CN105304000A - 液晶显示模组老化测试系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种液晶显示模组老化测试系统，其包括：测试信息提供装置、与测试信息提供装置相连的主控制板、与主控制板相连的多个子控制板，其中，测试信息提供装置，用于将多个待测机种的液晶显示模组的测试信息提供给主控制板；主控制板用于将多个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别提供给与多个待测机种的液晶显示模组相连的相应子控制板；每一子控制板用于生成测试图像信号，并将接收的相应待测机种的液晶显示模组的测试信息和测试图像信号进行第一信号转换后提供给相应的液晶显示模组，以使相应的液晶显示模组根据经过第一信号转换后的信号显示对应的测试图像。本发明能够适于测试不同机种的液晶显示模组，并且能够提高测试效率。

Description

液晶显示模组老化测试系统

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，特别涉及一种液晶显示模组老化测试系统。

背景技术

液晶显示装置(LiquidCrystalDisplay，LCD)具有画质好、体积小、重量轻、低驱动电压、低功耗、无辐射和制造成本相对较低的优点，目前在平板显示领域占主导地位，液晶显示装置非常适合应用在台式计算机、掌上型计算机、个人数字助理(PersonalDigitalAssignment，PDA)、便携式电话、电视和多种办公自动化和视听设备中。

液晶显示模组是液晶显示装置的关键零部件之一，液晶显示器在出厂前，通常需要采用老化测试装置对液晶显示模组进行老化测试，老化测试是在高温下长时间(例如100小时)对液晶显示模组进行接通电源以显示图像后从而对液晶显示模组进行内建式自测试，以便于早期发现液晶显示模组的不良点，从而提升出货品质。目前液晶显示模组在老化测试过程中，首先需要老化测试装置给液晶显示模组提供初始化信息以对液晶显示模组进行初始化，再根据时序信息提供测试图像给液晶显示模组进行显示，以此来点亮液晶显示模组(即保证显示模组显示图像并正常工作)，再在测试过程中，判断所显示的图像是否正常，从而实现对液晶显示模组的老化测试。目前，与每一机种液晶显示模组相适配的初始化信息不相同，因此，无法共用一个老化测试装置点亮不同机种的液晶显示模组，即当液晶显示模组的机种变更后，需要重新烧录老化测试装置的初始化信息并进行上述点亮液晶显示模组的过程。现有的一种用于点亮MIPI(MobileIndustryProcessorInterface，移动产业处理器)接口的液晶显示模组的老化测试装置如图1所示，图1所示的老化测试装置为设置于老化测试箱中的多个MIPI信号板10，每一MIPI信号板10上设置MCU12和接口13。并且每一液晶显示模组11的机种均不相同，每一MIPI信号板10均电性相连一种机种的液晶显示模组11。每个MIPI信号板10均是独立进行操作的，当需要点亮某一个机种的液晶显示模组11时，通过接口13将相应液晶显示模组11的初始化信息和时序信息传送给MIPI信号板10的MCU12，然后由MCU12将初始化信息和时序信息转化为MIPI信号后传送至相应的液晶显示模组11，以点亮相应的液晶显示模组11，再判断所显示的图像是否正常。上述老化测试装置存在以下问题：因不同机种液晶显示模组无法共用同一个老化测试装置，因此，液晶显示模组机种变更时，上述测试装置需要通过烧录等方式对相应MIPI信号板10烧录初始化信息和时序信息，当液晶显示模组数量较多时，需要烧录的工作量大，另外，当有某一个液晶显示模组11未点亮时，则需要重新操作MIPI信号板对此液晶显示模组11进行上述点亮操作过程，这样不仅导致大量的时间与人力、物力的耗费，而且效率很低，成本较高。

发明内容

本发明提供一种液晶显示模组老化测试系统，适用于不同机种的液晶显示模组，且效率较高。

所述技术方案如下：

本发明实施例提供了一种液晶显示模组老化测试系统，适于测试不同机种的液晶显示模组，其包括：测试信息提供装置、与所述测试信息提供装置相连的主控制板、与所述主控制板相连的多个子控制板，其中，所述测试信息提供装置，用于将多个待测机种的液晶显示模组的测试信息提供给所述主控制板；所述主控制板，与所述测试信息提供装置及每个子控制板相连，用于接收所述测试信息提供装置提供的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息，并将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别提供给与多个待测机种的液晶显示模组相连的相应子控制板；每一子控制板，与所述主控制板及多个液晶显示模组相连，用于接收到所述主控制板提供的相应待测机种的液晶显示模组测试信息时，生成测试图像信号，并将接收的相应待测机种的液晶显示模组的测试信息和测试图像信号进行第一信号转换后提供给相应的液晶显示模组，以使相应的液晶显示模组根据经过第一信号转换后的信号显示对应的测试图像，以点亮相应的液晶显示模组，从而实现对液晶显示模组的老化测试。

在本发明的一个实施例中，经第一信号转换后的信号为MIPI信号、LVDS信号、TTL信号、EDP信号中的一个。

在本发明的一个实施例中，所述测试信息包括控制命令、初始化信号和时序信息，所述控制命令包括将每个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别映射到相应的液晶显示模组的命令、控制液晶显示模组根据初始化信息进行初始化的命令，所述初始化信息包括伽马电压、公共电压，所述时序信息包括水平同步信号、垂直同步信号、时钟信号和使能信号。

在本发明的一个实施例中，所述测试信息提供装置为上位机，所述主控制板包括控制器、输入接口、分配器、输出接口；其中，所述控制器，与所述输入接口及所述分配器相连，所述控制器用于通过所述输入接口接收所述上位机提供的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息，并将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息提供给所述分配器；所述分配器，与所述控制器和所述输出接口相连，其包括多个输出通道，所述每个输出通道与一个输出接口相连，所述分配器用于接收所述控制器提供的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息，根据测试信息中的控制命令将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别映射到相应的输出通道，并通过相应的输出通道提供给相应的输出接口。

在本发明的一个实施例中，所述输入接口为USB，COM，RS232接口的其中之一。

在本发明的一个实施例中，所述测试信息提供装置为闪存卡，所述主控制板包括控制器、分配器、输出接口；其中，所述控制器，与所述闪存卡及所述分配器相连，所述控制器用于接收所述闪存卡提供的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息，并将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息提供给所述分配器；所述分配器，与所述控制器和所述输出接口相连，其包括多个输出通道，所述每个输出通道与一个输出接口相连，所述分配器用于接收所述控制器提供的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息，根据测试信息中的控制命令将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别映射到相应的输出通道，并通过相应的输出通道提供给相应的输出接口。

在本发明的一个实施例中，所述控制器为MCU，所述分配器为FPGA。

在本发明的一个实施例中，所述主控制板还包括键盘，所述键盘与所述控制器相连，所述键盘用于向所述控制器发送所述控制命令。

在本发明的一个实施例中，所述输出接口为串口，所述控制器还用于将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息编码为串行格式后提供给所述分配控制器。

在本发明的一个实施例中，所述闪存卡以插拔方式设置在所述主控制板上。

本发明实施例提供的技术方案带来的有益效果是：

通过主控制板将多个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别提供给与多个待测机种的液晶显示模组相连的相应子控制板。每一子控制板接收到主控制板提供的相应待测机种的液晶显示模组测试信息时，生成测试图像信号，并将接收的相应待测机种的液晶显示模组的测试信息和测试图像信号进行第一信号转换后(例如转换为MIPI信号、LVDS信号、TTL信号、EDP信号等)提供给相应的液晶显示模组，以使相应的液晶显示模组根据经过第一信号转换后的信号显示对应的测试图像，以点亮相应的液晶显示模组，从而实现对液晶显示模组的老化测试。本发明实施例对不同机种的液晶显示模组进行老化测试时，仅需要给主控制板提供不同机种的测试信息，则主控制板就会将多个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别提供给与多个待测机种的液晶显示模组相连的相应子控制板，从而实现对液晶显示模组的老化测试，操作方便，流程简单，并且不同机种液晶显示模组可以共用同一个测试系统，避免现有技术中切换机种时每个测试装置均进行烧录程序的麻烦，节省切换机种时间，从而节省了成本，提高了测试效率。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。

附图说明

图1是现有的一种液晶显示模组老化测试装置的主要架构框图；

图2是本发明第一实施例提供的液晶显示模组老化测试系统的主要架构框图；

图3是本发明第二实施例提供的液晶显示模组老化测试系统的主要架构框图；

图4是本发明第三实施例提供的液晶显示模组老化测试系统的主要架构框图；

图5是本发明第四实施例提供的液晶显示模组老化测试系统的主要架构框图。

具体实施方式

为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的液晶显示模组老化测试系统其具体实施方式、结构、特征及功效，详细说明如后。

有关本发明的前述及其他技术内容、特点及功效，在以下配合参考图式的较佳实施例详细说明中将可清楚的呈现。通过具体实施方式的说明，当可对本发明为达成预定目的所采取的技术手段及功效得以更加深入且具体的了解，然而所附图式仅是提供参考与说明之用，并非用来对本发明加以限制。

第一实施例

图2是本发明第一实施例提供的液晶显示模组老化测试系统的主要架构框图。请参考图2，本实施例的液晶显示模组老化测试系统适于测试不同机种(例如不同型号)的液晶显示模组109，请参考图2，所述液晶显示模组老化测试系统包括：测试信息提供装置101、与测试信息提供装置101相连的主控制板103、与主控制板103相连的多个子控制板105。每个子控制板105相连多个需要进行老化测试的相同机种的液晶显示模组109，并且任一个子控制板105所相连的多个液晶显示模组109的机种相同，且与另外子控制板105所相连的液晶显示模组109的机种不相同。其中，主控制板103可设置于老化测试箱外部，而子控制板105及液晶显示模组109可设置于测试箱内，测试箱内处于高温和高湿度的测试环境，以对液晶显示模组109进行老化测试。

具体地，测试信息提供装置101，与主控制板102相连，用于将多个待测机种的液晶显示模组的测试信息(例如可以包括控制命令、液晶显示模组的初始化信息和时序信息)提供给主控制板103。

其中，优选地，测试信息提供装置101上可以显示测试信息输入界面，用户就可以在输入界面上通过键盘、鼠标等输入设备输入测试信息。测试信息例如可以包括控制命令、液晶显示模组的初始化信息和时序(Timing)信息，控制命令可以包括将每个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别映射到相应的液晶显示模组的命令、控制液晶显示模组根据初始化信息进行初始化的命令等。初始化信息可以包括伽马电压，公共电压等参数。时序信息可以包括水平同步信号(H-SYNC)、垂直同步信号(V-SYNC)、时钟信号(DOTCLOCK)、使能信号(DE)等。测试信息提供装置101将多个待测机种的液晶显示模组的测试信息提供给主控制板103例如是将多个待测机种的液晶显示模组的测试信息烧录到主控制板103中，可以根据待测的多个机种烧录不同机种的测试信息，使得该测试系统适用于多种产品，扩大了适用范围，进而使得各种机种的液晶显示模组无需设置专门的测试装置，进而降低了成本。

主控制板103，与测试信息提供装置101及每个子控制板105相连，用于接收测试信息提供装置101提供的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息，并将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息(例如控制命令、初始化信息和时序信息)分别提供给与多个待测机种的液晶显示模组相连的相应子控制板105。

每一子控制板105，与主控制板103及多个液晶显示模组109相连，用于接收到主控制板103提供的相应待测机种的液晶显示模组测试信息时，生成测试图像信号，并将接收的相应待测机种的液晶显示模组的测试信息和测试图像信号进行第一信号转换后(例如转换为MIPI信号、LVDS信号、TTL信号、EDP信号等)提供给相应的液晶显示模组109，以使相应的液晶显示模组109根据经过第一信号转换后的信号(例如MIPI信号、LVDS信号、TTL信号、EDP信号等)显示对应的测试图像，以点亮相应的液晶显示模组109，从而实现对液晶显示模组的老化测试。

其中，在老化测试过程中(例如液晶显示模组点亮100小时)还通过子控制板或其它测试设备判断显示的图像是否正常，若正常，则判断为待测液晶显示模组为合格，若异常，则判断为待测液晶显示模组为不合格，从而实现对液晶显示模组的老化测试。

其中，第一信号转换是转换为MIPI信号、LVDS信号、TTL信号、EDP信号等，第一信号转换具体转换为哪种信号，是由显示模组的接口决定的，即第一信号转换是转换为与相应的液晶显示模组相适配的信号(例如MIPI信号、LVDS信号、TTL信号、EDP信号等)。在其它实施例中，也可以根据显示模组的接口而转换为其它格式的信号，只要转换后的信号能够与显示模组的接口相适配即可。

优选地，每一子控制板105，还用于将接收的相应待测机种的液晶显示模组的测试信息中的控制命令及初始化信息进行第一信号转换后提供给相应的液晶显示模组109，在经过第一信号转换后的控制命令的控制下，采用转换后的初始化信息对相应的液晶显示模组109进行初始化，并生成测试图像信号，将接收的相应待测机种的液晶显示模组的测试信息中的时序信息和测试图像信号进行第一信号转换后提供给相应的液晶显示模组109，使液晶显示模组109在经过第一信号转换后的时序信息的控制下显示对应的测试图像，以点亮相应的液晶显示模组109。

本发明实施例中，当给不同机种的液晶显示模组进行老化测试时，仅需要将多个待测机种的液晶显示模组的测试信息烧录到主控制板103中，可以根据待测的多个机种烧录不同机种的测试信息，使得该测试系统适用于多种产品，扩大了适用范围，进而使得各种机种的液晶显示模组无需设置专门的测试装置，进而降低了成本。

本实施例提供的液晶显示模组老化测试系统，通过主控制板103将多个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别提供给与多个待测机种的液晶显示模组相连的相应子控制板105。每一子控制板105接收到主控制板103提供的相应待测机种的液晶显示模组测试信息时，生成测试图像信号，并将接收的相应待测机种的液晶显示模组的测试信息和测试图像信号进行第一信号转换后(例如转换为MIPI信号、LVDS信号、TTL信号、EDP信号等)提供给相应的液晶显示模组109，以使相应的液晶显示模组109根据经过第一信号转换后的信号显示对应的测试图像，以点亮相应的液晶显示模组109，从而实现对液晶显示模组的老化测试。本发明实施例对不同机种的液晶显示模组进行老化测试时，仅需要给主控制板103提供不同机种的测试信息，则主控制板103就会将多个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别提供给与多个待测机种的液晶显示模组相连的相应子控制板105，从而实现对液晶显示模组的老化测试，操作方便，流程简单，并且不同机种液晶显示模组可以共用同一个测试系统，避免现有技术中切换机种时每个测试装置均进行烧录程序的麻烦，节省切换机种时间，从而节省了成本，提高了测试效率。

第二实施例

请参考图3，图3示出了本发明第二实施例提供的液晶显示模组老化测试系统的主要架构框图。图3所示液晶显示模组老化测试系统的结构与图2所示的结构相似，其不同之处在于，图3的测试信息提供装置为上位机，图3是主控制板103的进一步细化结构。

具体地，主控制板103可以包括控制器1031、输入接口1032、分配器(例如FPGA，FieldProgrammableGateArray，现场可编程逻辑门阵列)1033、输出接口1036。

控制器1031，与输入接口1032及分配器1033相连，控制器1031用于通过输入接口1032接收上位机101提供的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息，并将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息(例如控制命令、初始化信息和时序信息)提供给分配器(例如FPGA)1033。

其中，控制器1031可以为MCU(MicroControlUnit，微控制单元)等，分配器可以为FPGA。优选地，输入接口1032可以为USB，COM，RS232等接口中的任何一个，输出接口1036可以为串口，所述控制器1031还用于将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息编码为串行格式后提供给所述分配器1033。

分配器(例如FPGA)1033，与控制器1031及输出接口1036相连，其包括多个输出通道RXD1～RXDn，每个输出通道RXD1～RXDn与一个输出接口1036相连，分配器1033用于接收控制器1031提供的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息，根据测试信息中的控制命令将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别映射到相应的输出通道RXD1～RXDn，并通过相应的输出通道RXD1～RXDn提供给相应的输出接口1036。例如当控制命令为将多个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别映射到相应的全部液晶显示模组时，则分配器1033将多个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别映射到相应的全部输出通道RXD1～RXDn，如此分配器1033需要预先存储相应液晶显示模组与所有输出通道RXD1～RXDn的对应关系，若控制命令为将2个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别映射到No.1和No.2机种的液晶显示模组时，若分配器1033预先存储的相应液晶显示模组与所有输出通道RXD1～RXDn的对应关系中液晶显示模组机种No.1和No.2对应通道RXD1和RXD2，则分配器1033将No.1和No.2待测机种的液晶显示模组的测试信息映射到通道RXD1和RXD2。也就是说，当分配器1033将多个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别映射到相应的全部输出通道RXD1～RXDn时，此时每一个通道接收到与此通道对应的待测机种的液晶显示模组的测试信息，当控制命令为将一个待测机种的液晶显示模组的测试信息映射到相应的单独某一通道时，则分配器1033将一个待测机种的液晶显示模组的测试信息映射到该输出通道时，只有这个通道接收到与此通道对应的待测机种的液晶显示模组的测试信息，其它通道无信号。

以一个子控制板105为例进行说明，每个子控制板105将主控制板103提供的相应待测机种的液晶显示模组的测试信息中的控制命令及初始化信息进行第一信号转换后(例如转换为MIPI信号等)提供给相应的液晶显示模组，以对相应的液晶显示模组进行初始化，生成测试图像信号，将测试信息的时序信息和测试图像信号，进行第一信号转换后(例如转换为MIPI信号等)，提供给相应的液晶显示模组，以使相应的液晶显示模组109根据经过第一信号转换后的时序信息和测试图像信号显示对应的测试图像，以点亮相应的液晶显示模组109，从而实现对液晶显示模组的老化测试。在老化测试过程中(例如液晶显示模组点亮100小时)判断显示的图像是否正常，若正常，则判断为待测液晶显示模组为合格，若异常，则判断为待测液晶显示模组为不合格，从而实现对液晶显示模组的老化测试。

下面以液晶显示模组机种(例如型号)为3种，详细介绍液晶显示模组老化测试系统的工作过程：

当需要给3个机种的液晶显示模组进行老化测试时，主控制板103的控制器1031将通过输入接口1032接收上位机101提供的3个待测机种的液晶显示模组的测试信息，并将接收的3个待测机种的液晶显示模组的测试信息提供给分配器1033。分配器1033根据测试信息中的控制命令将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别映射到相应的输出通道RXD1、RXD2、RXD3，并通过相应的输出通道RXD1、RXD2、RXD3、相应的3个输出接口1036提供给3个子控制板105。每个子控制板105将主控制板103提供的相应待测机种的液晶显示模组的测试信息中的控制命令及初始化信息进行第一信号转换后(例如转换为MIPI信号)提供给相应的液晶显示模组，以对相应的液晶显示模组进行初始化，生成测试图像信号，将测试信息的时序信息和测试图像信号，进行第一信号转换后(例如转换为MIPI信号)提供给相应的液晶显示模组，以使相应的液晶显示模组109根据经过第一信号转换后的时序信息和测试图像信号显示对应的测试图像，以点亮相应的液晶显示模组109，从而实现对液晶显示模组的老化测试。

当只有某一通道的液晶显示模组需要更换时，则可以利用键盘给控制器1031发送该通道的断电控制命令，控制器1031接收到此控制命令后，将控制命令发送分配器1033，分配器1033将控制命令传送给相应通道并通过输出接口1036发送给相应子控制板105，子控制板105控制该通道液晶显示模组断电，更换该通道液晶显示模组机种后，在上位机的人机交互界面上修改对应测试信息内容，然后给该通道上电，将修改后的测试信息传送给控制器1031，即可点亮更换机种后的液晶显示模组，不影响其他通道。

本实施例提供的液晶显示模组老化测试系统，还通过上位机提供测试信息，在主控制板103的控制器1031和分配器1033的相互配合下，将多个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别映射到相应的输出通道RXD1～RXDn，并通过相应的输出通道RXD1～RXDn提供给相应的子控制板105。子控制板点亮相应的液晶显示模组109，从而实现对液晶显示模组的老化测试。本发明实施例不同机种的液晶显示模组可以共用同一个液晶显示模组老化测试装置，实用性强，并且主控制板的结构简单、成本较低，还便于直观快捷的比较出不同机种及不同液晶显示模组的差异。且更换某一通道的液晶显示模组时无需重新烧录程序，切换时间短、操作简单，减少了作业流程中的人员使用量及人员工作量。

第三实施例

请参考图4，图4示出了本发明第三实施例提供的液晶显示模组老化测试系统的主要架构框图。图4所示液晶显示模组老化测试系统的结构与图3所示的结构相似，其不同之处在于，图4的液晶显示模组老化测试系统的主控制板103还可以包括键盘1037。

优选地，键盘1037与控制器1031相连，用于向控制器1031发送控制命令。例如控制命令可以包括将每个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别映射到相应的液晶显示模组的命令、控制液晶显示模组根据初始化信息进行初始化的命令等。

本实施例提供的液晶显示模组老化测试系统，还通过键盘1037可以向控制器1031发送控制命令，以对液晶显示模组老化测试进行控制，如果当某一液晶显示模组未点亮时，通过开关发送控制命令可单独控制重新传送测试信息给此液晶显示模组即可，从而使得控制方便，实时性强。

第四实施例

请参考图5，图5示出了本发明第四实施例提供的液晶显示模组老化测试系统的主要架构框图。图5所示液晶显示模组老化测试系统的结构与图4所示的结构相似，其不同之处在于，图5的测试信息提供装置为闪存卡1038，图5的主控制板103与图4的不同。

具体地，主控制板103可以包括控制器1031、分配器(例如FPGA，FieldProgrammableGateArray，现场可编程逻辑门阵列)1033、输出接口1036。

闪存卡1038，与控制器1031相连，用于存储并将多个待测机种的液晶显示模组的测试信息(例如控制命令、初始化信息和时序信息)提供给控制器1031，即控制器1031可以读取闪存卡1038内存储的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息。闪存卡1038可以以插拔方式设置在主控制板103上，若要更换闪存卡1038中的测试信息，则需断掉总电源，将闪存卡1038从主控制板103中取出，更换闪存卡1038中测试信息的内容后，再重新启动整个系统。

控制器1031，与闪存卡1038及分配器1033相连，控制器1031用于接收闪存卡1038提供的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息，并将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息(例如控制命令、初始化信息和时序信息)提供给分配器(例如FPGA)1033。

其中，控制器1031可以为MCU(MicroControlUnit，微控制单元)等，分配器可以为FPGA。优选地，输出接口1036可以为串口，所述控制器1031还用于将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息编码为串行格式后提供给所述分配器1033。

分配器(例如FPGA)1033，与控制器1031及输出接口1036相连，其包括多个输出通道RXD1～RXDn，每个输出通道RXD1～RXDn与一个输出接口1036相连，分配器1033用于接收控制器1031提供的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息，根据测试信息中的控制命令将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别映射到相应的输出通道RXD1～RXDn，并通过相应的输出通道RXD1～RXDn提供给相应的输出接口1036。例如当控制命令为将多个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别映射到相应的全部液晶显示模组时，则分配器1033将多个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别映射到相应的全部输出通道RXD1～RXDn，如此分配器1033需要预先存储相应液晶显示模组与所有输出通道RXD1～RXDn的对应关系，若控制命令为将2个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别映射到No.1和No.2机种的液晶显示模组时，若分配器1033预先存储的相应液晶显示模组与所有输出通道RXD1～RXDn的对应关系中液晶显示模组机种No.1和No.2对应通道RXD1和RXD2，则分配器1033将No.1和No.2待测机种的液晶显示模组的测试信息映射到通道RXD1和RXD2。也就是说，当分配器1033将多个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别映射到相应的全部输出通道RXD1～RXDn时，此时每一个通道接收到与此通道对应的待测机种的液晶显示模组的测试信息，当控制命令为将一个待测机种的液晶显示模组的测试信息映射到相应的单独某一通道时，则分配器1033将一个待测机种的液晶显示模组的测试信息映射到该输出通道时，只有这个通道接收到与此通道对应的待测机种的液晶显示模组的测试信息，其它通道无信号。

以一个子控制板105为例进行说明，每个子控制板105将主控制板103提供的相应待测机种的液晶显示模组的测试信息的控制命令及初始化信息进行第一信号转换后(例如转换为MIPI信号等)提供给相应的液晶显示模组，以对相应的液晶显示模组进行初始化，生成测试图像信号，将测试信息的时序信息和测试图像信号，进行第一信号转换后(例如转换为MIPI信号等)，提供给相应的液晶显示模组，以使相应的液晶显示模组109根据经过第一信号转换后的时序信息和测试图像信号显示对应的测试图像，以点亮相应的液晶显示模组109，从而实现对液晶显示模组的老化测试。在老化测试过程中(例如液晶显示模组点亮100小时)判断显示的图像是否正常，若正常，则判断为待测液晶显示模组为合格，若异常，则判断为待测液晶显示模组为不合格，从而实现对液晶显示模组的老化测试。

本实施例提供的液晶显示模组老化测试系统，还通过闪存卡1038存储并将多个待测机种的液晶显示模组的测试信息(例如控制命令、初始化信息和时序信息)提供给控制器1031。从而不仅可以采用上位机提供测试信息，还可以将测试信息保存在闪存卡中，方便易用。

以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容做出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。

Claims (10)

1.一种液晶显示模组老化测试系统，适于测试不同机种的液晶显示模组，其包括：测试信息提供装置、与所述测试信息提供装置相连的主控制板、与所述主控制板相连的多个子控制板，其中，

所述测试信息提供装置，用于将多个待测机种的液晶显示模组的测试信息提供给所述主控制板；

所述主控制板，与所述测试信息提供装置及每个子控制板相连，用于接收所述测试信息提供装置提供的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息，并将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别提供给与多个待测机种的液晶显示模组相连的相应子控制板；

每一子控制板，与所述主控制板及多个液晶显示模组相连，用于接收到所述主控制板提供的相应待测机种的液晶显示模组测试信息时，生成测试图像信号，并将接收的相应待测机种的液晶显示模组的测试信息和测试图像信号进行第一信号转换后提供给相应的液晶显示模组，以使相应的液晶显示模组根据经过第一信号转换后的信号显示对应的测试图像，以点亮相应的液晶显示模组，从而实现对液晶显示模组的老化测试。

2.根据权利要求1所述的液晶显示模组老化测试系统，其特征在于，所述经第一信号转换后的信号为MIPI信号、LVDS信号、TTL信号、EDP信号中的一个。

3.根据权利要求1所述的液晶显示模组老化测试系统，其特征在于，所述测试信息包括控制命令、初始化信号和时序信息，所述控制命令包括将每个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别映射到相应的液晶显示模组的命令、控制液晶显示模组根据初始化信息进行初始化的命令，所述初始化信息包括伽马电压、公共电压，所述时序信息包括水平同步信号、垂直同步信号、时钟信号和使能信号。

4.根据权利要求1所述的液晶显示模组老化测试系统，其特征在于，所述测试信息提供装置为上位机，所述主控制板包括控制器、输入接口、分配器、输出接口；其中，

所述控制器，与所述输入接口及所述分配器相连，所述控制器用于通过所述输入接口接收所述上位机提供的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息，并将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息提供给所述分配器；

所述分配器，与所述控制器和所述输出接口相连，其包括多个输出通道，所述每个输出通道与一个输出接口相连，所述分配器用于接收所述控制器提供的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息，根据测试信息中的控制命令将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别映射到相应的输出通道，并通过相应的输出通道提供给相应的输出接口。

5.根据权利要求4所述的液晶显示模组老化测试系统，其特征在于，所述输入接口为USB，COM，RS232接口的其中之一。

6.根据权利要求1所述的液晶显示模组老化测试系统，其特征在于，所述测试信息提供装置为闪存卡，所述主控制板包括控制器、分配器、输出接口；其中，

所述控制器，与所述闪存卡及所述分配器相连，所述控制器用于接收所述闪存卡提供的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息，并将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息提供给所述分配器；

所述分配器，与所述控制器和所述输出接口相连，其包括多个输出通道，所述每个输出通道与一个输出接口相连，所述分配器用于接收所述控制器提供的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息，根据测试信息中的控制命令将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息分别映射到相应的输出通道，并通过相应的输出通道提供给相应的输出接口。

7.根据权利要求4、6中任一项所述的液晶显示模组老化测试系统，其特征在于，所述控制器为MCU，所述分配器为FPGA。

8.根据权利要求4、6中任一项所述的液晶显示模组老化测试系统，其特征在于，所述主控制板还包括键盘，所述键盘与所述控制器相连，所述键盘用于向所述控制器发送所述控制命令。

9.根据权利要求4、6中任一项所述的液晶显示模组老化测试系统，其特征在于，所述输出接口为串口，所述控制器还用于将接收的多个待测机种的液晶显示模组的测试信息编码为串行格式后提供给所述分配控制器。

10.根据权利要求6所述的液晶显示模组老化测试系统，其特征在于，所述闪存卡以插拔方式设置在所述主控制板上。