TWI645202B - 量測架構 - Google Patents

Abstract

本發明係提供一種量測架構，包含量測主系統、測試模組、單一類比 訊號供應裝置、單對多類比訊號輸出介面及待測載具。單一類比訊號供應裝置根據量測主系統的指令而輸出一類比訊號；單對多類比訊號輸出介面接收來自單一類比訊號供應裝置的類比訊號，並提供多個通道以將類比訊號同步輸出；待測裝置放置多個待測物，以供待測物各自接收通過該等通道中的其中一通道的類比訊號。

Description

量測架構

本發明係關於一種量測架構，特別係一種適用於量測多個待測物的量測架構。

現有的量測架構通常會將單一類比訊號供應裝置裝設於獨立的機箱中，其運作的時序與量測主系統各自分離，且每個待測物會搭配一個單一類比訊號供應裝置，因此在此架構下同時測試多個待測物時，有可能會發生待測物時序與類比訊號的時序不吻合的情況(例如某一個類比訊號裝置經由量測主系統觸發而產生類比訊號的時點出現延遲時)，因而造成量測失誤。此外，這種架構也需要提供額外的機箱給多個單一類比訊號供應裝置，會占用極大的空間。雖然目前也有架構是將單一類比訊號供應裝置設置於量測主系統中，使待測物的時序與類比訊號的時序同步，但當待測物的數量越多時，所需佔用的插槽也會越多，因此量測主系統會需要大量的系統資源及空間。另外，目前的量測架構中，在進行同步測試時，每個待測物會搭配一個單一類比訊號供應裝置，由於單一類比訊號供應裝置較為昂貴，只要待測物的數量較多，成本也會大幅提升。再者，若要從挑選硬體元件的方式使其內部訊號達到一致，會造成硬體 系統的製造成本更昂貴且製造時間更久，不符合需求，且此方式需要由撰寫相對應的軟體，亦非簡易之事。

有鑑於此，本發明提供一種新的量測架構來解決上述的問題。

本發明的一目的係提供一種量測架構，包含：一量測主系統、至少一單一類比訊號供應裝置、至少一單對多類比訊號輸出介面以及一待測裝置。量測主系統具有一測試模組；單一類比訊號供應裝置根據量測主系統的指令而輸出一類比訊號；至少一單對多類比訊號輸出介面接收來自單一類比訊號供應裝置的類比訊號，並提供複數個通道以將類比訊號同步輸出；待測裝置用以放置複數個待測物，使待測物各自接收通過該等通道中的其中一通道的類比訊號。藉此，本發明可解決待測物與類比訊號不同步的問題，並提供減少系統所需空間或降低生產成本等功效。

在一實施例中，至少一單一類比訊號供應裝置的數量為M個，至少一單對多類比訊號輸出介面的數量為M個，且每個單一類比訊號供應裝置連接一個單對多類比訊號輸出介面，其中M為正整數。在一實施例中，至少一單一類比訊號供應裝置與該至少一單對多類比訊號輸出介面係設置於該量測主系統中。在一實施例中，至少一單一類比訊號供應裝置係設置於該量測主系統中，該至少一單對多類比訊號輸出介面係設置於該量測主系統外。在一實施例中，至少一單一類比訊號供應裝置係設置與該至少一單對多類比訊號輸出介面係設置於該量測主系統外。

在一實施例中，至少一單一類比訊號供應裝置的數量為M個，至少一單對多類比訊號輸出介面的數量為N個，且至少一單對多類比訊號輸出介面的一第一部分係各自與一單一類比訊號供應裝置連接，且至少一單對多類比訊號輸出介面的一第二部分係各自與至少一單對多類比訊號輸出介面的第一部分所提供的其中一個通道連接，其中M為正整數，N為大於或等於M的正整數。在一實施例中，至少一單一類比訊號供應裝置與至少一單對多類比訊號輸出介面的第一部分係設置於該量測主系統中。在一實施例中，至少一單一類比訊號供應裝置與至少一單對多類比訊號輸出介面的第一部分係設置於該量測主系統外。

