CN2909278Y - 可同时测试多个待测物的装置 - Google Patents

可同时测试多个待测物的装置 Download PDF

Info

Publication number
CN2909278Y
CN2909278Y CN 200520011965 CN200520011965U CN2909278Y CN 2909278 Y CN2909278 Y CN 2909278Y CN 200520011965 CN200520011965 CN 200520011965 CN 200520011965 U CN200520011965 U CN 200520011965U CN 2909278 Y CN2909278 Y CN 2909278Y
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
test signal
exported
determinand
model
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN 200520011965
Other languages
English (en)
Inventor
郑为元
曾力民
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BenQ Corp
Original Assignee
BenQ Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BenQ Corp filed Critical BenQ Corp
Priority to CN 200520011965 priority Critical patent/CN2909278Y/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN2909278Y publication Critical patent/CN2909278Y/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)

Abstract

本实用新型提出一种可同时测试多个待测物的装置,藉由多任务器将测试时的测试信号多任务或选择输出,以供多个待测物或指定待测物作为测试的用。在本实用新型中,可同时对多个待测物进行测试,因此本实用新型具有降低测试时的复杂度、加快测试速度、减少成本支出等优点。

Description

可同时测试多个待测物的装置
技术领域
本实用新型涉及一种测试待测物的装置,特别是涉及一种利用多任务器且可同时测试多个待测物的装置。
背景技术
目前电子产品的测试,主要以测试机台通过多通道传输端口输出测试信号,且将不同项目的测试信号输入至电子产品,以对电子产品进行各项目的测试。
请参考图1,图1为现有数字相机传感器的测试机台的示意图。在图1中,测试机台100包括有微处理器110、高速缓存120、多个周边连接接口,如感应连接接口130、电源连接接口140、显示连接接口150、声音连接接口160、储存连接接口170等。其中,微处理器110可产生测试信号,并通过多通道传输端口180将测试信号输出,以将测试信号输入至数字相机的传感器195(待测物),以对数字相机的传感器进行测试。测试机台100各周边连接接口则可将测试结果输出,如通过显示连接接口150显示在显示器上,或通过储存连接接口170储存在储存设备上。
在测试过程中,测试机台100通过多通道传输端口180输出测试信号。且由于测试机台100通常必须测不同数字相机的传感器195进行测试,因此测试机台100的多通道传输端口180所输出的测试信号需通过转接板190,以对不同数字相机的传感器195。
举例来说,若要测试数字相机的传感器195,测试机台100其多通道传输端口180必须耦接对应传感器195连接接口的转换板190,才可对传感器195进行测试。且在完成对此传感器195的测试后,需将传感器195由转换板190上拔下,再将下一台数位相机的传感器(未示出)插至转换板190,测试机台100才可对下一台数字相机的传感器进行测试;且当测试项目需要数字相机作内部测试,如内存多次存取删除测试,而需要一段相当久的时间才回回报测试结果,此时测试机台100则只能静止等待数字相机内部测试结束才能继续后续测试项目。这样的测试机制,将导致整个测试流程缓慢以及耗时,且无法再检测或重测上一台数字相机的传感器195。
有鉴于此,本实用新型提出一种可同时测试多个待测物的方法及装置,藉由本实用新型,不仅可节省测试时间、人力成本,还可将测试时的复杂度简单化。
实用新型内容
本实用新型的主要目的是使测试机台可同时测试多个待测物,以节省测试时间、人力成本。
为实现上述目的,本实用新型提出一种可同时测试多个待测物的装置,其包括有测试机台以及多任务装置。其中,测试机台具有多通道传输端口,测试机台可通过多通道传输端口输出测试信号。多任务装置为接收上述测试信号,以将测试信号选择性地分配输出至多个待测物。
在本实用新型较佳实施例中,多任务装置包括有集线器、多个多任务器、位选择器,以及连接端口。且其中,集线器接收测试信号以多路径输出。多个多任务器接收由集线器所输出的测试信号,以对测试信号选择输出。位选择器为输出多个控制信号至多任务器,以决定这些多任务器所输出的测试信号。连接端口,则接收由多任务器所输出的测试信号,且通过连接端口,多任务器所输出的测试信号可输入至待测物。
在本实用新型较佳实施例中,多通道传输端口为具有30支针脚,多任务器为1对16多任务器,位选择器为四位选择器,连接端口的输出接口为由多个多通道传输端口所组成。
本实用新型还针对不同信号输入接口的待测物,本实用新型测试装置还包括有多个转换装置,其具有与待测物信号连接的接口,以将测试信号顺利传输至待测物。
附图说明
图1为现有数字相机传感器的测试机台的示意图。
图2为本实用新型较佳实施例的可同时测试多个待测物的装置的示意图。
图3为本实用新型较佳实施例的可同时测试多个待测物的方法的流程步骤图。
附图符号说明:
100:测试机台
110:微处理器
120:高速缓存
130:感应连接接口
140:电源连接接口
150:显示连接接口
160:声音连接接口
170:储存连接接口
180:多通道传输端口
190、270:转换板
195:传感器
200:测试装置
210:多任务装置
220:集线器
230:多任务器
240:位选择器
250:连接端口
260:待测物
301、302:待测物
具体实施方式
为使对本实用新型的特征、目的及功能有更进一步的认知与了解,现结合附图详细说明如下。
请参考图2,图2为本实用新型较佳实施例的可同时测试多个待测物的装置的示意图。此测试装置200主要包括有测试机台100以及多任务装置210。其中,图2测试机台100与图1相同,因此以相同符号代表;多任务装置210则包括有集线器220、多个多任务器230、位选择器240,以及连接端口250。
由测试机台100多通道传输端口180(具有30支针脚)所输出的测试信号(未示出),可由集线器220接收后,以多路径方式输出至多任务器230。集线器220可将测试信号分配至多任务器230,且通过位选择器240控制,以决定多任务器230输出测试信号的输出路径。
在本实用新型的较佳实施例中,多任务器230为1对16的多任务器,因此,通过一以4位作为选择控制的位选择器240控制测试信号于每一多任务器230的输出,测试信号将可藉由多任务器230多任务输出,且供16个待测物260作为测试之用,或指定给16个待测物260中的其一作为测试之用。而由多任务器230所输出的测试信号将藉由连接端口250(相当于多个多通道传输端口所组成,以对应多个转换板270)输出;另外位选择器240亦可依据测试机台100所要执行的测试项目所需执行时间进行待测物260的选择,例如,测试项目A所需待测物260所需执行时间为T,当对第一个待测物260下达测试项目A的指令,在执行时间T的时间内,位选择器240可选择其它的待测物260下达其它测试项目指令,待第一个待测物260完成测试项目A时,位选择器240再选择第一个待测物260读取测试项目A的测试结果,藉以节省整体的测试时间。
并且,为了对应待测物260的输入规格,连接端口250可耦接可将测试信号转换为待测物260可接受输入规格的转换装置,如转换板270。而通过连接端口250耦接转换板270且转换板270耦接待测物260的情况下,可顺利将由多任务器230选择性分配输出的测试信号顺利输入至被选择的待测物260。
因此,测试装置200内由测试机台100所产生的测试信号,可藉由多任务装置210多任务且选择性地输出至待测物260。
测试装置200的测试流程,请参考图3,图3为本实用新型较佳实施例的可同时测试多个待测物的方法的流程步骤图。请同时参考图3,首先,由多任务装置210接收由测试机台100所输出的测试信号,此为步骤301。接着通过多任务装置210,将测试信号选择性地分配至被选择的待测物260,此为步骤302。
在本实用新型较佳实施例中,步骤302在将测试信号分配至待测物260的同时,可将相同测试项目的测试信号藉由多任务装置210同时分配至待测物260,每一待测物260皆可同时接受相同测试项目的测试。且若待测物进260在进行某一项目的测试时,发现其它已进行项目的测试出现错误,由于不需将待测物260由转换板270拔下,因此可针对出现错误的测试项目,对待测物260重新进行出现错误项目的测试。
本实用新型优点在于:
(1)由于测试信号可藉由多任务器达到多任务输出以及选择输出,因此藉由本实用新型,可同时对多个待测物进行测试。
(2)由于本实用新型可同时对多个待测物进行测试,测试的速度以及所需的时间与现有技术相比较,将可大幅加快测试速度以及减少测试时间。
(3)本实用新型的输出脚位可利用转换板适应待测物间的输入脚位,使得本实用新型可应用于对不同产品进行测试,本实用新型具有于测试时具有弹性以及可重复利用性,可达到节省成本的经济效益。
(4)本实用新型可针对测试时待测物的数量,改变多任务器的输入数与输出数比例,并改变位选择器用来控制的位数,以去除测试流程的复杂度,且更节省时间及人力成本。。
综上所述,本实用新型提出一种可同时测试多个待测物的方法及装置,藉由多任务器将测试时的测试信号多任务或选择输出,以供多个待测物或指定待测物作为测试的用。由于本实用新型可同时对多个待测物进行测试,与现有技术相比,本实用新型具有降低测试时的复杂度、加快测试速度、减少成本支出等优点。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例,不能以此限制本实用新型的范围。依照本实用新型权利要求所做的均等变化及修饰,仍将不脱离本实用新型的精神和范围,故均应视为本实用新型的进一步实施状况。

Claims (5)

1.一种可同时测试多个待测物的装置,其特征包括:
一测试机台,具有一多通道传输端口,该测试机台可通过该多通道传输端口输出一测试信号;以及
一多任务装置,接收该测试信号,以将该测试信号选择性地分配输出至所述待测物。
2.如权利要求1所述的可同时测试多个待测物的装置,其特征是该多任务装置包括:
一集线器,接收该测试信号以多路径输出;
多个多任务器,接收由该集线器所输出的该测试信号,以对该测试信号选择输出;
一位选择器,输出多个控制信号至所述多任务器,以决定所述多任务器所输出的该测试信号;以及
一连接端口,接收由所述多任务器所输出的测试信号,且通过该连接端口,由所述多任务器所输出的测试信号可输入至所述待测物。
3.如权利要求2所述的可同时测试多个待测物的装置,其特征是该多通道传输端口具有30支针脚,所述多任务器为1对16多任务器,该位选择器为一四位选择器,该连接端口的输出接口为由多个该多通道传输端口所组成。
4.如权利要求2所述的可同时测试多个待测物的装置,其特征是还包括:
多个转换装置,具有对应所述待测物的连接接口,所述转换装置接收由该连接端口所输出的该测试信号,以将该测试信号输入至所述待测物。
5.如权利要求4所述的可同时测试多个待测物的装置,其特征是该转换装置为一转换板。
CN 200520011965 2005-05-09 2005-05-09 可同时测试多个待测物的装置 Expired - Fee Related CN2909278Y (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN 200520011965 CN2909278Y (zh) 2005-05-09 2005-05-09 可同时测试多个待测物的装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN 200520011965 CN2909278Y (zh) 2005-05-09 2005-05-09 可同时测试多个待测物的装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN2909278Y true CN2909278Y (zh) 2007-06-06

Family

ID=38128495

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN 200520011965 Expired - Fee Related CN2909278Y (zh) 2005-05-09 2005-05-09 可同时测试多个待测物的装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN2909278Y (zh)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101923008B (zh) * 2009-06-09 2012-09-26 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 散热器测试机台控制系统及方法
CN103973858A (zh) * 2014-05-21 2014-08-06 重庆泰凯科技有限公司 移动终端的自动测试系统
CN104764942A (zh) * 2014-01-02 2015-07-08 致茂电子股份有限公司 自动测试设备及其控制方法
CN105527523A (zh) * 2016-01-14 2016-04-27 苏州成科自控设备有限公司 一种用于执行器调试的驱动切换装置
CN106940424A (zh) * 2016-01-05 2017-07-11 德律科技股份有限公司 多机箱测试装置及其测试信号传送装置
CN110389262A (zh) * 2018-04-17 2019-10-29 京元电子股份有限公司 测量结构
CN111239525A (zh) * 2020-02-27 2020-06-05 深圳市博多电子有限公司 一种基于变压器的测试装置及测试方法
CN113254285A (zh) * 2021-05-25 2021-08-13 海光信息技术股份有限公司 复合式测试装置、设备接口测试的方法及系统

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101923008B (zh) * 2009-06-09 2012-09-26 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 散热器测试机台控制系统及方法
CN104764942A (zh) * 2014-01-02 2015-07-08 致茂电子股份有限公司 自动测试设备及其控制方法
CN104764942B (zh) * 2014-01-02 2018-08-14 致茂电子股份有限公司 自动测试设备及其控制方法
CN103973858A (zh) * 2014-05-21 2014-08-06 重庆泰凯科技有限公司 移动终端的自动测试系统
CN103973858B (zh) * 2014-05-21 2016-06-29 重庆泰凯科技有限公司 移动终端的自动测试系统
CN106940424B (zh) * 2016-01-05 2020-02-07 德律科技股份有限公司 多机箱测试装置及其测试信号传送装置
CN106940424A (zh) * 2016-01-05 2017-07-11 德律科技股份有限公司 多机箱测试装置及其测试信号传送装置
CN105527523A (zh) * 2016-01-14 2016-04-27 苏州成科自控设备有限公司 一种用于执行器调试的驱动切换装置
CN110389262A (zh) * 2018-04-17 2019-10-29 京元电子股份有限公司 测量结构
CN110389262B (zh) * 2018-04-17 2022-11-18 京元电子股份有限公司 测量结构
CN111239525A (zh) * 2020-02-27 2020-06-05 深圳市博多电子有限公司 一种基于变压器的测试装置及测试方法
CN113254285A (zh) * 2021-05-25 2021-08-13 海光信息技术股份有限公司 复合式测试装置、设备接口测试的方法及系统
CN113254285B (zh) * 2021-05-25 2023-02-28 海光信息技术股份有限公司 复合式测试装置、设备接口测试的方法及系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN2909278Y (zh) 可同时测试多个待测物的装置
CN1519573A (zh) 包括扫描测试电路的集成电路器件及其测试方法
CN1211737A (zh) 集成电路芯片测试器及其测试方法
CN1038792C (zh) 三维计算机图形设备
CN1100294C (zh) 能防止程序故障的中央处理单元
CN101051404A (zh) Atm出钞模组控制系统装置
CN1101961C (zh) 带有多个触发器的半导体集成电路
CN1879027A (zh) 测试装置及测试方法
CN1932733A (zh) 响应于热键输入而输出图标的系统和方法
CN1482661A (zh) 通用数字电路仿真测试系统及测试方法
CN1856712A (zh) 用于优化电子电路的测试和配置吞吐量的系统和方法
CN101046775A (zh) 可锁定码的快取及其处理器、控制器与控制方法
CN1182881A (zh) 集成电路
CN2664842Y (zh) 显示面板的夹持治具
CN110683327B (zh) 一种样本架调度机构及方法
CN100397359C (zh) 主机板的自动控制测试系统及方法
CN1774700A (zh) 逻辑分析仪的资料撷取处理方法及其装置
CN1293387C (zh) 支持多虚拟逻辑测试仪的半导体测试系统
CN1928578A (zh) 测试电路及其测试方法
CN1315018C (zh) 时钟脉冲切换系统及其时钟脉冲切换方法
CN101782870B (zh) 存储器装置与其控制方法
CN1684042A (zh) 多种互斥条件下的多模式测试系统及其方法
US11835577B2 (en) Method for allocating addresses and corresponding units
CN1619325A (zh) 一种边界扫描测试控制器及边界扫描测试方法
CN1154931C (zh) 流水线式-脉冲式-单指令多数据阵列处理结构及其方法

Legal Events

Date Code Title Description
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C19 Lapse of patent right due to non-payment of the annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee