JP2014172316A - テンプレートの製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】 転写すべき凹凸パターンを有する凹凸パターン形成面を含む複数の面に導電層を有するナノインプリント用のテンプレートを生産性良く製造する。
【解決手段】 本発明に係るナノインプリント用のテンプレートの製造方法は、テンプレートとなる第1の凹凸パターンが形成された第1の基体を準備する工程と、原子層堆積法(により前記第1の基体を覆うように導電層を形成する工程とを含み、さらにこのように製造されたテンプレートを第1のテンプレートとし、前記第1のテンプレートを用いてナノインプリント用のテンプレートを製造する方法であって、テンプレート形成用基材を準備する工程と、前記テンプレート形成用基材を覆うように第1の導電層を形成する工程と、前記第1のテンプレートを用いて前記テンプレート形成用基材にインプリントすることにより、第2の凹凸パターンが形成された第2の基体を作製する工程とを含む。
【選択図】 図1

Description

本発明は、ナノインプリント用のテンプレートの製造方法、及び当該方法により製造されたテンプレートを用いたインプリント方法に関する。
近年、フォトリソグラフィ技術に代わる微細なパターン形成技術として、インプリント方法を用いたパターン形成技術が注目されている。インプリント方法は、微細な凹凸構造を備えた型部材(テンプレート)を用い、凹凸構造をインプリント材料に転写することで微細構造を等倍転写するパターン形成技術である。例えば、インプリント材料として光硬化性樹脂を用いたインプリント方法では、転写基板の表面に光硬化性樹脂を供給し、凹凸パターンを有するテンプレートと転写基板とを近接させて凹凸パターン内に光硬化性樹脂を充填し、この状態で光を照射して光硬化性樹脂を硬化させ、その後、テンプレートを樹脂層から引き離すことにより、テンプレートが備える凹凸が反転した凹凸構造を有するパターン構造体を形成する。
このようなインプリント方法では、テンプレートを樹脂層から引き離す際に静電気が発生してテンプレートが帯電し、このテンプレートに雰囲気中の異物等が付着し易くなるという問題があった。また、インプリント装置内において発生した気流によってテンプレートが帯電することにより、テンプレートに異物等が付着し易くなるという問題があった。テンプレートに異物等が付着した状態でインプリントを行うと、パターン構造体の欠陥が生じ、さらに、テンプレートの破損等を生じるおそれがあった。これに対して、特許文献1では、凹凸パターン形成面に導電層を備えるテンプレートが提案されている。しかしながら、特許文献1では凹凸パターン形成面以外に導電層を形成することを想定していないため、テンプレートの形態やインプリント装置の構成によっては帯電の防止が適切になされないといった問題がある。
特開2004−311514号公報 特開2011−146496号公報
上記の問題点については、本出願人による特許出願である特許文献2に提案されたテンプレートによって解決できる。特許文献2では、透明基材の一方の面に凹凸パターンを有する透明導電パターン層と、透明基材の他方の面に透明導電裏面層とを有し、透明導電パターン層と透明導電裏面層とを接続する側部導電部材とを備えるテンプレートを提案している。
上記のテンプレートでは、テンプレートの凹凸パターン形成面だけではなく、テンプレートの側面や裏面といった、凹凸パターン形成面以外の面を含むテンプレートの外面に導電材料が形成されているため、電荷を逃がすことが可能となり帯電を防止できる。特許文献2では、導電材料の成膜例として蒸着といった付き回り性の低い成膜手法が選択されるため、通常は各面ごとに導電材料を成膜する必要があり、高い生産性をもってテンプレートを製造するにはまだ改善の余地がある。
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、凹凸パターン形成面を含む複数の面に導電層を有するナノインプリント用のテンプレートを生産性良く製造する方法を提供することを目的とする。
本発明の一実施形態に係るナノインプリント用のテンプレートの製造方法は、第1の凹凸パターンが形成された第1の基体を準備する工程と、原子層堆積法により前記第1の基体を覆うように導電層を形成する工程とを含むことを特徴とする。
他の態様として、テンプレートの製造方法は、上記の方法により製造されたナノインプリント用のテンプレートを第1のテンプレートとし、前記第1のテンプレートを用いてナノインプリント用のテンプレートを製造する方法であって、テンプレート形成用基材を準備する工程と、前記テンプレート形成用基材を覆うように第1の導電層を形成する工程と、前記第1のテンプレートを用いて前記テンプレート形成用基材にインプリントすることにより、第2の凹凸パターンが形成された第2の基体を作製する工程とを含んでいてもよい。
他の態様として、前記テンプレート形成用基材は、本体部と前記本体部から突出する凸構造部とを有し、前記第2の凹凸パターンは、前記凸構造部に形成され、前記第1の導電層は、前記本体部の表面と前記凸構造部の側面に形成されていてもよい。
他の態様として、前記テンプレート形成用基材は、前記第2の凹凸パターンが形成される側とは反対側に窪み部を有し、前記第1の導電層は、前記窪み部の内壁に形成されていてもよい。
他の態様として、原子層堆積法により前記第2の基体を覆うように第2の導電層を形成する工程をさらに含んでいてもよい。
他の態様として、前記第1のテンプレートを用いて複数の前記テンプレート形成用基材にインプリントすることにより、前記第2の基体を複数準備し、複数の前記第2の基体を一括処理して複数の前記第2の基体の各々に前記第2の導電層を形成してもよい。
他の態様として、前記第1の基体に形成される前記導電層の膜厚と前記第2の導電層の膜厚とは略同じ厚さであってもよい。
他の態様として、テンプレートの製造方法は、前記導電層を除去する工程と、前記導電層を除去した後、原子層堆積法により前記第1の基体を覆うように導電層を再形成する工程とをさらに含んでいてもよい。
また、本発明の一実施形態に係るインプリント方法は、上記のいずれかの方法により製造されたテンプレートによりインプリントを行うことを含む。
本発明によれば、凹凸パターン形成面を含む複数の面に導電層を有するナノインプリント用のテンプレートを生産性良く製造することができる。
本発明の一実施形態に係るテンプレートを説明する断面図である。 本発明の一実施形態に係るテンプレートの製造方法を説明する工程断面図である。 本発明の一実施形態に係るテンプレートを用いたインプリント方法を説明する工程断面図である。 本発明の一実施形態に係るテンプレートの製造方法を説明する工程断面図である。 本発明の一実施形態に係るテンプレートの製造方法を説明する工程断面図である。 本発明の一実施形態に係るテンプレートの製造方法を説明する工程断面図である。 本発明の一実施形態に係るテンプレートの製造方法を説明する模式図である。 本発明の一実施形態に係るテンプレートの製造方法の変形例を説明する模式図である。 本発明の一実施形態に係るテンプレートにより転写するパターンの寸法変動について説明する模式図である。
以下、図面を参照して本発明を説明する。但し、本発明は多くの異なる態様で実施することが可能であり、以下に示す実施の形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。なお、本実施の形態で参照する図面において、同一部分又は同様な機能を有する部分には同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略することがある。また、説明の便宜上、実際に比べて縮尺などを変更して説明を実施していることに注意されたい。
まず、図1を参照して、本発明の一実施形態に係るテンプレートについて説明をする。図1は、本発明の一実施形態に係るテンプレートを説明する断面図である。
図1(A)は、テンプレートの一例を示す図である。テンプレート100は、第1の凹凸パターン11が形成された第1の基体10と、第1の基体10を覆うように配置された導電層15とを備えている。第1の凹凸パターン11は、インプリントに用いる際に相手側に転写すべき凹凸構造を含むパターンである。第1の基体10は、例えば、直方体状であって、第1の凹凸パターン11が形成された凹凸パターン形成面1aと、凹凸パターン形成面1aに対向する裏面1bと、凹凸パターン形成面1aと裏面1bとを接続する側面1cとを有する。
図では、導電層15が第1の基体10の凹凸パターン形成面1a、裏面1b、及び側面1cに配置されているが、これに限るものではない。テンプレート100とテンプレートを把持する側の装置機構(図示せず)との関係にもよるが、導電層15は、少なくとも凹凸パターン形成面1aと側面1cとに配置され、それらが電気的に接続されていることが望まれる。第1の基体10の裏面1bに配置される導電層15の存在は任意であり、テンプレートを把持する側の装置機構(図示せず)との関係によって適宜設ければよい。したがって、導電層15が第1の基体10を覆うように形成されるとは、少なくとも凹凸パターン形成面1aを含む複数の面に導電層が配置されることを指し、この場合にはパターン形成面1aと側面1cの少なくとも一つの面とに配置される意味である。テンプレートと装置機構(図示せず)との電気的接点を取る自由度を上げるために、第1の基体10の外面の過半数の面に導電層15が形成されていることが好ましく、最も好ましくは、凹凸パターン形成面1a、裏面1b、及び側面1cを含む外面全てに導電層15を設ける。なお、導電層15は、各面の全域に設けられる必要はなく、各面の一部領域に設けられていてもよい。
第1の基体10の材料としては、絶縁性材料を含み、例えば、石英やソーダライムガラス、ホウ珪酸ガラス等のガラス、ポリカーボネート、ポリスチレン等の樹脂、あるいは、これらの材料の任意の組み合わせからなる複合材料基板であってよい。テンプレートを光インプリント法に用いる場合には、第1の基体10は光透過性を有する材料であることが好ましく、この場合、典型的には石英を用いることができる。なお、第1の基体10の材料として、シリコンなどの半導体を除外するものではない。第1の基体10の電気抵抗値、不純物濃度、凹凸パターンの密度、インプリント環境などの種々の条件によっては、導電層15を設けることが推奨される場合もあるからである。
第1の基体10の厚さは特に制限はないが、凹凸構造の形状、材料強度、取り扱い適性等を考慮して設定することができ、100μm〜10mmの範囲で適宜選択することができる。
導電層15の材料としては、例えば、Ni,Co,Mn,Pt,Ru,Cu等の金属、これらの金属のいずれかを含む合金や、ITO(Indium Tin Oxide),SnO2,ZnOなどの透明導電性材料等を挙げることができる。なかでも光インプリント法に用いられるテンプレートにあっては、透明導電性材料を用いると透明性を損なうことがなく好ましい。
導電層15の厚さは特に制限はないが、0.5nm〜100nmの範囲で適宜選択することができる。なかでも導電層15の厚さを1nm〜20nmの範囲とすることが好ましい。導電層15の厚さが1nmより小さくなると導電性が不十分となるおそれがあり、20nmより大きくなると転写すべきパターンの微細化に支障を来たすおそれがあるからである。
図1(B)は、テンプレートの一例を示す図であり、図1(A)と比較して、第1の基体10の形態が異なる。第1の基体10は、本体部10aと、この本体部10aから突出する凸構造部10bを有するものであり、いわゆるメサ構造と呼ばれるものである。第1の凹凸パターン11は、凸構造部10bに形成されており、凸構造部10bの表面が凹凸パターン形成面1aとなる。図のように、導電層15は、凸構造部側面1d及び本体部表面1eにも形成されているので、凸構造部側面1d及び本体部表面1eに異物が付着することが抑制される。このような形態は、インプリントの際にインプリント材料の濡れ広がりを制御するのに有効である。
凸構造部10bは、平面視において外縁が本体部10aの外縁よりも内側に位置するように形成される。凸構造部10bは、本体部10aと一体に構成されているが、これに限らず、別体で構成されてもよい。本体部表面1eを基準とした凹凸パターン形成面1aの高さについては、特に制限はないが、3μm〜100μmの範囲で適宜選択することができる。なかでも本体部表面1eを基準とした凹凸パターン形成面1aの高さを、5μm〜50μmとすることが好ましい。本体部表面1eからの凹凸パターン形成面1aの高さが5μmよりも小さくなるとインプリント材料の濡れ広がり防止効果が低下するおそれがあり、50μmよりも大きくなると加工に時間を要し生産性が低下するおそれがあるからである。
図1(C)は、テンプレートの一例を示す図であり、図1(B)と比較して、第1の基体10の形態が異なる。第1の基体10は、裏面1b側に窪み部10cを有するものであり、いわゆるザグリ構造と呼ばれるものである。図のように、導電層15は、窪み部底面1f及び窪み部壁面1gを含む内壁にも形成されている。このような形態は、インプリントの際に窪み部10cに圧力を加えて薄肉部分を撓ませて、インプリント材料に点接触に近い状態で接触させるのに有効である。
窪み部10cの深さは、第1の基体10の薄肉部分がインプリント時にパターン形成面1a側に向かって凸状に湾曲可能な程度の厚さを有するように設定される。例えば、窪み部10cの深さは、第1の基体10の厚肉部分の厚さの70%〜90%程度に設定することができる。
凸構造部10bの外形と窪み部10cの外形とを平面に投影したときに、凸構造部10bの外形が窪み部10cの外形に包摂されるように、両者を配置することが好ましい。これにより、インプリント材料の濡れ広がりを制御でき、かつインプリント材料の未充填等による欠陥を低減することができる。
上記においては、テンプレート100の構成として説明を行ったが、後述するように当該テンプレート100を用いて作製されるレプリカテンプレートも上記と略同様の構成を採用することができる。
(第1の実施形態)
本発明の一実施形態に係るテンプレートの製造方法について、図2及び図3を参照して説明する。図2は、本発明の一実施形態に係るテンプレートの製造方法を説明する工程断面図である。
1.第1の基体準備工程(図2(A)参照)
第1の凹凸パターン11が形成された第1の基体10を準備する。第1の基体10は、典型的には電子線リソグラフィにより第1の凹凸パターン11が形成されることにより構成される。第1の凹凸パターン11の形成は、電子線リソグラフィに限らず、EUV露光や液浸露光等のフォトリソグラフィや、インプリントリソグラフィにより行ってもよい。また、各種リソグラフィ技術と、側壁法や自己組織化法等を併用することもできる。
2.導電層形成工程(図2(B)参照)
原子層堆積(Atomic Layer Deposition;ALD)法により、第1の基体10を覆うように導電層15を形成する。原子層堆積法は、2種類以上の反応物の前駆体ガスを交互に成膜対象の露出した表面に作用させ、原子レベルで反応物の堆積を行う方法であり、溝などの凹凸構造に対する被覆性に優れる。
原子層堆積法によれば、例えば、50nm以下の微細な寸法の凹凸構造を有するテンプレートに対して凹凸構造に追従する被膜を形成することができ、なかでも30nm以下の線幅の極微細の凹凸構造であってアスペクト比が1以上の高アスペクト比の凹凸構造を有するテンプレートであっても凹凸構造に追従する被覆性のよい被膜が得られる。また、テンプレートにパターン密度が異なる領域があっても、領域によって成膜速度が変化する可能性が少ないため、テンプレート面内に均一性の高い被膜が得られる。さらに、原子レベルで反応物を堆積するため、導電層15の膜厚の管理が容易となり、テンプレートのパターン寸法保証が容易となる。
原子層堆積法は、Thermal−ALD法とPE(Plasma Enhanced)−ALD法に大別されるが、いずれの方法であってもよい。好ましくは、PE−ALD法を用いることができる。PE−ALD法では、成膜時の第1の基体10の温度を比較的低温(例えば、300℃以下)とすることができ、第1の基体10の熱歪みに起因するパターンの位置ずれを抑制することができるからである。
例えば、第1の基体10を覆うように透明導電性材料であるZnOの導電層を形成する場合には、反応ガスとして、ジエチル亜鉛(diethylzinc;DEZ)およびH2Oを用いるとよい。当該ガスを用い、例えば、140℃〜170℃の条件下で成膜を行う。本実施形態においては、特に第1の基体10の外面に保護等を施さない場合には、反応ガスは第1の基体10の外面に付着し、第1の凹凸パターン形成面1a、裏面1b、側面1cの全域に導電層15が形成されることとなる。
このようにして第1の基体10の外面に導電層15を形成することができる。なお、原子層堆積法を実行する前に、導電層15を形成したくない領域があれば当該領域を予めマスクしておき、成膜後にマスクを除去することにより選択的に所定の領域に導電層15を形成することも可能である。
以上によれば、原子層堆積法を用いるため、反応ガスと接触する面に対しては同一工程で導電層を形成できることから、凹凸パターン形成面を含む複数の面に導電層を有するナノインプリント用のテンプレートを生産性良く製造することができる。
(第2の実施形態)
本発明の一実施形態に係るテンプレートを用いたインプリント方法について、図3を参照して説明する。図3は、本発明の一実施形態に係るテンプレートを用いたインプリント方法を説明する工程断面図である。なお、以下では光インプリント法について説明するが、これに限らず熱インプリント法などにも適用可能である。
1.パターン形成用基材準備工程(図3(A)参照)
パターン形成用基材40aを準備する。パターン形成用基材の材料は、テンプレート100に用いることができる材料と略同様のものを用いることができる。パターン形成用基材40には予め構造体が形成されていてもよい。パターン形成用基材40aの厚みは、特に制限はなく、凹凸構造の形状、材料強度、取り扱い適性等を考慮して設定することができ、例えば、100μm〜10mmの範囲で適宜選択することができる。また、パターン形成用基材40aの外形はテンプレート100と同じであってもよいし、異なっていてもよい。光インプリント法では、テンプレート100、パターン形成用基材40aの少なくとも一方が光透過性を有する。なお、必要に応じて、パターン形成用基材40aに1層以上のハードマスクが形成されていてもよい。
2.インプリント材料供給工程(図3(B)参照)
パターン形成用基材40aにインプリント材料Rを供給する。インプリント材料Rは、光硬化性樹脂である。インプリント材料の供給方法は、例えば、スピンコート法、インクジェット法などを用いることができる。図のようにインクジェット法によりインプリント材料Rを供給する場合には、パターン形成用基材40aにインプリント材料Rの1以上の液滴を形成する。
3.接触工程(図3(C)参照)
テンプレート100とパターン形成用基材40aを対向させ、テンプレート100とパターン形成用基材40aの間隔を小さくし、テンプレート100とインプリント材料Rとを接触させる。パターンの寸法やインプリント材料の特性にもよるが、毛管現象を利用してテンプレートの凹凸構造内にインプリント材料を充填してもよいし、テンプレート及びパターン形成用基材の少なくとも一方を他方に押圧してテンプレートの凹凸構造内にインプリント材料を充填してもよい。
4.インプリント材料成形工程(図3(D)参照)
パターン形成用基材40aとテンプレート100との間にインプリント材料Rを介在させた状態で、インプリント材料Rに紫外線を照射してインプリント材料Rに硬化させる。これによりインプリント材料Rを成形する。紫外線照射は、テンプレート100側及びパターン形成用基材40a側の少なくとも一方から行うとよい。
5.離型工程(図3(E)参照)
インプリント材料Rを硬化させた後、テンプレート100をインプリント材料Rから引離す離型を行う。これにより、パターン形成用基材40aに転写層50を形成することができる。上記のインプリントをステップアンドリピート方式でパターン形成用基材の複数の領域に対して実行し、多面付けされた転写層50を作製してもよい。形成された転写層50をもとに新たなレプリカテンプレート、半導体装置、磁気記録媒体などを製造することができる。
(第3の実施形態)
本発明の一実施形態に係るテンプレートの製造方法について、図4を参照して説明する。テンプレートの製造後に一定の時間が経過したり、また、製造後に実使用したりすると、テンプレートには異物が付着することがある。本発明の一実施形態に係るテンプレートの製造方法は、導電層を除去する工程と、導電層を除去した後、原子層堆積法により第1の基体を覆うように導電層を再形成する工程とを含む。図4は、本発明の一実施形態に係るテンプレートの製造方法を説明する工程断面図である。
図4(A)は、例示として、所定の回数のインプリントを行った後のテンプレート100を模式的に表している。テンプレート100の凹凸パターン形成面1aには異物Pが付着している。このような異物Pは、例えば、第1の凹凸パターン11に対するインプリント材料の密着度合い、換言すれば、基材40に対するインプリント材料の密着度合いによりテンプレート100側に付着したインプリント材料の硬化物や、インプリント装置内に飛散したインプリント材料の一成分や、インプリント装置の摺動により生じた金属などに起因するものである。このような異物Pは、通常、洗浄などにより除去されるものであるが、異物Pがテンプレート100側に強固に付着した場合には洗浄などによる除去が困難となることがある。
そこで、図4(B)に示すように、テンプレート100に形成された導電層15を除去し、リフトオフのごとく導電層とともに異物Pを除去する。このとき、導電層15は第1の基体10から完全に除去されてもよいし、一部が残存するようにしてもよい。再形成後の導電層の厚さを把握しやすくするために異物Pの除去時に導電層15を完全に除去することが好ましい。導電層15の除去は、材料に応じてウェットエッチングやドライエッチングのいずれかを選択して行うことができる。
次に図4(C)に示すように、導電層を除去した後、原子層堆積法により第1の基体10を覆うように導電層15を再形成する。これにより、異物Pが除去されたテンプレート100を得ることができる。本実施形態によれば、洗浄などで除去が困難な程度に付着した異物があっても除去することができる。また、導電層を再形成することにより、剥離帯電による異物の付着を抑えることができるテンプレートを製造することができる。
(第4の実施形態)
本発明の一実施形態に係るテンプレートの製造方法は、上記実施形態に加えて、テンプレート100を第1のテンプレートとし、テンプレート形成用基材を準備する工程と、テンプレート形成用基材を覆うように第1の導電層を形成する工程と、第1のテンプレートを用いてテンプレート形成用基材にインプリントすることにより、第2の凹凸パターンが形成された第2の基体を作製する工程とを含む。このような態様について、図5〜図9を参照して説明する。
図5〜図7は、本発明の一実施形態に係るテンプレートの製造方法を説明する工程断面図である。なお、以下では光インプリント法を用いたテンプレートの製造方法について説明するが、これに限らず熱インプリント法などにも適用可能である。
1.テンプレート形成用基材等準備工程(図5(A)参照)
第2の基体となるテンプレート形成用基材40bを準備する。テンプレート形成用基材の材料は、テンプレート100に用いることができる材料と略同様であってもよい。テンプレート形成用基材40bは予め構造体が形成されていてもよい。テンプレート形成用基材40bの厚みは特に制限はなく、凹凸構造の形状、材料強度、取り扱い適性等を考慮して設定することができ、例えば、100μm〜10mmの範囲で適宜選択することができる。また、テンプレート形成用基材40bの外形はテンプレート100と同じであってもよいし、異なっていてもよい。図では、テンプレート形成用基材40bは、メサ構造とザグリ構造の両方の構造を備えるものである。なお、メサ構造はエッチング等により形成でき、ザグリ構造は研磨等により形成することができる。光インプリント法では、テンプレート100、テンプレート形成用基材40の少なくとも一方が光透過性を有する。
テンプレート形成用基材40bの外面には、第1の導電層25が形成されている。第1の導電層25は、テンプレート形成用基材40bのパターン形成面2a、裏面2b、側面2cに形成されることが好ましい。これにより、装置機構(図示せず)との電気的接点をとるための自由度が上がるからである。第1の導電層25の厚さは特に制限はないが、0.5nm〜100nmの範囲で適宜選択することができる。なかでも第1の導電層25の厚さを1nm〜20nmの範囲とすることが好ましい。第1の導電層15の厚さが1nmよりも小さくなると導電性が不十分となるおそれがあり、20nmより大きくなると後述するマスク51により第1の導電層25を微細にパターニングすることが困難となるおそれがあるからである。
第1の導電層25の形成方法は、特に制限は無く、導電材料を1又は複数の工程によりテンプレート形成用基材40bの外面に堆積させることができる種々の手法を採用することができる。なかでも、テンプレート形成用基材40bのパターン形成面2a、裏面2b、側面2c、凸構造部側面2d、本体部表面2eに同一の工程で成膜できる、原子層堆積法、化学気相堆積法(Chemical Vapor Deposition;CVD)、及び無電解めっき法から選択されるいずれかの方法を採用することが好ましい。なかでも第1の導電層25の形成方法としては、原子レベルの極薄膜を形成可能である原子層堆積法を用いることが好ましい。なお、必要に応じて、テンプレート形成用基材40bには第1の導電層25の形成前または第1の導電層25の形成後に1層以上のハードマスクが形成されていてもよい。第1の導電層の材料は、上述した導電層の材料と略同様のものを用いることができる。
2.インプリント材料供給工程(図5(B)参照)
テンプレート形成用基材40bにインプリント材料Rを供給する。インプリント材料Rは、光硬化性樹脂である。インプリント材料の供給方法は、例えば、スピンコート法、インクジェット法などを用いることができる。図のようにインクジェット法によりインプリント材料Rを供給する場合には、テンプレート形成用基材40bにインプリント材料Rの1以上の液滴を形成する。
3.接触工程(図5(C)参照)
テンプレート100とテンプレート形成用基材40bを対向させ、テンプレート100とテンプレート形成用基材40bの間隔を小さくし、テンプレート100とインプリント材料Rとを接触させる。パターンの寸法やインプリント材料の特性にもよるが、毛管現象を利用してテンプレートの凹凸構造内にインプリント材料を充填してもよいし、テンプレート及びテンプレート形成用基材の少なくとも一方を他方に押圧してテンプレートの凹凸構造内にインプリント材料を充填してもよい。
4.インプリント材料成形工程(図5(D)参照)
テンプレート形成用基材40bとテンプレート100との間にインプリント材料Rを介在させた状態で、紫外線を照射してインプリント材料Rに硬化させる。これによりインプリント材料Rを成形する。
5.離型工程(図6(A)参照)
インプリント材料Rを硬化させた後、テンプレート100をインプリント材料Rから引離す離型を行う。これにより、テンプレート形成用基材40bに転写層50を形成することができる。テンプレート100には導電層が形成されているので、離型によるテンプレートの帯電が防止される。また、テンプレート形成用基材40b側に第1の導電層25が形成されているので、離型による基材の帯電を防止できる。これによりテンプレート100及びテンプレート形成用基材40bに異物が付着することを防止することができる。
6.残膜除去工程(図6(B)参照)
転写層50の全面にエッチングを行って転写層50の残膜部分を除去することにより、マスク51を作製する。これにより、転写層50の下の第1の導電層25の一部を露出させる。
7.第1の導電層エッチング工程(図6(C)参照)
マスク51をエッチングマスクとして第1の導電層25をエッチングしてパターニングする。これにより、第1の導電層25の下のテンプレート形成用基材40bのパターン形成面1aの一部を露出させる。
8.第2の凹凸パターン形成工程(図6(D)参照)
パターニングされた第1の導電層25をマスクとして、テンプレート形成用基材40bをエッチングして第2の凹凸パターン21を形成することより、第2の凹凸パターンが形成された第2の基体20が形成される。第2の凹凸パターン21は、通常、テンプレート100が持つ転写すべきパターンを反転した形状の凹凸構造となる。以上のようにして、第2の基体20の複数の外面に第1の導電層25が形成されたテンプレート200a(第2のテンプレート)を作製することができる。上記の転写に関する工程をステップアンドリピート方式でテンプレート形成用基材の複数の領域に対して実行し、パターンが多面付けされたテンプレート200aを作製してもよい。
以上によれば、第1のテンプレートを用いて第2のテンプレートを作製する際に、第1のテンプレートと第2のテンプレートとなるテンプレート形成用基材40bの複数の外面に各々導電材料が配置されているため、テンプレートとテンプレート形成用基材との各々の帯電が抑制されるため、離型時又は離型後においてテンプレートとテンプレート形成用基材に異物が付着することが防止される。したがって、第1のテンプレートの破損を防止するとともに、第2のテンプレートの欠陥発生が抑制される。
さらに本実施形態に係るテンプレートの製造方法は、以下の工程を有していてもよい。
9.第2の導電層形成工程(図7参照)
パターニングされた第1の導電層25を、テンプレート形成用基材40bをエッチングするためのマスクとして利用するため、第2の凹凸パターン21の凹部内には第1の導電層25は存在していない。異物の種類や大きさ等にもよるが、第2の凹凸パターン21の凹部内には第1の導電層25が存在しないものであっても所期の効果を奏するが、より効果的に第2の基体20の帯電を抑制するには、第2の凹凸パターン21の凹部内にも導電材料を配置することが好ましい場合がある。そこで、第2の基体20を覆うように第2の導電層26を形成する。
第2の導電層26は、第2の基体20の外面の全面に形成されることが好ましい。第2の導電層26の厚さは特に制限はないが、0.5nm〜100nmの範囲で適宜選択することができる。なかでも第2の導電層26の厚さを1nm〜20nmの範囲とすることが好ましい。第2の導電層26は、導電材料を第2の基体20の外面に堆積させることにより形成され、例えば、原子層堆積法、化学気相堆積法、及び無電解めっき法から選択されるいずれかの方法により形成される。なかでも第2の導電層26の形成方法としては、原子レベルの極薄膜を形成可能であって、かつ、複数枚を一括成膜(いわゆるバッチ処理)可能である原子層堆積法を用いることが好ましい。第2の導電層の材料は、上述した導電層の材料と略同様のものを用いることができる。
以上によれば、テンプレート200aの外面に、さらに第2の導電層26が形成されたテンプレート200bを作製することができる。テンプレート200aに第2の導電層26を形成することで、第2の凹凸パターン21の内部にも導電材料を配置することができるため、テンプレート200bの帯電をより効果的に抑制することができる。
テンプレート200aに原子層堆積法により第2の導電層26を形成する場合には、以下のようにバッチ処理により成膜することができる。図8は、本発明の一実施形態に係るテンプレートの製造方法の変形例を説明する模式図であり、テンプレート200aへの第2の導電層を形成する際の変形例を示す。
原子層堆積装置のチャンバー(図示せず)内において、複数のテンプレート200aが縦型配置の成膜用冶具1000に所定間隔を空けて配置されている。この状態で、水平方向から反応ガスを供給し、複数のテンプレート200aの外面に反応ガスを接触させ、これらの面に導電材料を堆積させて第2の導電層26を形成する。このような態様によれば、同一工程による成膜処理によって複数のテンプレート200bを得ることができ、生産性をさらに向上させることができる。
ここで図9を参照し、テンプレートが転写するパターンの寸法の関係について考察する。以下、説明の便宜上、各パターンがラインとスペースにより構成されるとして取り扱う。
図9(A)は、テンプレート100が転写するパターンの寸法を説明する模式図である。第1の基体10には、幅L0のラインと、このラインの間に位置し幅S0のスペースとを有する第1の凹凸パターンが形成されている。第1の基体10には厚さd1の導電層15が形成されている。第1の凹凸パターンは導電層15により被覆されていることから、テンプレート100が転写できるラインの幅はL1、スペースの幅S1となる。L1は第1の凹凸パターンのラインの幅L0よりも2d1だけ幅が広くなる。一方、S1は第1の凹凸パターン11のスペースの幅S0よりも2d1だけ幅が小さくなる。導電層15の厚さが小さいほどパターンの寸法変動が小さくなることがわかる。
図9(B)は、テンプレート200aが転写するパターンの寸法を説明する模式図である。第2の基体20には、幅をL2とするラインと、幅S2とするスペースとを有する第2の凹凸パターンが形成されている。第2の基体20には厚さd2の第1の導電層25が形成されている。テンプレート100による転写が等倍転写であるならば、L1=S2かつL2=S1である。
図9(C)は、テンプレート200bが転写するパターンの寸法を説明する模式図である。第2の凹凸パターンは厚さd3の第2の導電層26により被覆されていることから、テンプレート200bが転写できるラインの幅はL3、スペースの幅S3となる。第2の基体20には、幅をL2とするラインと、幅をS2とするスペースとを有するパターンが形成されている。L3はL2よりも2d3だけ幅が大きくなる。一方、S3はS2よりも2d3だけ幅が小さくなる。以上を整理すると以下の式1及び式2の関係となる。
3=L2+2d3=(S0−2d1)+2d3 ・・・(式1)
3=S2−2d3=(L0+2d1)―2d3 ・・・(式2)
したがって、導電層15の厚さd1と第2の導電層26の厚さd3とが略等しい場合には、S3=L0かつL3=S0となる。テンプレート200bにより転写できるパターンは、テンプレート100の第1の凹凸パターンと同等となり、導電材料を堆積することによるパターンの寸法変動は無視できることになる。なお、導電層15の厚さd1と第2の導電層26の厚さd3とが略等しいとは、厚さの差が2nm以下であることをいう。
100…テンプレート(第1のテンプレート)、10・・・第1の基体、11・・・第1の凹凸パターン、15・・・導電層、200・・テンプレート(第2のテンプレート)、20・・・第2の基体、21・・・第2の凹凸パターン、25・・・第1の導電層、26・・・第2の導電層、40a・・・パターン形成用基材、40b・・・テンプレート形成用基材、50・・・転写層、51・・・マスク、1000・・・成膜用冶具、R・・・インプリント材料、P・・・異物

Claims (9)

  1. ナノインプリント用のテンプレートの製造方法であって、
    第1の凹凸パターンが形成された第1の基体を準備する工程と、
    原子層堆積法により前記第1の基体を覆うように導電層を形成する工程とを含むテンプレートの製造方法。
  2. 請求項1に記載の方法により製造されたテンプレートを第1のテンプレートとし、前記第1のテンプレートを用いてナノインプリント用のテンプレートを製造する方法であって、
    テンプレート形成用基材を準備する工程と、
    前記テンプレート形成用基材を覆うように第1の導電層を形成する工程と、
    前記第1のテンプレートを用いて前記テンプレート形成用基材にインプリントすることにより、第2の凹凸パターンが形成された第2の基体を作製する工程とを含むテンプレートの製造方法。
  3. 前記テンプレート形成用基材は、本体部と前記本体部から突出する凸構造部とを有し、
    前記第2の凹凸パターンは、前記凸構造部に形成され、
    前記第1の導電層は、前記本体部の表面と前記凸構造部の側面に形成されている、請求項2記載のテンプレートの製造方法。
  4. 前記テンプレート形成用基材は、前記第2の凹凸パターンが形成される側とは反対側に窪み部を有し、
    前記第1の導電層は、前記窪み部の内壁に形成されている、請求項2又は3記載のテンプレートの製造方法。
  5. 原子層堆積法により前記第2の基体を覆うように第2の導電層を形成する工程を含む、請求項2乃至4のいずれか1項記載のテンプレートの製造方法。
  6. 前記第1のテンプレートを用いて複数の前記テンプレート形成用基材にインプリントすることにより、前記第2の基体を複数準備し、
    複数の前記第2の基体を一括処理して複数の前記第2の基体の各々に前記第2の導電層を形成する、請求項5記載のテンプレートの製造方法。
  7. 前記第1の基体に形成される前記導電層の膜厚と前記第2の導電層の膜厚とは略同じ厚さである、請求項5又は6記載のテンプレートの製造方法。
  8. 前記導電層を除去する工程と、
    前記導電層を除去した後、原子層堆積法により前記第1の基体を覆うように導電層を再形成する工程とを含む請求項1乃至7のいずれか1項記載のテンプレートの製造方法。
  9. 請求項1乃至8のいずれか1項の方法により製造されたテンプレートによりインプリントを行う、インプリント方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017085034A (ja) * 2015-10-30 2017-05-18 大日本印刷株式会社 インプリント用のモールド、モールド製造用の基板およびインプリント方法
WO2017204260A1 (ja) * 2016-05-25 2017-11-30 大日本印刷株式会社 テンプレート及びテンプレートブランクス、並びにインプリント用テンプレート基板の製造方法、インプリント用テンプレートの製造方法、及び、テンプレート
US10569450B2 (en) 2016-02-29 2020-02-25 Canon Kabushiki Kaisha Imprint apparatus, mold, imprint method, and method of manufacturing article

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009241372A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 Hitachi High-Technologies Corp 微細構造転写装置
JP2010225260A (ja) * 2009-02-24 2010-10-07 Fujifilm Corp モールドおよびその製造方法
JP2011065113A (ja) * 2009-09-21 2011-03-31 Toshiba Corp 位相シフトマスク、その製造方法及び半導体装置の製造方法
JP2011108920A (ja) * 2009-11-19 2011-06-02 Toshiba Corp テンプレート、テンプレートの製造方法及びパターン形成方法
JP2012009776A (ja) * 2010-06-28 2012-01-12 Hoya Corp 基板作製方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009241372A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 Hitachi High-Technologies Corp 微細構造転写装置
JP2010225260A (ja) * 2009-02-24 2010-10-07 Fujifilm Corp モールドおよびその製造方法
JP2011065113A (ja) * 2009-09-21 2011-03-31 Toshiba Corp 位相シフトマスク、その製造方法及び半導体装置の製造方法
JP2011108920A (ja) * 2009-11-19 2011-06-02 Toshiba Corp テンプレート、テンプレートの製造方法及びパターン形成方法
JP2012009776A (ja) * 2010-06-28 2012-01-12 Hoya Corp 基板作製方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017085034A (ja) * 2015-10-30 2017-05-18 大日本印刷株式会社 インプリント用のモールド、モールド製造用の基板およびインプリント方法
US10569450B2 (en) 2016-02-29 2020-02-25 Canon Kabushiki Kaisha Imprint apparatus, mold, imprint method, and method of manufacturing article
WO2017204260A1 (ja) * 2016-05-25 2017-11-30 大日本印刷株式会社 テンプレート及びテンプレートブランクス、並びにインプリント用テンプレート基板の製造方法、インプリント用テンプレートの製造方法、及び、テンプレート
JP2018056545A (ja) * 2016-05-25 2018-04-05 大日本印刷株式会社 テンプレート及びテンプレートブランクス、並びにインプリント用テンプレート基板の製造方法、インプリント用テンプレートの製造方法、及び、テンプレート
JP7056013B2 (ja) 2016-05-25 2022-04-19 大日本印刷株式会社 テンプレート及びテンプレートブランクス、並びにインプリント用テンプレート基板の製造方法、インプリント用テンプレートの製造方法、及び、テンプレート
US11340526B2 (en) 2016-05-25 2022-05-24 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Production method of template, template blank, and template substrate for imprinting, production method of template for imprinting, and template

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