JP2014187075A - 光結合装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光結合装置5は、発光素子10と、電源電圧端子44と、フォトトランジスタ20と、出力端子46と、出力側接地端子48と、カレントミラー回路30と、を有する。発光素子10は、入力電気信号を光信号に変換して放出する。フォトトランジスタ20は、エミッタと、電源電圧端子44と接続されるコレクタと、を有し、前記光信号を電気信号に変換する。カレントミラー回路30は、フォトトランジスタ20のエミッタ電流が入力されるコレクタを有する第1のトランジスタQ1と、第1のトランジスタQ1のサイズのn(但し、n≧1)倍のサイズを有する第2のトランジスタQ2とを有する。第2のトランジスタQ2は、フォトトランジスタ20のエミッタ電流のn倍のコレクタ電流をコレクタに接続された出力端子46を介して供給可能である。
【選択図】図1
Description
図1は、第1の実施形態にかかる光結合装置の構成図である。
光結合装置5は、発光素子10と、フォトトランジスタ(受光素子)と、カレントミラー回路30と、電源電圧端子44と、出力端子46と、出力側接地端子48と、を有する。
また、光結合装置5は、入力端子40と、入力側接地端子42と、をさらに有することができる。
発光素子10の順方向電流をIFとし、フォトトランジスタ20のコレクタ電流をIcとするとき、光結合装置5の電流伝達率CTR(%)は、式(1)で表すことができる。
抵抗値RLである負荷抵抗(プルアップ抵抗)150は、フォトトランジスタ120のコレクタと電源電圧端子144との間に接続される。
図4(a)に表すような順方向電流IFが発光素子10に流れるものとする。負荷抵抗RLが大きい第1比較例(図4(b))において、フォトトランジスタ20は飽和しやすくなり、ロー(L)レベルの出力電圧VoutがGNDレベルに近くなる。
縦軸はスイッチング時間(μs)、横軸は負荷抵抗の値(kΩ)、である。スイッチング時間は、ベース・エミッタ間等価容量の放電による蓄積時間ts、オフ時間toff、オン時間ton、を含む。
第2の実施形態の光結合装置5は、第1のトランジスタQ1のエミッタと出力側接地端子48との間に接続された第1の抵抗72と、第2のトランジスタQ2のエミッタと出力側接地端子48との間に接続された第2の抵抗74と、をさらに有する。第1の抵抗72の値RQ1と、第2の抵抗74の値RQ2と、を変化することにより、第2のトランジスタQ2のコレクタ電流IQ2を制御可能である。
負荷抵抗50を光結合装置5の樹脂成型体70の内部に設ける。負荷抵抗50は、電源電圧端子44と、出力電圧端子46と、に接続される。この場合、フォトトランジスタ20と、カレントミラー回路30と、負荷抵抗50と、をSiからなる1チップ受光回路とすることができる。このため、光結合装置5および電子機器の小型化が容易となり、組立工程が簡素化できる。
フォトトランジスタのエミッタ電流は、バイポーラトランジスタのベースへ入力される。すなわち、フォトトランジスタ79は、ダーリントン接続される。このため、電流伝達率CTRを高めることがさらに容易となる。
カレントミラー回路31は、エンハンスメント型MOSFETからなる第1のトランジスタM1と、第2のトランジスタM2と、を含むことができる。バイポーラトランジスタによるカレントミラー回路は、電流増幅率hFEのバラツキが大きい。このため、電流伝達率CTRもバラツキが大きい。発明者らの実験によると、MOSFETからなるカレントミラー回路31では、光結合装置の電流伝達率CTRのバラツキが低減できることが判明した。
Claims (7)
- 入力電気信号を光信号に変換して放出する発光素子と、
電源電圧端子と、
エミッタと、前記電源電圧端子と接続されるコレクタと、を有し、前記光信号を電気信号に変換するフォトトランジスタと、
出力端子と、
出力側接地端子と、
前記フォトトランジスタのエミッタ電流が入力されるコレクタを有する第1のトランジスタと、前記第1のトランジスタの平面サイズのn(但し、n≧1)倍の平面サイズを有する第2のトランジスタと、前記第1のトランジスタのエミッタと前記出力側接地端子との間に接続された第1の抵抗と、前記第2のトランジスタのエミッタと前記出力側接地端子との間に接続された第2の抵抗と、を有し、前記第2のトランジスタはコレクタに接続された前記出力端子を介してコレクタ電流を供給可能なカレントミラー回路と、
を備え、
前記第2のトランジスタの前記コレクタ電流は、前記第1の抵抗の値と、第2の抵抗の値と、を変化することにより制御される光結合装置。 - 入力電気信号を光信号に変換して放出する発光素子と、
電源電圧端子と、
エミッタと、前記電源電圧端子と接続されるコレクタと、を有し、前記光信号を電気信号に変換するフォトトランジスタと、
出力端子と、
出力側接地端子と、
前記フォトトランジスタのエミッタ電流が入力されるコレクタを有する第1のトランジスタと、前記第1のトランジスタの平面サイズのn(但し、n≧1)倍の平面サイズを有する第2のトランジスタとを有し、前記第2のトランジスタは前記フォトトランジスタのエミッタ電流のn倍のコレクタ電流をコレクタに接続された前記出力端子を介して供給可能なカレントミラー回路と、
を備えた光結合装置。 - 入力電気信号を光信号に変換して放出する発光素子と、
電源電圧端子と、
エミッタと、前記電源電圧端子と接続されるコレクタと、を有し、前記光信号を電気信号に変換するフォトトランジスタと、
出力端子と、
出力側接地端子と、
前記フォトトランジスタのエミッタ電流が入力されるドレインを有する第1のトランジスタと、前記第1のトランジスタのゲート幅のn(但し、n≧1)倍のゲート幅を有する第2のトランジスタとを有し、前記第2のトランジスタは前記フォトトランジスタのエミッタ電流のn倍のドレイン電流をドレインに接続された前記出力端子を介して供給可能なカレントミラー回路と、
を備えた光結合装置。 - 前記発光素子と、前記フォトトランジスタと、前記カレントミラー回路と、前記電源電圧端子の一方の端部と、前記出力端子の一方の端部と、前記出力側接地端子の一方の端部と、を覆う樹脂成型体さらに備え、
前記電源電圧端子の他方の端部と、前記出力端子の他方の端部と、前記出力側接地端子の他方の端部と、は、前記樹脂成型体から外方へ突出する請求項2または3に記載の光結合装置。 - 前記電源電圧端子と、前記出力端子と、の間に接続された負荷抵抗をさらに備えた請求項2〜4のいずれか1つに記載の光結合装置。
- 前記発光素子と、前記フォトトランジスタと、前記カレントミラー回路と、前記負荷抵抗と、は、シリコン基板の上に設けられた請求項5記載の光結合装置。
- 前記フォトトランジスタは、ダーリントン接続である請求項1〜6のいずれか1つに記載の光結合装置。
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Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63104384A (ja) * | 1986-10-22 | 1988-05-09 | Fanuc Ltd | 光電変換回路 |
JPH04304011A (ja) * | 1991-03-31 | 1992-10-27 | Nec Corp | アイソレータのインターフェース回路 |
JPH05209788A (ja) * | 1992-01-31 | 1993-08-20 | Hitachi Ltd | 光電流検出回路 |
JPH05226688A (ja) * | 1992-01-08 | 1993-09-03 | Nec Corp | フォトカプラ |
JPH11205247A (ja) * | 1998-01-16 | 1999-07-30 | Mitsubishi Electric Corp | 光電変換回路 |
JP2004187168A (ja) * | 2002-12-05 | 2004-07-02 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 回路構成、光受信器、及び光リンク |
JP2009033142A (ja) * | 2007-06-29 | 2009-02-12 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 光電変換装置及び当該光電変換装置を具備する電子機器 |
US7582887B1 (en) * | 2008-04-03 | 2009-09-01 | Eugene C. Lee | Optocoupler current transfer ratio temperature compensation method and apparatus |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2974469B2 (ja) | 1991-09-17 | 1999-11-10 | 株式会社東芝 | 信号伝送回路 |
US5734703A (en) * | 1993-05-26 | 1998-03-31 | Hitachi Maxell, Ltd. | Hybrid circuit and data communication apparatus |
JP2006066614A (ja) | 2004-08-26 | 2006-03-09 | Sharp Corp | 光結合素子、およびそれを用いた電子機器 |
MXNL06000070A (es) | 2006-10-03 | 2008-10-24 | Ind Penoles Sa De Cv | Proceso para fabricacion de hidroxido de magnesio nanometrico, monodisperso y estable y producto obtenido. |
-
2013
- 2013-03-21 JP JP2013059137A patent/JP2014187075A/ja active Pending
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-
2015
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Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63104384A (ja) * | 1986-10-22 | 1988-05-09 | Fanuc Ltd | 光電変換回路 |
JPH04304011A (ja) * | 1991-03-31 | 1992-10-27 | Nec Corp | アイソレータのインターフェース回路 |
JPH05226688A (ja) * | 1992-01-08 | 1993-09-03 | Nec Corp | フォトカプラ |
JPH05209788A (ja) * | 1992-01-31 | 1993-08-20 | Hitachi Ltd | 光電流検出回路 |
JPH11205247A (ja) * | 1998-01-16 | 1999-07-30 | Mitsubishi Electric Corp | 光電変換回路 |
JP2004187168A (ja) * | 2002-12-05 | 2004-07-02 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 回路構成、光受信器、及び光リンク |
JP2009033142A (ja) * | 2007-06-29 | 2009-02-12 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 光電変換装置及び当該光電変換装置を具備する電子機器 |
US7582887B1 (en) * | 2008-04-03 | 2009-09-01 | Eugene C. Lee | Optocoupler current transfer ratio temperature compensation method and apparatus |
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Publication number | Publication date |
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