12(部品の一例)を供給する供給部13と、半導体素子12を位置決めする素子位置決め部20(部品位置決め部の一例)と、プリント配線基板44(基板の一例)を位置決めする基板位置決め部40と、を備えている。
製造装置10は、さらに、半導体素子12を接合するための接合剤G(粘性剤の一例)をプリント配線基板44に供給する接合剤供給装置110と、供給部13から素子位置決め部20へ半導体素子12を移送する移送装置50と、素子位置決め部20で位置決めされた半導体素子12を基板位置決め部40で位置決めされたプリント配線基板44へ移送する移送装置60(移送機構の一例)と、を備えている。
また、製造装置10は、製造装置10の各構成部分(供給部13、素子位置決め部20、基板位置決め部40、接合剤供給装置110、移送装置50、移送装置60)の動作(駆動)を制御する制御部90を備えている。
製造装置10では、半導体素子12をプリント配線基板44に搭載する搭載装置100が、素子位置決め部20と、基板位置決め部40と、接合剤供給装置110と、移送装置60と、を有して構成されている。
(半導体素子12)
搭載装置100(製造装置10)によってプリント配線基板44に搭載(実装)される半導体素子12としては、例えば、長尺に形成された断面四角形状の半導体素子(例えば、LEDチップ)が用いられる(図6参照)。具体的には、半導体素子12は、例えば、幅(Y方向長さ)125μm、長さ(X方向長さ)6mm、高さ(Z方向長さ)300μmとされている。さらに、半導体素子12は、断面形状が平行四辺形をしている(図7参照)。また、半導体素子12の表面(上面)には、回路パターンや発光素子等の機能部11(図8参照)が設けられている。
(供給部13)
図1に示されるように、供給部13は、ウエハ14を保持する保持部15と、保持部15をX方向及びY方向へ移動させる移動機構17と、を備えている。供給部13では、保持部15が保持するウエハ14が切断されることにより、ウエハ14から複数の半導体素子12が切り出されるようになっている。また、供給部13では、移動機構17が保持部15をX方向及びY方向へ移動させることで、搭載対象の半導体素子12を移送装置50による予め定められたピックアップ位置に位置させるようになっている。
なお、供給部13は、さらに、半導体素子12が載せられる台としてのトレイと、該トレイをX方向及びY方向へ移動させる移動機構と、該トレイへウエハ14から半導体素子12を移送する移送機構と、を有する構成であってもよい。この構成では、移送機構がウエハ14からトレイに半導体素子12を移送し、移動機構がトレイをX方向及びY方向へ移動させることで、トレイに載せられた半導体素子12を移送装置50による予め定められたピックアップ位置に位置させるようになっている。
(移送装置50)
図1に示されるように、移送装置50は、吸引ノズル54で半導体素子12を吸引する吸引器52と、吸引器52を移動させる移動機構53と、を備えている。移送装置50では、吸引器52が、供給部13におけるピックアップ位置に位置する半導体素子12を吸引ノズル54で吸引することで半導体素子12を吸引ノズル54に保持する。そして、移送装置50では、半導体素子12を吸引ノズル54に保持した状態で、移動機構53によって吸引器52が矢印A方向に移動することで、後述の位置決め台30のプレート34上に半導体素子12を移送して、該プレート34上の仮置き位置に半導体素子12を仮置きするようになっている。なお、移送装置50の移動機構53としては、例えば、X方向、Y方向及びZ方向に移動可能な三軸ロボットが用いられる。
(素子位置決め部20)
図1に示されるように、素子位置決め部20は、半導体素子12が載せられる台としての位置決め台30と、位置決め台30上に仮置きされた半導体素子12を予め定められた位置決め位置に位置決めする位置決め部材22と、位置決め部材22をX方向及びY方向へ移動させる移動機構29と、を備えている。
位置決め台30は、上部に開口部33を有する円筒部32と、円筒部32の開口部33に設けられたプレート34と、円筒部32の内部空間の空気を吸引して該内部空間を負圧にする吸引装置36と、を備えている。プレート34には、複数の吸引孔38が形成されている。この複数の吸引孔38は、プレート34を貫通しており、円筒部32の内部空間と通じている。
位置決め部材22は、図1に示されるように、板状をしており、本体部22Aと、本体部22AからX方向に延び出た一対の爪部22Bと、を備えて構成されている。一対の爪部22Bは、その間に半導体素子12を配置可能にY方向に離れて設けられている。この一対の爪部22Bと本体部22Aとによって、位置決め部材22は、平面視(−Z方向視)にてコの字状(Uの字状)に構成されている。なお、位置決め部材22は、プレート34に吸着されて移動抵抗を受けないように、プレート34に対して非接触な状態を保って移動するようになっている。
位置決め部材22では、半導体素子12の側面12A(図6参照)の一方に対して、爪部22Bを突き当てて、半導体素子12を移動させ、予め定められた位置に半導体素子12を位置決め(位置出し)するようになっている。
また、本実施形態では、一対の爪部22Bのいずれか一方を選択して半導体素子12の位置決めを行うようになっている。従って、位置決め部材22としては、一対の爪部22Bの一方を有さない構成であってもよい。
(基板位置決め部40)
図1に示されるように、基板位置決め部40は、プリント配線基板44をX方向に搬送する一対の搬送部材(例えば、コンベア)42を備えている。一対の搬送部材42は、その間にプリント配線基板44が導入可能にY方向に離れて配置されている。
基板位置決め部40では、一対の搬送部材42の間に導入されたプリント配線基板44が、一対の搬送部材42に対してX方向、Y方向、Z方向に位置決めされるようになっている。そして、一対の搬送部材42がプリント配線基板44をX方向に搬送することで、プリント配線基板44は、Y方向に位置決めされた状態で、後述のコレット70及び転写ピン142に対してX方向へ相対移動するようになっている。
(接合剤供給装置110)
接合剤供給装置110は、半導体素子12を接合するための接合剤Gをプリント配線基板44に供給する装置である。この接合剤供給装置110は、図2及び図3(A)に示されるように、接合剤Gの厚さを調整する接合剤厚調整装置120(粘性剤厚調整装置の一例)と、接合剤厚調整装置120によって厚さが調整された接合剤Gをプリント配線基板44に転写する転写部140と、を備えている。なお、図2は、図3(A)のA−A線断面図であり、図2における回転皿122は図3(A)のB−B線で切断した場合の構成を示すものである。
接合剤厚調整装置120は、図3(A)(B)に示されるように、接合剤Gをのせた回転部の一例としての回転皿(回転板)122と、接合剤Gの厚さを調整する調整部材130と、を有している。なお、接合剤厚調整装置120によって厚さが調整される接合剤Gとしては、例えば、銀(Ag)を含むエポキシ系の接着剤が用いられる。また、接合剤Gは、例えば、ペースト状(粘度が比較的高い液状)に構成されている。
回転皿122は、図2に示されるように、上面側に溝部124を有する円盤状(円柱状)に構成されている。溝部124は、図3(A)に示されるように、平面視にて円環状(リング状)に形成されている。この円環状の溝部124によって、接合剤Gが収容される収容空間(収容部)が形成されている。この収容空間は、図2に示されるように、溝部124の底壁124Aと、溝部124の外周側の溝壁124B(以下、外周壁124Bという)と、溝部124の内周側の溝壁124C(以下、内周壁124Cという)と、で囲まれた空間となっている。この収容空間に収容された接合剤Gは、外周壁124Bと内周壁124Cとの間で、溝部124の底壁124Aにのせられた状態となっている。この回転皿122は、駆動部128によって、一方向(図3(A)における時計周り方向(矢印A方向))へ回転するようになっている。
転写部140は、接合剤Gを転写する転写部材としての転写ピン142と、基板位置決め部40で位置決めされたプリント配線基板44と接合剤厚調整装置120の回転皿122との間で転写ピン142を移動させる移動機構144と、を備えている。転写ピン142は、水平方向に長さを有するブロック状(直方体状)に形成されている。また、転写ピン142は、接合剤Gを付着させるための底面142Aを有している。
移動機構144は、転写ピン142をY方向及び上下方向(Z方向)に移動させるようになっている。移動機構144が転写ピン142を下方向(−Z方向)に移動させることにより、転写ピン142は、溝部124の上方の開口から溝部124内に降下して、回転皿122にのせられた接合剤Gを底面142Aに付着させるようになっている。転写ピン142は、具体的には、溝部124における径方向中央部の予め定められた転写領域に降下するように設定されている。
また、移動機構144が転写ピン142をY方向に移動させることにより、転写ピン142がプリント配線基板44に対してY方向へ相対移動するようになっている。すなわち、本実施形態では、移動機構144によって転写ピン142がY方向に移動し、基板位置決め部40の搬送部材42によってプリント配線基板44がX方向に移動することで、転写ピン142をプリント配線基板44に対してX方向、Y方向に相対移動させるようになっている。
移動機構144が転写ピン142をプリント配線基板44に対して、X方向、Y方向に相対移動させた後、転写ピン142を下方(−Z方向)に降下させることで、転写ピン142は、底面142Aに付着させた接合剤Gをプリント配線基板44に塗布するようになっている。すなわち、転写ピン142は、回転皿122に収容された接合剤Gをプリント配線基板44に転写するようになっている。なお、移動機構144としては、例えば、Y方向及びZ方向に移動可能な二軸ロボットが用いられる。
接合剤Gの厚さを調整する調整部材130は、図3(A)(B)及び図4に示されるように、ヘッド部材131と、ヘッド部材131に連結されたアーム部材133と、を有している。
ヘッド部材131は、図3(A)に示されるように、平面視にて回転皿122の回転方向(矢印A方向)及び半径方向(矢印Y方向)に対して傾斜して設けられた傾斜板132(案内部の一例)と、傾斜板132における回転方向の下流端部に接続され、傾斜板132の傾斜により接合剤Gが回転皿122の外周側に流れるのを制限する制限板134(制限部の一例)と、を有している。
具体的には、傾斜板132と制限板134とは、図4及び図5(A)(B)(C)に示されるように、連結板136によって接続されている。連結板136は、傾斜板132における回転方向の下流端部と、制限板134における回転方向の下流端部とを連結している。すなわち、制限板134は、連結板136を介して、傾斜板132における回転方向の下流端部に接続されており、連結板136が、傾斜板132と制限板134とを接続する接続部をなしている。
ヘッド部材131は、さらに、傾斜板132の上端、制限板134の上端及び連結板136の上端に接続された上板138と、傾斜板132における回転方向の上流端部に接続された側板139と、平面視にて上板138に対するアーム部材133側に設けられアーム部材133と連結される連結部137と、を有している。連結部137に形成された通し孔137Aに差し通されたネジ(図示省略)がアーム部材133にねじ止めされることで、ヘッド部材131がアーム部材133に固定されている。
傾斜板132は、余剰の接合剤Gを塞き止めると共に、傾斜板132の底面132Aが、回転皿122の接合剤Gの上面に接触することで、該接合剤Gをならして、該接合剤Gの厚さを一定にする機能を有している。傾斜板132の底面132Aと回転皿122の上面との距離(隙間)は、例えば、50μmとされており、半導体素子12の何れの辺の長さよりも短くされている。
