KR101169435B1 - 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법 - Google Patents

엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR101169435B1
KR101169435B1 KR1020100080370A KR20100080370A KR101169435B1 KR 101169435 B1 KR101169435 B1 KR 101169435B1 KR 1020100080370 A KR1020100080370 A KR 1020100080370A KR 20100080370 A KR20100080370 A KR 20100080370A KR 101169435 B1 KR101169435 B1 KR 101169435B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
inspection
test
block
model
window
Prior art date
Application number
KR1020100080370A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20120017640A (ko
Inventor
이성재
이창현
마성수
Original Assignee
한솔테크닉스(주)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 한솔테크닉스(주) filed Critical 한솔테크닉스(주)
Priority to KR1020100080370A priority Critical patent/KR101169435B1/ko
Publication of KR20120017640A publication Critical patent/KR20120017640A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101169435B1 publication Critical patent/KR101169435B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1335—Structural association of cells with optical devices, e.g. polarisers or reflectors
    • G02F1/1336—Illuminating devices
    • G02F1/133602—Direct backlight
    • G02F1/133603—Direct backlight with LEDs
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • H01L22/10—Measuring as part of the manufacturing process
    • H01L22/12—Measuring as part of the manufacturing process for structural parameters, e.g. thickness, line width, refractive index, temperature, warp, bond strength, defects, optical inspection, electrical measurement of structural dimensions, metallurgic measurement of diffusions
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2203/00—Function characteristic
    • G02F2203/69—Arrangements or methods for testing or calibrating a device

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)

Abstract

본 발명은 엘이디 백라이트유닛(Back Light Unit:BLU)의 디밍 검사 방법에 관한 것이다. 좀 더 자세하게는 컴퓨팅 장치를 이용하여 디스플레이 패널에 실장된 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 불량 여부를 신속하고 편리하게 자동으로 테스트할 수 있는 방법에 관한 것이다.
본 발명에서는, 기 설정된 검사 기준을 갖는 검사 대상 모델이 선정되는 모델 선정 단계; 상기 선정된 검사 대상 모델에 부합되는 검사 대상물이 검사 장치에 연결되었는지를 판단하는 검사 대상물 확인 단계; 상기 검사 대상물에 대한 검사 측정값을 표시하고, 상기 검사 측정값이 상기 검사 기준에 부합하는지를 비교하여 부합 여부를 표시하는 검사 단계; 상기 검사 대상물의 검사 양품 여부를 표시하는 결과 표시 단계를 포함하는 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법이 제시된다.

Description

엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법{A dimming test method of LED BLU}
본 발명은 엘이디 백라이트유닛(Back Light Unit:BLU)의 디밍 검사 방법에 관한 것이다. 좀 더 자세하게는 컴퓨팅 장치를 이용하여 디스플레이 패널에 실장된 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 불량 여부를 신속하고 편리하게 자동으로 테스트할 수 있는 방법에 관한 것이다.
종래에는 디스플레이 패널에 실장된 엘이디 백라이트유닛의 디밍 불량 여부를 테스트하기 위하여는 테스트 실행자가 수동으로 일일이 테스트 항목에 따른 테스트 동작을 개별적으로 수행하였었다.
이러한 종래 방법에 의할 경우에는 신속한 테스트 과정이 불가능하였고, 또한 테스트 에러율도 높은 것이 현실이었다.
이에 테스트의 간편하고도 빠른 진행 및 높은 테스트 결과 신뢰성이 요구되게 되었다.
본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 본 발명은 디스플레이 패널에 실장된 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사를 컴퓨팅 장치를 이용하여 자동으로 편리하게 수행할 수 있고, 테스트 결과의 신뢰성을 높일 수 있도록 하는 방법을 제시하는데 그 목적이 있다.
상기한 목적을 달성하기 위한 기술적 사상으로서, 본 발명에서는,
일 양태로서, 기 설정된 검사 기준을 갖는 검사 대상 모델이 선정되는 모델 선정 단계; 상기 선정된 검사 대상 모델에 부합되는 검사 대상물이 검사 장치에 연결되었는지를 판단하는 검사 대상물 확인 단계; 상기 검사 대상물에 대한 검사 측정값을 표시하고, 상기 검사 측정값이 상기 검사 기준에 부합하는지를 비교하여 부합 여부를 표시하는 검사 단계; 상기 검사 대상물의 검사 양품 여부를 표시하는 결과 표시 단계를 포함하는 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법이 제시된다.
