CN115932544A - 一种gpu芯片功耗自动化测试的装置和方法 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 186
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 29
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 47
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 23
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 4
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims description 4
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 17
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 7
- 230000008859 change Effects 0.000 description 6
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 5
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 5
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 5
- 238000013461 design Methods 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 3
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000006266 hibernation Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 238000011897 real-time detection Methods 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 230000007958 sleep Effects 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
Images
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Y02D—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
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Abstract
本申请提供一种GPU芯片功耗自动化测试的装置和方法，该装置，包括：电脑主机，装有GPU芯片的测试工装和辅助测试设备；辅助测试设备，包括总电源和PCIE延长线；电脑主机通过PCIE延长线连接测试工装；电脑主机，用于为测试工装提供驱动和运行环境，运行功耗测试相关程序，获取并展示功耗检测相关数据；测试工装，用于调制GPU芯片的板卡，采集并通过串口输出GPU芯片的数据；总电源，用于通过可编程直流电源给测试工装整板供电。本申请提供的装置基于电脑主机，装有GPU芯片的测试工装和辅助测试设备，实现自动化测试和记录GPU芯片在各种场景下的功耗数据，以达到提高功耗测试的准确性和效率的目的。
Description
技术领域
本申请涉及测试技术领域，尤其涉及一种GPU芯片功耗自动化测试的装置和方法。
背景技术
GPU(Graphics Processing Unit，图形处理器)芯片在流片后的调测和项目研发阶段均需要投入大量的时间和精力在功耗测试中，并且根据项目的不同，对功耗的需求大不相同，此时工作人员得反复地进行测试。当碰上实测需求量大的时候，比如有组合场景需求，需要遍历多种分辨率配置、多种GPU频率配置、多种显示输出口和多种应用类型时，组合后工作量非常大，并且伴有数据记录错误等问题，GPU芯片功耗测试的效率和正确性均有待提升。
申请号为CN202111082634.2的专利申请公开了一种功耗测试方法，设备中的控制模块响应于针对待测芯片触发的功耗测试操作，获取所述待测芯片关联的测试脚本集；所述控制模块根据所述待测芯片的型号，在所述待测芯片关联的测试脚本集中确定目标测试脚本；控制模块设定所述待测芯片对应的测试温度，并触发所述待测芯片进入至预设低功耗模式，根据所述目标测试脚本测试所述待测芯片在测试温度下的功耗。
该方法较为单一，未考虑温度以外多种因素对芯片的功耗影响，未考虑GPU芯片内部子模块的功耗，在GPU芯片的功耗测试上有一定的局限性。
发明内容
为了解决上述技术缺陷之一，本申请提供了一种GPU芯片功耗自动化测试的装置和方法。
本申请第一个方面，提供了一种GPU芯片功耗自动化测试的装置，装置包括：电脑主机，装有图形处理器GPU芯片的测试工装和辅助测试设备；
辅助测试设备，包括总电源和高速串行计算机扩展总线标准PCIE延长线；
电脑主机通过PCIE延长线连接测试工装；
电脑主机，用于为测试工装提供驱动和运行环境，运行功耗测试相关程序，获取并展示功耗检测相关数据；
测试工装，用于调制GPU芯片的板卡，采集并通过串口输出GPU芯片的数据；
总电源，用于通过可编程直流电源给测试工装整板供电。
可选地，辅助测试设备，还包括：RS232串口通信线缆、显示输出线缆和显示器。
可选地，测试工装中集成功耗检测电路；
功耗检测电路包括电流检测模块和电压检测模块。
可选地，电脑主机上运行功耗自动测试程序；
功耗自动测试程序，用于调用本地的硬件、固件、驱动控制GPU芯片的配置状态达到目标运行状态，获取并保存目标运行状态时的功耗数值。
可选地，功耗自动测试程序，包括：主控模块、功耗处理模块、正确性检测模块、温度检测模块、电源域调节模块、GPU频率调节模块、时钟域时钟门控模块、时钟域时钟门控模块、PCIE配置模块、测试用例集。
可选地，
主控模块，用于调用功耗自动测试程序中的各模块；
功耗处理模块，用于通过串口与工装的stm32处理器通信获取GPU芯片的功耗数据，以可编程仪器标准命令SCPI方式从可编程线性电源串口中获取总功耗数据，对各功耗数据进行处理，存储并展示处理后的数据；
正确性检测模块，用于判断各功耗数据是否满足预设条件；
温度检测模块，用于读取GPU芯片核温数值，获取温箱的环境温度值；
电源域调节模块，用于控制电源域的掉电和上电，调节内核供电电压；
GPU频率调节模块，用于调整频率；
时钟域时钟门控模块，用于配置寄存器，以便关断和开启GPU中各GPU模块的时钟；
PCIE配置模块，用于调节PCIE的配置；
测试用例集包括需求的应用场景。
本申请第二个方面，提供一种基于上述第一个方面所述装置的GPU芯片功耗自动化测试的方法，方法包括：
电脑主机更改测试工装中GPU芯片的驱动和运行环境；
电脑主机裁剪GPU芯片中非必要的模块；
电脑主机通过测试程序调用测试用例集，控制GPU芯片达到目标运行状态；
测试工装获取GPU芯片的功耗值；
电脑主机根据功耗值对GPU芯片进行测试；
可选地，驱动和运行环境，包括如下的一种或多种：各编解码模块频率，芯片的供电电压，PCIE速率，带宽，环境温度。
可选地，非必要的模块为编解码模块电源域或时钟。
可选地，目标运行状态，包括如下的一种：桌面阶段配置运行应用的状态，固件阶段配置运行应用的状态，指定输出口配置运行应用的状态，分辨率配置运行应用的状态。
本申请提供一种GPU芯片功耗自动化测试的装置和方法，该装置，包括：电脑主机，装有GPU芯片的测试工装和辅助测试设备；辅助测试设备，包括总电源和PCIE延长线；电脑主机通过PCIE延长线连接测试工装；电脑主机，用于为测试工装提供驱动和运行环境，运行功耗测试相关程序，获取并展示功耗检测相关数据；测试工装，用于调制GPU芯片的板卡，采集并通过串口输出GPU芯片的数据；总电源，用于通过可编程直流电源给测试工装整板供电。本申请提供的装置基于电脑主机，装有GPU芯片的测试工装和辅助测试设备，实现自动化测试和记录GPU芯片在各种场景下的功耗数据，以达到提高功耗测试的准确性和效率的目的。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
图1为本申请实施例提供的一种GPU芯片功耗自动化测试的装置的结构示意图；
图2为本申请实施例提供的一种电流电压检测示意图；
图3为本申请实施例提供的另一种GPU芯片功耗自动化测试的装置的结构示意图；
图4为本申请实施例提供的另一种GPU芯片功耗自动化测试的装置的结构示意图；
图5为本申请实施例提供的一种GPU芯片功耗自动化测试的方法的流程示意图；
图6为本申请实施例提供的一种单模块功耗测试示意图。
具体实施方式
为了使本申请实施例中的技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图对本申请的示例性实施例进行进一步详细的说明，显然，所描述的实施例仅是本申请的一部分实施例，而不是所有实施例的穷举。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
在实现本申请的过程中，发明人发现，现有测试方法较为单一，未考虑温度以外多种因素对芯片的功耗影响，未考虑GPU芯片内部子模块的功耗，在GPU芯片的功耗测试上有一定的局限性。
针对上述问题，本申请实施例中提供了一种GPU芯片功耗自动化测试的装置和方法，该装置，包括：电脑主机，装有GPU芯片的测试工装和辅助测试设备；辅助测试设备，包括总电源和PCIE延长线；电脑主机通过PCIE延长线连接测试工装；电脑主机，用于为测试工装提供驱动和运行环境，运行功耗测试相关程序，获取并展示功耗检测相关数据；测试工装，用于调制GPU芯片的板卡，采集并通过串口输出GPU芯片的数据；总电源，用于通过可编程直流电源给测试工装整板供电。本申请提供的装置基于电脑主机，装有GPU芯片的测试工装和辅助测试设备，实现自动化测试和记录GPU芯片在各种场景下的功耗数据，以达到提高功耗测试的准确性和效率的目的。
参见图1，本实施例提供的GPU芯片功耗自动化测试的装置，包括电脑主机，装有GPU(Graphics Processing Unit，图形处理器)芯片的测试工装和辅助测试设备。
1、辅助测试设备
辅助测试设备，包括总电源和PCIE(Peripheral Component InterconnectExpress，高速串行计算机扩展总线标准)延长线。
总电源，用于通过可编程直流电源给测试工装整板供电。
PCIE延长用于连接电脑主机和测试工装。
除此之外，辅助测试设备，还包括：RS232串口通信线缆、显示输出线缆和显示器。
也就是说，本实施例中的辅助测试设备，包括：总电源：通过可编程直流电源给测试工装整板供电。RS232串口通信线缆：接工装板获取芯片功耗，接外部电源获取总功耗、PCIE延长线、显示输出线缆和显示器。
2、电脑主机
电脑主机通过PCIE延长线连接测试工装。
电脑主机，用于为测试工装提供驱动和运行环境，运行功耗测试相关程序，获取并展示功耗检测相关数据。
也就是说，本实施例中的电脑通过PCIE延长线连接工装板，为装有GPU芯片的工装提供驱动、应用软件运行环境等；并且可以获取并展示功耗检测结果、性能参数及功耗计算结果，运行带控制脚本、测试用例集的程序等。
另外，电脑主机上运行功耗自动测试程序。
功耗自动测试程序，用于调用本地的硬件、固件、驱动控制GPU芯片的配置状态达到目标运行状态，获取并保存目标运行状态时的功耗数值。
功耗自动测试程序，包括：主控模块、功耗处理模块、正确性检测模块、温度检测模块、电源域调节模块、GPU频率调节模块、时钟域时钟门控模块、时钟域时钟门控模块、PCIE配置模块、测试用例集。
其中，
主控模块，用于调用功耗自动测试程序中的各模块。即基本框架可排序和选用测试用例，实现功能模块调用和组合、日志记录、数据自动填表等。
功耗处理模块，用于通过串口与工装的stm32处理器通信获取GPU芯片的功耗数据，以SCPI(Standard Commands for Programmable Instruments，可编程仪器标准命令)方式从可编程线性电源串口中获取总功耗数据，对各功耗数据进行处理，存储并展示处理后的数据。即以串口与工装的stm32处理器通信以获取GPU芯片功耗数据，以SCPI方式从可编程线性电源串口中获取总功耗数据，进行二次处理后自动写入数据表，生成曲线图等进行数据展示。
正确性检测模块，用于判断各功耗数据是否满足预设条件。即判断功耗数据是否大于预设或不符合理想，如判断：总功耗>芯片整体功耗+测试工装裸板功耗、各模块功耗不超过设计值等。
温度检测模块，用于读取GPU芯片核温数值，获取温箱的环境温度值。即读取GPU芯片核温数值，获取温箱的环境温度值。
电源域调节模块，用于控制电源域的掉电和上电，调节内核供电电压。
GPU频率调节模块，用于调整频率。如降频或升频，覆盖如3D、2D、DDR、AXI、编解码等频率。
时钟域时钟门控模块，用于配置寄存器，以便关断和开启GPU中各GPU模块的时钟。
PCIE配置模块，用于调节PCIE的配置。如调节PCIE的通道宽度、速率等配置。
测试用例集包括需求的应用场景。如：跑glxgear时通过VGA接口输出1080P分辨率至显示屏的应用。
3、测试工装
测试工装，用于调制GPU芯片的板卡，采集并通过串口输出GPU芯片的数据。
也就是说，本实施例中的测试工装，可以调试GPU芯片的板卡，可视为一个放大版的显卡，功能更全面，且集成的处理器可采集电流、电压信息，在初步处理数据后通过串口输出。
另外，测试工装中集成功耗检测电路。
功耗检测电路包括电流检测模块和电压检测模块。
通过集成于测试工装中的功耗检测电路可以将功耗检测方式置于芯片外部，可移植性强，不影响芯片内部结构，且可同时通过功耗检测电路中的电流检测模块和电压检测模块，检测芯片的电压和电流值，以保障功耗检测的精度。即通过在GPU芯片外设置专门的独立的硬件模块，检测芯片电源端口的电流情况和电源电压情况，而由于功耗＝电压*电流，即可实现对芯片进行功耗检测的目的。计算和数据处理通过外置的ARM处理器来完成，支持基准电压监测，供电电压更改和功耗数值展示和异常监测等功能。
另外，通常的GPU芯片电源管理电路会把芯片划分为多个电源域，并支持单独供电和关断等功能，功耗检测电路由电流检测模块和电压检测模块组成，且支持多电源供电的测量，测试工装中多路芯片功耗测量电路可以分别测量各GPU芯片内部模块在各电源作用下的对应功耗，各模块功耗之和即为该芯片的总功耗。
通过本实施例提供的GPU芯片功耗自动化测试的装置可以进行多种检测，例如进行电流检测时，本实施例提供的GPU芯片功耗自动化测试的装置能够对GPU芯片的主要支路电源的电流和电压进行检测，为后续设计提供一手的测试数据，根据大电流和小电流可将电路分为两部分分别进行电流检测。
其中，大电流部分是指GPU芯片的3D和内核，可采用具有IIC(Inter-IntegratedCircuit，集成电路)总线功能的电源芯片来实现电流实时检测的功能。小电流部分为GPU芯片其他部分电源的电流。采用在主要支路电源上增加测流电阻，通过压流转换器件进行放大后接入电流采集芯片进行采集，电流、电压采集芯片与处理器(stm32)可通过SPI总线通信，由stm32处理器负责完成ADC电压采集及电流、功耗的计算，最后再通过工装的串口(RS232)输出。
再例如进行电压检测时，将每路的电压直接接入电压采集芯片进行采集，再通过SPI总线接入ARM处理器，如图2所示。
本实施例提供的GPU芯片功耗自动化测试的装置可以借助功耗测试设备、GPU芯片用例运行程序和功耗获取程序等，达到自动检测GPU芯片在实际应用场景下功耗的目的，可为芯片功耗设计、功耗的仿真评估等提供支撑数据，也为项目研发和客户使用提供参考数据；
在具体实现时，根据目标功能模块的功能的不同且指定的应用场景也可以不同。例如，目标功能模块为Encode编码模块时，则应用场景可以选择：4K60HZ视频解码、MPEG解码、H264解码、视频缩放和裁剪等，同时通过电源管理模块来关断其他无关的功能模块，减少其他因素的影响；根据不同模块组合场景的不同，其功耗数值肯定不同，如：可按需求裁剪功能模块，组合一个最小的芯片系统，实时检测出最小功耗组合；还根据应用场景的不同，运行不同应用，对模块加载拉升各功能模块的使用率/占用率，组合出最大功耗组合的场景；最后按需求形成一个测试用例集，通过测试机的程序控制，可实现自动地进行用例集的遍历测试，便捷地获取到对应的数据集；
本实施例提供的GPU芯片功耗自动化测试的装置具体实现时，可以图如图3所示。本实施例提供的GPU芯片功耗自动化测试的装置，更加贴合用户的芯片使用场景，能便捷地更改GPU配置参数或环境变量，将借助测试装置和测试程序让GPU芯片运行在指定的应用场景中，自动测试和记录整体芯片功耗、各子模块的功耗数据和性能数据等并进行正确性判断，还具有单个模块功耗在整体功耗中的占比等数据处理功能，最终形成一种可靠且便捷的GPU芯片功耗自动测试系统，用于提升GPU的功耗测试效率。
另外，本实施例提供的GPU芯片功耗自动化测试的装置可调用本地的硬件、固件、驱动等工具来实现GPU芯片配置状态的变更并达到某个运行状态，再获取并保存功耗数值，以实现自动化的功耗测试，以提升功耗测试效率；但对于有测试电脑主机在休眠、睡眠、宕机等特殊状态下时的GPU芯片功耗数据需求，即不能在电脑主机本地运行程序时，可采用外接测试主机替代电脑主机功能的方案，将自动化程序迁移到测试机中运行，通过测试机控制电脑主机完成工作，可通过图4所示的结构实现。
本实施例提供的装置，包括：电脑主机，装有GPU芯片的测试工装和辅助测试设备；辅助测试设备，包括总电源和PCIE延长线；电脑主机通过PCIE延长线连接测试工装；电脑主机，用于为测试工装提供驱动和运行环境，运行功耗测试相关程序，获取并展示功耗检测相关数据；测试工装，用于调制GPU芯片的板卡，采集并通过串口输出GPU芯片的数据；总电源，用于通过可编程直流电源给测试工装整板供电。本实施例提供的装置基于电脑主机，装有GPU芯片的测试工装和辅助测试设备，实现自动化测试和记录GPU芯片在各种场景下的功耗数据，以达到提高功耗测试的准确性和效率的目的。
本实施例提供一种GPU芯片功耗自动化测试的方法，该方法基于图1或图3或图4所示的GPU芯片功耗自动化测试的装置实现，本实施例提供的方法实现流程如图5所示。
501，电脑主机更改测试工装中GPU芯片的驱动和运行环境。
其中，驱动和运行环境，包括但不限于如下的一种或多种：各编解码模块频率，芯片的供电电压，PCIE速率，带宽，环境温度。
例如，更改GPU芯片的驱动和运行环境，如：3D、2D、HD编解码等模块频率、芯片各模块的供电电压大小、PCIE速率和带宽大小、环境温度大小等
502，电脑主机裁剪GPU芯片中非必要的模块。
例如，非必要的模块为编解码模块电源域或时钟。
本步骤会在确认步骤501的配置生效后，裁剪芯片中非必要的模块，如：在跑3D程序时可关闭编解码模块电源域或时钟。
503，电脑主机通过测试程序调用测试用例集，控制GPU芯片达到目标运行状态。
其中，目标运行状态，包括但不限于如下的一种：桌面阶段配置运行应用的状态，固件阶段配置运行应用的状态，指定输出口配置运行应用的状态，分辨率配置运行应用的状态。
例如，通过测试程序调用测试用例集，让GPU芯片运行在目标运行状态，如：桌面阶段、固件阶段、指定输出口和分辨率等配置运行应用的状态。
504，测试工装获取GPU芯片的功耗值。
例如，执行测试程序获取芯片各个模块的功耗值(最大值、最小值、均值)。
505，电脑主机根据功耗值对GPU芯片进行测试。
例如，检验数值正确性，收集性能等状态参数，进行数据二次处理和存档；接着再次改变GPU的配置，上电……(即重复执行步骤501至505)，如此自动进入下一轮测试直至完成测试用例集。
本实施例提供的GPU芯片功耗自动化测试的方法，更加贴合用户的芯片使用场景，能便捷地更改GPU配置参数或环境变量，将借助测试装置和测试程序让GPU芯片运行在指定的应用场景中，自动测试和记录整体芯片功耗、各子模块的功耗数据和性能数据等并进行正确性判断，还具有单个模块功耗在整体功耗中的占比等数据处理功能，最终形成一种可靠且便捷的GPU芯片功耗自动测试系统，用于提升GPU的功耗测试效率。
对于GPU芯片设计中多个模块一起供电的情况，如：2D、编码、解码、加解密、多个3D等模块需要共同供电了，无法像以上所述单独供电的模块有对应的支路可以读取出单个模块的功耗数值。此情况下，可选非必要的模块不使能或关闭时钟，按所需地去组合功能模块运行测试应用再实测功耗。在模块正常运行或加载时，借助测试程序将目标模块的时钟或电源域关闭，计算出关闭前后的功耗差值(a-b)，即得出该目标模块的单模块功耗，如此重复可得到各单模块的功耗在总芯片功耗中的占比，流程可如图6所示。
本实施例提供的GPU芯片功耗自动化测试的方法，通过自动化测试的方式来减少GPU功耗数据获取所需的人力和时间投入，避免人工操作、计算、判断和记录出错的问题，在做好前期的环境准备和软硬件开发后，测试可由机器代劳。系统支持GPU内部子模块的功耗读取，支持GPU的数据检测、处理、分析和配置更改、场景切换等功能，可快速高效地完成GPU在大量不同组合场景下的功耗测试，即使对于需要人工介入的复杂测试场景或环境配置更改也可调用系统中的功耗检测程序来实现半自动测试。
本实施例提供的方法基于电脑主机，装有GPU芯片的测试工装和辅助测试设备，实现自动化测试和记录GPU芯片在各种场景下的功耗数据，以达到提高功耗测试的准确性和效率的目的。
本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。本申请实施例中的方案可以采用各种计算机语言实现，例如，面向对象的程序设计语言Java和直译式脚本语言JavaScript等。
本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
尽管已描述了本申请的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本申请范围的所有变更和修改。
显然，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样，倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (10)
1.一种GPU芯片功耗自动化测试的装置，其特征在于，所述装置包括：电脑主机，装有图形处理器GPU芯片的测试工装和辅助测试设备；
所述所述辅助测试设备，包括总电源和高速串行计算机扩展总线标准PCIE延长线；
所述电脑主机通过所述PCIE延长线连接所述测试工装；
所述电脑主机，用于为所述测试工装提供驱动和运行环境，运行功耗测试相关程序，获取并展示功耗检测相关数据；
所述测试工装，用于调制GPU芯片的板卡，采集并通过串口输出GPU芯片的数据；
所述总电源，用于通过可编程直流电源给所述测试工装整板供电。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述所述辅助测试设备，还包括：RS232串口通信线缆、显示输出线缆和显示器。
3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述所述测试工装中集成功耗检测电路；
所述功耗检测电路包括电流检测模块和电压检测模块。
4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述电脑主机上运行功耗自动测试程序；
所述功耗自动测试程序，用于调用本地的硬件、固件、驱动控制GPU芯片的配置状态达到目标运行状态，获取并保存目标运行状态时的功耗数值。
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述功耗自动测试程序，包括：主控模块、功耗处理模块、正确性检测模块、温度检测模块、电源域调节模块、GPU频率调节模块、时钟域时钟门控模块、时钟域时钟门控模块、PCIE配置模块、测试用例集。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，
所述主控模块，用于调用所述功耗自动测试程序中的各模块；
所述功耗处理模块，用于通过串口与工装的stm32处理器通信获取GPU芯片的功耗数据，以可编程仪器标准命令SCPI方式从可编程线性电源串口中获取总功耗数据，对各功耗数据进行处理，存储并展示处理后的数据；
所述正确性检测模块，用于判断各功耗数据是否满足预设条件；
所述温度检测模块，用于读取GPU芯片核温数值，获取温箱的环境温度值；
所述电源域调节模块，用于控制电源域的掉电和上电，调节内核供电电压；
所述GPU频率调节模块，用于调整频率；
所述时钟域时钟门控模块，用于配置寄存器，以便关断和开启GPU中各GPU模块的时钟；
所述PCIE配置模块，用于调节PCIE的配置；
所述测试用例集包括需求的应用场景。
7.一种基于权利要求1-6任一权利要求所述的装置的GPU芯片功耗自动化测试的方法，其特征在于，所述方法包括：
电脑主机更改测试工装中GPU芯片的驱动和运行环境；
电脑主机裁剪GPU芯片中非必要的模块；
电脑主机通过测试程序调用测试用例集，控制GPU芯片达到目标运行状态；
测试工装获取GPU芯片的功耗值；
电脑主机根据所述功耗值对GPU芯片进行测试。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述驱动和运行环境，包括如下的一种或多种：各编解码模块频率，芯片的供电电压，PCIE速率，带宽，环境温度。
9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述非必要的模块为编解码模块电源域或时钟。
10.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述目标运行状态，包括
如下的一种：桌面阶段配置运行应用的状态，固件阶段配置运行应用的状态，
指定输出口配置运行应用的状态，分辨率配置运行应用的状态。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202211566296.4A CN115932544A (zh) | 2022-12-07 | 2022-12-07 | 一种gpu芯片功耗自动化测试的装置和方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202211566296.4A CN115932544A (zh) | 2022-12-07 | 2022-12-07 | 一种gpu芯片功耗自动化测试的装置和方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN115932544A true CN115932544A (zh) | 2023-04-07 |
Family
ID=86550129
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202211566296.4A Pending CN115932544A (zh) | 2022-12-07 | 2022-12-07 | 一种gpu芯片功耗自动化测试的装置和方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN115932544A (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117632650A (zh) * | 2023-11-30 | 2024-03-01 | 摩尔线程智能科技(北京)有限责任公司 | 功耗分析方法、装置、电子设备和存储介质 |
-
2022
- 2022-12-07 CN CN202211566296.4A patent/CN115932544A/zh active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN117632650A (zh) * | 2023-11-30 | 2024-03-01 | 摩尔线程智能科技(北京)有限责任公司 | 功耗分析方法、装置、电子设备和存储介质 |
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