また、傾斜板132は、回転皿122の回転方向下流側に向かって徐々に回転皿122の外周側へずれるように傾斜しており、その傾斜により、該接合剤G中の異物を回転皿122の外周側(転写ピン142の転写領域の外側)へ移動させる(案内する)機能を有している。なお、傾斜板132の傾斜により、接合剤G中の異物だけでなく、余剰の接合剤Gも回転皿122の外周側へ流れようとする。また、「接合剤G中の異物」とは、接合剤Gに混入した異物、すなわち、接合剤Gと一緒に存在する状態の異物を意味し、接合剤Gの内部に沈んだ状態で存在する異物だけでなく、接合剤G上に載った状態で存在する(例えば、接合剤Gの表面に付着する)異物も含まれる。
制限板134は、傾斜板132に対する回転皿122の外周側で、傾斜板132に対向しており、回転皿122の半径方向(矢印Y方向)に対する垂直方向(直交方向)に配置されている。
また、連結板136には、傾斜板132によって回転皿122の外周側へ移動する異物を通過させるための開口部135が形成されている。開口部135は、回転方向の下流側に開口している。開口部135は、傾斜板132の傾斜により回転皿122の外周側へ移動する異物を通過させるようになっている。なお、傾斜板132の傾斜により、回転皿122の外周側へ流れる余剰の接合剤Gも開口部135を通過することになる。
開口部135のY方向長さ(回転皿122の半径方向に沿った長さ)及びZ方向長さ(高さ)は、半導体素子12の幅(Y方向長さ)及び高さ(Z方向長さ)よりも長く、好ましくは、断面視(図7参照)における対角線dの長さよりも長くされている。すなわち、具体的には、開口部135のY方向長さ及びZ方向長さは、誤って回転皿122に落下した異物としての半導体素子12が開口部135を通過可能な長さであり、接合剤Gが回転皿122の外周側へ不必要に流れないように設定された長さとされる。具体的には、開口部135のY方向長さ及びZ方向長さは、例えば、対角線dの長さの2倍程度であることが好ましい。
(移送装置60)
図1に示されるように、移送装置60は、半導体素子12を保持する保持具としてのコレット70と、コレット70が装着されコレット70が半導体素子12を保持するための吸引力を発生させる吸引器62と、吸引器62(コレット70)をプリント配線基板44に対して相対移動させる移動機構63と、を備えている。
吸引器62は、具体的には、コレット70が装着される吸引ノズル64を有している。コレット70は、図6に示されるように、コレット本体72と、吸引ノズル64と接続される接続部74と、半導体素子12の第1稜線12Eに突き当たる第1面81を有する突当部76と、半導体素子12の第2稜線12Bに突き当たる第2面82を有する突当部86と、を備えている。
コレット本体72のX方向端部には、半導体素子12のX方向側の稜線に突き当たる突当部としての突当爪80が設けられている。この突当爪80が半導体素子12のX方向側の稜線に突き当たることにより、半導体素子12がX方向で位置決めされるようになっている。突当爪80は、半導体素子12のX方向側の端面に突き当たるようになっていても良い。
接続部74は、図6に示されるように、円筒状に形成されており、円筒状の吸引ノズル64に挿し込まれることで接続されるようになっている。接続部74には、吸引ノズル64と通じる接続口74Aが形成されている。第2面82と第1面81との間には、図7に示されるように、接続口74Aと通じる吸引口78が形成されている。
コレット70では、半導体素子12の上面の第2稜線12Bが第2面82に突き当たり、且つ、半導体素子12の上面の第1稜線12Eが第1面81に突き当たることにより、半導体素子12がY方向及びZ方向で位置決めされるようになっている。
コレット70では、吸引器62により、吸引口78を通じて半導体素子12が吸引されて、Y方向、Z方向及びX方向で位置決めされた状態の半導体素子12が保持されるようになっている。
移動機構63は、吸引器62をY方向に移動させることにより、コレット70をプリント配線基板44に対してY方向へ相対移動させるようになっている。すなわち、本実施形態では、移動機構63によって吸引器62がY方向に移動し、基板位置決め部40の搬送部材42によってプリント配線基板44がX方向に移動することで、コレット70をプリント配線基板44に対してX方向、Y方向に相対移動させるようになっている。
また、移動機構63は、吸引器62を上下方向(Z方向)に移動させることにより、コレット70をプリント配線基板44に対して上下方向(Z方向)へ相対移動させるようになっている。本実施形態では、コレット70をプリント配線基板44に対して、X方向、Y方向に相対移動させた後、コレット70を下方(−Z方向)に降下させることで、半導体素子12をプリント配線基板44に転写された接合剤G上に置く(搭載する)ようになっている。
なお、移動機構63としては、例えば、Y方向及びZ方向に移動可能な二軸ロボットが用いられる。
(プリント配線基板装置の製造方法)
本実施形態に係るプリント配線基板装置の製造方法では、図1に示されるように、まず、供給部13において、移動機構17が保持部15をX方向及びY方向へ移動させることで、搭載対象の半導体素子12を予め定められたピックアップ位置に位置させる(位置調整工程)。
次に、供給部13のピックアップ位置に位置する半導体素子12を、移送装置50が位置決め台30のプレート34上に移送して、プレート34上の仮置き位置に半導体素子12を仮置きする(仮置工程)。
次に、プレート34上の仮置き位置に仮置きされた半導体素子12を、位置決め部材22によって、プレート34上の予め定められた位置決め位置に移動させて位置決め(位置出し)する(部品位置決め工程の一例としての素子位置決め工程)。
次に、基板位置決め部40において、一対の搬送部材42がプリント配線基板44を位置決めする(基板位置決め工程)。なお、この基板位置決め工程は、素子位置決め工程の後に行う必要は無く、素子位置決め工程の前又は同時に行っても良い。
次に、接合剤厚調整装置120の回転皿122にのせられた接合剤Gを、転写ピン142によって、基板位置決め部40で位置決めされたプリント配線基板44に転写する(接合剤転写工程)。
次に、転写ピン142で転写された接合剤G上に、素子位置決め工程で位置決めされた半導体素子12を移送装置60によって移送する(移送工程)。
なお、本移送工程では、複数の半導体素子12が、図8に示されるように、プリント配線基板44に対して千鳥状に配置される。すなわち、上記位置調整工程、仮置工程、素子位置決め工程、塗布工程、保持工程、搭載工程が、半導体素子12の数に応じて行われる。なお、本実施形態では、例えば、複数の半導体素子12をY方向一方側(図8の下側)に間隔をおいて一列に配置した後、複数の半導体素子12をY方向他方側(図8の上側)に間隔をおいて一列に配置するようになっている。すなわち、本実施形態では、例えば、
プリント配線基板44の長手方向一端44Aから数えて奇数番目にあたる搭載位置T1、T3、T5・・・に配置した後、当該一端44Aから数えて偶数番目にあたる搭載位置T2、T4・・・に配置することで、千鳥状に配置する。
次に、接合剤Gを固化させる(固化工程)。具体的には、例えば、接合剤Gを、例えば、1〜2時間、110〜120℃で加熱することで、接合剤Gを固化させる。これにより、プリント配線基板装置が製造される。
(本実施形態に係る作用)
次に、本実施形態に係る作用を説明する。
本実施形態では、前述のように、半導体素子12の長手方向端部同士がY方向に接近する千鳥状に配置されるため、接合剤転写工程において、転写ピン142でプリント配線基板44に接合剤Gを転写する際に、転写ピン142が、既に搭載された半導体素子12の長手方向端部に接近する。
このため、例えば、既に搭載された半導体素子12が正規位置からずれた位置に搭載された場合や、転写ピン142が正規位置からずれた位置でプリント配線基板44に接合剤Gを転写した場合では、既に搭載された半導体素子12に転写ピン142が接触することがある。既に搭載された半導体素子12に転写ピン142が接触すると、当該半導体素子12の素子屑(破損した半導体素子12)や当該半導体素子12自体(以下、素子屑等112という)が転写ピン142に付着し、転写ピン142が回転皿122の接合剤Gへ当該素子屑等112を運んでしまう場合がある。このように、素子屑等112が異物として、接合剤G中に混入する場合がある。なお、回転皿122の接合剤Gに混入する異物には、素子屑等112だけでなく、例えば、製造装置の構成部品や、当該構成部品の部品屑(破損した構成部品)、その他の接合剤Gとは異質なものが含まれる。
