CN203573618U - 一种串口液晶测试工装 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种串口液晶测试工装，包括电源、51单片机最小系统、液晶背光控制模块、复数个电平转换芯片以及复数个用于连接被测液晶的串口液晶接口；所述51单片机最小系统分别连接液晶背光控制模块和电平转换芯片，所述液晶背光控制模块连接复数个串口液晶接口，每所述电平转换芯片连接至少一串口液晶接口，所述电源分别为51单片机最小系统和液晶供电。本实用新型可以实现一台设备测试多片液晶板及液晶，占地面积小，测试效率高。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种液晶测试工装。
背景技术
常见的液晶都是TTL信号电平的串口液晶，TTL信号电平是采用高低电平来表示逻辑状态的“0”和“1”，而如果液晶的信号线较长，则最好先将传输信号转化为RS232电平，RS232信号电平是采用正负电平来表示逻辑状态，这种信号电平的抗干扰性能比较好，经过较长距离的传输后也可以被正常识别。
本申请人的XIN900终端中使用到了这种RS232电平通信。本实用新型中使用的液晶板是液晶转接板在板上实现RS232电平到TTL电平的转换，同时在结构上起到固定液晶的功能。液晶板和液晶在进入产线，之前需要长时间拷机测试，排除掉花屏、白屏、闪屏等故障液晶。
以往的测试手段是将液晶和液晶板安装在终端设备上再进行测试，但这种在XIN900终端上测试液晶板和液晶，只能一台设备测试一片液晶板和液晶，这样需要占用测试资源太多，因此方案可取性低。
发明内容
本实用新型要解决的技术问题，在于提供一种串口液晶测试工装，可以实现一台设备测试多片液晶板及液晶，占地面积小，测试效率高。
本实用新型是这样实现的：一种串口液晶测试工装，包括电源、51单片机最小系统、液晶背光控制模块、复数个电平转换芯片以及复数个用于连接被测液晶板的串口液晶接口；所述51单片机最小系统分别连接液晶背光控制模块和电平转换芯片，所述液晶背光控制模块连接复数个串口液晶接口，每所述电平转换芯片连接至少一串口液晶接口，所述电源为分别为51单片机最小系统和液晶板供电。
所述电平转换芯片为TTL-RS232电平转换芯片，所述51单片机最小系统连接1～5个TTL-RS232电平转换芯片，每该TTL-RS232电平转换芯片连接1～5个串口液晶接口。
所述51单片机最小系统还连接至少一个锁存器、每所述锁存器连接1～10个串口液晶接口。锁存器用于增强信号驱动能力，当需要直接测试TTL电平的液晶时，可以直接将液晶接在串口液晶接口上，经过每一片锁存器增强驱动能力后，51单片机最小系统可以至少多驱动10片液晶。
所述电源包括背光电源和系统电源，所述背光电源为被测液晶板供电，所述系统电源为所述51单片机最小系统供电。
所述液晶背光控制模块连接所述51单片机最小系统的一个IO口。
本实用新型的优点在于：本实用新型的测试工装上设有复数个串口液晶接口，使用了电平转换芯片，把TTL电平信号转换为RS232电平信号，再由液晶板将RS232电平信号转换成TTL电平信号供给液晶，无需在终端设备上测试，占地面积小，能实现一台工装测试多片液晶板及液晶，测试效率大大提高。而且当被测液晶的的数量较大时，即可通过锁存器提高51单片机最小系统的驱动能力。
附图说明
下面参照附图结合实施例对本实用新型作进一步的说明。
图1为本实用新型测试工装的结构示意图。
图2为本实用新型测试工装的电平转换芯片与液晶板的连接示意图。
图3为本实用新型测试工装的锁存器与液晶板的连接示意图。
具体实施方式
请参阅图1所示，本实用新型的串口液晶测试工装，包括电源、51单片机最小系统、液晶背光控制模块、复数个电平转换芯片以及复数个用于连接被测液晶的串口液晶接口；所述51单片机最小系统分别连接液晶背光控制模块和电平转换芯片，所述液晶背光控制模块连接复数个串口液晶接口，每所述电平转换芯片连接至少一串口液晶接口，所述电源为分别为51单片机最小系统和液晶供电。
所述电平转换芯片为TTL-RS232电平转换芯片时，所述51单片机最小系统连接1～5个TTL-RS232电平转换芯片，每该TTL-RS232电平转换芯片连接1～5个串口液晶接口。如图2所示，当51单片机最小系统连接5个TTL-RS232电平转换芯片，且实验发现每片TTL-RS232电平转换芯片最多驱动5片液晶，当每该TTL-RS232电平转换芯片连接5个串口液晶接口时，该测试工装一次就可以测试25片液晶。测试效率得到很大的提高。
如图1和图3所示，所述51单片机最小系统还连接至少一个锁存器、每所述锁存器连接1～10个串口液晶接口。当被测液晶的数量较大时，单片机的TTL电平驱动能力有限，即可通过锁存器提高51单片机最小系统的驱动能力。一片锁存器可以驱动10片TTL电平的液晶，当测试工装一次测试25片液晶时，最多只需连接3个锁存器即可满足要求。
所述电源包括背光电源和系统电源，所述背光电源为被测液晶供电，所述系统电源为所述51单片机最小系统供电。
所述液晶背光控制模块连接所述51单片机最小系统的一个IO口，即可由一个IO口单独控制。
本实用新型的工作原理：使用时，将被测液晶安装在液晶板上，再连接到本实用新型的测试工装上的串口液晶接口即可。51单片机最小系统输出的TTL电平信号，经电平转换芯片转换为RS232电平信号，再由液晶板将RS232电平信号转换成TTL电平信号供给液晶。液晶背光控制模块使用51单片机最小系统的一个IO口，控制背光控制模块的通断，来统一控制所有液晶背光灯一齐亮灭，使用本测试工装无需在终端设备上测试，占地面积小，能实现一台设备测试多片液晶板及液晶，测试效率大大提高。而且当被测液晶的的数量较大时，即可通过锁存器提高51单片机最小系统的驱动能力。
虽然以上描述了本实用新型的具体实施方式，但是熟悉本技术领域的技术人员应当理解，我们所描述的具体的实施例只是说明性的，而不是用于对本实用新型的范围的限定，熟悉本领域的技术人员在依照本实用新型的精神所作的等效的修饰以及变化，都应当涵盖在本实用新型的权利要求所保护的范围内。
Claims (5)
1.一种串口液晶测试工装，其特征在于：包括电源、51单片机最小系统、液晶背光控制模块、复数个电平转换芯片以及复数个用于连接被测液晶板的串口液晶接口；所述51单片机最小系统分别连接液晶背光控制模块和电平转换芯片，所述液晶背光控制模块连接复数个串口液晶接口，每所述电平转换芯片连接至少一串口液晶接口，所述电源为分别为51单片机最小系统和被测液晶板供电。
2.如权利要求1所述的一种串口液晶测试工装，其特征在于：所述电平转换芯片为TTL-RS232电平转换芯片，所述51单片机最小系统连接1～5个TTL-RS232电平转换芯片，每该TTL-RS232电平转换芯片连接1～5个串口液晶接口。
3.如权利要求1或2所述的一种串口液晶测试工装，其特征在于：所述51单片机最小系统还连接至少一个锁存器、每所述锁存器连接1～10个串口液晶接口。
4.如权利要求3所述的一种串口液晶测试工装，其特征在于：所述电源包括背光电源和系统电源，所述背光电源为被测液晶板供电，所述系统电源为所述51单片机最小系统供电。
5.如权利要求4所述的一种串口液晶测试工装，其特征在于：所述液晶背光控制模块连接所述51单片机最小系统的一个IO口。
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| CN201320668074.3U CN203573618U (zh) | 2013-10-28 | 2013-10-28 | 一种串口液晶测试工装 |
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Cited By (1)
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| CN105304000A (zh) * | 2015-09-23 | 2016-02-03 | 昆山龙腾光电有限公司 | 液晶显示模组老化测试系统 |
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2013
- 2013-10-28 CN CN201320668074.3U patent/CN203573618U/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
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| CN105304000B (zh) * | 2015-09-23 | 2019-01-22 | 昆山龙腾光电有限公司 | 液晶显示模组老化测试系统 |
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