JP2014096491A - 蛍光体層被覆半導体素子、その製造方法、半導体装置およびその製造方法 - Google Patents

蛍光体層被覆半導体素子、その製造方法、半導体装置およびその製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】複数の光半導体素子の主波長が異なっていても、蛍光体の濃度が異なる複数種類の蛍光体層を用意する必要がなく、さらに、目標とする色味に対応する蛍光体層を簡便に形成することのできる蛍光体層被覆半導体素子の製造方法、それにより得られる蛍光体層被覆半導体素子、それを用いる半導体装置の製造方法、および、それにより得られる半導体装置を提供すること。
【解決手段】LED装置4の製造方法は、LED2を基板3に予め実装する工程、蛍光体を含有する蛍光体層1をLED2に対向させる工程、および、蛍光体層1の厚みT2を調整することにより、LED2から発光され、蛍光体層1を介して出射される光の色味yを調整する調整工程を備える。
【選択図】図1

Description

本発明は、蛍光体層被覆半導体素子、その製造方法、半導体装置およびその製造方法、詳しくは、光学用途に好適に用いられる蛍光体層被覆半導体素子の製造方法、それにより得られる蛍光体層被覆半導体素子、それを用いる半導体装置の製造方法、および、それにより得られる半導体装置に関する。
光半導体素子は、1つのウエハから複数に切り出されることにより得られており、光半導体素子を基板に実装し、さらに、蛍光体層によって被覆することによって、半導体装置が製造されている。
光半導体素子を用いて半導体装置を得る方法として、例えば、以下の方法が提案されている(例えば、下記特許文献参照。)。
すなわち、ウエハから切り出された複数のLEDの放射光の主波長(発光スペクトルに視感度曲線を加味したもの)を測定し、主波長の範囲に応じて、具体的には、440ないし445nmと、445ないし450nmと、450ないし455nmと、455ないし460nmとのグループに分類して、各グループのLEDを基板にそれぞれする。別途、主波長に対応する濃度で蛍光体を含む蛍光体シートを複数予め準備する。次いで、各グループの主波長に対応する蛍光体濃度の蛍光体シートを、基板およびLEDに堆積させ、その後、加熱により硬化させる。
特許文献1では、LEDの主波長に対応する蛍光体濃度の蛍光体シートを、対応するLEDに堆積させることによって、所望の色味(所望の白色の度合い)を得ている。
特開2007−123915号公報
しかし、特許文献1の方法は、主波長が異なるLEDに対応して、蛍光体の濃度が異なる複数種類の蛍光体シートを予め準備する必要があり、その分、手間が増えるという不具合がある。
さらに、各主波長に対応する蛍光体濃度を決定するため、煩雑であるという不具合もある。
本発明の目的は、複数の光半導体素子の主波長が異なっていても、蛍光体の濃度が異なる複数種類の蛍光体層を用意する必要がなく、さらに、目標とする色味に対応する蛍光体層を簡便に形成することのできる蛍光体層被覆半導体素子の製造方法、それにより得られる蛍光体層被覆半導体素子、それを用いる半導体装置の製造方法、および、それにより得られる半導体装置を提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明の蛍光体層被覆光半導体素子の製造方法は、蛍光体を含有する蛍光体層を光半導体素子に対向させる工程、および、前記蛍光体層の厚みを調整することにより、前記光半導体素子から発光され、前記蛍光体層を介して出射される光の色味を調整する調整工程を備えることを特徴としている。
この方法は、蛍光体層の厚みを調整することにより、光半導体素子から発光され、蛍光体層を介して出射される光の色味を調整する調整工程を備える。そのため、蛍光体層の厚みを調整する簡便な方法によって、蛍光体層の単位面積当たりの蛍光体の質量部数、具体的には、蛍光体層の蛍光体の坪量を、目標とする色味に対応するように、調整することができる。そのため、特許文献1のように、蛍光体の濃度が異なる複数の蛍光体層を予め用意し、それらの中から、光半導体素子の主波長に対応する蛍光体の濃度を有する蛍光体層を選択する必要がない。従って、この方法は、蛍光体層の厚みを調整するという簡便な調整工程によって、蛍光体層被覆光半導体素子の製造方法を簡略化することができる。
その結果、目標とする色味に対応する厚みを有する蛍光体層を良好な歩留まりで形成して、発光効率に優れる蛍光体層被覆光半導体素子を製造することができる。
また、本発明の蛍光体層被覆光半導体素子の製造方法では、前記調整工程は、対向された前記蛍光体層および前記光半導体素子の少なくとも一方をそれらが近接する方向に押圧する押圧工程を備えることが好適である。
この方法では、調整工程は、対向された蛍光体層および光半導体素子の少なくとも一方をそれらが近接する方向に押圧する押圧工程を備えるので、蛍光体層の蛍光体の坪量をより一層簡便に調整することができる。
また、本発明の蛍光体層被覆光半導体素子の製造方法では、前記蛍光体層は、熱硬化性樹脂から形成され、前記押圧工程では、前記熱硬化性樹脂から形成される前記蛍光体層を加熱して熱硬化させることが好適である。
この方法では、押圧工程によって、蛍光体層を熱硬化させるので、蛍光体層の厚みを、目標とする色味に対応する厚みに調整すると同時に、蛍光体層によって光半導体素子を封止することができる。
また、本発明の蛍光体層被覆光半導体素子の製造方法は、前記蛍光体層と同一の第1標準蛍光体層を前記光半導体素子に対向させたときの前記第1標準蛍光体層の厚みと、前記光半導体素子から発光され、前記第1標準蛍光体層を介して出射される光の色味とを測定する第1測定工程、および、前記蛍光体層と同一の第2標準蛍光体層を前記光半導体素子に、前記第1標準蛍光体層と厚みが異なるように対向させたときの前記第2標準蛍光体層の厚みと、前記光半導体素子から発光され、前記第2標準蛍光体層を介して出射される光の色味とを測定する第2測定工程を備える検量線準備工程と、前記検量線準備工程から得られる厚みおよび光の色味に基づいて検量線を作成する検量線作成工程とをさらに備え、前記調整工程は、前記検量線に基づいて、目標とする色味に対応する前記蛍光体層の厚みを求め、続いて、前記厚みとなるように前記蛍光体層の厚みを調整することが好適である。
この方法は、検量線準備工程および検量線作成工程を備え、さらに、調整工程は、検量線作成工程により作成した検量線に基づいて、目標とする色味に対応する蛍光体層の厚みを求め、続いて、蛍光体層の厚みを求められた厚みに調整する。そのため、目標とする色味に対応する蛍光体層の厚みを確実に求めて、求めた厚みとなるように蛍光体層の厚みを調整するので、目標とする色味の光を発光することのできる蛍光体層被覆光半導体素子を確実かつ簡易に製造することができる。
また、本発明の蛍光体層被覆光半導体素子の製造方法では、前記検量線準備工程は、前記蛍光体層と同一の第3標準蛍光体層を前記光半導体素子に、前記第1標準蛍光体層および前記第2標準蛍光体層と厚みが異なるように対向させたときの前記第3標準蛍光体層の厚みと、前記光半導体素子から発光され、前記第3標準蛍光体層を介して出射される光の色味とを測定する第3測定工程をさらに備えることが好適である。
この方法は、検量線準備工程が、第3測定工程をさらに備えるので、精確な検量線に基づいて目標とする色味に対応する蛍光体層の厚みを精確に求めることができる。そのため、目標とする色味の光を発光することのできる蛍光体層被覆光半導体素子をより一層精確に製造することができる。
また、本発明の蛍光体層被覆光半導体素子は、上記した蛍光体層被覆光半導体素子の製造方法によって得られることを特徴としている。
この蛍光体層被覆光半導体素子は、目標とする色味に対応する厚みを有する蛍光体層を備えるので、発光効率に優れている。
また、本発明の光半導体装置の製造方法は、上記した蛍光体層被覆光半導体素子を用意する工程、および、前記蛍光体層被覆光半導体素子の光半導体素子を基板に実装するか、または、光半導体素子を基板に予め実装する工程を備えることを特徴としている。
この方法は、発光効率に優れる光半導体装置を良好な歩留まりで製造することができる。
また、本発明の光半導体装置は、上記した光半導体装置の製造方法によって得られることを特徴としている。
この光半導体装置は、発光効率に優れている。
本発明の蛍光体層被覆光半導体素子の製造方法は、目標とする色味に対応する蛍光体層を良好な歩留まりで形成して、発光効率に優れる蛍光体層被覆光半導体素子を製造することができる。
本発明の蛍光体層被覆光半導体素子は、目標とする色味に対応する蛍光体層を備えるので、発光効率に優れている。
本発明の光半導体装置の製造方法は、発光効率に優れる光半導体装置を良好な歩留まりで製造することができる。
本発明の光半導体装置は、発光効率に優れている。
図1は、本発明の蛍光体層被覆光半導体素子および光半導体装置の製造方法の第1実施形態を説明する工程図であり、(a)は、LEDを基板に予め実装するLED実装工程、(b)は、蛍光体層をLEDに仮貼りする工程、(c)は、蛍光体層の厚みを調整する調整工程を示す。 図2は、検量線作成例1において、蛍光体層の厚みと、主波長451.9nmのLEDから発光され、蛍光体層を介して出射される光の色味との関係を示すグラフを示す。 図3は、検量線作成例2において、蛍光体層の厚みと、主波長446.3nmのLEDから発光され、蛍光体層を介して出射される光の色味との関係を示すグラフを示す。 図4は、本発明の蛍光体層被覆光半導体素子および光半導体装置の製造方法の第2実施形態を説明する工程図であり、(a)は、LEDを支持シートに配置する準備工程、(b)は、蛍光体層をLEDに仮貼りする工程、(c)は、蛍光体層の厚みを調整する調整工程、(d)は、蛍光体層被覆LEDをLEDに実装する工程を示す。 図5は、本発明の蛍光体層被覆光半導体素子および光半導体装置の製造方法の第3実施形態を説明する工程図であり、(a)は、LEDを基板に予め実装するLED実装工程、(b)は、第1蛍光体層および第2蛍光体層を備える蛍光体層をLEDに仮貼りする工程、(c)は、蛍光体層の厚みを調整する調整工程を示す。 図6は、第3実施形態の変形例を説明する工程図であり、(a)は、LEDを基板に予め実装するLED実装工程、(b)は、Cステージの第1蛍光体層およびBステージの第2蛍光体層を備える蛍光体層をLEDに仮貼りする工程、(c)は、蛍光体層の厚みを調整する調整工程を示す。 図7は、本発明の蛍光体層被覆光半導体素子および光半導体装置の製造方法の第4実施形態を説明する工程図であり、(a)は、LEDを封止層によって封止する工程、(b)は、蛍光体層を封止層に仮貼りする工程、(c)は、蛍光体層の厚みを調整する調整工程を示す。
<第1実施形態>
図1において、紙面上下方向を第1方向(表裏方向)、紙面左右方向を第2方向(面方向)、紙面奥行き方向を第3方向(面方向)という場合がある。図4以降の各図の方向は、図1の方向に準じる。
図1に示すように、光半導体装置としてのLED装置4の製造方法は、光半導体素子としてのLED2を基板3に予め実装するLED実装工程(図1(a)参照)、蛍光体層1をLED2に対向させる配置工程(図1(b)参照)、および、蛍光体層1の厚みを調整する調整工程(図1(c)参照)を備える。また、LED装置4の製造方法は、検量線準備工程および検量線作成工程を備える。
基板3は、例えば、シリコン基板、セラミック基板、ポリイミド樹脂基板、金属基板に絶縁層が積層された積層基板などの絶縁基板からなる。
また、基板3の表面には、次に説明するLED2のLED側端子(図示せず)と電気的に接続するための基板側端子(図示せず)と、それに連続する配線とを備える導体パターン(図示せず)が形成されている。導体パターンは、例えば、金、銅、銀、ニッケルなどの導体から形成されている。
LED2は、電気エネルギーを光エネルギーに変換する光半導体素子であり、例えば、厚み(表裏方向の最大長さ、すなわち、基板3の面方向に直交する方向長さ)が面方向長さ(表裏方向に対する直交方向における最大長さ)より短い断面視略矩形状および平面視略矩形状に形成されている。LED2としては、例えば、青色光を発光する青色LED(発光ダイオード素子)が挙げられる。
また、LED2は、基板3に、例えば、ワイヤボンディング接続、または、フリップチップ実装によって、搭載されている。
フリップチップ実装に供されるLED2の裏面は、図示しないLED側端子によって形成されており、かかるLED側端子が、基板3の表面に設けられる基板側端子(図示せず)と、電気的に直接接続されることにより、LED6が基板5に実装される。
一方、ワイヤボンディング接続に供されるLED2の表面は、図示しないLED側端子によって形成されており、かかるLED側端子が、基板3の表面においてLED2の載置位置と面方向に間隔を隔てて設けられる基板側端子(図示せず)と、ワイヤ(図示せず)を介して、電気的に接続されることにより、LED6が基板5に実装される。
蛍光体層1は、蛍光体を含有する蛍光組成物から形成されている。
蛍光体は、波長変換機能を有しており、例えば、青色光を黄色光に変換することのできる黄色蛍光体、青色光を赤色光に変換することのできる赤色蛍光体などが挙げられる。
黄色蛍光体としては、例えば、(Ba,Sr,Ca)SiO;Eu、(Sr,Ba)SiO:Eu(バリウムオルソシリケート(BOS))などのシリケート蛍光体、例えば、YAl12:Ce(YAG(イットリウム・アルミニウム・ガーネット):Ce)、TbAl12:Ce(TAG(テルビウム・アルミニウム・ガーネット):Ce)などのガーネット型結晶構造を有するガーネット型蛍光体、例えば、Ca−α−SiAlONなどの酸窒化物蛍光体などが挙げられる。
赤色蛍光体としては、例えば、CaAlSiN:Eu、CaSiN:Euなどの窒化物蛍光体などが挙げられる。
蛍光体のピーク波長は、例えば、400nm以上、好ましくは、500nm以上であり、また、例えば、700nm以下、好ましくは、600nm以下である。蛍光体のピーク波長は、青色光で励起させた時の発光スペクトルにて測定される。
また、蛍光体を励起させる青色光の励起波長は、例えば、300nm以上、好ましくは、400nm以上であり、また、例えば、600nm以下、好ましくは、500nm以下である。各蛍光体の最適な励起波長は、各波長の蛍光体の吸収率や量子効率にて探索される。
蛍光体の形状としては、例えば、球状、板状、針状などが挙げられる。好ましくは、流動性の観点から、球状が挙げられる。
蛍光体の最大長さの平均値(球状である場合には、平均粒子径)は、例えば、0.1μm以上、好ましくは、1μm以上であり、また、例えば、200μm以下、好ましくは、100μm以下でもある。なお、球状の蛍光体の平均粒子径は、d50として算出される。
蛍光体の配合割合は、蛍光組成物(具体的には、後述する蛍光体樹脂組成物)に対して、例えば、0.1質量%以上、好ましくは、0.5質量%以上であり、例えば、80質量%以下、好ましくは、50質量%以下でもある。
好ましくは、蛍光体層1は、蛍光体および硬化性樹脂を含有する蛍光体樹脂組成物から形成されている。
硬化性樹脂としては、例えば、加熱により硬化する熱硬化性樹脂、例えば、活性エネルギー線(例えば、紫外線、電子線など)の照射により硬化する活性エネルギー線硬化性樹脂などが挙げられる。好ましくは、熱硬化性樹脂が挙げられる。
具体的には、硬化性樹脂として、例えば、シリコーン樹脂、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、フェノール樹脂、尿素樹脂、メラミン樹脂、不飽和ポリエステル樹脂などの熱硬化性樹脂が挙げられる。好ましくは、シリコーン樹脂が挙げられる。
シリコーン樹脂としては、例えば、2段階硬化型シリコーン樹脂、1段階硬化型シリコーン樹脂などのシリコーン樹脂が挙げられ、好ましくは、2段階硬化型シリコーン樹脂が挙げられる。
2段階硬化型シリコーン樹脂は、2段階の反応機構を有しており、1段階目の反応でBステージ化(半硬化)し、2段階目の反応でCステージ化(完全硬化)する熱硬化性シリコーン樹脂である。一方、1段階硬化型シリコーン樹脂は、1段階の反応機構を有しており、1段階目の反応で完全硬化する熱硬化性シリコーン樹脂である。
また、Bステージは、硬化性シリコーン樹脂が、液状であるAステージと、完全硬化したCステージとの間の状態であって、硬化およびゲル化がわずかに進行し、弾性率がCステージの弾性率よりも小さい状態である。
2段階硬化型シリコーン樹脂としては、例えば、縮合反応と付加反応との2つの反応系を有する縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂などが挙げられる。
このような縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂としては、例えば、シラノール両末端ポリシロキサン、アルケニル基含有トリアルコキシシラン、オルガノハイドロジェンポリシロキサン、縮合触媒およびヒドロシリル化触媒を含有する第1の縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂、例えば、シラノール基両末端ポリシロキサン(後述する式(1)参照)、エチレン系不飽和炭化水素基含有ケイ素化合物(後述する式(2)参照)、エポキシ基含有ケイ素化合物(後述する式(3)参照)、オルガノハイドロジェンポリシロキサン、縮合触媒および付加触媒(ヒドロシリル化触媒)を含有する第2の縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂、例えば、両末端シラノール型シリコーンオイル、アルケニル基含有ジアルコキシアルキルシラン、オルガノハイドロジェンポリシロキサン、縮合触媒およびヒドロシリル化触媒を含有する第3の縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂、例えば、1分子中に少なくとも2個のアルケニルシリル基を有するオルガノポリシロキサン、1分子中に少なくとも2個のヒドロシリル基を有するオルガノポリシロキサン、ヒドロシリル化触媒および硬化遅延剤を含有する第4の縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂、例えば、少なくとも2つのエチレン系不飽和炭化水素基と少なくとも2つのヒドロシリル基とを1分子中に併有する第1オルガノポリシロキサン、エチレン系不飽和炭化水素基を含まず、少なくとも2つのヒドロシリル基を1分子中に有する第2オルガノポリシロキサン、ヒドロシリル化触媒およびヒドロシリル化抑制剤を含有する第5の縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂、例えば、少なくとも2つのエチレン系不飽和炭化水素基と少なくとも2つのシラノール基とを1分子中に併有する第1オルガノポリシロキサン、エチレン系不飽和炭化水素基を含まず、少なくとも2つのヒドロシリル基を1分子中に有する第2オルガノポリシロキサン、ヒドロシリル化抑制剤、および、ヒドロシリル化触媒を含有する第6の縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂、例えば、ケイ素化合物、および、ホウ素化合物またはアルミニウム化合物を含有する第7の縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂、例えば、ポリアルミノシロキサンおよびシランカップリング剤を含有する第8の縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂などが挙げられる。
これら縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂は、単独使用または2種類以上併用することができる。
縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂として、好ましくは、第2の縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂が挙げられ、具体的には、特開2010−265436号公報などに詳細に記載され、例えば、シラノール基両末端ポリジメチルシロキサン、ビニルトリメトキシシラン、(3−グリシドキシプロピル)トリメトキシシラン、ジメチルポリシロキサン−co−メチルハイドロジェンポリシロキサン、水酸化テトラメチルアンモニウムおよび白金カルボニル錯体を含有する。具体的には、第2の縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂を調製するには、例えば、まず、縮合原料であるエチレン系不飽和炭化水素基含有ケイ素化合物およびエポキシ基含有ケイ素化合物と、縮合触媒とを一度に加え、次いで、付加原料であるオルガノハイドロジェンポリシロキサンを加え、その後、付加触媒であるヒドロシリル化触媒を加える。
硬化性樹脂の配合割合は、蛍光体樹脂組成物に対して、例えば、30質量%以上、好ましくは、50質量%以上であり、また、例えば、99質量%以下、好ましくは、95質量%以下でもある。
さらに、蛍光体樹脂組成物は、充填剤を含有することもできる。
充填剤としては、例えば、シリコーン粒子などの有機微粒子、例えば、シリカ、タルク、アルミナ、窒化アルミニウム、窒化ケイ素などの無機微粒子が挙げられる。また、充填剤の最大長さの平均値(球状である場合には、平均粒子径)は、例えば、0.1μm以上、好ましくは、1μm以上であり、また、例えば、200μm以下、好ましくは、100μm以下でもある。充填剤の配合割合は、蛍光体樹脂組成物に対して、例えば、0.1質量%以上、好ましくは、0.5質量%以上であり、また、例えば、70質量%以下、好ましくは、50質量%以下でもある。
次に、LED装置4の製造方法における各工程を詳説する。
[LED実装工程]
LED実装工程では、LED2を基板3に予め実装する。具体的には、フリップチップ実装またはワイヤボンディング接続によって、LED2のLED側端子と、基板3の基板側端子とを電気的に接続させる。
[配置工程]
蛍光体層1は、硬化性樹脂を含有する蛍光体樹脂組成物から形成される場合には、完全硬化前の状態で調製され、具体的には、硬化性樹脂が2段階硬化型シリコーン樹脂である場合には、蛍光体層1は、Bステージで調製されている。蛍光体層1は、離型層5の表面に用意される。
完全硬化前の蛍光体層1の25℃における圧縮弾性率は、例えば、0.005MPa以上、好ましくは、0.01MPa以上であり、また、例えば、1MPa以下、好ましくは、0.1MPa以下でもある。
離型層5は、例えば、ポリエチレンフィルム、ポリエステルフィルム(PETなど)などのポリマーフィルム、例えば、セラミクスシート、例えば、金属箔などが挙げられる。好ましくは、ポリマーフィルムが挙げられる。また、離型シートの表面には、フッ素処理などの剥離処理を施すこともできる。
また、蛍光体樹脂組成物が2段階硬化型シリコーン樹脂を含有する場合には、上記した硬化性樹脂の原料に、蛍光体および必要により充填剤を配合し、得られた組成物を離型層5の表面に塗布し、その後、加熱する。加熱温度は、例えば、40〜150℃、好ましくは、80〜140℃であり、加熱時間が、例えば、1分間〜24時間、好ましくは、1分間〜1時間である。
これによって、蛍光体層1は、Bステージで(完全硬化前の状態として)離型層5の表面に調製される。
完全硬化前の蛍光体層1の厚みは、例えば、後述する厚み調整後の蛍光体層1の厚みより厚く設定されており、具体的には、蛍光体層1の厚みT1が、例えば、200μm以上、好ましくは、300μm以上、より好ましくは、500μm以上であり、また、例えば、1500μm以下でもある。
[配置工程]
配置工程では、図1(b)および図1(c)に示すように、用意した蛍光体層1を、LED2に対向させる。
具体的には、離型層5に積層される蛍光体層1を、基板3に実装されるLED2に上下方向に対向配置させる。
詳しくは、次の調製工程の前に、蛍光体層1をLED2に対して仮貼りする。蛍光体層1をLED2に対して仮貼りするには、例えば、常温にて、プレス上下板を備えるプレス機によって、真空下で、蛍光体層1をLED2に対して、例えば、5秒間以上、好ましくは、10秒間以上、また、例えば、200秒間以下、好ましくは、100秒間以下、圧着する。圧着では、後述する調整工程で用いられるスペーサ(図示せず)の厚み(具体的には、設定厚みx0)より厚いスペーサを用いる。
配置工程において、圧着によって、好ましくは、蛍光体層1の厚みT1はわずかに薄くなる。
配置工程における圧着によって、LED2が蛍光体層1に埋め込まれる。つまり、蛍光体層1がLED2を埋設する。
[調整工程]
調整工程では、図1(c)に示すように、蛍光体層1をLED2および基板3に対してさらに圧着する。
蛍光体層1のLED2および基板3に対するさらなる圧着では、蛍光体シート5の厚み方向(上下方向)の押込量を制御することにより、実施する。
押込量は、図示しない所定厚みのスペーサを、基板3の上面あるいは周囲において、LED2を囲むように平面視略枠状に配置した後、プレス(押圧)する。プレスでは、プレス機の上下板(図示せず)の間で、スペーサ(図示せず)、基板3、LED2および蛍光体層1を挟むように、上板を下板に向けて近接させて、蛍光体層1をLED2および基板3に向けて押し込む(押圧する:押圧工程)。スペーサの厚みは、例えば、封止後の蛍光体層1の厚みが、厚み調整後の蛍光体層1の厚みT2となるように、設定される。また、押圧では、必要により、プレス機の上板と蛍光体層1との間、および、プレス機の下板と基板3との間のそれぞれに、ステンレスなどの金属製の補助板を設けることもできる。2つの補助板は、例えば、互いに平行に配置される。
あるいは、プレス機におけるプレス板の上下(厚み)方向の変位量を調整して、押込量を制御することもできる。
また、蛍光体樹脂組成物が熱硬化性樹脂を含有する場合には、例えば、オーブンで加熱(ベイク)、例えば、プレス(押圧)を加熱とともに実施(熱プレス)し、好ましくは、オーブンで加熱する。オーブンでの加熱は、例えば、上記押圧を保持しながら、蛍光体層1を加熱する。
具体的には、蛍光体層1を、例えば、80℃以上、好ましくは、100℃以上、また、例えば、200℃以下、好ましくは、180℃以下に、加熱する。上記した加熱によって、完全硬化前の蛍光体層1が、完全硬化する。具体的には、完全硬化前の蛍光体層1がBステージである場合には、上記した加熱によって、蛍光体層1は、Cステージとなる。
また、圧着は、減圧雰囲気下、あるいは、常圧雰囲気下で実施され、好ましくは、減圧雰囲気下で実施される。
蛍光体層1のLED2および基板3に対するさらなる圧着によって、蛍光体層1の厚みT2は、完全硬化前の蛍光体層1の厚みT1に比べて、薄い。すなわち、上記圧着によって、蛍光体層1は、押しつぶされて、面方向外側に押し出される。そのため、平面視において単位面積当たりの蛍光体の質量部数が調整される。具体的には、単位面積当たりの蛍光体の質量部数が所定量に減少する。
厚み調整後の蛍光体層1の厚みT2は、LED2の最裏面(すなわち、基板3の最表面)と、蛍光体層1の最表面(具体的には、離型層5に接触する面であって、基板3の最表面から最も離間する高さに位置にする蛍光体層1の表面)との間の長さであって、具体的には、次に説明する検量線に基づいて目標とする色味y0に対応する蛍光体層1の厚みx0として算出される。
その後、離型層5を蛍光体層1から引き剥がす。
[検量線準備工程]
検量線準備工程は、第1測定工程および第2測定を備える。
<第1測定工程および第2測定工程>
第1測定工程および第2測定工程は、検量線を作成する基礎となる厚みおよび光の色味を得るための工程である。
第1測定工程では、第1標準蛍光体層1AをLED2に対向させて、LED2および基板3に圧着したときの第1標準蛍光体層1Aの厚みx1(図1(c)参照)と、LED2から発光され、第1標準蛍光体層1Aを介して出射される光の色味y1とを測定する。
また、第1標準蛍光体層1A、LED2および基板3は、LED装置4の製造に用いられる蛍光体層1、LED2および基板3とそれぞれ同様のものが用いられる。第1標準蛍光体層1Aの圧着の条件は、スペーサの厚み以外は、上記した蛍光体層1の圧着の条件と同様である。つまり、上記したLED実装工程、配置工程および調整工程を順次実施して得られるLED装置4における第1標準蛍光体層1Aの厚みx1、および、得られるLED装置4においてLED2から発光して、第1標準蛍光体層1Aを介して出射される光の色味y1を測定する。
また、第2測定工程では、第2標準蛍光体層1BをLED2に対向させて、LED2および基板3に圧着したときの第2標準蛍光体層1Bの厚みx2と、LED2から発光され、第2標準蛍光体層1Bを介して出射される光の色味y2とを測定する。
第2標準蛍光体層1Bの厚みx2は、第1標準蛍光体層1Aと厚みが異なるように設定される。
上記したLED実装工程、配置工程および調整工程を順次して得られるLED装置4における第2標準蛍光体層1Bの厚みx2、および、得られるLED装置4においてLED2から発光して、第2標準蛍光体層1Bを介して出射される光の色味y2を測定する。
なお、第1標準蛍光体層1Aの厚みx1および第2標準蛍光体層1Bの厚みx2は、蛍光体層1の厚みT2と同様の長さとして定義される。
また、色味y1および色味y2は、例えば、瞬間マルチ測光システム(MCPD−9800、大塚電子社製)などを用いて、積分球方式で、全光束の色度(CIE−y)として測定される。
[検量線作成工程]
検量線作成工程では、検量線準備工程で得られた厚みx1、x2、色味y1およびy2に基づいて検量線を作成する。
具体的には、図2が参照されるように、厚みXを横軸とし、色味Yを縦軸とするX−Y座標において、厚みx1、x2、色味y1およびy2をプロットして、それらを通過する直線、すなわち、Y=AX+Bの直線を検量線として得る。
X:厚み(μm)
Y:色味
そして、上記した検量線Y=AX+Bに基づいて、目標とする色味y0に対応する蛍光体層1の厚みx0を得る。
具体的には、目標とする色味y0は、既知であることから、検量線Y=AX+B(AおよびBも既知)に色味y0を代入して、目標とする色味y0に対応する蛍光体層1の厚みx0を得る。つまり、蛍光体層1の設定厚みx0を得る。
そして、設定厚みx0となるように、蛍光体層1の厚みを上記[調整工程]の方法によって、調整する。
その後、離型層5を蛍光体層1から剥離する。
これによって、図1(b)に示すように、基板3、LED2、および、厚みT1が厚みT2に調整された蛍光体層1を備えるパッケージとしてLED装置4を得る。また、LED装置4を得るとともに、基板3の上において、LED2およびこれを被覆する蛍光体層1を備える蛍光体層被覆光半導体素子としての蛍光体層被覆LED10が作製される。
そして、上記した方法は、蛍光体層1の厚みT1を厚みT2に調整することにより、LED2から発光され、蛍光体層1を介して出射される光の色味y0を調整する調整工程を備える。そのため、蛍光体層1の厚みT1を厚みT2に調整する簡便な方法によって、蛍光体層1の単位面積当たりの蛍光体の質量部数、具体的には、蛍光体層1の蛍光体の坪量を、目標とする色味y0に対応するように、調整することができる。そのため、特許文献1のように、蛍光体の濃度が異なる複数の蛍光体層1を用意し、それらの中から、LED2の主波長に対応する蛍光体の濃度を有する蛍光体層1を選択する必要がない。従って、この第1実施形態の方法は、蛍光体層1の厚みT1を厚みT2に調整するという簡便な調整工程によって、蛍光体層被覆LED10およびLED装置4の製造方法を簡略化することができる。
その結果、厚みT1が目標とする色味y0に対応する設定厚みx0である厚みT2に調整された蛍光体層1を良好な歩留まりで形成して、発光効率に優れる蛍光体層被覆LED10およびLED装置4を製造することができる。
また、この方法では、調整工程は、対向された蛍光体層1をLED2に向けて押圧する押圧工程を備えるので、蛍光体層1の蛍光体の坪量をより一層簡便に調整することができる。
また、この方法では、蛍光体樹脂組成物が熱硬化性樹脂を含有する場合には、押圧工程によって、蛍光体層1を熱プレスによって熱硬化させるので、蛍光体層1の厚みT1を目標とする色味y0に対応する厚みx0である厚みT2に調整すると同時に、蛍光体層1によりLED2を封止することができる。
また、この方法は、検量線準備工程および検量線作成工程を備え、さらに、調整工程は、検量線作成工程により作成した検量線Y=AX+Bに基づいて、目標とする色味y0に対応する蛍光体層1の設定厚みx0を求め、続いて、蛍光体層1の厚みT1を求められた設定厚みx0に調整する。そのため、目標とする色味y0に対応する蛍光体層1の設定厚みx0を確実に求めて、求めた設定厚みx0となるように蛍光体層1の厚みT1を厚みT2に調整するので、目標とする色味y0の光を発光することのできる蛍光体層被覆LED10およびLED装置4を確実かつ簡易に製造することができる。
また、この蛍光体層被覆LED10およびLED装置4は、目標とする色味y0に対応する設定厚みx0である厚みT2を有する蛍光体層1を備えるので、発光効率に優れている。
また、この方法は、発光効率に優れるLED装置4を良好な歩留まりで製造することができる。
[変形例]
第1実施形態では、1つのLED2を基板3に実装し、1つの蛍光体層1によって1つのLED2を封止しているが、例えば、図示しないが、複数のLED2を基板3に実装し、1つの蛍光体層1によって複数のLED2を封止することもできる。
その場合には、得られたLED装置4において、各LED2に対応して、蛍光体層1および基板3をダイシングによって個片化し、これらを適宜選別することもできる。
また、第1実施形態では、検量線準備工程の第1測定および第2測定において、同一の厚みの蛍光体層1から、設定厚みの異なる2種類の第1標準蛍光体層1Aおよび第2標準蛍光体層1Bの厚みx1およびx2と、それらに対応する色味y1およびy2とを測定し、検量線作成工程において、それらに基づいて検量線を作成しているが、標準蛍光体層の設定厚みは異なる複数種類であればよく、例えば、図3に示すように、同一厚みの蛍光体層1から、設定厚みの異なる3種類の第1標準蛍光体層1A、第2標準蛍光体層1Bおよび第3標準蛍光体層1Cの厚みx1、x2およびx3と、それらに対応する色味y1、y2およびy3とを測定することもできる。
この方法では、検量線準備工程は、第1測定、第2測定および第3測定を備える。
[第3測定]
第3測定工程では、第3標準蛍光体層1CをLED2に対向させて、LED2および基板3に圧着したときの第3標準蛍光体層1Cの厚みx3と、LED2から発光され、第3標準蛍光体層1Cを介して出射される光の色味y3とを測定する。
第3標準蛍光体層1Cの厚みx3は、第1標準蛍光体層1Aおよび第2標準蛍光体層1Bと厚みが異なるように設定される。色味y3は、上記した色味y1およびy2と同様の方法によって定義され測定される。
[検量線作成工程]
検量線作成工程では、検量線準備工程で得られた厚みx1、x2、x3、色味y1、y2およびy3に基づいて検量線を作成する。
具体的には、図3に示すように、X−Y座標において、厚みx1、x2、x3、色味y1、y2およびy3をプロットして、それらに近似する直線、すなわち、Y=AX+Bの近似直線(1次近似直線、直線回帰計算に基づく回帰直線)を検量線として得る。
そして、設定厚みx0となるように、蛍光体層1の厚みT2を上記[調整工程]と同様の方法によって、調整する。
この近似直線に基づいて、目標とする色味y0に対応する蛍光体層1の厚みx0を得る。
この方法によれば、検量線準備工程が、第3測定工程をさらに備えるので、精確な検量線、すなわち、近似直線Y=AX+Bに基づいて目標とする色味y0に対応する蛍光体層1の厚みx0を精確に求めることができる。そのため、目標とする色味y0の光を発光することのできる蛍光体層被覆LED10およびLED装置4をより一層精確に製造することができる。
また、この第1実施形態では、調整工程のさらなる押圧において、蛍光体層1をLED2および基板3に向けて押圧しているが、例えば、その逆、つまり、LED2および基板3を蛍光体層1に向けて押圧することもできる。さらには、蛍光体層1およびLED2を互いに近接するように、両方を近接させながら、それらを互いに押圧させ合うこともできる。
さらに、この第1実施形態の調整工程では、完全硬化前の蛍光体層1を押圧することによって、蛍光体層1の厚みを調整しているが、例えば、まず、蛍光体層1を完全硬化(Cステージ化)した後、硬化後の蛍光体層1の表面を研磨すること(研磨工程)によって、蛍光体層1の厚みを調整、すなわち、所定の薄さに設定することもできる。
好ましくは、研磨工程などの追加の工程が必要ないこと、および、削りくずを洗浄(除去)するなどの工程が不要であるという利点から、完全硬化前の蛍光体層1、より好ましくは、Bステージの蛍光体層1を押圧することによって、蛍光体層1の厚みを調整する。
<第2実施形態>
図4において、第1実施形態と同様の部材については、同一の参照符号を付し、その詳細な説明を省略する。
図1の実施形態では、図1(a)に示すように、LED2を予め基板3に実装しておき、その後、図1(b)および図1(c)に示すように、蛍光体層1によってLED2を封止しているが、例えば、図4に示すように、まず、蛍光体層1によってLED2を封止して、蛍光体層被覆LED10を作製して用意し(図4(b)および図4(c)参照)、その後、蛍光体層被覆LED10のLED2を基板3に実装すること(図4(d)参照)もできる。
この第2実施形態では、LED2を支持シート9の表面に配置して準備する準備工程(図4(a)参照)、配置工程(図4(b)参照)、調整工程(図4(c)参照)、検量線準備工程、検量線作成工程(図2および図3参照)および蛍光体層被覆LED実装工程(図4(d)参照)を備える。
[準備工程]
準備工程では、LED2を支持シート9に配置する。
支持シート9は、図4(a)の下図に示すように、面方向に延びるシート形状に形成されている。支持シート9は、LED4を支持できるように構成されており、例えば、支持板12と、支持板12の表面に積層される粘着層11とを備える。
支持板12は、支持シート9における裏面に設けられており、支持シート9の外形形状と同一形状に形成されている。支持板12は、少なくとも面方向に延伸不能であって、硬質の材料からなり、具体的には、そのような材料として、例えば、酸化ケイ素(石英など)、アルミナなどの酸化物、例えば、ステンレス、シリコンなどの金属などが挙げられる。支持板12の厚みは、例えば、0.1mm以上、好ましくは、0.3mm以上であり、また、例えば、5mm以下、好ましくは、2mm以下でもある。
粘着層11は、支持板12の表面全面に形成されている。粘着層11を形成する粘着材料としては、例えば、アクリル系感圧接着剤、シリコーン系感圧接着剤などの感圧接着剤が挙げられる。また、粘着材料としては、紫外線照射、薬液または加熱によって粘着力が低下するものの他、通常、粘着剤として用いることができるものから広範に選択することができる。粘着層11の厚みは、例えば、0.01mm以上、好ましくは、0.2mm以上であり、また、1mm以下、好ましくは、0.5mm以下でもある。
支持シート9を用意するには、例えば、支持板12と粘着層11とを貼り合わせる。
支持シート9の厚みは、例えば、0.2mm以上、好ましくは、0.5mm以上であり、また、6mm以下、好ましくは、2.5mm以下でもある。
準備工程では、具体的には、LED2を粘着層3に貼着する。
[配置工程および調整工程]
第2実施形態の配置工程および調整工程を、基板3を支持シート9に置き換えた以外は、第1実施形態の配置工程および調整工程と同様に実施する。
調整工程によって、厚みT1が厚みT2に調整された蛍光体層1と、それによって封止されるLED2とを備える蛍光体層被覆LED10を得る。
その後、蛍光体層被覆LED10が、基板3にフリップチップ実装された複数のLED2を備えるマルチチップである場合には、適宜ダイシングによって1つのLED2ずつ独立させ、1つのLED2が蛍光体層1で封止されたチップ(蛍光体層被覆LED10)を得る。ダイシングは、粘着層11に固定された状態で、LED2とLED2との中間で切断すれば、サイズのそろった封止チップ(1つのLED2を備える蛍光体層被覆LED10)となる。なお、ダイシングは、まず、離型層5を剥離してから行う。その後、各チップの1つ1つをピックアップし、基板3に実装して発光させ、色味を確認して、後述する検量線を作成する。
[検量線準備工程および検量線作成工程]
第2実施形態の検量線準備工程および検量線作成工程を、第1実施形態の検量線準備工程および検量線作成工程と同様に、実施する。
[蛍光体層被覆LED実装工程]
蛍光体層被覆LED実装工程では、蛍光体層被覆LED10のLED2を、基板3に、、フリップチップ実装する。その後、図4(d)の仮想線で示すように、離型層5を蛍光体層1から引き剥がす。
これにより、LED装置4を得る。
このLED装置4は、第1実施形態のLED装置4と同様の作用効果を奏することができ、さらに、蛍光体層被覆LED10を発光波長や発光効率に応じて選別した後、基板3に実装することができるので、発光効率により一層優れるLED装置4を得ることができる。
<第3実施形態>
図5において、第1実施形態と同様の部材については、同一の参照符号を付し、その詳細な説明を省略する。
第3実施形態では、図5(a)に示すように、蛍光体層1は、互いに異なる複数の蛍光体層から構成され、具体的には、蛍光体層1は、第1蛍光体層6および第2蛍光体層7を備える。
第1蛍光体層6は、離型層5に積層されて、LED装置4における最外層(被覆層)である。第1蛍光体層6を形成する蛍光体樹脂組成物において、硬化性樹脂としては、好ましくは、1段階硬化型シリコーン樹脂、より好ましくは、ERASTOSILシリーズが挙げられる。第1蛍光体層6に含有される蛍光体の含有割合は、第2蛍光体層7に含有される蛍光体の含有割合に比べて、例えば、高く設定され、具体的には、第1蛍光体層6および第2蛍光体層7に含有される蛍光体の総量に対して、例えば、50質量%を超過し、好ましくは、55質量%以上、より好ましくは、60質量%以上であり、また、例えば、90質量%以下、好ましくは、80質量%以下でもある。
第2蛍光体層7は、第1蛍光体層6の表面に積層され、LED2を埋設する埋設層である。第2蛍光体層7を形成する蛍光体樹脂組成物において、硬化性樹脂としては、好ましくは、2段階硬化型シリコーン樹脂が挙げられる。第1蛍光体層6に含有される蛍光体の含有割合は、第2蛍光体層7に含有される蛍光体の含有割合に比べて、例えば、低く設定され、具体的には、第1蛍光体層6および第2蛍光体層7に含有される蛍光体の総量に対して、例えば、50質量%未満、好ましくは、45質量%以下、より好ましくは、60質量%以下であり、また、例えば、10質量%以上、好ましくは、20質量%以上でもある。
蛍光体層1を作製するには、図5(a)に示すように、離型層5の表面に第1蛍光体層6を形成し、続いて、第2蛍光体層7を第1蛍光体層6の表面に積層する。具体的には、第1蛍光体層6および/または第2蛍光体層7を、ともに完全硬化前の硬化性樹脂を含有する蛍光体樹脂組成物から形成する。
完全硬化前の第1蛍光体層6の厚みは、例えば、30μm以上、好ましくは、100μm以上、より好ましくは、300μm以上であり、また、例えば、1000μm以下、好ましくは、700μm以下、より好ましくは、600μm以下である。完全硬化前の第2蛍光体層7の厚みは、例えば、30μm以上、好ましくは、200μm以上、より好ましくは、400μm以上であり、また、例えば、2000μm以下、好ましくは、1000μm以下、より好ましくは、800μm以下である。
また、完全硬化前の蛍光体層1の厚みT1、つまり、完全硬化前の第1蛍光体層6および第2蛍光体層7の総厚みT1は、例えば、400μm以上、好ましくは、600μm以上であり、また、1500μm以下、好ましくは、1200μm以下でもある。
その後、図5(b)に示すように、第1実施形態と同様にして、第1蛍光体層6および第2蛍光体層7を備える蛍光体層1によってLED2を被覆して封止し、配置工程を実施する。
その後、図5(c)に示すように、第1実施形態と同様の検量線準備工程、検量線作成工程および調整工程を実施し、その後、図5(c)の仮想線で示すように、離型層5を蛍光体層1から引き剥がして、LED装置4を得る。
この方法によっても、第1実施形態と同様の作用効果を奏することができる。
[変形例]
第3実施形態では、第1蛍光体層6に含有される蛍光体の含有割合を、第2蛍光体層7に含有される蛍光体の含有割合に比べて、高く設定しているが、例えば、用途および目的に応じて、その逆に設定することもできる。
さらに、図6が参照されるように、蛍光体層1を、Cステージの第1蛍光体層6と、Bステージの第2蛍光体層7とから形成することもできる。
その場合には、第1蛍光体層6をシリコーン樹脂から調製する場合には、例えば、市販品を用いることもでき、具体的には、1段階硬化型シリコーン樹脂として、ERASTOSIL LR7665などのERASTOSILシリーズ(旭化成ワッカーシリコーン製)などのシリコーンエラストマーを用いることもできる。
[第4実施形態]
図7において、第1実施形態と同様の部材については、同一の参照符号を付し、その詳細な説明を省略する。
第1実施形態〜第3実施形態では、蛍光体層1によってLED2を埋設しているが、蛍光体層1をLED2と対向させればよく、例えば、図7に示すように、封止層8によってLED2を埋設して封止し、かかる封止層8の表面に蛍光体層1を配置することもできる。
この方法では、予め、封止層8によって、基板3に実装されるLED2を被覆して封止する。
封止層8は、上記した蛍光体樹脂組成物の硬化性樹脂と同様の硬化性樹脂を含有する封止樹脂組成物から形成される。また、封止樹脂組成物は、必要により、蛍光体および/または充填剤を適宜の割合で含有することもできる。
封止層8によって蛍光体層1を封止するには、まず、完全硬化前(具体的には、Bステージ)の封止層8を用意し、これによって、LED2を埋設するようにして、基板3に配置する。その後、封止層8を完全硬化させる。
封止層8の厚みは、例えば、300μm以上、好ましくは、400m以上であり、また、1500m以下、好ましくは、1200m以下でもある。
[配置工程]
その後、蛍光体層1を封止層8の表面に積層する。具体的には、完全硬化前(具体的には、Bステージ)の蛍光体層1を封止層8の表面に配置する。つまり、蛍光体層1は、LED2と封止層8を隔てて上下方向に対向配置される。
[調整工程]
配置工程の後に、蛍光体層1の厚みT1を、目標となる色味y0に対応する設定厚みx0に調整する。
つまり、具体的には、蛍光体層1を封止層8に対して押圧する熱プレスによって、蛍光体層1の厚みT1を厚みT2に調整すると同時に、蛍光体層1を完全硬化させる。
その後、図7(c)に示すように、離型層5を蛍光体層1から引き剥がす。
これにより、LED2、基板3、封止層8および離型層5を備えるLED装置4を得る。
このLED装置4の製造方法は、上記した第1と同様の作用効果を奏することができる。
[変形例]
蛍光体層1および封止層8を、共にBステージの一体型シートとして調製することもできる。その場合において、蛍光体層1および封止層8の厚み調整の際には、両層が押圧されることにより、色味を調整することができる。
さらに、LED装置4において、封止層8とは別に、拡散層、輝度向上層またはレンズ層を設けることもできる。
また、上記各実施形態では、本発明における光半導体素子、蛍光体シート被覆光半導体素子および光半導体装置として、それぞれ、LED2、蛍光体層被覆LED10およびLED装置4を一例として説明しているが、例えば、それぞれ、LD(レーザーダイオード)2、蛍光体層被覆LD10およびレーザーダイオード装置4とすることもできる。
以下に、合成例、作製例、参考例、検量線作成例、実施例および比較例を挙げて本発明をさらに詳しく説明するが、本発明は、何らこれらに限定されるものではない。
合成例1
<縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂の合成>
40℃に加温したシラノール基両末端ポリジメチルシロキサン[下記式(I)中のRが全てメチル基、n=155で表されるシラノール両末端ポリシロキサン、平均分子量11,500]2031g(0.177mol)に対して、エチレン系不飽和炭化水素基含有ケイ素化合物としてビニルトリメトキシシラン[下記式(II)中のRがビニル基、Xが全てメトキシ基で表される化合物]15.76g(0.106mol)、および、エポキシ基含有ケイ素化合物として(3−グリシドキシプロピル)トリメトキシシラン[下記式(III)中のRが3−グリシドキシプロピル基、Xが全てメトキシ基で表される化合物]2.80g(0.0118mol)[シラノール基両末端ポリジメチルシロキサンのSiOH基のモル数と、エチレン系不飽和炭化水素基含有ケイ素化合物のSiX基とエポキシ基含有ケイ素化合物のSiX基の総モル数との比[SiOH/(SiX+SiX)=1/1]を撹拌混合後、縮合触媒として水酸化テトラメチルアンモニウムメタノール溶液(濃度10重量%)0.97mL(触媒量:0.88mol、シラノール基両末端ポリジメチルシロキサン100モルに対して0.50モル)を加え、40℃で1時間撹拌して、オイルを得た。得られたオイルを、40℃1時間撹拌しながら減圧(10mmHg)し、揮発分を除去した。次いで、反応液を常圧に戻した後、オルガノハイドロジェンポリシロキサン(信越化学工業社製、ジメチルポリシロキサン−co−メチルハイドロジェンポリシロキサン、平均分子量2,000、ヒドロシリル基当量7.14mmol/g)を加え、40℃で1時間攪拌した。
なお、オルガノハイドロジェンポリシロキサンのヒドロシリル基(SiH基)に対する、ビニルトリメトキシシランのビニル基(CH=CH−)のモル比(CH=CH−/SiH)は、1/3.0であった。
Figure 2014096491
Figure 2014096491
Figure 2014096491
その後、ヒドロシリル化触媒として白金カルボニル錯体(白金濃度2重量%)0.038mL(白金含有量はオルガノハイドロジェンポリシロキサンに対して質量換算で0.375ppm)を加えて、40℃で10分間撹拌した。これにより、Bステージの縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂を得た。
作製例1
<Bステージの蛍光体層の作製>
合成例1の縮合反応・付加反応硬化型シリコーン樹脂70gに、トスパール2000B(シリコーン粒子、球状、平均粒子径:6μm、モメンティブ・パフォーマンス・マテリアルズ社製)20gおよび蛍光体10gを混合して、脱泡して、蛍光体樹脂組成物を調製した。蛍光体としては、組成が(Ba,Sr,Ca)SiO;Euで、球状であり、粒径がd50で8〜14μmであり、ピーク波長が565nm、励起波長が465nmであるオルトシリケートを用いた。
次いで、蛍光体樹脂組成物を、フッ素処理したPET基材(SS4C、離型層、50μm厚み)の表面に、加熱後厚みが950μmとなるように、アプリケーターで塗布して、皮膜を形成した。その後、皮膜を、135℃で、15分間加熱(ベイク)して、Bステージの蛍光体層を得た。得られたBステージの蛍光体層の圧縮弾性率は0.05MPa(25℃)であった。
参考例1
主波長457.3nmのLEDが4個並びワイヤボンディング接続により実装された基板に、6mm角にカットした作製例1のBステージの蛍光体層を、厚み950μmのスペーサを用いて、室温(25℃)で真空プレスにより仮貼りした。仮貼りでは、LEDを含む基板に蛍光体層を載置し、それらからなる積層シートを、真空チャンバー内で、スポンジで浮かせておき、120秒真空引きした後、プレス上板を降下させ、40秒保持した。その後、真空を解除し、封止サンプルを取り出した。
仮貼り後、封止サンプルを850μmのスペーサを用いて上下をステンレス製の平滑な板(補助板)で挟み、それらを治具で固定した状態で、150℃で、5時間、オーブンでベイクして、蛍光体層を硬化させた。その後、基材を蛍光体層から引き剥がした。得られたパッケージ(LED装置)の蛍光体層の高さ(厚み)は800μmであった。このパッケージの全光束の色味は、y=0.33であった。
なお、パッケージの色味は、40mAで点灯し、瞬間マルチ測光システム(MCPD−9800、大塚電子社製)により、色度(CIE−y)として測定した。後述するパッケージの色味についても同様に測定した。
検量線作成例1
主波長451.9nmのLED(チップ)が4個並びワイヤボンディング接続により実装された2つの基板に、6mm角にカットした作製例1のBステージの蛍光体層を、上記と同様に室温(25℃)でそれぞれ仮貼りし、その後、厚み850μmのスペーサおよび厚み660μmのスペーサを用いて、上記と同様に板で挟んだ状態で、150℃で、5時間、オーブンでベイクして、蛍光体層をそれぞれ硬化させた。そして、基材を蛍光体層から引き剥がした後の得られたパッケージ(LED装置)の蛍光体層の高さ(厚み)は、それぞれ、800μmおよび610μmであった。その時の色味は、それぞれy=0.345およびy=0.325であった。
この結果より、Y=1.0526×10−4X+0.2607の直線を検量線として得た。続いて、主波長451.9nmを有するLEDにおいて、目標とする色味y=0.33に合わせる際に最適な蛍光体層の高さ(厚み)Xは、657.5μmと見積もられた(図2参照)。
検量線作成例2
主波長446.3nmのLED(チップ)が4個並びワイヤボンディング接続により実装された3つの基板に、6mm角にカットした作製例1のBステージの蛍光体層を、上記と同様に室温(25℃)でそれぞれ仮貼りし、その後、厚み850μmのスペーサ、厚み660μmのスペーサ、および、厚み480μmのスペーサを用いて、上記と同様に板で挟んだ状態で、150℃で、5時間、オーブンでベイクして、蛍光体層をそれぞれ硬化させた。基材を蛍光体層から引き剥がした後の得られたパッケージ(LED装置)の蛍光体層の高さ(厚み)は、それぞれ、800μm、610μmおよび430μmであった。その時の色味は、それぞれ、y=0.37、y=0.342およびy=0.31であった。
この結果より、Y=1.6202×10−4X+0.2412の1次近似直線を検量線として得た。主波長446.3nmを有するLEDにおいて、目標とする色味y=0.33に合わせる際に最適な蛍光体層の高さ(厚み)は、547.7μmと見積もられた(図3参照)。
実施例1
6mm角にカットした作製例1のBステージの蛍光体層を、主波長451.9nmのLED(チップ)が4個並びワイヤボンディング接続により実装された基板に、上記と同様に厚み950μmのスペーサを用いて室温(25℃)で真空にて仮貼りし、次いで、厚み707.5μmスペーサを用いて板で挟み込んだ状態で、150℃で、5時間、オーブンでベイクして、蛍光体層の厚みを調整するとともに、蛍光体層を硬化させた。得られた蛍光体層の高さ(厚み)は657.5μmであり、色味はy=0.33であった。つまり、目標となる色味が得られた。