ここで、回転皿122の半径方向(矢印Y方向)に対して直交する直交板230によって接合剤Gをならす比較例(図9(A)(B)参照)では、素子屑等112が回転皿122の接合剤G中に混入すると、素子屑等112が、直交板230に引っ掛かったり、直交板230と回転皿122の底壁124Aとの間に挟まったりしやすい。
素子屑等112が、直交板230に引っ掛かったり、直交板230と回転皿122の底壁124Aとの間に挟まったりした場合には、直交板230と回転皿122の底壁124Aとの隙間が小さくなり、接合剤Gの厚さが正規の厚さよりも薄くなってかすれHが発生する。これにより、転写ピン142に付着される接合剤Gの量が低減し、半導体素子12に転写する接合剤Gの量が低減する。このため、半導体素子12の接合不良の原因となる。
これに対して、本実施形態では、調整部材130の傾斜板132の傾斜によって、回転皿122の接合剤G中の素子屑等112は、回転皿122の外周側へ移動する。傾斜板132によって回転皿122の外周側へ移動する素子屑等112は、開口部135を通過して、調整部材130(傾斜板132)に対する回転皿122の外周側(転写ピン142の転写領域の外側)へ移動する。これにより、素子屑等112が、調整部材130(傾斜板132)に引っ掛かったり、調整部材130(傾斜板132)と回転皿122の底壁124Aとの間に挟まったりすることが抑制される。
このため、接合剤G中の素子屑等112によって回転皿122上の接合剤Gの厚みが不均一となることが抑制される。これにより、転写ピン142に付着される接合剤G、及び、プリント配線基板44に転写される接合剤Gにおいて、厚みが不均一となることが抑制され、プリント配線基板44に対する半導体素子12の接合不良が抑制される。
また、調整部材130(傾斜板132)に対する回転皿122の外周側へ移動した素子屑等112は、転写ピン142の転写領域の外側に位置する。このため、接合剤G中の素子屑等112が、転写ピン142に接触せず、接合剤G中の素子屑等112が転写ピン142に再付着してプリント配線基板44に運ばれることが抑制される。
また、本実施形態では、回転する回転皿122の外周側へ素子屑等112を移動させるので、回転皿122の遠心力を利用して、素子屑等112を効果的に回転皿122の外周側へ移動させられる。また、回転皿122の外周側へ移動した後の素子屑等112は、回転皿122の遠心力によって、内周側(転写ピン142の転写領域)へ移動することが抑制される。
また、本実施形態では、傾斜板132の傾斜により、接合剤Gも回転皿122の外周側へ流れてしまうが、調整部材130の制限板134によって、接合剤Gの回転皿122の外周側への流れが制限される。これにより、回転皿122の外周側へ流れる接合剤量が低減される。すなわち、半導体素子12の接合に使用されない接合剤量が低減される。
(変形例)
上記の実施形態では、調整部材130の傾斜板132が異物を回転皿122の外周側へ移動させる構成であったが、これに限られず、図10に示されるように、傾斜板132が異物を回転皿122の内周側へ移動させる構成であってもよい。図10に示す構成では、傾斜板132は、回転皿122の回転方向下流側に向かって徐々に回転皿122の内周側へずれるように傾斜しており、その傾斜により、該接合剤G中の異物を回転皿122の内周側へ移動させる機能を有している。また、制限板134は、傾斜板132に対する回転皿122の内周側で、傾斜板132に対向しており、回転皿122の半径方向に対する垂直方向(直交方向)に配置されている。
また、上記の実施形態では、調整部材130の開口部135は、回転方向の下流側に開口していたが、これに限られず、図11(A)に示されるように、回転皿122の外周壁124B側(回転方向(矢印A方向)に対する垂直方向)に開口する構成であってもよい。なお、開口部135は、図11(B)に示されるように、回転方向の下流側(矢印A方向側)及び回転皿122の外周壁124Bの両方に開口していてもよい。すなわち、開口部135は、回転方向の下流側及び回転皿122の外周壁124Bの少なくとも一方に開口していればよい。なお、傾斜板132が異物を回転皿122の内周側へ移動させる構成においては、開口部135は、回転方向の下流側及び回転皿122の内周壁124Cの少なくとも一方に開口される。
また、上記実施形態では、案内部の一例として傾斜板132を用い、制限部として制限板134を用いた構成を説明したが、案内部及び制限部としては、板状である必要はなく、種々の形状とすることができる。
また、上記実施形態では、回転部の一例として回転皿122を用いた構成を説明したが、回転部としては、回転皿122に限られず、その形状及び構成は、種々の構成を採用することができる。
さらに、上記実施形態では、連結板136を介して傾斜板132と制限板134とが接続されたヘッド部材131の構成を説明したが、調整部材130のヘッド部材131としては、連結板136を介さず、傾斜板132と制限板134とが直接、接続された構成であってもよい。
また、上記実施形態では、粘性を有する粘性剤の一例として接合剤Gを用いた構成を説明したが、粘性剤としては接合剤Gに限られず、接合を目的としないものでもよい。すなわち、粘性剤は、粘性を有する材料であればよく、接着剤等の接合剤以外のものであってもよい。
本発明は、上記の実施形態に限るものではなく、種々の変形、変更、改良が可能である。例えば、上記に示した変形例は、適宜、複数を組み合わせて構成しても良い。
12 半導体素子(部品の一例)
20 素子位置決め部(部品位置決め部の一例)
40 基板位置決め部
60 移送装置(移送機構の一例)
100 搭載装置
112 素子屑等(異物の一例)
120 接合剤厚調整装置(粘性剤厚調整装置の一例)
122 回転皿(回転部の一例)
132 傾斜板(案内部の一例)
134 制限板(制限部の一例)
135 開口部
140 転写部
G 接合剤(粘性剤の一例)

Claims (4)

  1. 粘性剤をのせた回転部と、
    該回転部の回転方向に対して傾斜して設けられ、該粘性剤の厚さを一定にし、該粘性剤中の異物を該回転部の内周側又は外周側へ案内する案内部と、
    該案内部における該回転方向の下流端部に接続され、該案内部の傾斜により該粘性剤が該内周側又は外周側に流れるのを制限する制限部と、
    該案内部と該制限部との接続部に設けられ該異物を通過させる開口部と、
    を備えた粘性剤厚調整装置。
  2. 前記案内部は、前記異物を前記回転部の外周側へ案内し、
    前記制限部は、前記案内部の傾斜により前記粘性剤が外周側に流れるのを制限する請求項1に記載の粘性剤厚調整装置。
  3. 部品を位置決めする部品位置決め部と、
    基板を位置決めする基板位置決め部と、
    請求項1又は2に記載の粘性剤厚調整装置と、
    前記粘性剤厚調整装置の回転部にのせられた粘性剤としての接合剤を、前記基板位置決め部に位置決めされた基板に転写する転写部と、
    前記転写部で転写された接合剤上に、前記部品位置決め部で位置決めされた前記部品を移送する移送機構と、
    を備えた搭載装置。
  4. 請求項3に記載の搭載装置の前記部品位置決め部によって前記部品を位置決めする部品位置決め工程と、
    前記基板位置決め部によって前記基板を位置決めする基板位置決め工程と、
    前記粘性剤厚調整装置の回転部にのせられた接合剤を、前記転写部によって前記基板位置決め部に位置決めされた前記基板に転写する接合剤転写工程と、
    前記転写部で転写された接合剤上に、前記部品位置決め工程で位置決めされた前記部品を前記移送機構によって移送する移送工程と、
    を有する基板装置の製造方法。
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