CN104575342A - 一体式液晶模组测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种一体式液晶模组测试装置，包括ARM核心模块、信号处理模块、电源模块、信号输出及控制模块，信号输出及控制模块包括MCU子模块、FPGA信号处理子模块、信号处理转换芯片和信号输出子模块，ARM核心模块分别与信号处理模块、电源模块及信号输出及控制模块连接，信号处理模块与信号输出及控制模块连接，电源模块和信号输出子模块分别与待测液晶模组连接。本发明将上位机的操作系统及测试应用程序运行平台集成到液晶模组测试设备上，脱离上位机直接进行液晶模组配置及测试操作，无需共享或下载；另外，测试装置能同时兼容多种常见的测试信号，减少转接线材的使用。
Description
技术领域
本发明涉及液晶模组测试领域，具体涉及一种可脱离上位机进行参数配置、测试操作且兼容多种测试信号的一体式液晶模组测试装置。
背景技术
LCM(LCD Module，液晶模组)是当前和今后一段时期内平板显示终端的主流，在LCM产线上，需要利用液晶模组测试装置对LCM的显示质量进行检测以保证模组的出厂质量。
根据不同的应用需求，LCM需采用不同的物理信号接口，如LVDS、DP、MIPI等。目前，如图1所示，液晶模组测试装置一般都是由上位机、LVDS信号源和信号接口扩展板(DP、MIPI等物理接口)组成一个测试系统，才能兼容LVDS、DP、MIPI等接口类型LCM的测试需求。这种测试方案虽然能兼容不同接口类型LCM的测试需求，但存在以下问题：
1)修改待测LCM的配置参数都需要专门配置的上位机介入，且需要通过网口共享或下载到LVDS信号源，测试流程较为复杂；
2)各设备之间需各种线材连接，操作过程比较繁琐，且测试系统搭建好后不能随意移动；
3)搭建的测试系统由于需采用各种线材连接，接口的接触不良容易造成测试结果的误判；
4)搭建的测试系统占用空间较大。
发明内容
针对现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种一体式液晶模组测试装置，将上位机的操作系统及测试应用程序运行平台集成到液晶模组测试设备上，脱离上位机直接进行液晶模组配置及测试操作，无需共享或下载；另外，测试装置能同时兼容多种常见的测试信号，减少转接线材的使用。
为实现上述目的，本发明所设计的一体式液晶模组测试装置，其特殊之处在于，包括ARM核心模块、信号处理模块、电源模块、信号输出及控制模块，所述信号输出及控制模块包括MCU子模块、FPGA信号处理子模块、信号处理转换芯片和信号输出子模块，所述ARM核心模块分别与信号处理模块、电源模块及信号输出及控制模块连接，所述信号处理模块与信号输出及控制模块连接，所述电源模块和信号输出子模块分别与待测液晶模组连接；所述ARM核心模块将输入的液晶模组配置信息模组配置信息发送至信号处理模块、信号输出及控制模块，将电源配置信息发送至电源模块，并将由应用软件生成的图片信息发送至信号处理模块；所述信号处理模块将接收的图片信息转换为图像信号发送至信号输出及控制模块；所述电源模块将根据接收到的电源配置信号发送至待测液晶模组实现电源配置和供电；所述信号输出及控制模块的MCU子模块根据接收的液晶模组配置信息对FPGA信号处理子模块和信号处理转换芯片进行配置，所述FPGA信号处理子模块将接收的图像信号发送至信号处理转换芯片或者信号输出子模块，所述信号处理转换芯片将接收的图像信号转换为与待测液晶模组匹配的图像信号并发送至信号输出子模块，所述信号输出子模块将与待测液晶模组匹配的图像信号发送至待测液晶模组显示。
进一步地，所述信号处理模块将接收的图片信息转换为LVDS图像信号发送至信号输出及控制模块，所述FPGA信号处理子模块将接收的LVDS图像信号发送至信号处理转换芯片或者信号输出子模块。
更进一步地，所述信号处理转换芯片包括MIPI信号子模块和DP信号子模块，所述信号输出子模块包括LVDS信号输出接口、MIPI信号输出接口和DP信号输出接口，所述FPGA信号处理子模块将LVDS图像信号发送至LVDS信号输出接口或者将LVDS图像信号转换为TTL图像信号发送至MIPI信号子模块、DP信号子模块，所述MIPI信号子模块将TTL图像信号转换为MIPI图像信号并发送至MIPI信号输出接口，所述DP信号子模块将TTL图像信号转换为DP图像信号并至DP信号输出接口，所述LVDS信号输出接口、MIPI信号输出接口和DP信号输出接口将LVDS图像信号、MIPI图像信号和DP图像信号发送至待测液晶模组显示。若待测液晶模组为LVDS类型，则FPGA将图像信号直接发送至LVDS信号输出接口传输至待测液晶模组，若待测液晶模组为MIPI类型或者DP类型，则FPGA将图像信号转换为TTL图像后相应地传送至MIPI信号子模块或者DP信号子模块，MIPI信号子模块将TTL图像信号转换为MIPI图像信号并发送至MIPI信号输出接口，DP信号子模块将TTL图像信号转换为DP图像信号并至DP信号输出接口，MIPI信号输出接口将MIPI图像信号传输至待测液晶模组显示，DP信号输出接口将DP图像信号传输至待测液晶模组显示。
更进一步地，还包括通信模块，所述通讯模块包括用于与外部设备通讯的RS232接口、RS485接口、USB接口和网口。所述显示模块还包括用于外接显示器的HDMI接口。
更进一步地，还包括显示模块和输入模块，所述显示模块为自带显示屏，所述输入模块为触摸屏。测试时通过触摸屏输入液晶模组配置信息和电源配置信息。
更进一步地，所述ARM核心模块采用ARM Cortex-A9芯片搭建，软件平台为Android系统。
更进一步地，所述MIPI信号子模块采用TC358768芯片，所述DP信号子模块采用DP501芯片。
更进一步地，所述ARM核心模块上层软件生成图片信息的类型包括BMP、JPG和逻辑画面。
更进一步地，所述通信模块从外部设备接收图片信息并发送至ARM核心模块，所述图片信息的类型包括BMP、JPG和逻辑画面。
更进一步地，所述输入模块还包括用于外接鼠标和键盘的USB接口。
本发明较现有技术的有益之处在于：
1)本发明直接将上位机功能与ARM功能集成为一个应用程序运行在测试装置里的系统上，测试配置文件无需共享或下载，可以脱离上位机直接在测试装置上进行测试参数的配置和测试操作，测试流程简单，能有效的提升测试效率；2)本发明能同时兼容LVDS、DP、MIPI三种测试信号，能实现LVDS、DP、MIPI三种专用测试装置的功能，能极大的减少液晶模组产线的测试成本；3)由于本发明能同时兼容LVDS、DP、MIPI三种测试信号，减少了转接线材的使用，能有效的避免由于线材转接的接触不良而造成测试结果的误判；4)本发明装置集成度高，占用空间较小，测试装置能较为方便的携带和移动。
附图说明
图1为现有液晶模组测试系统的方框图；
图2为本发明一体式液晶模组测试装置的电路方框图。
图中：ARM核心模块1，信号处理模块2，电源模块3，信号输出及控制模块4，MCU子模块41，FPGA信号处理子模块42，MIPI信号子模块43，DP信号子模块44，LVDS信号输出接口45，MIPI信号输出接口46，DP信号输出接口47，显示模块5，输入模块6，通信模块7，待测液晶模组8。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本发明作进一步的详细描述。
如图1所示，本发明所提供的一种一体式液晶模组测试装置，包括ARM核心模块1、信号处理模块2、电源模块3、信号输出及控制模块4、显示模块5、输入模块6和通信模块7。
其中ARM核心模块1基于ARM Cortex-A9芯片和Android系统搭建，分别与信号处理模块2、电源模块3、信号输出及控制模块4、显示模块5和输入模块6和通信模块7连接，其主要作为操作系统和应用程序运行平台。
信号处理模块2接收ARM核心模块1发送过来的配置信息及根据ARM核心模块1写到内存中的图片信息，再生成LVDS图像信号给信号输出及控制模块4。
电源模块3输出多路电源为本发明装置各功能模块及待测液晶模组8供电。
信号输出及控制模块4包括MCU子模块41、FPGA信号处理子模块42、MIPI信号子模块43、DP信号子模块44、LVDS信号输出接口45、MIPI信号输出接口46和DP信号输出接口47。MIPI信号子模块43采用TC358768芯片，DP信号子模块44采用DP501芯片。ARM核心模块1通过MCU子模块41分别与FPGA信号处理子模块42、MIPI信号子模块43和DP信号子模块44进行交换通信；FPGA信号处理子模块42分别与信号处理模块2、MIPI信号子模块43、DP信号子模块44和LVDS信号输出接口45连接；MIPI信号子模块43通过MIPI信号输出接口46与待测液晶模组8连接，DP信号子模块44通过DP信号输出接口47与待测液晶模组8连接。
若待测液晶模组8为LVDS类型，则FPGA信号处理子模块42将LVDS图像信号直接发送至LVDS信号输出接口45传输至待测液晶模组8显示，若待测液晶模组8为MIPI类型或者DP类型，则FPGA信号处理子模块42将LVDS图像信号转换为TTL图像后相应地传送至MIPI信号子模块43或者DP信号子模块44，MIPI信号子模块43将TTL图像信号转换为MIPI图像信号并发送至MIPI信号输出接口46，DP信号子模块44将TTL图像信号转换为DP图像信号并发送至DP信号输出接口47，MIPI信号输出接口46将MIPI图像信号传输至待测液晶模组8显示，DP信号输出接口47将DP图像信号传输至待测液晶模组8显示。
显示模块5除了显示屏外还包括一个HDMI接口，该HDMI接口用于外接显示器；
输入模块6除了触摸屏还包括两个USB接口，USB接口用于外接鼠标和键盘。
此外本发明装置还包括通信模块7，通讯模块7包括RS232接口、RS485接口、USB接口和网口各1个，用于与其他设备进行交互通讯。
利用本发明装置给待测液晶模组8为7寸MIPI液晶模组进行点屏测试的步骤如下：
1)将该MIPI液晶模组信号输入接口与本发明装置MIPI信号输出接口46连接并上电，ARM核心模块1运行操作系统及进入主界面，显示各种应用程序图标；
2)用手指在触摸屏6上点击选择显示屏5上的模组测试应用图标，ARM核心模块1根据触摸屏6的输入，响应事件触发模组测试应用，进入模组测试应用程序；
3)在模组测试应用程序中点击模组编辑按钮，进入编辑界面，进行编辑(包括模组信号，电源，图片显示及功能编辑)，编辑完后保存退出编辑界面，产生模组配置信息保存在ARM核心模块1的存储器中；
4)在模组测试应用程序中点击初始化按钮，获取及显示信号处理主模块2、电源模块3、信号输出及控制模块4的软件版本号；
5)在模组测试应用程序中点击测试文件选择按钮，在弹出的对话框中根据文件名，选择待测液晶模组8相应类型的模组配置信息，选择后会自动回到模组测试应用程序主界面；
6)在模组测试应用程序中点击开始测试按钮，进入测试界面，模组配置信息包括测试文件名，分辨率，刷新频率，电压电流监控等。测试界面有开始，结束及功能(如切图，颜色调节，灰阶调节，十字光标，电源调节等功能)按钮；点击开始按钮，ARM核心模块1会通过串口把电源配置信息传给电源模块3，电源模块3将接收到的电源配置信号发送至待测液晶模组8实现电源配置和供电。
7)ARM核心模块1由上层应用软件生成或者通过通信模块7接收格式为BMP、JPG和逻辑画面的图片信息，通过EBI接口告诉信号处理模块2内存中的图片信息已就绪，信号处理模块2将内存中的图片信息转换为LVDS图像信号发送至信号输出及控制模块4的FPGA信号处理子模块42。ARM核心模块1通过串口把模组配置信息及控制信息传给信号输出及控制模块4的MCU子模块41，MCU子模块41根据接收的液晶模组配置信息对FPGA信号处理子模块42和MIPI信号子模块43进行配置。信号输出及控制模块4控制相关引脚状态和检测相关引脚状态(高低电平)。
8)FPGA信号处理子模块42将接收的LVDS图像信号转换为TTL图像信号发送至MIPI信号子模块43，MIPI信号子模块43将TTL图像信号转换为MIPI图像信号并发送至MIPI信号输出接口46，MIPI信号子模块43将MIPI图像信号发送至待测液晶模组8显示。
9)待测液晶模组8点亮，此时可观察待测液晶模组8的显示图像及工作电压电流，观察有无缺陷。
10)测试完成后点击结束按钮，完成测试。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以设计出若干改进，这些改进也应视为本发明的保护范围。
本说明书未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。
Claims (10)
1.一种一体式液晶模组测试装置，其特征在于：包括ARM核心模块(1)、信号处理模块(2)、电源模块(3)、信号输出及控制模块(4)，所述信号输出及控制模块(4)包括MCU子模块(41)、FPGA信号处理子模块(42)、信号处理转换芯片和信号输出子模块，所述ARM核心模块(1)分别与信号处理模块(2)、电源模块(3)及信号输出及控制模块(4)连接，所述信号处理模块(2)与信号输出及控制模块(4)连接，所述电源模块(3)和信号输出子模块分别与待测液晶模组(8)连接；
所述ARM核心模块(1)输入的液晶模组配置信息发送至信号输出及控制模块(4)，将电源配置信息发送至电源模块(3)，并将由应用软件生成的图片信息发送至信号处理模块(2)；所述信号处理模块(2)将接收的图片信息转换为图像信号发送至信号输出及控制模块(4)；
所述电源模块(3)将根据接收到的电源配置信号发送至待测液晶模组(8)实现电源配置和供电；
所述信号输出及控制模块(4)的MCU子模块(41)根据接收的液晶模组配置信息对FPGA信号处理子模块(42)和信号处理转换芯片进行配置，所述FPGA信号处理子模块(42)将接收的图像信号发送至信号处理转换芯片或者信号输出子模块，所述信号处理转换芯片将接收的图像信号转换为与待测液晶模组(8)匹配的图像信号并发送至信号输出子模块，所述信号输出子模块将与待测液晶模组(8)匹配的图像信号发送至待测液晶模组(8)显示。
2.根据权利要求1所述的一体式液晶模组测试装置，其特征在于：所述信号处理模块(2)将接收的图片信息转换为LVDS图像信号发送至信号输出及控制模块(4)，所述FPGA信号处理子模块(42)将接收的LVDS图像信号发送至信号处理转换芯片或者信号输出子模块。
3.根据权利要求2所述的一体式液晶模组测试装置，其特征在于：所述信号处理转换芯片包括MIPI信号子模块(43)和DP信号子模块(44)，所述信号输出子模块包括LVDS信号输出接口(45)、MIPI信号输出接口(46)和DP信号输出接口(47)，所述FPGA信号处理子模块(42)将LVDS图像信号发送至LVDS信号输出接口(45)或者将LVDS图像信号转换为TTL图像信号发送至MIPI信号子模块(43)、DP信号子模块(44)，所述MIPI信号子模块(43)将TTL图像信号转换为MIPI图像信号并发送至MIPI信号输出接口(46)，所述DP信号子模块(44)将TTL图像信号转换为DP图像信号并至DP信号输出接口(47)，所述LVDS信号输出接口(45)、MIPI信号输出接口(46)和DP信号输出接口(47)分别将LVDS图像信号、MIPI图像信号和DP图像信号发送至待测液晶模组(8)显示。
4.根据权利要求1所述的一体式液晶模组测试装置，其特征在于：还包括通信模块(7)，所述通讯模块(7)包括用于与外部设备通讯的RS232接口、RS485接口、USB接口和网口。
5.根据权利要求1所述的一体式液晶模组测试装置，其特征在于：还包括显示模块(5)和输入模块(6)，所述显示模块(5)为自带显示屏，所述显示模块(5)还包括用于外接显示器的HDMI接口，所述输入模块(6)为触摸屏。
6.根据权利要求1所述的一体式液晶模组测试装置，其特征在于：所述ARM核心模块(1)采用ARM Cortex-A9芯片搭建，软件平台为Android系统。
7.根据权利要求1所述的一体式液晶模组测试装置，其特征在于：所述MIPI信号子模块(43)采用TC358768芯片，所述DP信号子模块(44)采用DP501芯片。
8.根据权利要求1所述的一体式液晶模组测试装置，其特征在于：所述ARM核心模块(1)上层软件生成图片信息的类型包括BMP、JPG和逻辑画面。
9.根据权利要求4所述的一体式液晶模组测试装置，其特征在于：所述通信模块(7)从外部设备接收图片信息并发送至ARM核心模块(1)，所述图片信息的类型包括BMP、JPG和逻辑画面。
10.根据权利要求5所述的一体式液晶模组测试装置，其特征在于：所述输入模块(6)还包括用于外接鼠标和键盘的USB接口。
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