実施例2
6mm角にカットした作製例1のBステージの蛍光体層を、主波長446.3nmのLED(チップ)が4個並びワイヤボンディング接続により実装された基板に、上記と同様に厚み950μmのスペーサを用いて室温(25℃)で真空にて仮貼りし、次いで、厚み597.7μmスペーサを用いて板で挟み込んだ状態で、150℃で、5時間、オーブンでベイクして、蛍光体層の厚みを調整するとともに、蛍光体層を硬化させた。得られた蛍光体層の高さ(厚み)は547.7μmであり、色味はy=0.33であった。つまり、目標となる色味が得られた。
比較例1
6mm角にカットした作製例1のBステージの蛍光体層を、主波長451.9nmのLED(チップ)が4個並びワイヤボンディング接続により実装された基板に対して、厚み950μmのスペーサにて室温(25℃)で真空にて仮貼りし、オーブンによるベイクにおけるスペーサとして厚み850μmのスペーサを用いた以外は、参考例1と同様にして処理した。その結果、下記のように色味が、目標となる色味であるy=0.33からずれた。
測定した色味y=0.345
目標となる色味y=0.33
比較例2
6mm角にカットした作製例1のBステージの蛍光体層を、主波長446.3nmのLED(チップ)が4個並びワイヤボンディング接続により実装された基板に対して、厚み950μmのスペーサにて室温(25℃)で真空にて仮貼りし、オーブンによるベイクにおけるスペーサとして厚み850μmのスペーサを用いた以外は、参考例1と同様にして処理した。その結果、下記のように色味が、目標となる色味であるy=0.33からずれた。
測定した色味y=0.37
目標となる色味y=0.33
1 蛍光体層
1A 第1標準蛍光体層
1B 第2標準蛍光体層
2 LED
3 基板
4 LED装置
10 蛍光体層被覆LED
x0 蛍光体層厚み(目標とする色味y0に対応)
x1 厚み(第1標準蛍光体層)
x2 厚み(第2標準蛍光体層)
x3 厚み(第3標準蛍光体層)
y0 目標とする色味
y1 光の色味(LEDから発光され、第1標準蛍光体層を介して出射)
y2 光の色味(LEDから発光され、第2標準蛍光体層を介して出射)
y3 光の色味(LEDから発光され、第3標準蛍光体層を介して出射)
T1 完全硬化前の蛍光体層の厚み
T2 完全硬化後の蛍光体層の厚み

Claims (8)

  1. 蛍光体を含有する蛍光体層を光半導体素子に対向させる工程、および、
    前記蛍光体層の厚みを調整することにより、前記光半導体素子から発光され、前記蛍光体層を介して出射される光の色味を調整する調整工程
    を備えることを特徴とする、蛍光体層被覆光半導体素子の製造方法。
  2. 前記調整工程は、対向された前記蛍光体層および前記光半導体素子の少なくとも一方をそれらが近接する方向に押圧する押圧工程
    を備えることを特徴とする、請求項1に記載の蛍光体層被覆光半導体素子の製造方法。
  3. 前記蛍光体層は、熱硬化性樹脂から形成され、
    前記押圧工程では、前記熱硬化性樹脂から形成される前記蛍光体層を加熱して熱硬化させることを特徴とする、請求項2に記載の蛍光体層被覆光半導体素子の製造方法。
  4. 前記蛍光体層と同一の第1標準蛍光体層を前記光半導体素子に対向させたときの前記第1標準蛍光体層の厚みと、前記光半導体素子から発光され、前記第1標準蛍光体層を介して出射される光の色味とを測定する第1測定工程、および、
    前記蛍光体層と同一の第2標準蛍光体層を前記光半導体素子に、前記第1標準蛍光体層と厚みが異なるように対向させたときの前記第2標準蛍光体層の厚みと、前記光半導体素子から発光され、前記第2標準蛍光体層を介して出射される光の色味とを測定する第2測定工程を備える検量線準備工程と、
    前記検量線準備工程から得られる厚みおよび光の色味に基づいて検量線を作成する検量線作成工程とをさらに備え、
    前記調整工程は、前記検量線に基づいて、目標とする色味に対応する前記蛍光体層の厚みを求め、続いて、前記厚みとなるように前記蛍光体層の厚みを調整することを特徴とする、請求項1〜3のいずれか一項に記載の蛍光体層被覆光半導体素子の製造方法。
  5. 前記検量線準備工程は、前記蛍光体層と同一の第3標準蛍光体層を前記光半導体素子に、前記第1標準蛍光体層および前記第2標準蛍光体層と厚みが異なるように対向させたときの前記第3標準蛍光体層の厚みと、前記光半導体素子から発光され、前記第3標準蛍光体層を介して出射される光の色味とを測定する第3測定工程をさらに備えることを特徴とする、請求項4に記載の蛍光体層被覆光半導体素子の製造方法。
  6. 請求項1〜5のいずれか一項に記載の蛍光体層被覆光半導体素子の製造方法によって得られることを特徴とする、蛍光体層被覆光半導体素子。
  7. 請求項6に記載の蛍光体層被覆光半導体素子を用意する工程、および、
    前記蛍光体層被覆光半導体素子の光半導体素子を基板に実装するか、または、光半導体素子を基板に予め実装する工程
    を備えることを特徴とする、光半導体装置の製造方法。
  8. 請求項7に記載の光半導体装置の製造方法によって得られることを特徴とする、光半導体装置。
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US14/068,585 US9219015B2 (en) 2012-11-09 2013-10-31 Phosphor layer-covered optical semiconductor element, producing method thereof, optical semiconductor device, and producing method thereof
EP13191362.6A EP2731152A3 (en) 2012-11-09 2013-11-04 Phosphor layer-covered optical semiconductor element, producing method thereof, optical semiconductor device, and producing method thereof
TW102139980A TW201419590A (zh) 2012-11-09 2013-11-04 被覆螢光體層之光半導體元件、其製造方法、光半導體裝置及其製造方法
CN201310541228.7A CN103811645A (zh) 2012-11-09 2013-11-05 覆盖有荧光体层的光半导体元件及其制造方法、光半导体装置及其制造方法
KR1020130135455A KR20140060246A (ko) 2012-11-09 2013-11-08 형광체층 피복 광 반도체 소자, 그의 제조 방법, 광 반도체 장치 및 그의 제조 방법

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015226002A (ja) * 2014-05-29 2015-12-14 日亜化学工業株式会社 発光装置
WO2018012273A1 (ja) * 2016-07-14 2018-01-18 日本電気硝子株式会社 波長変換部材の製造方法及び波長変換部材群
JP2019064136A (ja) * 2017-09-29 2019-04-25 日亜化学工業株式会社 透光性シートの製造方法
JP2019102565A (ja) * 2017-11-30 2019-06-24 日亜化学工業株式会社 発光装置及びその製造方法
KR20200023413A (ko) * 2017-07-27 2020-03-04 다우 실리콘즈 코포레이션 실리콘 조성물 및 광 제어용 물품
JP2021170610A (ja) * 2020-04-17 2021-10-28 日亜化学工業株式会社 発光装置の製造方法及び発光モジュールの製造方法

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015104623A1 (en) * 2014-01-07 2015-07-16 Koninklijke Philips N.V. Glueless light emitting device with phosphor converter
KR102337406B1 (ko) 2014-12-09 2021-12-13 삼성전자주식회사 불화물 형광체, 불화물 형광체 제조방법, 백색 발광장치, 디스플레이 장치 및 조명장치
CN105093674B (zh) * 2015-07-24 2018-12-11 深圳市华星光电技术有限公司 液晶显示装置
US20170023831A1 (en) * 2015-07-24 2017-01-26 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co. Ltd. Lcd device
US9761538B1 (en) * 2016-03-14 2017-09-12 Stmicroelectronics, Inc. Method for making a shielded integrated circuit (IC) package with an electrically conductive polymer layer
US20190181307A1 (en) * 2016-09-28 2019-06-13 Flory Optoelectric MAterials (Suzhou) Co., Ltd. Prepackaging Structure of Semiconductor Light Emitting Device and Semiconductor Light Emitting Device
CN107195756A (zh) * 2017-07-05 2017-09-22 斯内尔特种材料有限公司 半导体发光装置的预封装结构及半导体发光装置
CN109841721B (zh) * 2017-11-28 2023-05-02 首尔半导体股份有限公司 发光二极管封装体及其制造方法
US11183616B2 (en) 2018-09-26 2021-11-23 Lumileds Llc Phosphor converter structures for thin film packages and method of manufacture
WO2020065539A1 (en) * 2018-09-26 2020-04-02 Lumileds Holding B.V. Phosphor converter structures for thin film packages and method of manufacture
CN111048637B (zh) * 2019-12-09 2022-03-18 南京邮电大学 高落差台阶结构的多色led外延芯片及其制备方法

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007123915A (ja) * 2005-10-28 2007-05-17 Philips Lumileds Lightng Co Llc Ledを覆う蛍光体を含んだカプセル封入ラミネート膜
JP2007324608A (ja) * 2006-05-31 2007-12-13 Philips Lumileds Lightng Co Llc 波長変換部材の変更による色管理
JP2009259868A (ja) * 2008-04-11 2009-11-05 Sharp Corp 発光装置の色度調整方法および製造方法
JP2010024278A (ja) * 2008-07-16 2010-02-04 Stanley Electric Co Ltd 蛍光体セラミック板およびそれを用いた発光素子
JP2011142254A (ja) * 2010-01-08 2011-07-21 Citizen Holdings Co Ltd Led光源装置の色度調整方法
JP2011222544A (ja) * 2010-04-02 2011-11-04 Stanley Electric Co Ltd 半導体発光装置の製造方法および色度が調整された半導体発光装置
JP2012195425A (ja) * 2011-03-16 2012-10-11 Toshiba Corp 半導体発光装置ウェーハおよび半導体発光装置の製造方法
WO2013005646A1 (ja) * 2011-07-01 2013-01-10 シチズンホールディングス株式会社 半導体発光素子の製造方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002344029A (ja) * 2001-05-17 2002-11-29 Rohm Co Ltd 発光ダイオードの色調調整方法
US20090117672A1 (en) * 2007-10-01 2009-05-07 Intematix Corporation Light emitting devices with phosphor wavelength conversion and methods of fabrication thereof
US8877524B2 (en) * 2008-03-31 2014-11-04 Cree, Inc. Emission tuning methods and devices fabricated utilizing methods
JP4913858B2 (ja) 2009-04-14 2012-04-11 日東電工株式会社 熱硬化性シリコーン樹脂用組成物
JP5511524B2 (ja) * 2010-06-07 2014-06-04 日東電工株式会社 光半導体用封止シート
CN102451812B (zh) * 2010-10-26 2014-02-19 展晶科技(深圳)有限公司 荧光粉涂布方法
US8349628B2 (en) * 2011-03-22 2013-01-08 Tsmc Solid State Lighting Ltd. Methods of fabricating light emitting diode devices

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007123915A (ja) * 2005-10-28 2007-05-17 Philips Lumileds Lightng Co Llc Ledを覆う蛍光体を含んだカプセル封入ラミネート膜
JP2007324608A (ja) * 2006-05-31 2007-12-13 Philips Lumileds Lightng Co Llc 波長変換部材の変更による色管理
JP2009259868A (ja) * 2008-04-11 2009-11-05 Sharp Corp 発光装置の色度調整方法および製造方法
JP2010024278A (ja) * 2008-07-16 2010-02-04 Stanley Electric Co Ltd 蛍光体セラミック板およびそれを用いた発光素子
JP2011142254A (ja) * 2010-01-08 2011-07-21 Citizen Holdings Co Ltd Led光源装置の色度調整方法
JP2011222544A (ja) * 2010-04-02 2011-11-04 Stanley Electric Co Ltd 半導体発光装置の製造方法および色度が調整された半導体発光装置
JP2012195425A (ja) * 2011-03-16 2012-10-11 Toshiba Corp 半導体発光装置ウェーハおよび半導体発光装置の製造方法
WO2013005646A1 (ja) * 2011-07-01 2013-01-10 シチズンホールディングス株式会社 半導体発光素子の製造方法

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015226002A (ja) * 2014-05-29 2015-12-14 日亜化学工業株式会社 発光装置
WO2018012273A1 (ja) * 2016-07-14 2018-01-18 日本電気硝子株式会社 波長変換部材の製造方法及び波長変換部材群
KR20200023413A (ko) * 2017-07-27 2020-03-04 다우 실리콘즈 코포레이션 실리콘 조성물 및 광 제어용 물품
KR102346229B1 (ko) * 2017-07-27 2022-01-04 다우 실리콘즈 코포레이션 실리콘 조성물 및 광 제어용 물품
US11670741B2 (en) 2017-07-27 2023-06-06 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Method of manufacturing an optoelectronic device
JP2019064136A (ja) * 2017-09-29 2019-04-25 日亜化学工業株式会社 透光性シートの製造方法
US11398587B2 (en) 2017-09-29 2022-07-26 Nichia Corporation Method of manufacturing light-transmissive sheet
JP2019102565A (ja) * 2017-11-30 2019-06-24 日亜化学工業株式会社 発光装置及びその製造方法
JP7048883B2 (ja) 2017-11-30 2022-04-06 日亜化学工業株式会社 発光装置及びその製造方法
JP2021170610A (ja) * 2020-04-17 2021-10-28 日亜化学工業株式会社 発光装置の製造方法及び発光モジュールの製造方法
JP7193740B2 (ja) 2020-04-17 2022-12-21 日亜化学工業株式会社 発光装置の製造方法及び発光モジュールの製造方法

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