한편, 상기 모델 선정 단계는, 테스트 메인 창의 모델 변경 버튼이 선택되어 표시되는 모델 변경 창에 표시되는 검사 대상 후보 모델 중 어느 하나가 선택됨으로써 검사 대상 모델로 선정되는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 검사 대상 모델에 대한 검사 기준은 상기 테스트 메인 창의 모델 관리 버튼이 선택되어 표시되는 모델 관리 창의 검사 기준 입력창을 통하여 입력 설정된 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 검사 대상 후보 모델은, 상기 테스트 메인 창의 모델 관리 버튼이 선택되어 표시되는 모델 관리 창을 통하여 모델명 및 해당 정보가 입력 설정됨으로써 상기 모델명의 검사 대상 후보 모델로 등재되는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 모델 관리 창에는 특정 모델에 대한 검사 리스트를 작성하기 위한 검사 리스트 창이 포함되어 있고, 작성된 검사 리스트에 따라 상기 검사 단계를 진행하는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 검사 리스트는, 상기 모델 관리 창의 검사 항목 표시창에 등재된 검사 항목 중 어느 하나 이상을 선택하여 임의의 순서로 검사 리스트 창에 나열함으로써 작성되는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 검사 리스트는 검사 항목의 삭제 또는 추가에 의한 편집이 가능한 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 검사 단계는, 테스트 메인 창을 통하여 표시되고, 상기 테스트 메인 창은 검사 대상 모델에 대한 엘이디 블록 수만큼의 블록을 표시하는 블록 표시 영역을 포함하고, 상기 블록 표시 영역은 각 블록의 ON/OFF 상태를 구별하여 표시하는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 검사 대상 모델에 대한 엘이디 블록 수는 상기 테스트 메인 창의 모델 관리 버튼이 선택되어 표시되는 모델 관리 창을 통하여 모델별로 입력 설정된 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 검사 기준은 하한 및 상한을 갖는 검사 기준 범위이고, 상기 검사 측정값이 상기 검사 기준 범위에 포함되는지를 비교하는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 검사 기준 범위에는 전체 블록에 대한 검사 측정값의 평균값에 대한 평균값 검사 기준 범위, 블록별 검사 측정값에 대한 블록별 검사 기준 범위 중 어느 하나 이상이 포함되는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 블록별 검사 측정값은 해당 블록에 대한 애노드 단 또는 캐소드 단 전압값인 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 해당 블록에 대한 캐소드 단 전압값은 전체 블록이 ON 상태에서 해당 블록이 OFF되었다가 ON될 때에 측정되는 전압값인 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 검사 단계는 테스트 메인 창에 표시되고, 상기 검사 단계는, 전체 블록에 대한 검사 측정값의 평균값을 표시하고, 표시된 평균값이 상기 평균값 검사 기준 범위 내에 포함되는지를 비교하여 그 포함 여부를 표시하는 (a)단계와, 개별 블록에 대한 검사 측정값을 표시하고, 표시된 개별 블록에 대한 검사 측정값이 상기 블록별 검사 기준 범위 내에 포함되는지를 블록별로 비교하여 그 포함 여부를 표시하는 (b)단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 (b)단계에서는, 각 블록별 비교 과정이 블록별로 차례로 상기 테스트 메인 창에 표시되고, 검사 측정값이 검사 기준 범위 내에 포함되지 않는 것으로 판정된 블록에 대하여는 해당 블록의 불량 사실을 표시하여 주는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 결과 표시 단계에서는, 상기 전체 블록에 대한 검사 측정값의 평균값 또는 개별 블록에 대한 검사 측정값이 해당 검사 기준 범위 내에 포함되지 않을 경우에 불량임을 표시하여 주는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 (a)단계 이전에, 상기 검사 대상물에 구동 전원 및 검사 제어 전원이 인가되는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 구동 전원 및 검사 제어 전원은 설정된 시간차를 두고 구동 전원이 먼저 인가되는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 검사 대상물 확인 단계에서는, 바코드 입력창에 검사 대상물의 바코드가 입력되고, 테스트 메인 창의 모델 관리 버튼이 선택되어 표시된 모델 관리 창에서 설정된 상기 검사 대상 모델의 바코드 자리수와 상기 검사 대상물의 바코드 자리수의 일치 여부를 판단하고, 바코드 자리수가 일치할 경우에는 상기 검사 단계로 진행하고, 바코드 자리수가 일치하지 않을 경우에는 상기 검사 단계로의 진행을 중지하고 그 불일치 사실을 통보하여 주는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 결과 표시 단계 이후에, 다음 검사 대상물을 위한 바코드 입력창이 표시되고, 다음 검사 대상물에 대한 바코드가 입력되면, 상기 검사 대상물 확인 단계부터 재진행하는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 바코드 입력창에 바코드가 입력되기 전에 상기 바코드 입력창의 바코드 입력창 소멸 버튼이 선택되면, 상기 검사 대상물 확인 단계부터의 재진행이 중단되고 테스트 메인 창의 개별 검사를 위한 개별 검사 버튼이 활성화되고, 상기 개별 검사 버튼 중 어느 하나가 선택되면 선택된 버튼에 정의된 개별 검사가 수행되는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 개별 검사 버튼에는, 검사 대상물의 모든 블록을 ON 시키기 위한 버튼, 검사 대상물의 모든 블록을 OFF 시키기 위한 버튼, 바 단위로 블록을 ON시키기 위한 버튼, 개별 블록을 ON/OFF 시키기 위한 개별 블록 버튼 중 어느 하나 이상이 포함되는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 테스트 메인 창의 시작 버튼이 선택되면, 상기 개별 검사 버튼은 비활성화되고 상기 검사 대상물 확인 단계부터 다시 진행되는 것을 특징으로 한다.
한편, 위의 방법의 수순대로 실행하기 위한 컴퓨터 프로그램이 저장된 저장 매체가 다른 양태로서 제시된다.
본 발명에 따르면, 디스플레이 패널에 실장된 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사를 컴퓨팅 장치를 이용하여 자동으로 편리하게 빠른 검사 속도로 수행할 수 있고, 테스트 결과의 신뢰성을 높일 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 엘이디 백라이트유닛 검사 장치의 블럭 구성도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 전원 공급 타이밍도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 테스트 메인 창의 모습을 나타낸 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 모델 변경 창의 모습을 나타낸 도면이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 모델 관리 창의 모습을 나타낸 도면이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 검사 항목 선택창의 모습을 나타낸 도면이다.
도 7은 본 발명의 실시예에 따른 통신 관리 창의 모습을 나타낸 도면이다.
도 8은 본 발명의 실시예에 따른 바코드 입력창의 모습을 나타낸 도면이다.
도 9 내지 도 12는 본 발명의 실시예에 따른 특정 검사 리스트에 따라 진행되는 자동 검사 과정의 시간 순에 따른 테스트 메인 창의 변화 모습을 나타낸 도면이다.
도 13 내지 도 17은 본 발명의 실시예에 따른 개별 검사 버튼의 선택에 따른테스트 메인 창의 모습을 나타낸 도면이다.
도 18은 본 발명의 실시예에 따라 검사를 위해 측정되는 값들을 설명하기 위한 도면이다.
이하에서는 첨부한 도면을 참조하면서 본 발명의 실시예에 대한 구성 및 작용을 상세하게 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 엘이디 백라이트유닛 검사 장치의 블럭 구성도이다.
검사 장치는 테스트 프로그램이 저장되어 테스트 프로그램 수순에 따라 테스트를 실행하는 것을 제어하는 컴퓨터(10)와, 컴퓨터(10)의 테스트 명령 신호에 따라 테스트 신호를 생성하여 디스플레이 패널로 전송하는 테스트 콘트롤러(20)와, 컴퓨터(10)의 제어 신호에 따라 테스트 콘트롤러 및 디스플레이 패널에 전원을 공급하기 위한 전원 공급 제어부(30)와, 특정 전압의 전원을 공급하는 전원 공급부(40)와, 검사 대상이 되는 디스플레이 패널(50)로 구성된다.
상기 컴퓨터(10)는 엘이디 백라이트유닛의 디밍 테스트를 위한 어플리케이션을 저장하고 있고, 저장된 어플리케이션에 따라 테스트를 진행하고, 진행되는 과정 및 결과들을 소정의 테스트 메인 창에 표시한다.
또한, 컴퓨터(10)는 상기 테스트 콘트롤러(20) 및 상기 전원 공급 제어부(30)와 RS-232 방식 등의 데이터 통신을 위한 방식으로 연결되어 테스트 프로그램에 따른 제어 신호를 전송한다.
이러한 컴퓨터에는 PC, 노트북 등 특정한 프로그램을 실행할 수 있는 프로세서를 포함하고 있는 모든 컴퓨팅 장치가 포함된다.
상기 테스트 콘트롤러(20)는 상기 컴퓨터(10)로부터 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 테스트를 위한 특정 테스트 명령 신호를 전송받아 이에 따른 테스트 신호를 생성하여 테스트 신호를 상기 전원 공급부(20)를 통하여 상기 디스플레이 패널(50)로 전송한다.
또한, 테스트 신호에 따라 동작하는 디스플레이 패널(50)로부터 테스트 신호에 따른 동작 결과 신호(예컨대, 특정 엘이디 블록에 대하여 측정된 전압값 등)를 상기 디스플레이 패널(50)로부터 상기 전원 공급 제어부(30)를 통해 전송받아 상기 컴퓨터(10)로 전송한다.
상기 전원 공급 제어부(30)는 상기 컴퓨터(10)의 제어 신호에 따라, 상기 전원 공급부(40)에서 공급되는 제1 전압의 전원을 제2 전압으로 변환한 후 상기 테스트 콘트롤러(20)로 공급하고, 상기 제1 전압을 상기 디스플레이 패널(50)로 공급한다. 검사 대상 디스플레이 패널에 대한 자동 검사가 종료된 후에는 상기 컴퓨터(10)의 제어 신호에 따라 전원 공급을 중단한다.
상기 테스트 콘트롤러(20)로 공급된 제2 전압은 상기 테스트 신호와 함께 상기 전원 공급 제어부를 통하여 디스플레이 패널(50)로 공급된다.
여기서, 제1 전압은 구동 전압으로서 24 V이고, 제2 전압은 테스트 제어 전압으로서 12V 이다.
도 2를 참조하면, 상기 전원 공급 제어부(30)에서 상기 컴퓨터(10)로부터의 제어 신호에 따라 상기 제1 전압 및 상기 제2 전압의 공급 및 중단이 상호 특정 시간차에 의해 진행됨을 알 수 있다.
시간차 T2(전원 공급시 시간차), T3(전원 중단시 시간차)는 테스트될 패널 종류(사이즈에 따른 분류)에 따라 다르게 설정된다.
또한, 상기 전원 공급 제어부(30)는 상기 컴퓨터(10)의 제어 신호에 따라 상기 테스트 콘트롤러(20)에서 디스플레이 패널(50)로 연결되는 테스트 신호 라인을 제어한다.
상기 전원 공급부(40)는 제1 전압을 생성하여 상기 전원 공급 제어부(30)로 공급한다.
상기 디스플레이 패널(50)은 상기 전원 공급 제어부(30)를 통하여 상기 테스트 콘트롤러(20)에서 전송한 테스트 신호를 전송받아 해당 테스트 신호에 따라 동작하고 그 동작 결과 신호를 상기 전원 공급 제어부(30)를 통하여 상기 테스트 콘트롤러(20)로 전송한다.
이하에서는 본 발명의 실시예에 따른 테스트 프로그램의 실행에 따라 컴퓨터 화면에 표시되는 특정 창을 통하여 디스플레이 패널에 실장된 엘이디 백라이트유닛의 디밍 테스트를 수행하는 과정을 설명하기로 한다.
먼저, 컴퓨터에 저장된 테스트 프로그램을 실행하게 되면 도 3과 같은 테스트 메인 창(100)이 컴퓨터 화면에 표시된다.
테스트 메인 창의 각 영역에 대하여 설명하면, 모델명 표시 영역(110)에는 현재 테스트할 LED BLU(엘이디 백라이트유닛)의 모델 명이 표시된다.
모델명 표시 영역(110)에 표시되는 모델명은 모델 그룹 영역(1400)에 표시되는 모델 변경 버튼(1410)을 선택하게 되면 도 4와 같은 모델 변경 창(200)이 표시되고, 그 표시된 모델 변경 창의 파일명 선택 영역(210)에 표시된 검사 대상 후보 모델 중 어느 하나를 선택하고, 아래의 확인 버튼(220)을 선택함으로써 설정된다.
각 모델별로 테스트 기준이 다르며, 테스트 메인 창(100)에는 사용자에 의해 설정된 모델별 테스트 기준에 따라 블록 표시 영역(150)에 표시되는 블록 버튼의 수가 다르게 표시되고, 평균 측정값 표시 영역(170)에 표시되는 기준 범위 상하한값이 다르게 표시된다.
이러한 모델별 테스트 기준 설정은 모델 그룹 영역(1400)에 표시되어 있는 모델 관리 버튼(1420)을 선택하면 화면에 나타나는 도 5와 같은 모델 관리 창(300)의 각 입력창에 모델별로 특정되는 값들을 입력하면 된다.
도 5를 참조하면서, 모델 관리 창(300)에 표시되는 각 영역을 설명하면 다음과 같다.
모델 정보 영역(310)에는 모델명 및 추가 모델 정보가 모델명 입력창 및 모델 정보 입력창을 통하여 입력된다. 입력된 모델 명에 따라 새로운 테스트 모델이 설정된다.
기본 정보 영역(320)에는 모델에 대한 기본 정보들이 입력된다.
- 블록 수 입력창에는 해당 모델의 블록 수가 입력된다. 입력 설정된 블록 수에 맞게 상기 메인 창(100)의 블록 표시 영역에 표시된다. 여기서, 블록은 8개의 엘이디로 구성된 엘이디 집합 블록을 의미하며, 본 발명은 에지형 백라이트유닛의 각 블록별 디밍 상태를 검사하기 위한 것이다.
