JP2014135393A - 有機材料塗布装置およびその装置を用いた有機材料塗布方法 - Google Patents

有機材料塗布装置およびその装置を用いた有機材料塗布方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2014135393A
JP2014135393A JP2013002779A JP2013002779A JP2014135393A JP 2014135393 A JP2014135393 A JP 2014135393A JP 2013002779 A JP2013002779 A JP 2013002779A JP 2013002779 A JP2013002779 A JP 2013002779A JP 2014135393 A JP2014135393 A JP 2014135393A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
organic material
chamber
stage
substrate
gas
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2013002779A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6044352B2 (ja
Inventor
Hiromichi Kato
博道 加藤
Masayuki Katayama
片山  雅之
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2013002779A priority Critical patent/JP6044352B2/ja
Publication of JP2014135393A publication Critical patent/JP2014135393A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6044352B2 publication Critical patent/JP6044352B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Coating Apparatus (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)

Abstract

【課題】有機材料の溶解した溶液の過飽和度をより厳密に制御可能にすること。
【解決手段】この有機材料塗布装置は、一面(12a)に基板(20)が載置される、加熱可能なステージ(12)と、吐出口(13a)がステージの一面に対向して移動自在に配置され、基板の表面に有機材料を塗布するノズル(13)と、ステージおよびノズルを格納するチャンバ(11)と、を有する。
そして、不活性気体をステージの一面に噴きつける供給部(14)と、チャンバ内の気体をチャンバ外へ排気する排気部(15)と、を備える。供給部のうち、チャンバ内に開口する開口部(14c)は、ステージの一面と同一高さに配置され、排気部のうち、チャンバ内に開口する開口部(15b)は、ステージの一面よりも高い位置に配置される。
【選択図】図1

Description

本発明は、基板上に有機半導体薄膜を形成させる有機材料塗布装置およびその装置を用いた有機材料塗布方法に関する。
有機材料からなる有機半導体薄膜は、結晶の方位によってキャリア移動度が異なる。より高いキャリア移動度を得るためには、結晶の配向を揃えることが重要である。結晶を形成する方法の一として、結晶化させる対象(有機材料)が溶解した溶液を過飽和の状態として結晶を析出させるものがある。この方法によって結晶の配向を揃えるためには、過飽和の状態をうまく制御する必要がある。
これを実現する装置として、例えば、特許文献1に記載の発明がある。特許文献1に記載の有機材料塗布装置は、有機材料を塗布する対象としての基板を載置するためのステージと、有機材料を塗布するためのノズルとを具備する。そして、ステージはベーク処理機構を有し、ステージとノズルとは、密封されたチャンバ内に設置される。
この装置では、密封された空間において、基板をベーク処理機構によって昇温維持することができる。さらに、基板を減圧環境下あるいは、所定のガス供給源を配置することにより、不活性ガス雰囲気中に置くことができる。すなわち、この装置を用いることにより、有機材料を、所定の温度および圧力下、あるいはガス雰囲気下において、基板上に塗布することができる。これにより、均一性の良い有機材料膜を塗布することができるとされている。
特開2005−211734号公報
しかしながら、特許文献1に記載の装置では、ベーク処理されるステージ周辺の温度と、ステージから遠い領域との間に温度差を生じ、ステージ周辺において自然対流が発生してしまう。この対流により、密封された空間内における溶液の濃度の分布が時間的に変化してしまう。このため、基板上に塗布された溶媒の過飽和度を厳密に制御することができないという問題がある。
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、有機材料の溶解した溶液の過飽和度をより厳密に制御可能にすることを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明は、一面(12a)に基板(20)が載置され、ヒータにより加熱可能なステージ(12)と、吐出口(13a)がステージの一面に対向して移動自在に配置され、基板の表面に有機材料を塗布するノズル(13)と、ステージおよびノズルを格納するチャンバ(11)と、を有する有機材料塗布装置であって、不活性気体をステージの一面に噴きつける供給部(14)と、チャンバ内の気体をチャンバ外へ排気する排気部(15)と、を備え、供給部のうち、チャンバ内に開口する開口部(14c)は、ステージの一面と同一高さに配置され、排気部のうち、チャンバ内に開口する開口部(15b)は、ステージの一面よりも高い位置に配置されることを特徴としている。
これによれば、ステージと同一の高さに配置された供給部からステージの一面上に向かって、不活性気体を噴きつけることができる。このため、ステージの一面近傍において、有機材料を塗布した際に気化した有機材料が停滞して存在することを抑制することができる。したがって、結晶化に寄与する有機材料の近傍に存在する余分な有機材料を除去できるとともに、温度の高い余分な有機材料やその他気体の停滞を抑制できるため、基板上の有機材料の過飽和度を制御しやすくできる。
また、本発明における排気部はステージの一面よりも高い位置に配置されている。気化した余分な有機材料は、加熱されているため、ステージから離れた位置における気体よりも高温となっている。このため、対流によりステージの一面よりも高い位置に流動する。したがって、本発明のように排気部がステージの一面よりも高い位置に配置されていることにより、気化した余分な有機材料を効率よくチャンバ外に排出することができる。これにより、結晶化に寄与する有機材料の近傍に存在する余分な有機材料を除去できるため、基板上の有機材料の過飽和度を制御しやすくできる。
さらに、チャンバが、該チャンバおよび該チャンバ内を冷却する冷却機構(50)を備えることが好ましい。
これによれば、気化してチャンバ内を流動する有機材料との間の熱交換により加熱されたその他の気体(不活性気体等)の温度を、所定温度まで冷却することができる。換言すれば、チャンバ内の温度を所定の温度に保つことができる。このため、加熱可能なステージ近傍を除くチャンバ内の温度分布をより均一にすることができる。したがって、基板上に塗布される有機材料に、ステージ以外の熱源から熱エネルギーを供給されることを抑制でき、有機材料の過飽和度をより厳密に制御することができる。
さらに、ガス精製装置(16)を有し、ガス精製装置は、チャンバ内の気体を吸引し、ガス精製装置の内部において不純物を吸着して除去する構成とすると良い。
これによれば、チャンバ内の有機溶媒や水、酸素など、結晶化させる有機材料に対して活性な不純物を除去した状態で、有機材料の塗布および結晶化を行うことができる。
また、本発明に係る、有機材料を塗布する方法は、ステージの一面に基板を配置する基板準備工程と、ステージに設けられたヒータにより基板を所定の温度に昇温する基板加熱工程と、基板の表面に有機材料を塗布する有機材料塗布工程と、を有し、基板準備工程または基板加熱工程の少なくとも一の工程において、ガス精製装置によりチャンバ内の不純物を除去するとともに、有機材料塗布工程を実施する際には、ガス精製装置を停止することを特徴としている。
ガス精製装置は、チャンバ内のガスを吸引して、ガス精製装置の内部で不純物を除去後、不純物が除去された気体をチャンバ内に戻す。このため、チャンバ内に少なからず対流が発生してしまう。この対流により、基板上に塗布される有機材料近傍に存在する気体としての有機材料の濃度が時間的に変化するため、基板上に存在する有機材料を含む溶液の過飽和度を厳密に制御することが難しかった。
これに対して、本発明に係る方法によれば、有機材料塗布工程において、ガス精製装置を停止する。このため、有機材料塗布工程の実施時において、温度分布に起因する対流を除く、外的な要因による対流を抑制することができる。したがって、有機材料の過飽和度を厳密に制御することができる。
第1実施形態に係る有機材料塗布装置の概略構成を示す図である。 有機材料塗布装置の図1とは異なる断面を示す図である。 チャンバ内の流速分布を示す図である。 第2実施形態に係る有機材料塗布装置の概略構成を示す図である。 冷却機構を有さないチャンバ内の温度分布を示す図である。 冷却機構を有するチャンバ内の温度分布を示す図である。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。なお、以下の各図相互において、互いに同一もしくは均等である部分に、同一符号を付与する。
(第1実施形態)
最初に、図1および図2を参照して、本実施形態に係る有機材料塗布装置10の概略構成について説明する。なお、図1における太線矢印は気体に流れを示している。
本実施形態に係る有機材料塗布装置10は、図1に示すように、チャンバ11と、該チャンバ内に、少なくとも、ステージ12と、有機材料を含む溶液を吐出するノズル13と、を有する。また、この有機材料塗布装置10は、チャンバ11内の所定位置に不活性気体を噴きつける供給部14と、チャンバ11内の気体をチャンバ11の外部に排出する排気部15と、を有する。また、本実施形態における有機材料塗布装置10には、チャンバ11内の不純物を除去するガス精製装置16も設けられている。さらに、本実施形態では、図2に示すように、後述する基板20を搬入するための搬入パスボックス30と、有機材料が塗布された後の基板20の搬出を行う搬出パスボックス40と、がチャンバ11と連通して配置されている。
チャンバ11は、内部を所定の気圧にすることのできる真空チャンバであり、排気部15には真空ポンプ17が設けられるとともに、ベーク機構、温度計、圧力計、各種バルブ等(図示せず)が設けられている。また、後述する基板20をステージ12上に載置したり、移動させたりするマニピュレータやゴム手袋挿入部(図示せず)も設けられている。このように、チャンバ11は、その内部において、少なくとも0.5気圧(略50kPa)程度の真空度で、ステージ12の加熱や有機材料の塗布の工程を実施することができるようにされている。
ステージ12はヒータ(図示せず)を有し、ステージ12を加熱することによりステージ12の一面12a上に載置された基板20を所定温度に保持する。ステージ12は基板20を30℃〜200℃の範囲で温度調節することができる。なお、本実施形態におけるステージ12には、基板20に塗布された有機材料の膜の平面形状を観察できるようにカメラが設けられる。
ノズル13は、その先端から有機材料を含む溶液を吐出できるようになっており、先端の吐出口13aはステージ12の一面12aと対向して配置されている。ノズル13は、ステージ12の一面12aに沿う方向に二次元的に移動可能に配置されている。これにより、ステージ12上に載置された基板20の表面に、有機材料を塗布することができる。また、ノズル13には温度調整機構が備えられ、吐出される有機材料の温度を30℃〜200℃の範囲で調整可能なようになっている。なお、ノズル13から吐出される有機材料は、溶液タンク13bに貯蔵され、配管13cを通って吐出口13から吐出される。本実施形態では、溶液タンク13bおよび配管13cにも温度調整機構が備えられており、ノズル13と同様に、30℃〜200℃の温度範囲で有機材料の温度を調整可能になっている。
供給部14はチャンバ11の内部に窒素などの不活性気体を導入するものである。供給部14はガス供給源18と、ガス供給源18とチャンバ11とを連通させる例えばニップル14aのような筒状の部材と、を有する。ニップル14チャンバ11の内外を連通するように設けられる。そして、供給部14の一端14bがチャンバ11の外部に用意されたガスボンベ等のガス供給源18に接続される。また、供給部14の他端14cはチャンバ11に接続されて開口部を形成する。なお、供給部14にはバルブ14dが配置され、ガス供給源18からチャンバ11内に導入されるガスの流量を調整することができる。本実施形態における不活性気体は窒素であり、ガス供給源18は窒素ボンベである。
供給部14は本発明の要部である。供給部14のうち、チャンバ11の内部で開口した一端14cは、ニップル14aの軸がステージ12の一面12aと略同一の高さになるように形成されている。これにより、供給部14からチャンバ11内部に導入された不活性気体がステージ12の一面12a、ひいては、一面12a上に載置された基板20の表面に噴き付けられるようになっている。不活性気体の噴出量、すなわち、ステージ12の一面12a上における不活性気体の流量は可変とされており、所望の有機材料の特性に応じて調整することができるようになっている。
排気部15はチャンバ11内の気体をチャンバ11外へ排気するものである。排気部15は例えばニップル15aのような筒状の部材と、真空ポンプ17と、を有する。ニップル15aの一端15bがチャンバ11にフランジを介して接続されて開口部を形成し、他端15cが真空ポンプ17に接続されている。
排気部15も本発明の要部である。排気部15のうち、ニップル15aの一端15bとチャンバ11とにより形成される開口部は、ニップル15aの軸がステージ12の一面12aよりも高い位置に配置される。
ガス精製装置16は、チャンバ11の内部の、結晶化させるべき有機材料に対して活性な気体、例えば、有機溶媒や水分、酸素、を除去するものである。ガス精製装置16は、チャンバ11の内部の気体をガス精製装置16に吸入する吸入口16aと、吸入口16aから吸入した気体の一部をチャンバ11の内部に戻す排出口16bとを有する。そして、吸入口16aと排出口16bのいずれもがチャンバ11の内部と連通するように任意の位置に接続される。ガス精製装置16における吸入口16aと排出口16bとの間にはフィルタ16cが配置され、このフィルタ16cにより有機材料に対して活性な気体を除去する。
搬入パスボックス30は、図2に示すように、真空バルブ31を介してチャンバ11に接続されている。搬入パスボックス30は、基板20をチャンバ11に搬入する前に基板20に吸着した活性気体等を脱離させるためのものである。搬入パスボックス30には、真空ポンプ17とは別に、図示しない真空ポンプが接続され、搬入パスボックス30独立で真空引きが可能にされている。また、窒素のような不活性気体を搬入パスボックス30内に独立に導入できるようにされている。なお、本実施形態では図示しないが、基板20を200℃以下の比較的低温で加熱できるようにヒータを配置してもよい。
搬出パスボックス40は、図2に示すように、真空バルブ41を介してチャンバ11に接続されている。搬出パスボックス40は、基板20をチャンバ11から搬出する前に基板20および形成された有機材料の薄膜を乾燥させるためのものである。搬出パスボックス40には、真空ポンプ17とは別に、図示しない真空ポンプが接続され、搬出パスボックス40独立で真空引きが可能にされている。また、窒素のような不活性気体を搬出パスボックス40内に独立に導入できるようにされている。
次に、図1および図2を参照して、有機材料塗布装置10を用いた有機材料塗布方法について説明する。
先ず、チャンバ11、搬入パスボックス30、および、搬出パスボックス40を含む真空系のデガス処理を実施する。真空バルブ31,41を開放してチャンバ11、搬入パスボックス30、および、搬出パスボックス40を連通させ、真空ポンプ17を駆動させる。そして、真空系の外壁にラバーヒータを巻きつけて加熱することにより、真空系の真空側内壁に吸着した気体分子を離脱させ真空系の外部に排出する。これにより、基板20や有機材料がチャンバ11内に導入された際に、酸素等の活性気体が基板20に吸着することを防止したり、有機材料と反応してしまうことを防止したりすることができる。
デガス処理の後、真空ポンプ17を駆動させながらラバーヒータを停止し、バルブ14dを調整して窒素を導入する。窒素は、チャンバ11内の気圧が1気圧程度で平衡状態となるようにする。その後、真空バルブ31,41を閉じて、チャンバ11、搬入パスボックス30、および、搬出パスボックス40の内部空間を互いに分離する。
この段階で、チャンバ11、搬入パスボックス30、および、搬出パスボックス40の内部は、デガス処理が成され、窒素を主成分とする気体により1気圧程度とされている。ガス供給源18からバルブ14dを介してチャンバ11内部に供給される窒素は、供給部14の一端(開口部)14cからチャンバ11内部に噴きつけるように供給され、排気部15の一端(開口部)15bを通過してチャンバ11の外部に排気される。ガス供給源18からの供給と、排気部15からの排出が平衡状態となることにより、チャンバ11内の気圧が1気圧程度で一定となる。なお、チャンバ11内の気圧は、供給部14の一端14cから供給される量と、排気部15から排出する量と、を変更することで任意に調整することができる。ただし、後述する有機材料塗布工程では、ステージ12の一面12a上において、供給される窒素の流量が一定とされていることが好ましく、チャンバ11内圧力の調整は排気部15の排気量を調整して行うことが好ましい。
なお、後述するように、搬入パスボックス30、および、搬出パスボックス40については、真空系の外部と内部との間で基板20の搬入出を行うため、その際に内部が大気に触れることになる。したがって、上記工程において必ずしもデガス処理を行う必要はない。ただし、大気開放の際に水分や酸素が吸着するため、デガス処理を行うことが好ましい。
次いで、基板準備工程を実施する。基板準備工程は、基板20表面の活性気体を脱離させて清浄化する基板清浄工程と、清浄化した基板20をステージ12に載置する基板搬入工程とからなる。
まず、基板清浄工程を行う。搬入パスボックス30を大気開放し、基板20を搬入パスボックス30に投入する。この際、ガス供給源18とは別系統から窒素を導入し、外気に対してわずかに正圧(1気圧よりも高い状態)としておくと、大気中の水分等が侵入しにくい。その後、図示しない真空ポンプを用いて搬入パスボックス30内の真空引きを行う。この真空引きでは、例えば1.0×10−4気圧(略0.1Torr)以下にするなど、後述の有機材料塗布工程時の気圧よりも低気圧にしておくとよい。これにより、基板20の表面に吸着した水分や酸素など、有機材料に対して活性な気体分子を脱離させることができる。より好ましくは、搬入パスボックス30内にプレヒータを設置して基板20を200℃程度に加熱しつつ真空引きを行うとよい。これにより、有機材料を塗布する際の加熱によって吸着分子が脱離して有機材料を汚染することを抑制することができるとともに、真空バルブ31を開放して搬入パスボックス30とチャンバ11とを連通させたときに、不純物がチャンバ11内に侵入することを抑制することができる。その後、窒素を導入して1気圧程度とする。なお、プレヒータによる加熱は、チャンバ11内で実施してもよい。
この段階で、チャンバ11、搬入パスボックス30、および、搬出パスボックス40の内部は、真空バルブ31,41により互いに分離されつつも、それぞれ1気圧程度の窒素で充填されている。基板20は搬入パスボックス30内に配置され、活性気体の脱離(清浄化)が完了している。
その後、基板搬入工程を行う。すなわち、清浄化した基板20を搬入パスボックス30からチャンバ11に移送する。真空バルブ31を開放し、図示しないマニピュレータあるいはハンドリング用のゴム手袋挿入部を介して基板20をチャンバ11内のステージ12に載置する。そして、真空バルブ31を閉じて、チャンバ11を搬入パスボックス30から分離する。
この段階で、基板20は、1気圧程度の窒素で満たされたチャンバ11内のステージ12上に載置されている。上記の基板清浄工程と基板搬入工程とを経て基板準備工程が完了する。
次いで、ガス精製装置16を駆動させる。ガス精製装置16に内蔵されるポンプを駆動させ、吸入口16aからチャンバ11内の気体を吸入させる。チャンバ11内の気体はフィルタ16cを通過して排出口16bからチャンバ11内に戻る。ガス精製装置16は、気体がフィルタ16cを通過する際に有機材料に対して活性な成分を除去しつつ、チャンバ11内の気体を循環させる。
次いで、基板加熱工程を実施する。ステージ12はヒータを有し、ヒータに通電することでステージ12自身を加熱することができる。基板加熱工程では、ステージ12上に載置された基板20を所定の温度、例えば略150℃まで昇温する。この基板加熱工程において基板20から脱離した活性な気体成分はガス精製装置16により除去される。なお、基板加熱工程の実施の最中も供給部14から基板20の表面に向かって窒素が噴き付けられているため、流量に合わせてヒータに通電する電流値を決定する。
そして、有機材料塗布工程の直前にガス精製装置16を停止する。すなわち、チャンバ11内において、気体が機械的に循環しないようにする。
次いで、有機材料塗布工程を実施する。この工程では、有機材料を含む溶液を基板20上に塗布する。溶液は溶液タンク13bに貯蔵され、溶液タンク13bに備えられた温度調整機構によりステージ12とほぼ同等の温度(本実施形態では略150℃)に予め昇温しておく。また、配管13cおよびノズル13も温度調整機構により昇温しておくことにより、溶液タンク13bから送り出された有機材料を所定の温度に保ちつつ、基板20に塗布することができる。なお、有機材料塗布工程におけるチャンバ11内の平均温度は30℃程度としておくことが好ましい。また、この有機材料塗布工程において、排気部15によるチャンバ11内の気体の排気量を調整し、チャンバ11内の圧力を調整する。本実施形態では、例えば、略0.5気圧とする。上述したように、チャンバ11内の気圧は、供給部14の一端14cから供給される量と、排気部15から排出する量と、を変更することで任意に調整することができる。ただし、有機材料塗布工程では、ステージ12の一面12a上において、供給される窒素の流量が一定とされていることが好ましく、チャンバ11内圧力の調整は排気部15の排気量を調整して行うことが好ましい。また、チャンバ11内の圧力は、0.5気圧に限定されるものではない。塗布する有機材料によって適宜設定すべきである。
有機材料塗布工程の後、ガス精製装置16を再び駆動させる。
次いで、基板搬出工程を行う。すなわち、表面に有機材料が塗布された基板20をチャンバ11から搬出パスボックス40に移送し、外部に取り出す。具体的には、真空バルブ41を開放し、図示しないマニピュレータあるいはハンドリング用のゴム手袋挿入部を介して基板20を搬出パスボックス40に移送する。そして、真空バルブ41を閉じて、搬出パスボックス40をチャンバ11から分離する。その後、真空引きにより搬出パスボックス40内を減圧して有機材料を乾燥させる。そして、窒素を導入して外気に対してわずかに正圧とし、搬出パスボックス40を大気開放して基板20を取り出す。
以上の工程を経て、基板20上に有機材料の薄膜を成長させることができる。
次に、図3を参照して、本実施形態に係る有機材料塗布装置10と、本装置を用いた有機材料塗布方法の作用効果について説明する。なお、図3は、発明者らがコンピュータシミュレーションによりチャンバ11内における流速分布を計算した結果である。
本実施形態における有機材料塗布装置10は、供給部14と排気部15とを有している。本実施形態では、図1に示すように、供給部14としてのニップル14aがチャンバ11の内壁と略垂直に接続されている。このため、ガス供給源18からチャンバ11に導入される窒素の流速は、図3に示すように、チャンバ11の内壁に垂直な方向の成分が主となる。なお、図3において、ノズル13、ノズル13の吐出口13a、溶液タンク13bおよび配管13cは一体の部材として描画している。
本実施形態では、図3に示すように、供給部14の一端(開口部)14cがステージ12の一面12aと同一の高さに配置されている。したがって、有機材料塗布工程において、窒素の流束がステージ12の一面12a上に噴き付けられる。このため、ステージ12の一面12a近傍において、有機材料を塗布した際に気化した有機材料が停滞して存在することを抑制することができる。したがって、結晶化に寄与する有機材料の近傍に存在する余分な有機材料を除去できるとともに、温度の高い余分な有機材料やその他気体の停滞を抑制できるため、基板20上の有機材料の過飽和度を制御しやすくできる。
また、本実施形態では、図3に示すように、排気部15におけるチャンバ11と接続された一端(開口部)15bがステージ12の一面12aよりも高い位置に配置されている。気化した余分な有機材料は、ステージ12により加熱されているため、ステージ12から離れた位置における気体よりも高温となっている。このため、図3に示すように、対流によりステージ12の一面12aよりも高い位置において流束を有する。すなわち、ステージ12よりも高い位置に流動する。したがって、排気部15の一端(開口部)15bがステージ12の一面12aよりも高い位置に配置されていることにより、気化した余分な有機材料を効率よくチャンバ11の外部に排出することができる。これにより、結晶化に寄与する有機材料の近傍に存在する余分な有機材料を除去できるため、基板20上の有機材料の過飽和度を制御しやすくできる。
また、本実施形態では、有機材料塗布装置10がガス精製装置16を有する。ガス精製装置16は上述の通り、チャンバ11内における活性な気体をフィルタ16cにより除去するものである。このため、ガス精製工程を実施することにより、有機材料の結晶成長に悪影響を与える活性な気体をチャンバ11内から除去することができる。また、本実施形態では、有機材料塗布工程を実施している最中において、ガス精製工程を停止するような有機材料塗布方法を採用している。このため、有機材料塗布工程の実施時において、温度分布に起因する対流を除く、ガス精製工程に起因する対流を抑制することができる。したがって、有機材料の過飽和度を厳密に制御することができる。
(第2実施形態)
本実施形態における有機材料塗布装置10は、第1実施形態に対して、チャンバ11が冷却機構を有する。本実施形態における冷却機構は、例えば水冷式を採用することができる。
最初に、図4を参照して、本実施形態に係る有機材料塗布装置10の概略構成について説明する。なお、図4における太線矢印は気体に流れを示している。
本実施形態における有機材料塗布装置10は、第1実施形態と同様に、チャンバ11と、ステージ12と、ノズル13と、を有する。また、ステージ12の一面12a上に向かって不活性気体を噴きつける供給部14と、チャンバ11内の気体をチャンバ11の外部に排出する排気部15と、を有する。また、ガス精製装置16も設けられている。さらに、図示しないが、第1実施形態と同様の搬入パスボックス30と搬出パスボックス40とがチャンバ11と連通して配置されている。これらに加えて、本実施形態では、冷却に供される冷媒が流れる管材50を有する。
本実施形態における管材50は、チャンバ11の外壁のうち、供給部14が配置された面に対向する面11aと、重力に対して鉛直上方の面11bに接するように這って形成されている。本実施形態における冷却機構は水冷式であり、上記冷媒は水である。
なお、管材50を除く構成要素は、第1実施形態と同様であるため、詳細の説明を省略する。また、有機材料塗布方法については、少なくとも有機材料塗布工程において冷却機構を機能させておけばよい。例えば、デガス処理の後、管材50に水を流動させて、チャンバ11内部との熱交換を開始すればよい。
次に、図5および図6を参照して、本実施形態に係る有機材料塗布装置10の作用効果について説明する。なお、図5および図6は、発明者らがコンピュータシミュレーションにより、有機材料塗布工程時のチャンバ11内の温度分布を計算した結果である。
まず、冷却機構(管材50)を有さない従来の構成について説明する。有機材料を含む溶液やステージ12周辺の気体が、ステージ12により昇温されて重力に逆らってチャンバ11の上部に流動する。チャンバ11上部に移動した気体は排気部15の一端15aから排気されるまでチャンバ11に残留する。このため、図5に示すように、チャンバ11内の温度は好ましい温度である30℃よりも高い温度(35℃〜40℃)になってしまう。図5のシミュレーション結果において、チャンバ11内の平均温度は略36℃であり、これを考慮してガス供給源18からの窒素の流量やステージ12の加熱温度等を調整することは困難である。
一方、冷却機構(管材50)を備える構成においては、チャンバ11上部に移動した気体を冷却することができる。チャンバ11上部における気体の温度は、図6に示すように、30℃程度とされ、チャンバ11内の平均温度も略32℃である。
以上のように、有機材料塗布装置10が冷却機構を有することにより、チャンバ11内の温度上昇を抑制することができるとともに、チャンバ11内の温度分布の時間変化を抑制することができる。したがって、基板上に塗布される有機材料に、ステージ12以外の熱源から熱エネルギーを供給されることを抑制でき、有機材料の過飽和度をより厳密に制御することができる。
(その他の実施形態)
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明は上述した実施形態になんら制限されることなく、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々変形して実施することが可能である。
上記した各実施形態では、ガス精製装置16がチャンバ11の上部に設置され、搬入パスボックス30および搬出パスボックス40がチャンバ11の側部に配置された例を示したが、これらの配置は上記例に限定されない。本発明の特徴部分である供給部14および排気部15の配置を除き、ガス精製装置16、搬入パスボックス30、搬出パスボックス40、その他図示しない真空計等は実施者が任意に配置することができる。
また、第1実施形態では、ガス精製装置16の駆動を、基板加熱工程の直前に行う例を示したが、基板準備工程の際にガス精製装置16の駆動を開始してもよい。
また、第2実施形態では、冷却機構の冷媒として水を用いる例を示したが、冷却温度によってはイソブタンや二酸化炭素を用いてもよいし、空冷としてもよい。
10・・・有機材料塗布装置
11・・・チャンバ
12・・・ステージ
13・・・ノズル
14・・・供給部
15・・・排気部
16・・・ガス精製装置
17・・・真空ポンプ
18・・・ガス供給源
20・・・基板

Claims (4)

  1. 一面(12a)に基板(20)が載置され、ヒータにより加熱可能なステージ(12)と、
    吐出口(13a)が前記ステージの一面に対向して移動自在に配置され、前記基板の表面に前記有機材料を塗布するノズル(13)と、
    前記ステージおよび前記ノズルを格納するチャンバ(11)と、を有する有機材料塗布装置であって、
    不活性気体を前記ステージの一面に噴きつける供給部(14)と、
    前記チャンバ内の気体を前記チャンバ外へ排気する排気部(15)と、を備え、
    前記供給部のうち、前記チャンバ内に開口する開口部(14c)は、前記ステージの一面と同一高さに配置され、
    前記排気部のうち、前記チャンバ内に開口する開口部(15b)は、前記ステージの一面よりも高い位置に配置されることを特徴とする有機材料塗布装置。
  2. 前記チャンバは、該チャンバおよび該チャンバ内を冷却する冷却機構(50)を備えることを特徴とする請求項1に記載の有機材料塗布装置。
  3. ガス精製装置(16)を有し、
    該ガス精製装置は、前記チャンバ内の気体を吸引し、前記ガス精製装置の内部において不純物を吸着して除去することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の有機材料塗布装置。
  4. 請求項3に記載の有機材料塗布装置を用いた有機材料塗布方法であって、
    前記ステージの一面に前記基板を配置する基板準備工程と、
    前記ステージに設けられたヒータにより前記基板を所定の温度に昇温する基板加熱工程と、
    前記基板の表面に前記有機材料を塗布する有機材料塗布工程と、を有し、

    前記基板準備工程または前記基板加熱工程の少なくとも一の工程において、前記ガス精製装置により前記チャンバ内の不純物を除去するとともに、
    前記有機材料塗布工程を実施する際には、前記ガス精製装置を停止することを特徴とする有機材料塗布方法。
JP2013002779A 2013-01-10 2013-01-10 有機材料塗布装置およびその装置を用いた有機材料塗布方法 Expired - Fee Related JP6044352B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013002779A JP6044352B2 (ja) 2013-01-10 2013-01-10 有機材料塗布装置およびその装置を用いた有機材料塗布方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013002779A JP6044352B2 (ja) 2013-01-10 2013-01-10 有機材料塗布装置およびその装置を用いた有機材料塗布方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014135393A true JP2014135393A (ja) 2014-07-24
JP6044352B2 JP6044352B2 (ja) 2016-12-14

Family

ID=51413472

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013002779A Expired - Fee Related JP6044352B2 (ja) 2013-01-10 2013-01-10 有機材料塗布装置およびその装置を用いた有機材料塗布方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6044352B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9947571B2 (en) 2014-11-14 2018-04-17 Kabushiki Kaisha Toshiba Processing apparatus, nozzle, and dicing apparatus
WO2020054440A1 (ja) * 2018-09-12 2020-03-19 タツモ株式会社 塗布装置及び塗布方法
WO2021140888A1 (ja) * 2020-01-06 2021-07-15 日本スピンドル製造株式会社 塗工装置、仕切部材及び塗工方法
JP2022145486A (ja) * 2021-03-17 2022-10-04 芝浦メカトロニクス株式会社 有機膜形成装置、および有機膜形成装置のクリーニング方法

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06191821A (ja) * 1992-12-22 1994-07-12 Showa Denko Kk シリコン膜形成用の高次シラン含有溶液
US6119895A (en) * 1997-10-10 2000-09-19 Speedline Technologies, Inc. Method and apparatus for dispensing materials in a vacuum
JP2003284985A (ja) * 2002-03-28 2003-10-07 Hitachi Industries Co Ltd ペースト塗布機
JP2004164873A (ja) * 2002-11-08 2004-06-10 Hirano Tecseed Co Ltd 毛管現象による塗工ノズルを用いた有機elパネルの製造装置及び製造方法
JP2005211734A (ja) * 2004-01-28 2005-08-11 Toppan Printing Co Ltd 有機材料塗布装置及びその装置を用いた有機材料塗布方法
JP2006194577A (ja) * 2005-12-21 2006-07-27 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置および基板処理方法
JP2007229541A (ja) * 2006-02-27 2007-09-13 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 塗布装置
JP2007229542A (ja) * 2006-02-27 2007-09-13 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 塗布方法および塗布装置
JP2009039615A (ja) * 2007-08-07 2009-02-26 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 塗布装置および塗布方法
JP2012028499A (ja) * 2010-07-22 2012-02-09 Toyota Motor Corp エピタキシャルウェハの製造方法

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06191821A (ja) * 1992-12-22 1994-07-12 Showa Denko Kk シリコン膜形成用の高次シラン含有溶液
US6119895A (en) * 1997-10-10 2000-09-19 Speedline Technologies, Inc. Method and apparatus for dispensing materials in a vacuum
JP2003284985A (ja) * 2002-03-28 2003-10-07 Hitachi Industries Co Ltd ペースト塗布機
JP2004164873A (ja) * 2002-11-08 2004-06-10 Hirano Tecseed Co Ltd 毛管現象による塗工ノズルを用いた有機elパネルの製造装置及び製造方法
JP2005211734A (ja) * 2004-01-28 2005-08-11 Toppan Printing Co Ltd 有機材料塗布装置及びその装置を用いた有機材料塗布方法
JP2006194577A (ja) * 2005-12-21 2006-07-27 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置および基板処理方法
JP2007229541A (ja) * 2006-02-27 2007-09-13 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 塗布装置
JP2007229542A (ja) * 2006-02-27 2007-09-13 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 塗布方法および塗布装置
JP2009039615A (ja) * 2007-08-07 2009-02-26 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 塗布装置および塗布方法
JP2012028499A (ja) * 2010-07-22 2012-02-09 Toyota Motor Corp エピタキシャルウェハの製造方法

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9947571B2 (en) 2014-11-14 2018-04-17 Kabushiki Kaisha Toshiba Processing apparatus, nozzle, and dicing apparatus
WO2020054440A1 (ja) * 2018-09-12 2020-03-19 タツモ株式会社 塗布装置及び塗布方法
JP2020043244A (ja) * 2018-09-12 2020-03-19 タツモ株式会社 塗布装置及び塗布方法
CN112514038A (zh) * 2018-09-12 2021-03-16 龙云株式会社 涂布装置及涂布方法
TWI726414B (zh) * 2018-09-12 2021-05-01 日商龍雲股份有限公司 塗佈裝置及塗佈方法
JP7112917B2 (ja) 2018-09-12 2022-08-04 タツモ株式会社 塗布装置及び塗布方法
CN112514038B (zh) * 2018-09-12 2024-02-13 龙云株式会社 涂布装置及涂布方法
WO2021140888A1 (ja) * 2020-01-06 2021-07-15 日本スピンドル製造株式会社 塗工装置、仕切部材及び塗工方法
JP2022145486A (ja) * 2021-03-17 2022-10-04 芝浦メカトロニクス株式会社 有機膜形成装置、および有機膜形成装置のクリーニング方法
JP7312235B2 (ja) 2021-03-17 2023-07-20 芝浦メカトロニクス株式会社 有機膜形成装置、および有機膜形成装置のクリーニング方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP6044352B2 (ja) 2016-12-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6578589B1 (en) Apparatus for manufacturing semiconductor wafer
JP6426489B2 (ja) エッチング方法
KR101406379B1 (ko) 소수화 처리 방법, 소수화 처리 장치, 도포, 현상 장치 및 기억 매체
JP6044352B2 (ja) 有機材料塗布装置およびその装置を用いた有機材料塗布方法
KR20140113398A (ko) 건조 장치 및 건조 처리 방법
TWI671843B (zh) 特別是用於基板之脫氣的設備及方法
KR101822936B1 (ko) 건조 장치, 건조 처리 방법, 기판 홀더 및 용매 흡착 시트
JP2010040695A (ja) 基板処理装置および原料補充方法
JP2009194099A (ja) 成膜装置及び成膜方法
JP2008251991A (ja) ロードロック装置および昇圧方法
KR20180131400A (ko) 감압 건조 장치
JP6189780B2 (ja) 基板処理システム
JP4677088B2 (ja) グラファイトナノファイバー薄膜形成用熱cvd装置
JPH11251255A (ja) 半導体ウエハ製造方法及び装置
JP3954464B2 (ja) 基板処理装置
JP6189781B2 (ja) 熱処理装置、熱処理方法、プログラム、コンピュータ記憶媒体及び基板処理システム
JP6382048B2 (ja) 真空乾燥装置
JP2010170036A (ja) 表面処理方法および表面処理装置
JPH03106432A (ja) 真空装置の脱ガス方法及び脱ガス装置
JPH11251281A (ja) 半導体ウエハ製造方法及び装置
JP7490692B2 (ja) 有機膜形成装置
JP2011114002A (ja) 基板処理装置
JP4806127B2 (ja) 薄膜形成方法
JP2001007117A (ja) 処理装置及び処理方法
JP2009117644A (ja) 基板処理装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150325

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20151127

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20151215

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160204

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160405

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160531

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20161018

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20161031

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6044352

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees