CN110389262A - 测量结构 - Google Patents

Abstract

一种测量结构，包含测量主系统、测试模块、单一模拟信号供应装置、单对多模拟信号输出接口及待测装置。单一模拟信号供应装置根据测量主系统的指令而输出一模拟信号；单对多模拟信号输出接口接收来自单一模拟信号供应装置的模拟信号，并提供多个通道以将模拟信号同步输出；待测装置放置多个待测物，以供待测物分别接收通过该多个通道中的其中一通道的模拟信号。

Description

测量结构

技术领域

本发明涉及一种测量结构，特别涉及一种适用于测量多个待测物的测量结构。

背景技术

现有的测量结构通常会将单一模拟信号供应装置装设于独立的机箱中，其运作的时序与测量主系统各自分离，且每个待测物会搭配一个单一模拟信号供应装置，因此在此结构下同时测试多个待测物时，有可能会发生待测物时序与模拟信号的时序不吻合的情况(例如某一个模拟信号装置经由测量主系统触发而产生模拟信号的时点出现延迟时)，因而造成测量失误。此外，这种结构也需要提供额外的机箱给多个单一模拟信号供应装置，会占用极大的空间。虽然目前也有结构是将单一模拟信号供应装置设置于测量主系统中，使待测物的时序与模拟信号的时序同步，但当待测物的数量越多时，所需占用的插槽也会越多，因此测量主系统会需要大量的系统资源及空间。另外，目前的测量结构中，在进行同步测试时，每个待测物会搭配一个单一模拟信号供应装置，由于单一模拟信号供应装置较为昂贵，只要待测物的数量较多，成本也会大幅提升。再者，若要以挑选硬件元件的方式使其内部信号达到一致，会造成硬件系统的制造成本更昂贵且制造时间更久，不符合需求，且此方式需要撰写相对应的软件，也非简单的事。

有鉴于此，本发明提供一种新的测量结构来解决上述的问题。

发明内容

本发明的一个目的在于提供一种测量结构，包含：一测量主系统、至少一单一模拟信号供应装置、至少一单对多模拟信号输出接口以及一待测装置。测量主系统具有一测试模块；单一模拟信号供应装置根据测量主系统的指令而输出一模拟信号；至少一单对多模拟信号输出接口接收来自单一模拟信号供应装置的模拟信号，并提供多个通道以将模拟信号同步输出；待测装置用以放置多个待测物，使待测物分别接收通过该多个通道中的其中一通道的模拟信号。借此，本发明可解决待测物与模拟信号不同步的问题，并提供减少系统所需空间或降低生产成本等功效。

在一实施例中，至少一单一模拟信号供应装置的数量为M个，至少一单对多模拟信号输出接口的数量为M个，且每个单一模拟信号供应装置连接一个单对多模拟信号输出接口，其中M为正整数。在一实施例中，至少一单一模拟信号供应装置与该至少一单对多模拟信号输出接口设置于该测量主系统中。在一实施例中，至少一单一模拟信号供应装置设置于该测量主系统中，该至少一单对多模拟信号输出接口设置于该测量主系统外。在一实施例中，至少一单一模拟信号供应装置与该至少一单对多模拟信号输出接口设置于该测量主系统外。

在一实施例中，至少一单一模拟信号供应装置的数量为M个，至少一单对多模拟信号输出接口的数量为N个，且至少一单对多模拟信号输出接口的一第一部分分别与一单一模拟信号供应装置连接，且至少一单对多模拟信号输出接口的一第二部分分别与至少一单对多模拟信号输出接口的第一部分所提供的其中一个通道连接，其中M为正整数，N为大于或等于M的正整数。在一实施例中，至少一单一模拟信号供应装置与至少一单对多模拟信号输出接口的第一部分设置于该测量主系统中。在一实施例中，至少一单一模拟信号供应装置与至少一单对多模拟信号输出接口的第一部分设置于该测量主系统外。

在一实施例中，至少一单对多模拟信号输出接口包括一第一通道子接口，第一通道子接口包括并联的i个子通道，且第一通道子接口的每个子通道分别连接一个子输出单元，子输出单元包括缓冲器、放大器或增益位移调整电路，其中i为大于或等于1的正整数。在一实施例中，第一通道子接口更连接一信号输入总线(bus)，以从外部接收增益信号或位移信号。

本发明的另一个目的在于提供一种测量结构，包含：一测量主系统、至少一模拟信号供应装置、至少一第一单对多模拟信号输出接口、至少一第二单对多模拟信号输出接口及一待测装置。测量主系统，具有一测试模块；至少一模拟信号供应装置根据测量主系统的指令而输出一第一模拟信号与一第二模拟信号；至少一第一单对多模拟信号输出接口接收第一模拟信号，并提供多个通道以将第一模拟信号同步输出；至少一第二单对多模拟信号输出接口接收第二模拟信号，并提供多个通道以将第二模拟信号同步输出；待测装置，放置多个待测物，以供该多个待测物中的第一部分分别接收至少一第一单对多模拟信号输出接口的其中一通道所输出的第一模拟信号，且该多个待测物中的第二部分分别接收至少一第二单对多模拟信号输出接口的其中一通道所输出的第二模拟信号。借此，本发明可解决待测物之间的时序与模拟信号不同步的问题，并提供减少系统所需空间或降低生产成本等功效。

在一实施例中，第一模拟信号与第二模拟信号是差动信号，该差动信号定义为该第一模拟信号与该第二模拟信号具备相同振幅而不同极性，且该第一模拟信号输入至该第一单对多模拟信号输出接口，该第二模拟信号同步于该第一模拟信号而输入至该第二单对多模拟信号输出接口。

在一实施例中，每个至少一模拟信号供应装置包括一第一单一模拟信号供应装置及一第二单一模拟信号供应装置，第一单一模拟信号供应装置输出该第一模拟信号，第二单一模拟信号供应装置输出该第二模拟信号。

附图说明

图1是本发明第一实施方式或第二实施方式的测量结构的基本结构示意图；

图2是本发明第一实施方式或第二实施方式的单对多模拟信号输出接口的具体结构示意图；

图3是本发明第一实施例(第一实施方式)测量结构的详细结构示意图；

图4是本发明第二实施例(第一实施方式)测量结构的详细结构示意图；

图5是本发明第三实施例(第一实施方式)测量结构的详细结构示意图；

图6是本发明第四实施例(第一实施方式)测量结构的详细结构示意图；

图7是本发明第五实施例(第一实施方式)测量结构的详细结构示意图；

图8是本发明第六实施例(第一实施方式)测量结构的详细结构示意图；

图9是本发明第七实施例的测量结构(第二实施方式)的详细结构示意图；

图10是本发明第八实施例的测量结构(第二实施方式)的详细结构示意图；

图11是本发明第九实施例的测量结构(第二实施方式)的详细结构示意图；

图12是本发明第十实施例的测量结构(第二实施方式)的详细结构示意图；

图13是本发明第十一实施例(第三实施方式)的测量结构的详细结构示意图；

图14是本发明第三实施方式的多对多模拟信号输出接口的具体结构示意图。

上述附图中，附图标记含义具体如下：

1 测量结构 32 子输出单元

10 测量主系统 60 外部信号输入端

20 单一模拟信号供应装置 20-1 第一模拟信号供应装置

30 单对多模拟信号输出接口 20-2 第二模拟信号供应装置

40 待测装置 S2-1 第一模拟信号

12 测试模块 S2-2 第二模拟信号

S1 指令 70 多对多模拟信号输出接

口

S2 模拟信号 30-1 第一单对多模拟信号输

出接口

ch 通道 30-2 第二单对多模拟信号输

出接口

30(a) 初阶通道子接口

30(b) 次阶通道子接口

30(c) 三阶通道子接口

31 子通道

具体实施方式

以下将通过多个实施例说明本发明的测量设备的实施方式及工作原理。本发明所属技术领域中普通技术人员，通过上述实施例可理解本发明的特征及功效，而可基于本发明的精神，进行组合、修饰、置换或转用。

本文所指的“连接”一词包括直接连接或间接连接等实施方式，且并非限定。本文中关于“当...”、“...时”的用词表示“当时、之前或之后”，且并非限定。此外，本发明记载多个功效(或元件)时，若在多个功效(或元件)之间使用“或”一词，表示功效(或元件)可独立存在，但亦不排除多个功效(或元件)可同时存在的实施方式。另外，本发明中关于“连接”一词，表示包含直接连接及无线连接的实施方式。再者，说明书中所使用的序数例如“第一实施例”、“第二实施例”等的用词，以修饰本发明的实施例，其本身并不表示及代表实施例有任何之前的序数，也不代表某一实施例与另一实施例的顺序，该些序数的使用仅用来修饰不同的实施例，且不限定本发明只具有这些实施例。

图1是本发明第一实施方式或第二实施方式的测量结构1的基本结构示意图。如图1所示，测量结构1包含一测量主系统10、至少一单一模拟信号供应装置20、至少一单对多模拟信号输出接口30及一待测装置40。测量主系统10可具有一测试模块12，测试模块12可包含电源供应模块(DPS)及/或脚位电子模块(PE)等测量所需的元件，且不限于此。单一模拟信号供应装置20可根据测量主系统10的指令(S1)而提供一模拟信号(S2)。单对多模拟信号输出接口30可接收来自单一模拟信号供应装置20的模拟信号(S2)，并提供多个通道(ch)以将模拟信号(S2)同步输出。此外，并不以此为限制，在一较佳的实施例中，单一模拟信号供应装置20包含记忆波形的内存，可调节频率时钟周期及不同的增益值，产生不同范围的电压，如±1V/±2V/±4V/±8V等，且可产生不同偏移准位的输出，如+10V到-10V。再者，单一模拟信号供应装置20包含数字模拟转换器(DAC)及滤波器(Filter)，并由一处理器来产生任意波形作为输出。上述内存与数字模拟转换器(DAC)及滤波器(Filter)等，要调节控制的控制参数(如电压范围、偏移值等)，可搭接测量主系统10，以设定控制参数，而同步信号的指令(S1)由测量主系统10所控制。待测装置40可以是载体，其上可放置多个待测物，每个待测物分别对应该多个通道(ch)中的其中一通道，使该多个待测物分别接收通过该多个通道(ch)的其中一通道的模拟信号(S2)。此外，第一实施方式是指单一模拟信号供应装置20与单对多模拟信号输出接口30具有相同数量的情况；第二实施方式是指单一模拟信号供应装置20与单对多模拟信号输出接口30具有不同数量的情况。

测试模块12，例如，电源供应模块(DPS)及/或脚位电子模块(PE)，可进行各种测量控制，由于现有技术已广泛使用，故在此不再详述。测量主系统10可将测量待测物所需的时序、信号大小等信息以指令(S1)的实施方式传送至单一模拟信号供应装置20，以使单一模拟信号供应装置20来产生相对应的模拟信号(S2)，但本发明不限于此。在一实施例中，测量主系统10可传送一信号(例如指令(S1))来通知单一模拟信号供应装置20开始产生模拟信号(S2)。

单一模拟信号供应装置20可设置于测量主系统10中，例如可与测量主系统10连接或整合于测量主系统10之中，但测量模块12也可为独立的模块，设置于测量主系统10外部。单对多模拟信号输出接口30与单一模拟信号供应装置20的输出端连接，以接收单一模拟信号供应装置20所产生的模拟信号(S2)。单对多模拟信号输出接口30可设置于测量主系统10中，但也可设置于测量主系统10外部。

在一实施例中，单一模拟信号供应装置20与单对多模拟信号输出接口30可实现为设计于同一个印刷电路板(PCB)上而直接提供多通道输出。在一实施例中，单一模拟信号供应装置20与单对多模拟信号输出接口30还可实现为设计于测量主系统10的一个子电路板上。在一实施例中，单对多模拟信号输出接口30还可实现为设计在测量主系统10外部的子电路板上，并以信号线来引入模拟信号。需注意的是，本发明的实现方式并不限于上述设计。

待测装置40可具有多个信号输入端(图未显示)，每个信号输入端可与单对多模拟信号输出接口30的该多个通道(ch)的其中一通道连接以接收模拟信号(S2)。此外，每个信号输入端可对应一个待测物，以使待测物接收模拟信号(S2)而进行测量。其中，当每个信号输入端同步接收模拟信号(S2)时，每个待测物即可同步被测量，且本发明不限于此。

通过单对多模拟信号输出接口30的设置，本发明只需一个单一模拟信号供应装置20，即可将模拟信号(S2)同步传送给多个待测物，因此可节省许多成本，且由于模拟信号(S2)来源皆是同一个单一模拟信号供应装置20，亦不会产生时序不一致的问题。接着将详细说明单对多模拟信号输出接口30的具体构造。

图2是本发明第一实施方式或第二实施方式的单对多模拟信号输出接口30的具体结构示意图。如图2所示，单对多模拟信号输出接口30可包括一初阶通道子接口30(a)，初阶通道子接口30(a)包括并联的i个子通道31，每个子通道31分别连接一个子输出单元32，其中i为大于或等于1的正整数。在一实施例中，每个子输出单元32可以是缓冲器、放大器、增益位移调整电路或具备将信号输出电路功能的类似元件；在另一实施例中，每个子输出单元32还可由多个缓冲器、放大器、增益位移调整电路或类似元件来构成，且不限于此。在一实施例中，每个通道子接口(例如初阶第一通道子接口30(a))内的子输出单元32皆是相同的元件，但并非限定。

请再次参考图2，本发明的单对多模拟信号输出接口30可具有多阶通道子接口。在一实施例中，除了初阶通道子接口30(a)外，单对多模拟信号输出接口(30)更具有i个次阶通道子接口30(b)，每个次阶通道子接口30(b)分别与初阶通道子接口30(a)的一个子输出单元32连接，以分别从初阶通道子接口30(a)的子输出单元32接收模拟信号(S2)。每个次阶通道子接口30(b)具有j个并联的子通道31，其中j为大于或等于1的正整数，且每个子通道31分别连接一个子输出单元32。

进一步地，单对多模拟信号输出接口30可更具有j个三阶通道子接口30(c)，每个三阶通道子接口30(c)分别与次阶通道子接口30(b)的一个子输出单元32连接，以分别从次阶通道子接口30(b)的子输出单元32接收模拟信号(S2)。每个三阶通道子接口30(c)具有k个并联的子通道31，其中k为大于或等于1的正整数，且每个子通道31分别连接一个子输出单元32。

因此，假如单对多模拟信号输出接口30仅具有一个初阶通道子接口30(a)，则当一个模拟信号(S2)输入至单对多模拟信号输出接口30后，单对多模拟信号输出接口30可同步输出i个模拟信号(S2)。又，假如单对多模拟信号输出接口30具有初阶通道子接口30(a)(具有i个子通道31)、i个次阶通道子接口30(b)(分别具有j个子通道31)以及j个三阶通道子接口30(c)(分别具有k个子通道31)，则当一个模拟信号(S2)输入至单对多模拟信号输出接口30后，单对多模拟信号输出接口30可同步输出i×j×k个模拟信号(S2)。须注意的是，上述关于单对多模拟信号输出接口30的内部元件的数量仅是举例，实际上可以有更多或更少的元件数量，且每一阶的子通道接口所具有的具体元件数量亦可不同，并可任意搭配。

此外，在一实施例中，初阶第一通道子接口30(a)、次阶第一通道子接口30(b)、三阶第一通道子接口30(c)更可连接一外部信号输入端60，例如增益信号总线(Gain Bus)、位移信号总线(Offset Bus)等，以从外部接收一增益信号或一位移信号。借此，当有需要调整通过初阶第一通道子接口30(a)、次阶第一通道子接口30(b)或三阶通道子接口30(c)的模拟信号(S2)时，即可通过外部输入信号的实施方式来调整。

接下来将说明本发明的测量结构1的多种实施实施方式，为了方便说明，单对多模拟信号输出接口30是以输出N个模拟信号(即具有N个输出通道，其中N为大于1的正整数)来举例。此外，假如以下实施例是具有多个单对多模拟信号输出接口30的情况时，则以下实施例亦是以每个单对多模拟信号输出接口30皆输出N个模拟信号来举例，但实际上每个单对多模拟信号输出接口30的内部结构亦可不同，即每个单对多模拟信号输出接口30可输出不同数量的模拟信号。

图3是本发明第一实施例(第一实施方式)测量结构1的详细结构示意图。如图3所示，本实施例的测量结构1具有一测量主系统10、一测试模块12、一单一模拟信号供应装置20、一单对多模拟信号输出接口30及一待测装置40。在本实施例中，测试模块12、单一模拟信号供应装置20及单对多模拟信号输出接口30是设置于测量主系统10中，单一模拟信号供应装置20连接至单对多模拟信号输出接口30，其中单对多模拟信号输出接口30具有N个通道。此外，待测装置40上可放置N个待测物，每个待测物分别连接一个通道，以接收由该通道所传送的模拟信号(S2)。在工作时，测量主系统10传送指令(S1)至单一模拟信号供应装置20，使单一模拟信号供应装置20产生一个模拟信号(S2)并输入至单对多模拟信号输出接口30，同时测量主系统10的测试模块12供应N个待测物测量所需的电源供应模块(DPS)及/或脚位电子模块(PE)的数字信号；当模拟信号(S2)通过单对多模拟信号输出接口30后，可同步从N个通道上输出至待测装置40上的N个待测物。借此，本实施例可同步测量N个待测物，且由于模拟信号(S2)来源皆是同一个单一模拟信号供应装置20，亦不会产生时序不一致的问题；并且通过单对多模拟信号输出接口30的设置，可减少单一模拟信号供应装置20的数量，大幅减低成本。

图4是本发明第二实施例(第一实施方式)测量结构1的详细结构示意图。如图4所示，本实施例的测量结构1具有一测量主系统10、一测试模块12、M个单一模拟信号供应装置20、M个单对多模拟信号输出接口30及一待测装置40，其中M可为正整数。在本实施例中，M为大于或等于1的正整数，但本发明不限于此。在本实施例中，测试模块12、M个单一模拟信号供应装置20及M个单对多模拟信号输出接口30皆设置于测量主系统10中，且每个单一模拟信号供应装置20分别连接一个单对多模拟信号输出接口30，其中每个单对多模拟信号输出接口30分别具有N个通道。此外，待测装置40上可放置M×N个待测物，且每个待测物分别连接所有通道(总共为M×N个通道)中的其中一个通道。在工作时，测量主系统10传送指令(S1)至每个单一模拟信号供应装置20，使每个单一模拟信号供应装置20产生一个模拟信号(S2)并输入至所连接的单对多模拟信号输出接口30，同时测量主系统10的测试模块12还供应M×N个待测物测量所需的电源供应模块(DPS)及脚位电子模块(PE)的数字信号；当模拟信号(S2)通过单对多模拟信号输出接口30后，可同步从N个通道上输出N个模拟信号(S2)，因此总共可同步输出M×N个模拟信号(S2)。由于每个单一模拟信号供应装置20皆设置至于测量主系统10中，该多个产生模拟信号(S2)的时序可一致，进而M×N个待测物的测量时序可一致。借此，本实施例可同步测量M×N个待测物，且由于M个单一模拟信号供应装置20皆设置于同一测量主系统10中，并不会产生因外部触发延迟而导致时序不一致的问题；并且通过单对多模拟信号输出接口30的设置，可减少单一模拟信号供应装置20的数量，大幅减低成本。

图5是本发明第三实施例(第一实施方式)测量结构1的详细结构示意图。如图5所示，本实施例的测量结构1具有一测量主系统10、一测试模块12、一单一模拟信号供应装置20、一单对多模拟信号输出接口30及一待测装置40。本实施例与图3的第一实施例的结构大致类似，故以下仅详述差异之处。本实施例的单一模拟信号供应装置20是设置于测量主系统10中，而单对多模拟信号输出接口30是设置于测量主系统10外部。与图3实施例相似，本实施例可同步测量N个待测物(待测物1至待测物N)，且由于模拟信号(S2)来源皆是同一个单一模拟信号供应装置20，亦不会产生时序不一致的问题；并且通过单对多模拟信号输出接口30的设置，可减少单一模拟信号供应装置20的数量，大幅减低成本。

图6是本发明第四实施例(第一实施方式)测量结构1的详细结构示意图。如图6所示，本实施例的测量结构1具有一测量主系统10、一测试模块12、M个单一模拟信号供应装置20、M个单对多模拟信号输出接口30及一待测装置40，其中M可为正整数。在本实施例中，M为大于或等于1的正整数，但本发明不限于此。本实施例与图4的第二实施例的结构大致类似，故以下仅详述差异之处。本实施例的测试模块12、M个单一模拟信号供应装置20是设置于测量主系统10中，而M个单对多模拟信号输出接口30是设置于测量主系统10外部。与图4的实施例相似，本实施例可同步测量M×N个待测物(待测物1至待测物MN)，且由于M个单一模拟信号供应装置20皆设置于同一测量主系统10中，并不会产生彼此间因外部触发延迟而导致时序不一致的问题；并且通过单对多模拟信号输出接口30的设置，可减少单一模拟信号供应装置20的数量，大幅减低成本。

图7是本发明第五实施例(第一实施方式)测量结构1的详细结构示意图。如图7所示，本实施例的测量结构1具有一测量主系统10、一测试模块12、一个单一模拟信号供应装置20、一个单对多模拟信号输出接口30及一待测装置40。本实施例与图3的第一实施例的结构大致类似，故以下仅详述差异之处。本实施例的单一模拟信号供应装置20及单对多模拟信号输出接口30是设置于测量主系统10外部。与图3的第一实施例相似，本实施例可同步测量N个待测物(待测物1至待测物N)，且由于每个模拟信号(S2)的来源皆为同一个单一模拟信号供应装置20，并不会产生待测物(待测物1至待测物N)彼此测量时序不一致的问题；并且通过单对多模拟信号输出接口30的设置，可减少单一模拟信号供应装置20的数量，大幅减低成本。

图8是本发明第六实施例(第一实施方式)测量结构1的详细结构示意图。如图8所示，本实施例的测量结构1具有一测量主系统10、一测试模块12、M个单一模拟信号供应装置20、M个单对多模拟信号输出接口30及一待测装置40，其中M可为正整数。在本实施例中，M为大于1或等于的正整数，但本发明不限于此。本实施例与图4的第二实施例的结构大致类似，故以下仅详述差异之处。本实施例的M个单一模拟信号供应装置20及M个单对多模拟信号输出接口30设置于测量主系统10外部。与图4的第二实施例相似，本实施例可同步测量M×N个待测物(待测物1至待测物N)，且通过单对多模拟信号输出接口30的设置，可减少单一模拟信号供应装置20的数量，大幅减低成本。

须注意的是，图3至图8的实施例是测量结构1(第一实施方式)的简化结构，其元件的数量皆仅是举例，并非本发明的限定。

虽上述测量结构1的第一实施方式的实施例中，单一模拟信号供应装置20与单对多模拟信号输出接口30的数量相等，但本发明不限于此。图9至图12是本发明测量结构1的第二实施方式的多个实施例的详细结构示意图。第二实施方式的实施例的特点在于，单对多模拟信号输出接口30的数量比单一模拟信号供应装置20的数量多，例如单一模拟信号供应装置20是K个，则单对多模拟信号输出接口30的数量为大于K个，其中K为正整数。此外，单一模拟信号供应装置20与该多个单对多模拟信号输出接口30的第一部分(例如K个)连接，第一部分的单对多模拟信号输出接口30的通道则分别与单对多模拟信号输出接口30的第二部分(剩余的单对多模拟信号输出接口30)之一连接。

图9是本发明第七实施例的测量结构1(第二实施方式)的详细结构示意图。如图9所示，本实施例的测量结构1具有一测量主系统10、一测试模块12、一单一模拟信号供应装置20、(N+1)个单对多模拟信号输出接口30及一待测装置40，其中每个单对多模拟信号输出接口30可提供N个通道(但本发明不限于此)。测试模块12、单一模拟信号供应装置20、(N+1)个单对多模拟信号输出接口30皆设置于测量主系统10中，且单一模拟信号供应装置20与其中一个单对多模拟信号输出接口30连接，该其中一个单对多模拟信号输出接口30的N个通道则分别与剩余N个单对多模拟信号输出接口30之一连接。当测量主系统10传送指令至单一模拟信号供应装置20时，单一模拟信号供应装置20产生一模拟信号(S2)至该其中一个单对多模拟信号输出接口30，之后模拟信号(S2)同步于该其中一个单对多模拟信号输出接口30的N个通道而输出至剩余N个单对多模拟信号输出接口30，并再次经由通过剩余N个单对多模拟信号输出接口30而同步输出更多个(例如N×N个)模拟信号(S2)至待测装置40。借此，本实施例可同步对N×N个待测物(待测物1至待测物(N×N))进行测量。由于每个待测物所接收的模拟信号(S2)皆来自相同的单一模拟信号供应装置20，并不会产生待测物彼此测量时序不一致的问题。此外，本实施例仅需要一个单一模拟信号供应装置20即可测量多个待测物，可节省大量成本。

图10是本发明第八实施例的测量结构1(第二实施方式)的详细结构示意图。如图10所示，本实施例的测量结构1具有一测量主系统10、一测试模块12、一单一模拟信号供应装置20、(N+1)个单对多模拟信号输出接口30及一待测装置40，其中每个单对多模拟信号输出接口30可提供N个通道(但本发明不限于此)。此外，单一模拟信号供应装置20与其中一个单对多模拟信号输出接口30连接，该其中一个单对多模拟信号输出接口30的N个通道则分别与剩余N个单对多模拟信号输出接口30之一连接。本实施例与图9的第七实施例的结构大致类似，故以下仅详述差异之处。本实施例的单一模拟信号供应装置20是设置于测量主系统10中，而(N+1)个单对多模拟信号输出接口30是设置于测量主系统10外部。与图9的第七实施例相似，本实施例可同步测量N×N个待测物(待测物1至待测物(N×N))。借此，本实施例的每个待测物所接收的模拟信号(S2)皆来自相同的单一模拟信号供应装置20，并不会产生待测物彼此测量时序不一致的问题。此外，本实施例仅需要一个单一模拟信号供应装置20即可测量多个待测物，可节省大量成本。

图11是本发明第九实施例的测量结构1(第二实施方式)的详细结构示意图。如图11所示，本实施例的测量结构1具有一测量主系统10、一测试模块12、一单一模拟信号供应装置20、(N+1)个单对多模拟信号输出接口30及一待测装置40，其中每个单对多模拟信号输出接口30可提供N个通道(但本发明不限于此)。此外，单一模拟信号供应装置20与其中一个单对多模拟信号输出接口30连接，该其中一个单对多模拟信号输出接口30的N个通道则分别与剩余N个单对多模拟信号输出接口30之一连接。本实施例与图9的第七实施例的结构大致类似，故以下仅详述差异之处。本实施例的单一模拟信号供应装置20与该其中一个单对多模拟信号输出接口30是设置于测量主系统10中，而剩余N个单对多模拟信号输出接口30是设置于测量主系统10外部。与图9的第七实施例相似，本实施例可同步测量N×N个待测物(待测物1至待测物(N×N))。借此，本实施例的每个待测物所接收的模拟信号(S2)皆来自相同的单一模拟信号供应装置20，并不会产生待测物彼此测量时序不一致的问题。此外，本实施例仅需要一个单一模拟信号供应装置20即可测量多个待测物，可节省大量成本。

图12是本发明第十实施例的测量结构1(第二实施方式)的详细结构示意图。如图12所示，本实施例的测量结构1具有一测量主系统10、一测试模块12、一单一模拟信号供应装置20、(N+1)个单对多模拟信号输出接口30及一待测装置40，其中每个单对多模拟信号输出接口30可提供N个通道。此外，单一模拟信号供应装置20与其中一个单对多模拟信号输出接口30连接，该其中一个单对多模拟信号输出接口30的N个通道则分别与剩余N个单对多模拟信号输出接口30之一连接。本实施例与图9的第七实施例的结构大致类似，故以下仅详述差异之处。本实施例的单一模拟信号供应装置20、其中一个单对多模拟信号输出接口30以及剩余N个单对多模拟信号输出接口30皆设置于测量主系统10外部。与图9的第七实施例相似，本实施例可同步测量N×N个待测物(待测物1至待测物(N×N))。借此，本实施例的每个待测物所接收的模拟信号(S2)皆来自相同的单一模拟信号供应装置20，并不会产生待测物彼此测量时序不一致的问题。此外，本实施例仅需要一个单一模拟信号供应装置20即可测量多个待测物，可节省大量成本。

须注意的是，图9至图12的实施例是测量结构1(第二实施方式)的简化结构，其元件的数量皆仅是举例，并非本发明的限定。

除上述第一实施方式及第二实施方式外，本发明还可具有其它变化。图13是本发明第十一实施例(第三实施方式)的测量结构1的详细结构示意图。

如图13所示，本实施例的测量结构1包含一测试模块12、一第一模拟信号供应装置20-1、一第二模拟信号供应装置20-2、一多对多模拟信号输出接口70及一待测装置40。测试模块12及待测装置40与前述实施例相似，故不再详述。第一模拟信号供应装置20-1与第二模拟信号供应装置20-2可以是相同的装置，分别接收测量主系统10的指令而分别产生一第一模拟信号(S2-1)及一第二模拟信号(S2-2)。在一实施例中，第一模拟信号(S2-1)及第二模拟信号(S2-2)可以是相同模拟信号，并分别输入多对多模拟信号输出接口70的不同通道(在此情况下也可由单一模拟信号供应装置20来实现)。而在另一实施例中，第一模拟信号(S2-1)及第二模拟信号(S2-2)可以是不同的模拟信号，例如可彼此形成差动信号，并分别输入多对多模拟信号输出接口70的不同通道，但并非限定。在一实施例中，第一模拟信号供应装置20-1与第二模拟信号供应装置20-2可整合在一起，但并非限定。

多对多模拟信号输出接口70可具有一第一单对多模拟信号输出接口30-1及一第二单对多模拟信号输出接口30-2。第一单对多模拟信号输出接口30-1与第一模拟信号供应装置20-1连接，以接收第一模拟信号(S2-1)；第二单对多模拟信号输出接口30-2与第二模拟信号供应装置20-2连接，以接收第二模拟信号(S2-2)。第一单对多模拟信号输出接口30-1可提供(N1)个通道，以将第一模拟信号(S2-1)同步输出至待测装置40上的(N1)个待测物，以使(N1)个待测物同步测量，其中N1为大于或等于1的正整数；第二单对多模拟信号输出接口30-2可提供(N2)个通道，以将第二模拟信号(S2-2)同步输出至待测装置40上的(N2)个待测物，以使该(N2)个待测物同步测量，其中N2为大于或等于1的正整数。在一实施例中，N1与N2可相同也可不同，本发明并没有限定。由于本实施例可支持多信号输入，多对多模拟信号输出接口70可适用于单一模拟信号或差动信号的情况，而使得测量更为弹性。举例来说，在一实施例中，第一模拟信号(S2-1)与第二模拟信号(S2-2)可以是相同振幅而极性不同的信号，并分别输入至第一单对多模拟信号输出接口30-1及第二单对多模拟信号输出接口30-2；而当第一模拟信号(S2-1)与第二模拟信号(S2-2)同步输入至多对多模拟信号输出接口70时，即可如同输入差动信号，但不限于此。在另一实施例中，第一模拟信号(S2-1)与第二模拟信号(S2-2)可以是相同信号，并输入至第一单对多模拟信号输出接口30-1及第二单对多模拟信号输出接口30-2，再经由第一单对多模拟信号输出接口30-1及第二单对多模拟信号输出接口30-2而输出更多信号。在另一实施例中，还可仅将信号输入至第一单对多模拟信号输出接口30-1及第二单对多模拟信号输出接口30-2其中之一，但并非限定。而在另一实施例中，第一模拟信号(S2-1)与第二模拟信号(S2-2)可以是相同极性而不同振幅的信号，也可不同步有相位差地输入至第一单对多模拟信号输出接口30-1及第二单对多模拟信号输出接口30-2。

须注意的是，图13的实施例是测量结构1(第三实施方式)的简化结构，其元件的数量皆仅是举例，并非本发明的限定。

图14是本发明第三实施方式的多对多模拟信号输出接口70的具体结构示意图，并可参考图2。如图14所示，多对多模拟信号输出接口70可包括第一单对多模拟信号输出接口30-1及第二单对多模拟信号输出接口30-2。第一单对多模拟信号输出接口30-1可与图2中的第一单对多模拟信号输出接口30的结构相似，例如其可包括具有并联的i个子通道31及i个子输出单元的一个初阶第一通道子接口30(a)、具有并联的j个子通道31及j个子输出单元的i个次阶通道子接口30(b)及具有k个子通道31及k个子输出单元的j个三阶通道子接口30(c)，以输出i×j×k个第一模拟信号(S2)。相似地，第二单对多模拟信号输出接口30-2也可包括具有并联的i个子通道31及i个子输出单元的一个初阶通道子接口30(a)、具有并联的j个子通道31及j个子输出单元的i个次阶第一通道子接口30(b)及具有并联的k个子通道31及k个子输出单元的j个三阶通道子接口30(c)，以输出i×j×k个第二模拟信号(S2’)。须注意的是，上述关于第一单对多模拟信号输出接口30-1及第二单对多模拟信号输出接口30-2的内部元件的数量仅是举例，实际上可以有更多或更少的元件数量，且每一阶的子通道接口所具有的细部元件数量也可不同，并可任意搭配。

虽然本实施例的第一单对多模拟信号输出接口30-1及第二单对多模拟信号输出接口30-2具有相同的内部结构，但在其它实施例中，第一单对多模拟信号输出接口30-1及第二单对多模拟信号输出接口30-2还可具有不同结构，例如子通道接口的数量可不同，但并非限定。

此外，第一单对多模拟信号输出接口30-1及/或第二单对多模拟信号输出接口30-2的初阶第一通道子接口30(a)、次阶第一通道子接口30(b)、三阶第一通道子接口30(c)更可连接一外部信号输入端60，例如增益信号总线(Gain Bus)、位移信号总线(Offset Bus)等，以从外部接收一增益信号或一位移信号。借此，当有需要调整通过第一单对多模拟信号输出接口30-1及/或第二单对多模拟信号输出接口30-2的初阶通道子接口30(a)、次阶通道子接口30(b)或三阶通道子接口30(c)的模拟信号(S2)时，即可通过外部输入信号的实施方式来达成。

借此，本发明可解决待测物之间的时序与模拟信号不同步的问题，并提供减少昂贵的单一模拟信号供应装置的数量，以降低测量主系统所需空间或降低生产成本等功效。此外，本发明根据测量的需求还可轻易地调整模拟信号输出接口的结构，进而调整所输出的模拟信号内容。再者，本发明的模拟信号输出接口还可因应多信号源输入的情况，并可输出更多样性的信号至待测物。

以上所述的具体实施例，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施例而已，并不用于限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (13)

1.一种测量结构，包含：

一测量主系统，具有一测试模块；

至少一单一模拟信号供应装置，以根据测量主系统的指令而输出一模拟信号；

至少一单对多模拟信号输出接口，接收来自该单一模拟信号供应装置的该模拟信号，并提供多个通道以将该模拟信号同步输出；以及

一待测装置，用以放置多个待测物，使该多个待测物分别接收通过该至少一单对多模拟信号输出接口的该多个通道中的其中一通道的该模拟信号。

2.根据权利要求1所述的测量结构，其中该至少一单一模拟信号供应装置的数量为M个，该至少一单对多模拟信号输出接口的数量为M个，且每个单一模拟信号供应装置连接一个单对多模拟信号输出接口，其中M为正整数。

3.根据权利要求2所述的测量结构，其中该至少一单一模拟信号供应装置与该至少一单对多模拟信号输出接口设置于该测量主系统中。

4.根据权利要求2所述的测量结构，其中该至少一单一模拟信号供应装置设置于该测量主系统中，该至少一单对多模拟信号输出接口设置于该测量主系统外。

5.根据权利要求2所述的测量结构，其中该至少一单一模拟信号供应装置与该至少一单对多模拟信号输出接口设置于该测量主系统外。

6.根据权利要求1所述的测量结构，其中该至少一单对多模拟信号输出接口的数量比该至少一单一模拟信号供应装置的数量多，且该至少一单对多模拟信号输出接口的一第一部分分别与一单一模拟信号供应装置连接，且该至少一单对多模拟信号输出接口的一第二部分分别与该至少一单对多模拟信号输出接口的该第一部分所提供的多个通道中的其中一个通道连接。

7.根据权利要求6所述的测量结构，其中该至少一单一模拟信号供应装置与该至少一单对多模拟信号输出接口的该第一部分设置于该测量主系统中。

8.根据权利要求6所述的测量结构，其中该至少一单一模拟信号供应装置与该至少一单对多模拟信号输出接口的该第一部分设置于该测量主系统外。

9.根据权利要求1所述的测量结构，其中至少一单对多模拟信号输出接口包括一第一通道子接口，该第一通道子接口包括并联的i个子通道，且该第一通道子接口的每个子通道分别连接一个子输出单元，该子输出单元包括一缓冲器、一放大器或一增益位移调整电路，其中i为大于或等于1的正整数。

10.根据权利要求9所述的测量结构，其中该第一通道子接口更连接一外部信号输入端(bus)，以从外部接收一增益信号或一位移信号。

11.一种测量结构，包含：

一测量主系统，具有一测试模块；

至少一模拟信号供应装置，以根据测量主系统的指令而输出一第一模拟信号与一第二模拟信号；

至少一第一单对多模拟信号输出接口，接收来自该至少一模拟信号供应装置的该第一模拟信号，并提供多个通道以将该第一模拟信号同步输出；

至少一第二单对多模拟信号输出接口，接收来自该至少一模拟信号供应装置的该第二模拟信号，并提供多个通道以将该第二模拟信号同步输出；以及

一待测装置，放置多个待测物，以供该多个待测物中的第一部分分别接收该至少一第一单对多模拟信号输出接口的该多个通道中的其中一通道所输出的该第一模拟信号，且该多个待测物中的第二部分分别接收该至少一第二单对多模拟信号输出接口的该多个通道中的其中一通道所输出的该第二模拟信号。

12.根据权利要求11所述的测量结构，其中该第一模拟信号与该第二模拟信号是差动信号，该差动信号定义为该第一模拟信号与该第二模拟信号具备相同振幅而不同极性，且该第一模拟信号输入至该第一单对多模拟信号输出接口，该第二模拟信号同步于该第一模拟信号而输入至该第二单对多模拟信号输出接口。

13.根据权利要求11所述的测量结构，其中每个该至少一模拟信号供应装置包括一第一单一模拟信号供应装置及一第二单一模拟信号供应装置，该第一单一模拟信号供应装置输出该第一模拟信号，该第二单一模拟信号供应装置输出该第二模拟信号。