- 뱅크(bank) 입력창에는 해당 모델의 뱅크 분류가 입력된다. 즉, 패널 사이즈가 40인치일 경우에는 0, 42인치인 경우에는 1, 55인치인 경우에는 2 등으로 해당 모델의 사이즈별로 구분되어 입력된다.
- 검사 횟수 입력창에는 검사 횟수가 입력된다. 입력된 검사 횟수에 맞게 해당 모델에 대하여 검사하게 된다.
- 유지 시간 입력창에는 블록 간 테스트 간격 시간이 입력된다. 임의의 블록에 대한 테스트가 종료 후 다음 블록에 대한 테스트 시작 사이의 간격 시간이 입력된다.
- 대기 시간 입력창에는 작업자 모기 검사 등을 위하여 설정되는 대기 시간이 입력되는 창으로서 아래에 설명할 검사 항목 리스트 편집시에 WAIT_SEC가 선택되면 이후의 검사 항목 수행까지 설정된 대기 시간 동안 검사가 지연된다.
- 에이징 입력창에는 검사 전 대기 시간이 입력된다.
- 바코드 자리 수 입력창에는 해당 모델에 대한 바코드 자리수가 입력된다. 상기 메인창(100)의 바코드 표시 영역에 입력되는 바코드의 자리수가 설정된 바코드 자리수와 일치하지 않을 경우에는 검사가 진행되지 않는다.
- Volt Resolution, AD Resolution 입력창에는 1 AD 값당 몇 mA인지 계산하기 위한 변수들이 입력된다.
- 메타 데이터 입력창에는 Vref, Blink_pat_0, Blink_pat_1 중 임의로 선택할 수 있고, 선택된 것에 대한 주소(왼쪽 입력창) 및 그 값(오른쪽 입력창)이 입력된다.
- Init write 입력창에는 IP와 PWM 값이 입력된다.
검사 정보 영역(330)에는 작업자의 선택에 의해 검사 항목 리스트를 편집할 수 있게 구성되어 있다. 편집된 검사 리스트에 따라 자동 검사가 수행되게 된다.
검사 정보 영역(330)의 검사 항목 표시 버튼(332)을 클릭하면, 도 6과 같은 검사항목선택창(334)이 표시되고 그 중 어느 하나를 선택한 후 추가 버튼(335-1)을 선택하면 오른쪽의 검사 리스트창(336)에 검사항목이 순서대로 나열 표시된다. 이 검사 리스트창에 나열된 검사 항목 순서대로 향후 자동 검사시 검사를 실행하게 된다.
검사 리스트창(336)에 나열된 특정 검사 항목을 선택한 후 삭제 버튼(335-2)을 선택하면, 해당 항목을 리스트창(336)에서 삭제되므로 필요한 검사 항목 리스트를 편집할 수 있다.
여기서, 검사 항목의 내용을 살펴보면,
- LED_ALL_ON 은 BLU를 MAX PWM값으로 모두 ON해 주고,
- LED_ALL_OFF 는 BLU를 MIN PWM값으로 모두 OFF해 주고,
- BLOCK_BLINK_ON_OFF 와 BLOCK_BLINK_OFF_ON 은 각각 모든 BLOCK을 ON에서 OFF로, OFF에서 ON으로 제어하고,
- LCP_OVP_MEASURE 는 각 BLOCK 별로 PWM MAX인 상태에서 AD 값을 측정하고,
- LSP_MEASURE 는 각 BLOCK 별로 PWM MIN인 상태에서 AD 값을 측정하고,
- CURRENT_READ 는 IP ADDRESS에 있는 값을 READ하고,
- PWM_READ는 PWM ADDRESS에 있는 값을 READ하고,
- BAR_BLINK1_ON, BAR_BLINK2_ON, BAR_BLINK3_ON, BAR_BLINK4_ON 은 각각 해당 BAR 단위로 ON하고,
- BAR_BLINK1_OFF, BAR_BLINK2_OFF, BAR_BLINK3_OFF, BAR_BLINK4_OFF 는 각각 해당 BAR 단위로 OFF하고,
- WAIT_SEC 는 입력된 대기 시간만큼 기다리고,
- MEASURE_LCP_LSP_OVP 는 AD 값을 읽어 LCP, LSP, OVP 값을 측정하고,
- WRITE_METADATA 는 선택된 항목을 전송하게 한다.
여기서, 도 18을 참조하면, LCP값은 다수 개의 엘이디가 직렬로 연결된 블록에서 엘이디의 캐소드에 연결된 트랜지스터의 콜렉터 단중의 최소 전압(즉, 엘이디 블록의 캐소드 단 최소 전압)을 측정한 값으로, 그 값을 이용하여 LED string 중 맨 아래 LED의 그라운드 숏트, LED string open 등의 불량을 검출할 수 있고, LSP 값은 다수 개의 엘이디가 직렬로 연결된 블록에서 엘이디의 캐소드에 연결된 트랜지스터의 콜렉터 단중의 최대 전압(즉, 엘이디 블록의 캐소드 단 최소 전압)을 측정한 값으로, 그 값을 이용하여 LED 패키지 숏트, LED chip open 등의 불량을 검출할 수 있고, OVP 값은 엘이디 백라이트 유닛의 전원 입력단(Vout)(즉, 엘이디 블록의 애노드 단)의 전압값으로, LED단 F/B 불량, LED 패키지 open 등의 불량을 검출할 수 있다.
제어정보 영역(340)에는 각종 정보를 입력할 수 있다.
- IP Min, IP Max, 시작 주소 입력창에는 IP값의 범위 및 시작 주소가 입력되고,
- PWM Min, PWM Max, 시작 주소 입력창에는 PWM 값의 범위 및 시작 주소가 입력되고,
- LCP Max/Min, LSP Max/Min, OVP Max/Min 입력창에는 각 값의 판정 범위가 입력된다.
BLOCK 전압 스펙 영역(350)에는 각 블록별 기준 전압 스펙이 입력된다. 각 값이 입력된 후에는 스펙 종류 선택(360-1)창에서 스펙 종류를 (LCP, LSP, OVP 중 어느 하나)를 선택한 후 검사 스펙 적용 버튼(360)을 선택하면 입력된 값들이 선택된 스펙 종류로 설정된다.
모델 생성 버튼(372)을 선택하면 입력된 모델 명에 대한 입력된 각종 정보 및 검사 기준이 모델명과 매칭되어 상기 모델 변경 창(200)의 파일명 선택 영역(210)에 검사 대상 후보 모델로 설정 등재된다.
적용 후 되돌아가기(374)를 선택하면 현재의 모델 파일에 새롭게 입력된 정보를 설정하고 모델 관리 창(300)을 빠져나간다.
이와 더불어, 검사 환경을 설정하려면, 테스트 메인 창(100)의 모델 그룹 영역(1400)의 일반 관리 버튼(1430)을 선택하면, 도 7과 같은 통신 관리 창(400)이 화면에 표시된다.
PANNEL Controller 영역(410)에는 상기 테스트 콘트롤러(20)와의 RS232 통신 환경을 설정한다.
JIG Controller 영역(420)에는 상기 전원 공급 제어부(30)와의 RS232 통신 환경을 설정한다.
JIG Controller 사용 창(430)에서, 사용을 체크하면 상기 제1 전압 및 제2 전압의 전원 타이밍 시퀀스를 구현하여 자동으로 파워가 제어되고, 미사용을 체크하면 작업자가 수동으로 파워 조작 후 바코드 입력 후 검사 프로그램을 시작하게 된다.
바코드 사용 창(440)에서, 사용을 체크하면 바코드 입력창 표시 후 바코드 입력 절차를 수행한 후 검사를 시작하고, 미사용을 체크하면 바로 검사를 시작하게 된다.
Power ON Timming 설정 영역(450)에는 Dib 스위치별로 ON, OFF 타이밍 값을 설정할 수 있고, 전원 공급 제어부(30)는 설정된 Dib SW 값으로 파워 타이밍을 실행한다.
다시, 테스트 메인 창(100)의 각 영역에 대한 설명으로 돌아가기로 한다.
버전 표시 영역(120)에는 테스트 콘트롤러의 프로그램의 버전 정보가 표시된다.
Bank 표시 영역(130)에는 상기 모델 관리 창(300)을 통하여 설정된 Bank 번호가 표시된다.
그래픽 표시 영역(140)에는 측정되는 검사 결과 값들이 그래픽으로 표시된다.
블록 표시 영역(150)에는 테스트할 모델에 대하여 상기 모델 관리 창을 통하여 설정된 블록 수만큼 블록 버튼이 생성되고, 자동 검사 중지 상태에서 개별적으로 특정 블록을 선택하면 선택된 블록 버튼에 해당하는 블록이 ON, OFF됨으로써 각 블록별로 수동으로 검사할 수 있다.
바코드 표시 영역(160)에는 바코드 입력기에 입력된 바코드 데이터가 표시된다.
전체 측정값 표시 영역(170)에는 모든 블록을 ON한 경우에 측정된 LCP, LSP, OVP의 평균값이 표시되고, 각 값에 대한 상하한 표시 창(172)에는 상기 모델 관리 창(300)의 제어 정보 영역(340)을 통하여 설정된 각 값들의 상하한이 표시된다.
이때, 특정 값이 설정된 상하한 범위를 벗어난 경우 빨간색으로 표시해준다.
검사 상세 이력 영역의 블록별 검사 진행 표시 영역(180)에는 각 블록을 순차적으로 검사한 결과를 표시해 주며 블록별로 불량이 발생할 경우(상기 모델 관리창(300)의 BLOCK 전압 스펙(350)에 설정된 허용 범위를 벗어날 경우)에는 빨간색으로 표시해 준다.
이때 AD_1창에는 LCP값이, AD_2창에는 LSP값이, AD_3창에는 OVP값이 각각 표시된다.
결과 표시 영역(190)에는 최종 불량 여부를 표시해 준다. 블록 중 어느 하나 또는 전체 측정값 중 어느 하나라도 허용 범위를 벗어난 경우에는 불량(NG)을 표시하고, 정상인 경우에는 'OK ' 표시를 해준다.
검사 시간 표시 영역(1100)에는 자동 검사 시간을 표시해 준다.
실행 그룹 영역(1200)에서 활성화된 검사 시작 버튼(1202)가 선택되면 상기 모델 관리 창(300)을 통하여 설정된 검사 리스트에 따라 자동 검사가 시작되고, 자동 검사 중에는 검사 중지 버튼(1204) 만이 활성화된다.
테스트 그룹 영역(1300)은 자동 검사 중지 시에 활성화되어 각 버튼에 정의된 기능을 수행한다.
- 초기화 버튼이 선택되면 상기 모델 관리 창(300)을 통하여 선택된 메타 데이터, 초기 전류값, 초기 PWM값을 전송한다.
- LCP/OVP 버튼이 선택되면 모든 블록이 OFF된 상태에서 측정하려는 블록을 ON, OFF 시킴을 각 블록에 대하여 순차적으로 진행하면서 LCP/OVP 를 측정한다.
- LSP 버튼이 선택되면 모든 블록이 ON된 상태에서 측정하려는 블록을 OFF, ON 시킴을 각 블록에 대하여 순차적으로 진행하면서 LSP를 측정한다.
- ALL ON 버튼이 선택되면 모든 블록에 MAX PWM 값을 공급한다.
- ALL OFF 버튼이 선택되면 모든 블록에 MIN PWM 값을 공급한다.
- JIG ON 버튼이 선택되면 테스트 콘트롤러에 파워를 ON한다.
- JIG OFF 버튼이 선택되면 테스트 콘트롤러에 파워를 OFF한다.
- BAR1, BAR2, BAR3, BAR4 버튼이 선택되면 각 BAR 단위로 디밍 제어를 한다.
모델 그룹 영역의 종료 버튼(1440)이 선택되면 테스트 프로그램이 종료하고, 다른 버튼들(1410, 1420, 1430)에 대한 설명은 이미 위에서 하였다.
다음으로, 화면에 표시된 테스트 메인 창을 통하여 설정된 검사 리스트에 따라 자동 검사를 수행하기 위해 검사 시작 버튼이 선택된다.
그러면, 상기 통신 관리 창(400)에서 바코드 사용 창(440)에 바코드 사용이 체크된 경우, 도 8과 같은 바코드 입력 창(800)이 표시된다.
바코드 리더기를 통하여 테스트 제품의 바코드가 바코드 입력창에 표시되고, 입력된 바코드 자리수가 설정된 바코드 자리수와 부합되지 않을 경우 바코드 오류가 검사자에게 통보되고 자동 검사 진행이 정지된다.
바코드 유효성 검사가 통과된 경우에는, 도 2에서 설명한 전원 공급 타이밍도에 따라 전원이 공급되고, 설정된 검사 리스트에 따라 자동 검사가 수행된다.
도 9 내지 도 12는 특정 검사 리스트에 따라 진행되는 자동 검사 과정의 시간 순에 따른 테스트 메인 창의 변화 모습을 나타내고 있다.
본 예에서는 다음과 같은 특정 검사 리스트가 적용되었다.
Figure 112010053496259-pat00001
도 9는 상기 명령어 LED_ALL_ON에 따라 모든 블록을 ON시킨 상태에서 상기 모델 관리 창(300)의 기본 정보 영역(320)의 대기 시간 입력창에 설정된 시간 동안 WAIT_SEC 명령에 따라 기다리는 것을 나타낸 테스트 메인 창의 모습이다. 블록 표시 영역(150)에는 모두 28개의 블록이 표시되어 있고, 모두 켜져 있음을 녹색으로 표시하고 있다. 자동 검사가 시작된 후에는 검사 중지 버튼(1204)만이 활성화되어 있다.
도 10은 상기 명령어 MESURE_LCP_LSP_OVP에 따라 각 값의 평균값을 측정하여 전체 측정값 표시 영역(170)에 표시한 상태를 나타내고 있다.
이때, 측정값이 각 값의 상하한에 포함되지 않을 경우에는 모든 검사 항목을 마친 후 표시 영역에 NG가 표시된다.
도 11은 상기 명령어 LSP_MESURE에 따라 상기 블록 표시 영역에 표시되어 있는 각 블록에 대하여 순차적으로 LSP값을 측정하여 상기 모델 관리 창(300)의 LSP 스펙에 대하여 설정된 블록 전압 스펙의 허용 범위에 포함되는지를 검사하게 된다.
도 11은 블록 7까지 진행된 모습을 나타내고 있다.
이때, 각 블록에 대하여 LCP, LSP, OVP도 측정하긴 하나 명령어에 따라 LSP 값만에 대하여 허용 범위에 포함되어 있는지 여부를 판단하게 된다.
도 12는 상기 명령어 LSP_MEASURE에 따라 모든 블록에 대하여 검사를 완료한 후의 모습을 나타내고 있다.
결과 표시 영역(190)에는 모든 블록에 대한 LSP 결과가 정상이고, 평균값도 모두 정상 범위 내에 위치하므로 'OK' 사인이 표시되고 있다.
또한, 상기 LED_ALL_OFF 명령에 따라 모든 블록을 OFF시키고, 그에 따라 블록 표시 영역(150)에는 모든 블록이 꺼져 있음을 어두운 색상으로 표시하고 있다.
하나의 패널에 대하여 자동 검사가 완료되면, 검사 중지 버튼(1204)만이 비활성화 상태가 되고, 전원 공급 제어부에서는 디스플레이 패널 및 테스트 콘트롤러로의 전원 공급을 중지한다.
이렇게 함으로써 하나의 패널에 대한 자동검사가 완료되게 되고, 검사결과기록이 해당 폴더에 저장된다.
다수의 패널을 검사하기 위하여는,
1) 검사 시작 버튼이 선택되고, 2) 검사 대상 패널을 검사 장치에 결선하고, 3) 검사 대상 패널의 바코드를 입력받고, 4) 자동 검사 과정(전원 공급, 검사 리스트에 따른 자동 검사, 전원 공급 중지)이 진행되고, 5) 검사 대상 패널의 검사 장치와의 결선을 해제하고 위 2번으로 회귀하는 과정으로 진행된다(즉, 이전 검사 대상이 검사 완료되고 다음 검사 대상에 대한 바코드 입력창(도 8 참조)이 표시된다).
만약, 이전 검사 대상 패널에 대하여 아래에서 설명할 개별 검사를 수행하기 위해서 이전 검사 대상 패널에 대한 자동 검사 완료 후 표시되는 바코드 입력창의 입력창 소멸 버튼(도 8의 810)을 선택하게 되면 자동 검사 모드가 중지되고, 테스트 그룹 영역의 각 버튼들이 활성화된다.
다시 자동 검사 모드를 수행하려면, 검사 시작 버튼을 누르고, 검사 장치에 결선된 검사 대상 패널의 바코드를 입력하면 된다.
이하에서는 도 13 내지 도 17을 참조하면서 자동검사가 중지된 상태에서 테스트 그룹 영역(1300)의 특정 버튼의 선택에 따른 개별 검사에 대하여 설명하기로 한다.
각 특정 버튼이 선택되면 상기 전원 공급 제어부를 제어하여 상기 테스트 콘트롤러 및 상기 디스플레이 패널에 전원을 공급하고 개별 검사 후 전원 공급을 중지하게 된다.
도 13에서처럼 테스트 그룹 영역(1300)의 ALL ON 버튼이 선택되면 모든 블록(도 13에서는 블록 수가 24개인 모델의 예임)이 ON 되고, 블록 표시 영역(150)의 모든 블록이 밝은 색으로 표시된다.
도 14에서처럼 테스트 그룹 영역(1300)의 ALL OFF 버튼이 선택되면, 모든 블록이 OFF 되고, 블록 표시 영역(150)의 모든 블록이 어두운 색으로 표시된다.
도 15에서처럼 테스트 그룹 영역(1300)의 BAR1 버튼이 선택되면, BAR1에 해당하는 블록이 ON 되고, 블록 표시 영역(150)에서 BAR1을 구성하는 블록-0에서 블록-5까지 6개의 블록이 ON되었음이 밝은 색으로 표시되고 있다.
도 16에서처럼 테스트 그룹 영역(1300)의 BAR1 버튼 및 BAR4 버튼이 선택되면, BAR1 및 BAR4에 해당하는 블록이 ON 되고, 블록 표시 영역(150)에서 BAR1을 구성하는 블록-0에서 블록-5까지 및 BAR4를 구성하는 블록-18에서 블록-23까지 총 12개의 블록이 ON되었음이 밝은 색으로 표시되고 있다.
도 17에서처럼 테스트 그룹 영역(1300)의 LSP 버튼이 선택되면, 모든 블록이 ON 된 상태에서 블록-0에서 블록-23까지 순차로 꺼졌다 켜지면서 LSP를 측정하여 결과표시영역(180)에 표시하여 준다. 이때에도 측정된 LSP가 허용 범위를 벗어날 경우에는 해당 블록에 대한 결과 표시창에 빨간색으로 표시하여 준다.
이처럼 본 발명에서는 테스트 그룹 영역의 각종 버튼을 이용함으로써 자동 검사에서 불량 판정된 패널에 대하여는 개별적으로 검사할 수 있도록 구성되어 있다.
이상에서는 본 발명에 따른 실시예에 대하여 상세하게 설명하였다. 본 발명의 보호범위는 위 실시예에 한정되는 것은 아니며, 위 실시예로부터 통상의 기술자가 용이하게 변형한 것에도 미치며, 그 보호범위는 특허청구범위에 기재된 것에 의해 정하여진다.
본 발명은 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사를 자동으로 실시할 수 있도록 하는 것으로서, 엘이디 백라이트 유닛 및 엘이디 백라이트 유닛이 사용되는 디스플레이 패널 관련 산업에 유용하게 이용될 수 있다.
10 : 컴퓨터 20 : 테스트 콘트롤러
30 : 전원 공급 제어부 40 : 전원 공급부
50 : 디스플레이 패널
100 : 테스트 메인 창 200 : 모델 변경 창
300 : 모델 관리 창 400 : 통신 관리 창

Claims (24)

  1. 기 설정된 검사 기준을 갖는 검사 대상 모델이 선정되는 모델 선정 단계; 상기 선정된 검사 대상 모델에 부합되는 검사 대상물이 검사 장치에 연결되었는지를 판단하는 검사 대상물 확인 단계; 상기 검사 대상물에 대한 검사 측정값을 표시하고, 상기 검사 측정값이 상기 검사 기준에 부합하는지를 비교하여 부합 여부를 표시하는 검사 단계; 상기 검사 대상물의 검사 양품 여부를 표시하는 결과 표시 단계; 를 포함하여 구성하고,
    상기 모델 선정 단계는 테스트 메인 창의 모델 변경 버튼이 선택되어 표시되는 모델 변경 창에 표시되는 검사 대상 후보 모델 중 어느 하나가 선택됨으로써 검사 대상 모델로 선정되는 것을 특징으로 하는 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법.
  2. 삭제
  3. 청구항 1에 있어서,
    상기 검사 대상 모델에 대한 검사 기준은 상기 테스트 메인 창의 모델 관리 버튼이 선택되어 표시되는 모델 관리 창의 검사 기준 입력창을 통하여 입력 설정된 것을 특징으로 하는 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법.
  4. 청구항 1에 있어서,
    상기 검사 대상 후보 모델은,
    상기 테스트 메인 창의 모델 관리 버튼이 선택되어 표시되는 모델 관리 창을 통하여 모델명 및 해당 정보가 입력 설정됨으로써 상기 모델명의 검사 대상 후보 모델로 등재되는 것을 특징으로 하는 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법.
  5. 청구항 3에 있어서,
    상기 모델 관리 창에는 특정 모델에 대한 검사 리스트를 작성하기 위한 검사 리스트 창이 포함되어 있고,
    작성된 검사 리스트에 따라 상기 검사 단계를 진행하는 것을 특징으로 하는 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법.
  6. 청구항 5에 있어서,
    상기 검사 리스트는,
    상기 모델 관리 창의 검사 항목 표시창에 등재된 검사 항목 중 어느 하나 이상을 선택하여 임의의 순서로 검사 리스트 창에 나열함으로써 작성되는 것을 특징으로 하는 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법.
  7. 청구항 6에 있어서,
    상기 검사 리스트는 검사 항목의 삭제 또는 추가에 의한 편집이 가능한 것을 특징으로 하는 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법.
  8. 청구항 1에 있어서,
    상기 검사 단계는, 테스트 메인 창을 통하여 표시되고,
    상기 테스트 메인 창은 검사 대상 모델에 대한 엘이디 블록 수만큼의 블록을 표시하는 블록 표시 영역을 포함하고,
    상기 블록 표시 영역은 각 블록의 ON/OFF 상태를 구별하여 표시하는 것을 특징으로 하는 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법.
  9. 청구항 8에 있어서,
    상기 검사 대상 모델에 대한 엘이디 블록 수는 상기 테스트 메인 창의 모델 관리 버튼이 선택되어 표시되는 모델 관리 창을 통하여 모델별로 입력 설정된 것을 특징으로 하는 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법.
  10. 청구항 3에 있어서,
    상기 검사 기준은 하한 및 상한을 갖는 검사 기준 범위이고,
    상기 검사 측정값이 상기 검사 기준 범위에 포함되는지를 비교하는 것을 특징으로 하는 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법.
  11. 청구항 10에 있어서,
    상기 검사 기준 범위에는 전체 블록에 대한 검사 측정값의 평균값에 대한 평균값 검사 기준 범위, 블록별 검사 측정값에 대한 블록별 검사 기준 범위 중 어느 하나 이상이 포함되는 것을 특징으로 하는 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법.
  12. 청구항 11에 있어서,
    상기 블록별 검사 측정값은 해당 블록에 대한 애노드 단 또는 캐소드 단 전압값인 것을 특징으로 하는 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법.
  13. 청구항 12에 있어서,
    상기 해당 블록에 대한 캐소드 단 전압값은 전체 블록이 ON 상태에서 해당 블록이 OFF되었다가 ON될 때에 측정되는 전압값인 것을 특징으로 하는 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법.
  14. 청구항 11에 있어서,
    상기 검사 단계는 테스트 메인 창에 표시되고,
    상기 검사 단계는,
    전체 블록에 대한 검사 측정값의 평균값을 표시하고, 표시된 평균값이 상기 평균값 검사 기준 범위 내에 포함되는지를 비교하여 그 포함 여부를 표시하는 (a)단계와,
    개별 블록에 대한 검사 측정값을 표시하고, 표시된 개별 블록에 대한 검사 측정값이 상기 블록별 검사 기준 범위 내에 포함되는지를 블록별로 비교하여 그 포함 여부를 표시하는 (b)단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법.
  15. 청구항 14에 있어서,
    상기 (b)단계에서는, 각 블록별 비교 과정이 블록별로 차례로 상기 테스트 메인 창에 표시되고, 검사 측정값이 검사 기준 범위 내에 포함되지 않는 것으로 판정된 블록에 대하여는 해당 블록의 불량 사실을 표시하여 주는 것을 특징으로 하는 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법.
  16. 청구항 14에 있어서,
    상기 결과 표시 단계에서는,
    상기 전체 블록에 대한 검사 측정값의 평균값 또는 개별 블록에 대한 검사 측정값이 해당 검사 기준 범위 내에 포함되지 않을 경우에 불량임을 표시하여 주는 것을 특징으로 하는 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법.
  17. 청구항 14에 있어서,
    상기 (a)단계 이전에,
    상기 검사 대상물에 구동 전원 및 검사 제어 전원이 인가되는 것을 특징으로 하는 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법.
  18. 청구항 17에 있어서,
    상기 구동 전원 및 검사 제어 전원은 설정된 시간차를 두고 구동 전원이 먼저 인가되는 것을 특징으로 하는 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법.
  19. 청구항 1에 있어서,
    상기 검사 대상물 확인 단계에서는,
    바코드 입력창에 검사 대상물의 바코드가 입력되고,
    테스트 메인 창의 모델 관리 버튼이 선택되어 표시된 모델 관리 창에서 설정된 상기 검사 대상 모델의 바코드 자리수와 상기 검사 대상물의 바코드 자리수의 일치 여부를 판단하고,
    바코드 자리수가 일치할 경우에는 상기 검사 단계로 진행하고, 바코드 자리수가 일치하지 않을 경우에는 상기 검사 단계로의 진행을 중지하고 그 불일치 사실을 통보하여 주는 것을 특징으로 하는 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법.
  20. 청구항 1에 있어서,
    상기 결과 표시 단계 이후에,
    다음 검사 대상물을 위한 바코드 입력창이 표시되고, 다음 검사 대상물에 대한 바코드가 입력되면, 상기 검사 대상물 확인 단계부터 재진행하는 것을 특징으로 하는 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법.
  21. 청구항 20에 있어서,
    상기 바코드 입력창에 바코드가 입력되기 전에 상기 바코드 입력창의 바코드 입력창 소멸 버튼이 선택되면, 상기 검사 대상물 확인 단계부터의 재진행이 중단되고 테스트 메인 창의 개별 검사를 위한 개별 검사 버튼이 활성화되고,
    상기 개별 검사 버튼 중 어느 하나가 선택되면 선택된 버튼에 정의된 개별 검사가 수행되는 것을 특징으로 하는 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법.
  22. 청구항 21에 있어서,
    상기 개별 검사 버튼에는,
    검사 대상물의 모든 블록을 ON 시키기 위한 버튼, 검사 대상물의 모든 블록을 OFF 시키기 위한 버튼, 바 단위로 블록을 ON시키기 위한 버튼, 개별 블록을 ON/OFF 시키기 위한 개별 블록 버튼 중 어느 하나 이상이 포함되는 것을 특징으로 하는 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법.
  23. 청구항 21에 있어서,
    상기 테스트 메인 창의 시작 버튼이 선택되면, 상기 개별 검사 버튼은 비활성화되고 상기 검사 대상물 확인 단계부터 다시 진행되는 것을 특징으로 하는 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법.
  24. 청구항 1과 청구항 3 내지 23 중 어느 하나의 방법의 수순대로 실행하기 위한 컴퓨터 프로그램이 저장된 저장 매체.
KR1020100080370A 2010-08-19 2010-08-19 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법 KR101169435B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100080370A KR101169435B1 (ko) 2010-08-19 2010-08-19 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100080370A KR101169435B1 (ko) 2010-08-19 2010-08-19 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20120017640A KR20120017640A (ko) 2012-02-29
KR101169435B1 true KR101169435B1 (ko) 2012-07-27

Family

ID=45839512

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020100080370A KR101169435B1 (ko) 2010-08-19 2010-08-19 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101169435B1 (ko)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101891126B1 (ko) * 2016-11-30 2018-08-23 동명대학교산학협력단 비전검사방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR20120017640A (ko) 2012-02-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11449980B2 (en) System and method for combined automatic and manual inspection
CN108037444B (zh) Gnss pcba自动化测试系统及其应用方法
CN201145788Y (zh) Lcd/lcm自动光学检测装置
CN104978270A (zh) 一种自动化地软件测试方法和装置
CN101836099B (zh) 显示控制装置、检查系统、显示控制方法、程序以及记录有该程序的计算机可读取的记录介质
JP5371099B2 (ja) 目視検査装置と目視検査方法
US20230143738A1 (en) Computer program, method, and device for generating virtual defect image by using artificial intelligence model generated on basis of user input
CN101738251A (zh) 自动测试系统及方法
KR101705347B1 (ko) 무기 시스템 점검 장치 및 방법
CN101325147B (zh) 自动分析修补装置及其方法
CN107589568B (zh) 一种led灯串自动学习检测装置及方法
JP7385594B2 (ja) 非破壊試験のためのカスタマイズされた品質管理タスクを用いるシステム及び方法
KR101169435B1 (ko) 엘이디 백라이트 유닛의 디밍 검사 방법
TW202230281A (zh) 圖像複檢方法、電腦裝置及儲存介質
CN109409728B (zh) 一种可配置物料清单的完整性检测方法和系统
KR101297470B1 (ko) 인버터 양산라인 자동검사 방법
CN115932544A (zh) 一种gpu芯片功耗自动化测试的装置和方法
TW201018886A (en) Automatic test system and method thereof
WO2010055574A1 (ja) ケーブル検査方法、ケーブル検査装置、ジグ装置検査方法及びコンピュータ読取可能な記録媒体
JP4035396B2 (ja) 半導体試験装置及び試験方法
CN206300897U (zh) 一种在线快速无损纺织品检测系统
KR200386330Y1 (ko) 비전시스템을 이용한 전자저울 자동 검사시스템
KR200318683Y1 (ko) 램프 점등 검사 장치
CN103164180B (zh) 显示卡及其信息储存方法
KR101294334B1 (ko) 디스플레이장치의 제어ｐｃｂ의 무패널 검사장치 및 그 검사방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee