JP2014085180A - 電子部品の検査装置、検査方法、及び検査プログラム - Google Patents

Abstract

【課題】電子部品の検査時間を従来よりも短縮できる電子部品の検査装置、検査方法、及び検査プログラムを提供する。
【解決手段】電子部品の検査装置７は、電子部品の電気特性を測定する測定装置５により複数種類の電子部品を測定するための全ての検査コマンドを含む汎用ファイル７２１と、電子部品毎に検査コマンドを指定する設定ファイル７２７と、を記憶する第１記憶手段７２と、検査コマンドを記憶する第２記憶手段７３と、同種の電子部品の１番目の電子部品に対して、設定ファイル７２７で指定された検査コマンドを汎用ファイル７２１から検索して測定装置５に測定させ、さらに検索した検査コマンドを第２記憶手段７３に記憶させ、２番目以降の電子部品に対して、第２記憶手段７３が記憶する検査コマンドにより、測定装置５に測定させる制御手段７０と、を備えている。
【選択図】図２

Description

この発明は、電子部品の電気特性を検査する検査装置、検査方法、及び検査プログラムに関する。

電子部品の開発時や量産時には、その電気特性を確認する検査が行われる。電子部品の検査時には、複数種類の電子部品の電気特性を測定できる装置が使用されることがある。例えば、電子部品の一種であるＩＣについて、複数種類の電気特性を測定できる検査装置が開示されている（特許文献１参照。）。この検査装置では、テスタと呼ばれる測定器の中に、種類の異なるＩＣ毎に検査用プログラムを記憶している。ＩＣの検査時には、そのＩＣに応じた検査プログラムを読みだして検査を行う。

また、電子部品の検査装置には、特許文献１に記載の検査装置とは異なる形式の検査用プログラムを記憶しているものがある。例えば、ハイブリッドＩＣの一種である無線通信モジュール（以下、単にモジュールと称する。）の電気特性を測定する検査装置には、複数種類のモジュールの検査に対応する複数の検査コマンドを備えた汎用プログラムを記憶している。この検査装置は、モジュールに応じた検査コマンドを汎用プログラムから選択して検査を行う。この検査装置では、特許文献１に記載の検査装置とは異なり、複数のモジュール毎に検査用プログラムを用意する必要がなく、検査対象のモジュールが増加したときにも、その検査用プログラムの追加は不要である。

特開平０９−１７８８０７号公報

前記のモジュール用の検査装置では、開発時に使用された汎用プログラムが量産時にもそのまま使用されることが多い。この場合、汎用プログラムには、開発時には必要であるが量産時には不要な検査コマンドも複数含まれている。そのため、前記の検査装置により、量産時に複数のモジュールを連続的に検査するときには、複数の検査コマンドの中からモジュールに応じた検査コマンドをモジュール毎に検索する必要があり、全モジュールの検査時間が非常に長くなる。

そこで、本発明は、電子部品の検査時間を従来よりも短縮できる電子部品の検査装置、検査方法、及び検査プログラムを提供することを目的とする。

この発明の電子部品の検査装置は、第１記憶手段と、第２記憶手段と、制御手段と、を備えている。第１記憶手段は、電子部品の電気特性を測定する測定装置により複数種類の電子部品を測定するための全ての検査コマンドを含む汎用ファイルと、電子部品毎に検査コマンドを指定する設定ファイルと、を記憶する。第２記憶手段は、検査コマンドを記憶する。制御手段は、同種の電子部品の１番目の電子部品に対して、設定ファイルで指定された検査コマンドを汎用ファイルから検索して測定装置に測定させ、さらに検索した検査コマンドを第２記憶手段に記憶させる。また、制御手段は、２番目以降の電子部品に対して、第２記憶手段が記憶する検査コマンドにより、測定装置に測定させる。

また、この発明の電子部品の検査プログラムは、電子部品の電気特性を測定する測定装置と、検査対象の電子部品と、に接続されたコンピュータを、上記第１記憶手段、上記第２記憶手段、及び上記制御手段として機能させる。

この構成では、２番目以降の電子部品について、検査コマンドの検索が不要なので、検査時間を短縮できる。また、第２記憶手段に検査コマンドを記憶させることで、検査フローが単純化するため、検査時に不具合が発生しても、原因を特定しやすい。

上記発明において、第２記憶手段は、揮発性のメモリである。

この構成では、検査装置をリセットすることで、第２記憶手段が記憶する検査コマンドを消去できる。これにより、量産する電子部品の品種変更が頻繁にある場合には、検査装置をリセット後に、１番目の電子部品の検査を行えば、２番目以降の電子部品については、設定ファイルの読み出しや検査コマンドの検索が不要となり、検査時間を短縮できる。また、第２記憶手段が記憶する検査コマンドを容易に変更できる。

上記発明において、第２記憶手段は、不揮発性のメモリである。また、制御手段は、第２記憶手段が検査対象の電子部品用の検査コマンドを記憶しているときには、同種の電子部品の１番目以降に対して、第２記憶手段が記憶する検査コマンドにより、測定装置に測定させる。

この構成では、検査装置の電源を落としても、第２記憶手段が記憶する検査コマンドは消えない。そのため、生産ラインの変更がない場合には、電子部品の量産時に検査装置を１度使用すれば、同種の電子部品の次回以降の量産時には、１番目の電子部品から第２記憶手段が記憶する検査コマンドを読み出して検査ができるので、検査時間をさらに短縮できる。

この発明の電子部品の検査方法は、複数種類の電子部品を検査する検査装置が、測定装置に同種の電子部品の電気特性を連続的に測定させ、４つのステップを備えている。第１のステップでは、１番目の電子部品に対して検査を行うときに、前記検査装置の第１記憶手段が記憶する、電子部品毎に検査コマンドを指定する設定ファイルを読み出す。第２のステップでは、第１記憶手段が記憶する、複数種類の電子部品を測定するための全ての検査コマンドを含む汎用ファイルから、設定ファイルで指定された検査コマンドを検索する。第３のステップでは、検索した検査コマンドにより測定装置に測定させ、さらに検索した検査コマンドを、検査装置の第２記憶手段に記憶させる。第４のステップでは、２番目以降の電子部品に対して検査を行うときに、第２記憶手段が記憶する検査コマンドにより測定装置に測定させる。

この構成では、上記の方法で電子部品の検査を行うことで、２番目以降の電子部品の検査時間を短縮できる。

この発明によれば、電子部品の検査時間を従来よりも短縮することができる。

電子部品の検査システムの概略を示す構成図である。 第１実施形態に係る電子部品の検査装置の構成を示すブロック図である。 各メモリの記憶内容を示す図である。 検査システムで行う検査方法を説明するためのフローチャートである。 第２実施形態に係る電子部品の検査装置の構成を示すブロック図である。

［第１実施形態］
以下の説明では、電子部品の検査システム１の検査対象である電子部品１１の一例として、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）や無線ＬＡＮ（ＷＬＡＮ）など近距離通信に使用する無線通信モジュール（以下、単にモジュールと称する。）を挙げて説明する。

検査システム１は、モジュール１１に対して電力の供給と検査用信号の入力を行い、モジュール１１の電気特性を検査する。電気特性は、モジュール１１が出力する電気信号やＲＦ信号などを含む。検査システム１は、上記の検査を行うために、以下のように構成されている。図１は、電子部品の検査システムの構成図である。図２は、第１実施形態に係る電子部品検査装置の構成を示すブロック図である。

図１に示すように、検査システム１は、治具３、測定装置５、検査装置であるパーソナルコンピュータ（以下、ＰＣと称する。）７を備えている。治具３は、ＰＣ７とシリアル信号用ケーブル８により接続されている。また、治具３は、測定装置５と電気信号用ケーブル９により接続されている。測定装置５は、ＰＣ７とＧＰＩＢケーブル１０により接続されている。

治具３は、図示は省略するが、モジュール１１を保持する機構部や、モジュール１１の電源端子や信号入力端子に当接するコンタクトプローブを備えている。機構部は、モータなどの動力源により動作し、後述のようにＰＣ７により制御される。また、治具３は、量産時には、搬送装置であるベルトコンベア２１により前工程から搬送されてきたモジュール１１を検査する。また、検査が終了したモジュール１１を、搬送装置であるベルトコンベア２３またはベルトコンベア２４により次工程に搬送する。

測定装置５は、複数の電気特性の測定が可能である。測定装置５は、ＰＣ７から出力される測定制御コマンド（ＧＰＩＢコマンド）に基づいて、モジュール１１の電気特性を測定する。また、測定装置５は、モジュール１１から出力されたＲＦ信号の特性を測定する。測定装置５は、測定結果をＰＣ７に出力する。

ＰＣ７は、図２に示すように、ＣＰＵ７０、記憶部７１、不揮発性のメモリ７２、揮発性のメモリ７３、デジタル通信部７４、操作部７５、表示部７６、及びリード／ライト部７７を備えている。

ＣＰＵ７０は、起動時に記憶部７１に記録されている検査プログラムを実行する。これにより、ＣＰＵ７０が制御手段、メモリ７２が第１記憶手段、メモリ７３が第２記憶手段として機能する。

ＰＣ７は、メモリ７２において汎用プログラム７２１と複数の設定ファイル７２７を記憶している。図３は、各メモリの記憶内容を示す図である。汎用プログラム７２１は、汎用ファイルとしてメモリ７２に記憶されている。

汎用プログラム７２１は、複数種類のモジュールの検査を個別に行うことができるように、複数種類のモジュールを測定するための全ての検査コマンドを含んでいる。すなわち、汎用プログラム７２１は、検査コマンドとして、各モジュールの量産時の検査に使用する複数の測定制御用のコマンド７２３と、複数の動作制御用のコマンド７２５と、を含んでいる。また、汎用プログラム７２１は、検査コマンドとして、各モジュールの開発時の検査に使用するコマンドを含んでいる場合もある。

測定制御用のコマンド（以下、測定コマンドと称する。）７２３は、測定装置５の動作を制御するコマンドである。例えば、ＧＰＩＢコマンドである。動作制御用のコマンド（以下、動作コマンドと称する。）７２５は、モジュール１１の動作を制御する入力信号や制御信号である。例えば、モジュール１１に入力するシリアル信号である。

設定ファイル７２７には、モジュール毎に指定する検査コマンドが記載されている。すなわち、設定ファイル７２７には、検査システム１がモジュール１１の電気特性を測定するときに、汎用プログラム７２１から検索する測定コマンド７２３や動作コマンド７２５の名称や順番が記載されている。メモリ７２は、検査システム１で検査可能なモジュール毎に作成された複数の設定ファイル７２７を記憶している。図３には、メモリ７２がｎ個のモジュール１１−１〜モジュール１１−ｎの設定ファイル７２７を記憶している例を示している。

また、図示は省略するが、ＰＣ７は、治具３の機構部を制御して、検査開始時にはモジュール１１を保持させ、検査終了時には治具３を解放させる。

検査システム１では、以下のようにしてモジュール１１の検査を行う。なお、検査システム１では、量産時には、同類のモジュール１１をロット毎に検索する。すなわち、同じ種類のモジュール１１を複数個、連続的に検査する。図４は、検査システムで行う検査方法を説明するためのフローチャートである。

図４に示すように、ＰＣ７のＣＰＵ７０は、操作部７５においてモジュール１１の品種と、その検査の開始を指示する入力を受け付けると（Ｓ１：Ｙ）、ベルトコンベア２１と治具３の機構部を制御して、モジュール１１を治具３の機構部で保持する（Ｓ２、Ｓ３：Ｎ）。治具３は、図１に基づいて説明したように、ベルトコンベア２１とベルトコンベア２３，２４の間に設置されている。ＣＰＵ７０は、ベルトコンベア２１によりモジュール１１が治具３に搬送されてきたことを不図示のセンサで検出すると、不図示の機構部によりモジュール１１を保持する。本実施形態では、モジュール１１の搬送にベルトコンベアを使用しているが、複数のモジュール１１をトレイなどに整列して配置したものを用意し、そのトレイから順番にモジュール１１を吸着治具などでとり上げ、治具３にセットしても構わない。

ＣＰＵ７０は、治具３の機構部によりモジュール１１の保持が完了すると（Ｓ３：Ｙ）、検査するモジュール１１が１番目のときには（Ｓ４：Ｙ）、そのモジュール１１の品種に応じて作成されている設定ファイルを検索して、メモリ７２から読み出す（Ｓ５）。例えば、ステップＳ１において、検査するモジュールの品種としてモジュール１１−１が入力されたときには、ＣＰＵ７０は、図３に示すように複数の設定ファイル７２７を順番に検索して、モジュール１１−１用の設定ファイルを読み出す。

続いて、ＣＰＵ７０は、設定ファイルの内容に基づいて、汎用プログラム７２１に記載された複数の測定コマンド７２３と動作コマンド７２５から指定されたコマンドを順番に検索して読み出す（Ｓ６）。例えば、ＣＰＵ７０は、汎用プログラム７２１の測定コマンド７２３と動作コマンド７２５から、設定ファイル７２７に指定されたコマンドを検索して、指定された順番に読み出す。図３には、コマンド１、コマンドＢ、コマンド３、コマンドＤ、コマンド６、及びコマンドＦを順番に読み出した例を示している。

なお、図３に示すように、測定コマンド７２３と動作コマンド７２５は、複数のコマンドが順番に記載されている。ＣＰＵ７０は、設定ファイル７２７において指定されたコマンドを検索するときには、測定コマンド７２３のコマンド群または動作コマンド７２５のコマンド群を最初のコマンドから順番に検索する必要がある。

ＣＰＵ７０は、デジタル通信部７４を介してモジュール１１に動作コマンド７２５を出力し、測定装置５に測定コマンド７２３を出力する。このとき、ＣＰＵ７０は、デジタル通信部７４を介して出力する測定コマンド７２３及び動作コマンド７２５を、検査ログとしてメモリ７３にも出力する（Ｓ７）。

メモリ７３は、測定コマンド７２３及び動作コマンド７２５がデジタル通信部７４から入力されると、その順番に記憶する（Ｓ８）。以下、メモリ７３が入力された順番に記憶する複数の検査コマンドを専用プログラム７３１と称する。

モジュール１１は、ＰＣ７から入力された動作コマンドに応じた信号（電気信号やＲＦ信号）を出力する（Ｓ９）。

測定装置５は、モジュール１１が出力した信号に基づいて、モジュール１１の電気特性を測定する。そして、測定装置５は、電気特性の測定結果をＰＣ７に出力する（Ｓ１０）。

ＰＣ７のＣＰＵ７０は、測定装置５から入力された電気特性の測定結果に基づいて、１番目のモジュール１１の良否判定を行う（Ｓ１１）。

ＣＰＵ７０は、モジュール１１を良品と判定したときには、治具３の機構部を制御して、モジュール１１の保持を解除し、ベルトコンベア２３を動作させて、モジュール１１を次の工程に搬送させる（Ｓ１２）。一方、ＣＰＵ７０は、モジュール１１を不良品と判定したときには、同様にモジュール１１の保持を解除して、ベルトコンベア２４を動作させて、不良品の修理工程に搬送させる（Ｓ１３）。

ＣＰＵ７０は、全てのモジュール１１の検査が終了していないので（Ｓ１４：Ｎ）、２番目のモジュール１１に対して、ステップＳ２、Ｓ３の処理を行う。

ＣＰＵ７０は、検査するモジュール１１が１番目でないときには（Ｓ４：Ｎ）、ステップＳ８においてメモリ７３が記憶した専用プログラム７３１を読み出す（Ｓ１５）。そして、ＣＰＵ７０は、ステップＳ９〜ステップ１４の処理を行う。

ＣＰＵ７０は、全てのモジュール１１の検査が終了するまで（Ｓ１４：Ｎ）、ステップＳ２〜ステップＳ１４の処理を繰り返し行う。

ＣＰＵ７０は、全てのモジュール１１の検査が終了すると（Ｓ１４：Ｙ）、処理を終了する。

上記のように、検査システム１では、検査を行うので、２番目以降のモジュール１１については、設定ファイル７２７の検索と読み出しや、汎用プログラム７２１における各検査コマンドの検索が不要になり、検査時間を短縮でき、検査効率が向上させることができる。また、メモリ７３に専用プログラムを記憶させることで、検査フローが単純化するため、２番目以降のモジュール１１の検査時に不具合が発生しても、原因を特定しやすい。

上記のように検査処理を行った後に、ＰＣ７の電源を落とさないか、またはＰＣ７をリセットしなければ、メモリ７３は専用プログラム７３１を記憶している。このとき、図２に示したように、リード／ライト部７７に、容量が所定量以上空いている外部メモリ８１を挿入すると、ＣＰＵ７０は、メモリ７３から専用プログラム７３１を読み出して、外部メモリ８１に専用プログラム７３１を記録する。そして、ＣＰＵ７０は、メモリ７３への専用プログラム７３１の書き込みが終了すると、その旨を表示部７６に表示させる。ユーザは、この表示にしたがって、外部メモリ８１をリード／ライト部７７から抜き出す。

ユーザは、この外部メモリ８１を別のコンピュータのリード／ライト部７７に挿入してコピー操作を行えば、そのコンピュータの不揮発性のメモリに、外部メモリ８１に書き込まれている専用プログラム７３１を記憶させることができる。このように、専用プログラム７３１を容易にコピーすることができるので、モジュール１１の生産ラインの増設などを容易に行うことができる。専用プログラム７３１は、汎用プログラム容量が小さいので、コンピュータのメモリ容量が小さくても、問題なく専用プログラム７３１を記憶させることができる。

上記のように検査処理を行った後に、ＰＣ７の電源を落とすか、またはＰＣ７をリセットすると、メモリ７３から専用プログラム７３１は消去される。量産するモジュールの品種変更の頻度が高い場合には、検査装置をリセット後に、１番目の電子部品の検査を行えば、２番目以降の電子部品については、設定ファイル７２７の読み出しや検査コマンドの検索が不要となり、検査時間を短縮できる。また、メモリ７３が記憶する専用プログラム７３１を容易に変更できる。

検査システム１で検査するモジュールの品種が増加するときには、ユーザは、以下のようにすることで、新たなモジュールの設定ファイルを作成できる。

まず、ユーザは、ＰＣ７の操作部７５を操作して、設定ファイル７２７の作成モードを選択する。ＣＰＵ７０は、この操作を検出すると、汎用プログラム７２１に含まれる測定コマンド７２３の一覧と、動作コマンド７２５の一覧と、複数の設定ファイル７２７に含まれるモジュール名の一覧と、新たに作成する設定ファイル用の枠と、を表示部７６に表示させる。ユーザは、増加するモジュール名を入力し、測定コマンド７２３の一覧と動作コマンド７２５の一覧から必要なコマンドを選択して、新たに作成する設定ファイル用の枠に移動（ドラッグ）させる。そして、ユーザは、コマンドの選択が完了すると、ファイルの保存操作を行う。ＣＰＵ７０は、これらの操作を検出すると、設定ファイル７２７の一覧に、新たなモジュールの設定ファイルを追加する。

また、増加するモジュールの設定ファイルが、既存のモジュールの設定ファイルに含まれるコマンドを一部変更するだけでよいときには、ユーザは、設定ファイルに含まれるモジュール名の一覧から、コマンドが類似するモジュール名を選択する。ＣＰＵ７０は、この選択を検出すると、表示部７６に選択されたモジュールの設定ファイルに含まれる検査コマンドの一覧を表示する。ユーザは、増加するモジュール名を入力し、表示された検査コマンドの順番を入れ替える操作や、測定コマンド７２３の一覧と動作コマンド７２５の一覧から選択したコマンドと入れ替える操作を行う。そして、ユーザは、コマンドの選択や変更が完了すると、ファイルの保存操作を行う。ＣＰＵ７０は、これらの操作を検出すると、設定ファイル７２７に、新たなモジュールの設定ファイルを追加する。

また、ユーザは、以下の機能を用いても設定ファイルを追加できる。すなわち、ＣＰＵ７０は、メモリ７３が専用プログラム７３１を記憶しているときには、操作部７５において専用プログラム７３１の表示操作を受け付けると、専用プログラム７３１に含まれるコマンドの一覧を表示部７６に表示させる。ユーザは、操作部７５において上記の操作を行うことで、専用プログラム７３１に含まれるコマンドの一覧が表示部７６に表示される。このとき、ユーザは、操作部７５を操作して、新たなモジュール名の入力、専用プログラム７１におけるコマンドの順番の変更、及び測定コマンド７２３の一覧と動作コマンド７２５の一覧から選択したコマンドと入れ替える操作を行うことができる。ユーザは、コマンドの選択や変更が完了すると、ファイルの保存操作を行う。ＣＰＵ７０は、これらの操作を検出すると、設定ファイル７２７に、新たなモジュールの設定ファイルを追加する。

検査システム１では、以上のように、複数の方法により設定ファイルを作成することができる。

［第２実施形態］
図５は、第２実施形態に係る電子部品の検査装置の構成を示すブロック図である。電子部品の検査システム１Ｂは、図２に示した電子部品の検査システム１と、ＰＣの構成が相違している。すなわち、検査システム１Ｂでは、ＰＣ７Ｂの第２記憶手段であるメモリ７３Ｂが、不揮発性のメモリである。メモリ７３Ｂは、ＰＣ７Ｂの電源を落としても、記憶する専用プログラム７３１が消えない。そのため、生産ラインの変更がない場合には、モジュール１１の量産時にＰＣ７Ｂを１度使用すれば、同種のモジュール１１の次回以降の量産時には、１番目のモジュール１１からメモリ７３Ｂが記憶する専用プログラム７３１を読み出して検査ができ、検査時間をさらに短縮できる。

検査システム１Ｂでは、図４に示したフローチャートにおいて、点線で示すステップＳ４１も実行する。すなわち、ステップＳ４において、１番目のモジュール１１の検査を行うときには（Ｓ４：Ｙ）、ＣＰＵ７０は、メモリ７３Ｂが検査対象のモジュール１１用の専用プログラム７３１を記憶しているか否かを確認する（Ｓ４１）。検査対象のモジュール１１を初めて検査するとき、例えば、モジュール１１−１の量産が初めて（第１ロット）のときには、メモリ７３Ｂは専用プログラム７３１を記憶していないので（Ｓ４１：Ｎ）、ステップＳ５以降の処理を行い、検査対象の電子部品用の検査コマンドである専用プログラム７３１をメモリ７３Ｂに記憶させる。一方、モジュール１１−１の量産が第２ロット以降のときには、メモリ７３Ｂは、専用プログラム７３１を記憶しているので（Ｓ４１：Ｙ）、ステップＳ１５以降の処理を行う。このように、第２ロットからは、１番目以降の電子部品について専用プログラムにより、検査を行うことができる。

なお、以上の説明では、電子部品の一例として無線通信モジュールを例に挙げて説明したが、本発明は、他の電子部品にも当然適用できる。

１，１Ｂ…検査システム
３…治具
５…測定装置
７，７Ｂ…ＰＣ（検査装置）
８…シリアル信号用ケーブル
９…電気信号用ケーブル
１０…ＧＰＩＢケーブル
１１…モジュール（電子部品
２１，２３，２４…ベルトコンベア
７０…ＣＰＵ（制御手段）
７１…記憶部
７２…不揮発性のメモリ（第１記憶手段）
７３…揮発性メモリ（第２記憶手段）
７３Ｂ…不揮発性のメモリ（第２記憶手段）
７４…通信部
７５…操作部
７６…表示部
７７…リード／ライト部
８１…外部メモリ
７２１…汎用プログラム（汎用ファイル）
７２３…測定コマンド
７２５…動作コマンド
７２７…設定ファイル

Claims (5)

1. 電子部品の電気特性を測定する測定装置により複数種類の電子部品を測定するための全ての検査コマンドを含む汎用ファイルと、電子部品毎に検査コマンドを指定する設定ファイルと、を記憶する第１記憶手段と、
   検査コマンドを記憶する第２記憶手段と、
   同種の電子部品の１番目の電子部品に対して、前記設定ファイルで指定された検査コマンドを前記汎用ファイルから検索して前記測定装置に測定させ、さらに検索した検査コマンドを前記第２記憶手段に記憶させ、
   ２番目以降の電子部品に対して、前記第２記憶手段が記憶する検査コマンドにより、前記測定装置に測定させる制御手段と、
   を備えた電子部品の検査装置。
2. 前記第２記憶手段は、揮発性のメモリである、請求項１に記載の検査装置。
3. 前記第２記憶手段は、不揮発性のメモリであり、
   前記制御手段は、前記第２記憶手段が検査対象の電子部品用の検査コマンドを記憶しているときには、同種の電子部品の１番目以降に対して、前記第２記憶手段が記憶する検査コマンドにより、前記測定装置に測定させる、請求項１に記載の検査装置。
4. 複数種類の電子部品を検査する検査装置が、測定装置に同種の電子部品の電気特性を連続的に測定させる電子部品の検査方法において、
   １番目の電子部品に対して検査を行うときに、前記検査装置の第１記憶手段が記憶する、電子部品毎に検査コマンドを指定する設定ファイルを読み出すステップと、
   前記第１記憶手段が記憶する、複数種類の電子部品を測定するための全ての検査コマンドを含む汎用ファイルから、前記設定ファイルで指定された検査コマンドを検索するステップ、
   前記検索した検査コマンドにより前記測定装置に測定させ、さらに検索した検査コマンドを、前記検査装置の第２記憶手段に記憶させるステップと、
   ２番目以降の電子部品に対して検査を行うときに、前記第２記憶手段が記憶する検査コマンドにより前記測定装置に測定させるステップと、
   を備えた電子部品の検査方法。
5. 電子部品の電気特性を測定する測定装置と、検査対象の電子部品と、に接続されたコンピュータを、
   複数種類の電子部品を測定するための全ての検査コマンドを含む汎用ファイルと、電子部品毎に検査コマンドを指定する設定ファイルと、を記憶する第１記憶手段、
   検査コマンドを記憶する第２記憶手段、
   同種の電子部品の１番目の電子部品に対して、前記設定ファイルで指定された検査コマンドを前記汎用ファイルから検索して前記測定装置に測定させ、さらに検索した検査コマンドを前記第２記憶手段に記憶させ、
   ２番目以降の電子部品に対して、前記第２記憶手段が記憶する検査コマンドにより前記測定装置に測定させる制御手段、
   として機能させるための電子部品の検査プログラム。

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