JP2014185884A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2014185884A5
JP2014185884A5 JP2013059601A JP2013059601A JP2014185884A5 JP 2014185884 A5 JP2014185884 A5 JP 2014185884A5 JP 2013059601 A JP2013059601 A JP 2013059601A JP 2013059601 A JP2013059601 A JP 2013059601A JP 2014185884 A5 JP2014185884 A5 JP 2014185884A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
amplified
sensor unit
signal
amplified signal
comparing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2013059601A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6205774B2 (ja
JP2014185884A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2013059601A priority Critical patent/JP6205774B2/ja
Priority claimed from JP2013059601A external-priority patent/JP6205774B2/ja
Priority to US14/175,565 priority patent/US9310448B2/en
Priority to CN201410108876.8A priority patent/CN104062609B/zh
Publication of JP2014185884A publication Critical patent/JP2014185884A/ja
Publication of JP2014185884A5 publication Critical patent/JP2014185884A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6205774B2 publication Critical patent/JP6205774B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Description

本発明の第２の実施形態によれば、第１のセンサーユニット２１の２つの出力信号Ａ１及びＡ２を比較することに加えて、第１のセンサーユニット２１の出力信号Ａ１及びＡ２を所定の増幅率で増幅して符号が互いに異なる第１の増幅信号Ｃ１及び第２の増幅信号Ｃ２を求め、第２のセンサーユニット２２の出力信号Ｂ１又はＢ２と第１の増幅信号Ｃ１とを比較すると共に、第２のセンサーユニット２２の出力信号Ｂ１又はＢ２と第２の増幅信号Ｃ２とを比較することにより、３０°（１／１２回転）の精度で磁界の回転角を検出することができる。


JP2013059601A 2013-03-22 2013-03-22 検出回路、半導体集積回路装置、磁界回転角検出装置、及び、電子機器 Active JP6205774B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013059601A JP6205774B2 (ja) 2013-03-22 2013-03-22 検出回路、半導体集積回路装置、磁界回転角検出装置、及び、電子機器
US14/175,565 US9310448B2 (en) 2013-03-22 2014-02-07 Detection circuit, semiconductor integrated circuit device, magnetic field rotation angle detection device, and electronic device
CN201410108876.8A CN104062609B (zh) 2013-03-22 2014-03-21 检测电路、半导体集成电路装置、磁场旋转角检测装置和电子设备

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013059601A JP6205774B2 (ja) 2013-03-22 2013-03-22 検出回路、半導体集積回路装置、磁界回転角検出装置、及び、電子機器

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2014185884A JP2014185884A (ja) 2014-10-02
JP2014185884A5 true JP2014185884A5 (ja) 2016-01-07
JP6205774B2 JP6205774B2 (ja) 2017-10-04

Family

ID=51550412

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013059601A Active JP6205774B2 (ja) 2013-03-22 2013-03-22 検出回路、半導体集積回路装置、磁界回転角検出装置、及び、電子機器

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9310448B2 (ja)
JP (1) JP6205774B2 (ja)
CN (1) CN104062609B (ja)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016180727A (ja) * 2015-03-25 2016-10-13 セイコーエプソン株式会社 検出回路、半導体集積回路装置、磁界回転角検出装置、及び、電子機器
US10591274B2 (en) 2016-09-28 2020-03-17 Infineon Technologies Ag External field robust angle sensing with differential magnetic field
DE102016118384B4 (de) * 2016-09-28 2023-10-26 Infineon Technologies Ag Magnetische Winkelsensorvorrichtung und Betriebsverfahren
US10871381B2 (en) * 2016-12-09 2020-12-22 Tdk Corporation Angle sensor and angle sensor system
US10533877B2 (en) * 2017-02-17 2020-01-14 Infineon Technologies Ag Angle sensor with disturbance field suppression
DE102020105933A1 (de) * 2019-03-06 2020-09-10 Infineon Technologies Ag Gegenüber einem externen feld robuste winkelerfassung mit differentiellem magnetfeld
US11608109B2 (en) 2020-08-12 2023-03-21 Analog Devices International Unlimited Company Systems and methods for detecting magnetic turn counter errors with redundancy
US11493362B2 (en) 2020-08-12 2022-11-08 Analog Devices International Unlimited Company Systems and methods for detecting magnetic turn counter errors
KR20220067698A (ko) * 2020-11-18 2022-05-25 주식회사 해치텍 비접촉식 자기 센싱 시스템
CN113419197B (zh) * 2021-06-02 2022-02-15 华中科技大学 一种降压磁通环装置及磁通感应信号测量方法
DE102021120034A1 (de) * 2021-08-02 2023-02-02 Infineon Technologies Ag Redundanter stromsensor

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6017364A (ja) * 1983-07-11 1985-01-29 Fanuc Ltd 電動機速度検出方式
JPS60161820U (ja) * 1984-04-05 1985-10-28 株式会社トーキン 磁気ロ−タリエンコ−ダ
JP2558287B2 (ja) * 1987-07-29 1996-11-27 株式会社三協精機製作所 エンコ−ダ装置
US5012239A (en) * 1989-08-21 1991-04-30 Visa-Trak Corporation High resolution position sensor circuit
JPH0760171B2 (ja) 1989-10-23 1995-06-28 愛知時計電機株式会社 磁場検出回路
JPH08248056A (ja) 1995-03-08 1996-09-27 Toshiba Corp 回転検出装置
JP2000180206A (ja) * 1998-12-21 2000-06-30 Mitsubishi Electric Corp 磁気検出装置
JP2003202224A (ja) * 2001-12-28 2003-07-18 Niles Parts Co Ltd 回転角検出装置
JP2007516415A (ja) * 2003-06-25 2007-06-21 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 磁界依存角度センサを備える装置
EP1751501A2 (en) * 2004-05-14 2007-02-14 Philips Intellectual Property & Standards GmbH Sensor element and associated angle measurement system
JP4689435B2 (ja) 2004-12-16 2011-05-25 アルプス電気株式会社 角度検出センサ
JP3848670B1 (ja) 2005-07-20 2006-11-22 株式会社トーメンエレクトロニクス 回転角度検出装置
US7714570B2 (en) * 2006-06-21 2010-05-11 Allegro Microsystems, Inc. Methods and apparatus for an analog rotational sensor having magnetic sensor elements
JP2008134181A (ja) * 2006-11-29 2008-06-12 Alps Electric Co Ltd 磁気検出装置及びその製造方法
JP2009198316A (ja) 2008-02-21 2009-09-03 Denso Corp 回転検出装置
CN101629802A (zh) * 2008-07-14 2010-01-20 Tdk株式会社 角度检测装置和角度检测方法
JP5105201B2 (ja) * 2008-07-30 2012-12-26 Ｔｄｋ株式会社 角度検出装置、及び角度検出方法
JP5306145B2 (ja) 2009-10-28 2013-10-02 旭化成エレクトロニクス株式会社 角度検出回路および角度検出装置
JP5096442B2 (ja) * 2009-11-17 2012-12-12 株式会社日立製作所 回転角計測装置，モータシステム及び電動パワーステアリング・システム
JP2011237359A (ja) * 2010-05-13 2011-11-24 Seiko Epson Corp 電波到来角度検出装置および電波到来角度検出方法
JP5110134B2 (ja) * 2010-08-30 2012-12-26 Ｔｄｋ株式会社 回転磁界センサ
JP5566871B2 (ja) * 2010-12-15 2014-08-06 株式会社東海理化電機製作所 回転検出装置
JP5800126B2 (ja) 2011-03-22 2015-10-28 セイコーエプソン株式会社 パルス発生回路、集積回路装置、検出装置
US9310240B2 (en) 2011-03-22 2016-04-12 Seiko Epson Corporation Circuit device, integrated circuit and detection device
JP2012230021A (ja) 2011-04-27 2012-11-22 Hitachi Automotive Systems Ltd 回転角度計測装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2014185884A5 (ja)
JP2016531299A5 (ja)
WO2015102707A3 (en) Compositions, methods and systems for external and internal environmental sensing
WO2015049321A3 (en) A sensor for an oral appliance
WO2013009461A3 (en) Absolute angular position sensor using two magnetoresistive sensors
WO2015022516A3 (en) Position sensor
FR3007586B1 (fr) Capteur radar a resolution angulaire
JP2014203135A5 (ja)
JP2014061590A5 (ja)
EP3028211A4 (en) Determining malware based on signal tokens
JP2015513329A5 (ja) 手指衛生順守の決定方法
WO2014095786A3 (de) Winkelsensors
GB2531179A (en) Rotational wellbore ranging
EP3588118A4 (en) SINGLE-CHIP DUAL-AXIS MAGNETIC ANGLE SENSOR
WO2015076756A8 (en) An apparatus and method for tracking a device
JP2014191020A5 (ja)
JP2014217976A5 (ja)
DE112012003891A5 (de) Einstellung von Entfernungstoren eines Umfeldsensors in Abhängigkeit von Umfeldinformationen
JP2015194403A5 (ja)
JP2014049891A5 (ja)
FR3041437B3 (fr) Circuit de detection, circuit d'entrainement hybride, et assemblage de capteur
JP2015022476A5 (ja)
JP2015520057A5 (ja)
JP2016166749A5 (ja)
DE102013010357A8 (de) Geschoss mit Effekt- bzw. Signalwirkung