在一實施例中，至少一單對多類比訊號輸出介面係包括一第一通道子介面，第一通道子介面包括並聯的i個子通道，且第一通道子介面的每個子通道各自連接一個子輸出單元，子輸出單元包括緩衝器、放大器或增益位移調整電路，其中i為大於或等於1的正整數。在一實施例中，第一通道子介面更連接一訊號輸入匯流排(bus)，以從外部接收增益訊號或位移訊號。

本發明的另一目的係提供一種量測架構，包含：一量測主系統、至少一類比訊號供應裝置、至少一第一單對多類比訊號輸出介面、至少一第二單對多類比訊號輸出介面及一待測裝置。量測主系統，具有一測試模組；至少一類比訊號供應裝置根據量測主系統的指令而輸出一第一類比訊號與一第二類比訊號；至少一第一單對多類比訊號輸出介面接收第一類比訊號，並提供複數個通道以將第一類比訊號同步輸出；至少一第二單對多類比訊號輸出介面接收第二類比訊號，並提供複數個通道以將第二類比訊號同步輸出；待測裝置，放置多個待測物，以供該等待測物中的第一部分各自接收至少一第一單對多類比 訊號輸出介面的其中一通道所輸出的第一類比訊號，且該等待測物中的第二部分各自接收至少一第二單對多類比訊號輸出介面的其中一通道所輸出的第二類比訊號。藉此，本發明可解決待測物之間的時序與類比訊號不同步的問題，並提供減少系統所需空間或降低生產成本等功效。

在一實施例中，第一類比訊號與第二類比訊號是差動訊號，該差動訊號定義為該第一類比訊號與該第二類比訊號具備相同振福而不同極性，且該第一類比訊號輸入至該第一單對多類比訊號輸出介面，該第二類比訊號同步於該第一類比訊號而輸入至該第二單對多類比訊號輸出介面。

在一實施例中，每個至少一類比訊號供應裝置係包括一第一單一類比訊號供應裝置及一第二單一類比訊號供應裝置，第一單一類比訊號供應裝置輸出該第一類比訊號，第二單一類比訊號供應裝置輸出該第二類比訊號。

1‧‧‧量測架構

10‧‧‧量測主系統

20‧‧‧單一類比訊號供應裝置

30‧‧‧單對多類比訊號輸出介面

40‧‧‧待測裝置

12‧‧‧測試模組

S1‧‧‧指令

S2‧‧‧類比訊號

ch‧‧‧通道

30(a)‧‧‧初階通道子介面

30(b)‧‧‧次階通道子介面

30(c)‧‧‧三階通道子介面

31‧‧‧子通道

32‧‧‧子輸出單元

60‧‧‧外部訊號輸入端

20-1‧‧‧第一類比訊號供應裝置

20-2‧‧‧第二類比訊號供應裝置

S2-1‧‧‧第一類比訊號

S2-2‧‧‧第二類比訊號

70‧‧‧多對多類比訊號輸出介面

30-1‧‧‧第一單對多類比訊號輸出介面

30-2‧‧‧第二單對多類比訊號輸出介面

圖1是本發明第一態樣或第二態樣的量測架構的基本架構示意圖；圖2是本發明第一態樣或第二態樣的單對多類比訊號輸出介面的細部結構示意圖；圖3是本發明第一實施例(第一態樣)量測架構的詳細架構示意圖；圖4是本發明第二實施例(第一態樣)量測架構的詳細架構示意圖；圖5是本發明第三實施例(第一態樣)量測架構的詳細架構示意圖；圖6是本發明第四實施例(第一態樣)量測架構的詳細架構示意圖；圖7是本發明第五實施例(第一態樣)量測架構的詳細架構示意圖； 圖8是本發明第六實施例(第一態樣)量測架構的詳細架構示意圖；圖9是本發明第七實施例的量測架構(第二態樣)的詳細架構示意圖；圖10是本發明第八實施例的量測架構(第二態樣)的詳細架構示意圖；圖11是本發明第九實施例的量測架構(第二態樣)的詳細架構示意圖；圖12是本發明第十實施例的量測架構(第二態樣)的詳細架構示意圖；圖13是本發明第十一實施例(第三態樣)的量測架構的詳細架構示意圖；圖14是本發明第三態樣的多對多類比訊號輸出介面的細部結構示意圖。

以下將透過多個實施例說明本發明的量測設備的實施態樣及運作原理。本發明所屬技術領域中具有通常知識者，透過上述實施例可理解本發明的特徵及功效，而可基於本發明的精神，進行組合、修飾、置換或轉用。

本文所指的“連接”一詞係包括直接連接或間接連接等態樣，且並非限定。本文中關於”當…”、”…時”的一詞係表示”當下、之前或之後”，且並非限定。此外，本發明記載多個功效(或元件)時，若在多個功效(或元件)之間使用“或”一詞，係表示功效(或元件)可獨立存在，但亦不排除多個功效(或元件)可同時存在的態樣。另外，本發明中關於“連接”一詞，係表示包含直接連接及無線連接之態樣。再者，說明書中所使用的序數例如“第一實施例”、“第二實施例”等之用詞，以修飾本發明之實施例，其本身並不意含及代表實施例有任何之前的序數，也不代表某一實施例與另一實施例的順序，該些序數的使用僅用來修飾不同的實施例，且不限定本發明只具有這些實施例。

圖1是本發明第一態樣或第二態樣的量測架構1的基本架構示意圖。如圖1所示，量測架構1包含一量測主系統10、至少一單一類比訊號供應裝置20、至少一單對多類比訊號輸出介面30及一待測裝置40。量測主系統10可具有一測試模組12，測試模組12可包含電源供應模組(DPS)及/或腳位電子模組(PE)等量測所需的元件，且不限於此。單一類比訊號供應裝置20可根據量測主系統10的指令(S1)而提供一類比訊號(S2)。單對多類比訊號輸出介面30可接收來自單一類比訊號供應裝置20的類比訊號(S2)，並提供複數個通道(ch)以將類比訊號(S2)同步輸出。此外，並不以此為限制，於一較佳之實施例中，單一類比訊號供應裝置20包含記憶波形的記憶體，可調變頻率時脈週期及不同的增益值，產生不同範圍的電壓，如±1V/±2V/±4V/±8V等，且可產生不同偏移準位的輸出，如+10V到-10V。再者，單一類比訊號供應裝置20包含數位類比轉換器(DAC)及濾波器(Filter)，並由一處理器，以產生任意波形為輸出。上述記憶體與數位類比轉換器(DAC)及濾波器(Filter)等，欲調變控制之控制參數(如電壓範圍、偏移值等)，可搭接量測主系統10，以設定控制參數，而同步訊號的指令(S1)由量測主系統10所控制。待測裝置40可以是載體，其上可放置複數個待測物，每個待測物各自對應該等通道(ch)中的其中一通道，使該等待測物各自接收通過該等通道(ch)的其中一通道的類比訊號(S2)。此外，第一態樣是指單一類比訊號供應裝置20與單對多類比訊號輸出介面30具有相同數量的情況；第二態樣是指單一類比訊號供應裝置20與單對多類比訊號輸出介面30具有不同數量的情況。

測試模組12，例如，電源供應模組(DPS)及/或腳位電子模組(PE)，可進行各種量測控制，由於現有技術已廣泛使用，故在此不再詳述。量測主系統10可將量測待測物所需的時序、訊號大小等訊息以指令(S1)的方式傳送至單一 類比訊號供應裝置20，以使單一類比訊號供應裝置20來產生相對應的類比訊號(S2)，但本發明不限於此。在一實施例中，量測主系統10可傳送一訊號(例如指令(S1))來通知單一類比訊號供應裝置20開始產生類比訊號(S2)。

單一類比訊號供應裝置20可設置於量測主系統10中，例如可與量測主系統10連結或整合於量測主系統10之中，但量測模組12亦可為獨立之模組，設置於量測主系統10外部。單對多類比訊號輸出介面30與單一類比訊號供應裝置20的輸出端連接，以接收單一類比訊號供應裝置20所產生的類比訊號(S2)。單對多類比訊號輸出介面30可設置於量測主系統10中，但亦可設置於量測主系統10外部。

在一實施例中，單一類比訊號供應裝置20與單對多類比訊號輸出介面30可實現為設計於同一個印刷電路板(PCB)上而直接提供多通道輸出。在一實施例中，單一類比訊號供應裝置20與單對多類比訊號輸出介面30亦可實現為設計於量測主系統10的一個子電路板上。在一實施例中，單對多類比訊號輸出介面30亦可實現為設計在量測主系統10外部的子電路板上，並以訊號線來引入類比訊號。需注意的是，本發明的實現方式並不限於上述設計。

待測裝置40可具有多個訊號輸入端(圖未顯示)，每個訊號輸入端可與單對多類比訊號輸出介面30的該等通道(ch)的其中一通道連接以接收類比訊號(S2)。此外，每個訊號輸入端可對應一個待測物，以使待測物接收類比訊號(S2)而進行量測。其中，當每個訊號輸入端同步接收類比訊號(S2)時，每個待測物即可同步被量測，且本發明不限於此。

藉由單對多類比訊號輸出介面30的設置，本發明只需一個單一類比訊號供應裝置20，即可將類比訊號(S2)同步傳送給多個待測物，因此可節省許 多成本，且由於類比訊號(S2)來源皆是同一個單一類比訊號供應裝置20，亦不會產生時序不一致的問題。接著將詳細說明單對多類比訊號輸出介面30的細部構造。

圖2是本發明第一態樣或第二態樣的單對多類比訊號輸出介面30的細部結構示意圖。如圖2所示，單對多類比訊號輸出介面30可包括一初階通道子介面30(a)，初階通道子介面30(a)包括並聯的i個子通道31，每個子通道31各自連接一個子輸出單元32，其中i為大於或等於1的正整數。在一實施例中，每個子輸出單元32可以是緩衝器、放大器、增益位移調整電路或具備將訊號輸出電路功能的類似元件；在另一實施例中，每個子輸出單元32亦可由多個緩衝器、放大器、增益位移調整電路或類似元件來構成，且不限於此。在一實施例中，每個通道子介面(例如初階第一通道子介面30(a))內的子輸出單元32皆是相同的元件，但並非限定。

請再次參考圖2，本發明的單對多類比訊號輸出介面30可具有多階通道子介面。在一實施例中，除了初階通道子介面30(a)外，單對多類比訊號輸出介面(30)更具有i個次階通道子介面30(b)，每個次階通道子介面30(b)各自與初階通道子介面30(a)的一個子輸出單元32連接，以各自從初階通道子介面30(a)的子輸出單元32接收類比訊號(S2)。每個次階通道子介面30(b)具有j個並聯的子通道31，其中j為大於或等於1的正整數，且每個子通道31各自連接一個子輸出單元32。

進一步地，單對多類比訊號輸出介面30可更具有j個三階通道子介面30(c)，每個三階通道子介面30(c)各自與次階通道子介面30(b)的一個子輸出單元32連接，以各自從次階通道子介面30(b)的子輸出單元32接收類比訊號(S2)。 每個三階通道子介面30(c)具有k個並聯的子通道31，其中k為大於或等於1的正整數，且每個子通道31各自連接一個子輸出單元32。

因此，假如單對多類比訊號輸出介面30僅具有一個初階通道子介面30(a)，則當一個類比訊號(S2)輸入至單對多類比訊號輸出介面30後，單對多類比訊號輸出介面30可同步輸出i個類比訊號(S2)。又，假如單對多類比訊號輸出介面30具有初階通道子介面30(a)(具有i個子通道31)、i個次階通道子介面30(b)(各自具有j個子通道31)以及j個三階通道子介面30(c)(各自具有k個子通道31)，則當一個類比訊號(S2)輸入至單對多類比訊號輸出介面30後，單對多類比訊號輸出介面30可同步輸出i×j×k個類比訊號(S2)。須注意的是，上述關於單對多類比訊號輸出介面30的內部元件的數量僅是舉例，實際上可以有更多或更少的元件數量，且每一階的子通道介面所具有的細部元件數量亦可不同，並可任意搭配。

此外，在一實施例中，初階第一通道子介面30(a)、次階第一通道子介面30(b)、三階第一通道子介面30(c)更可連接一外部訊號輸入端60，例如增益訊號匯流排(Gain Bus)、位移訊號匯流排(Offset Bus)等，以從外部接收一增益訊號或一位移訊號。藉此，當有需要調整通過初階第一通道子介面30(a)、次階第一通道子介面30(b)或三階通道子介面30(c)的類比訊號(S2)時，即可藉由外部輸入訊號的方式來調整。

接下來將說明本發明的量測架構1的多種實施態樣，為了方便說明，單對多類比訊號輸出介面30是以輸出N個類比訊號(即具有N個輸出通道，其中N為大於1的正整數)來舉例。此外，假如以下實施例是具有多個單對多類比訊號輸出介面30的情況時，則以下實施例亦是以每個單對多類比訊號輸出介面30 皆輸出N個類比訊號來舉例，但實際上每個單對多類比訊號輸出介面30的內部架構亦可不同，意即每個單對多類比訊號輸出介面30可輸出不同數量的類比訊號。

圖3是本發明第一實施例(第一態樣)量測架構1的詳細架構示意圖。如圖3所示，本實施例的量測架構1具有一量測主系統10、一測試模組12、一單一類比訊號供應裝置20、一單對多類比訊號輸出介面30及一待測裝置40。在本實施例中，測試模組12、單一類比訊號供應裝置20及單對多類比訊號輸出介面30是設置於量測主系統10中，單一類比訊號供應裝置20連接至單對多類比訊號輸出介面30，其中單對多類比訊號輸出介面30具有N個通道。此外，待測裝置40上可放置N個待測物，每個待測物各自連接一個通道，以接收由該通道所傳送的類比訊號(S2)。在運作時，量測主系統10傳送指令(S1)至單一類比訊號供應裝置20，使單一類比訊號供應裝置20產生一個類比訊號(S2)並輸入至單對多類比訊號輸出介面30，同時量測主系統10之測試模組12供應N個待測物量測所需的電源供應模組(DPS)及/或腳位電子模組(PE)之數位訊號；當類比訊號(S2)通過單對多類比訊號輸出介面30後，可同步從N個通道上輸出至待測裝置40上的N個待測物。藉此，本實施例可同步量測N個待測物，且由於類比訊號(S2)來源皆是同一個單一類比訊號供應裝置20，亦不會產生時序不一致的問題；並且藉由單對多類比訊號輸出介面30的設置，可減少單一類比訊號供應裝置20的數量，大幅減低成本。

圖4是本發明第二實施例(第一態樣)量測架構1的詳細架構示意圖。如圖4所示，本實施例的量測架構1具有一量測主系統10、一測試模組12、M個單一類比訊號供應裝置20、M個單對多類比訊號輸出介面30及一待測裝置40，其中M可為正整數。在本實施例中，M為大於或等於1的正整數，但本發明不限於此。在本實施例中，測試模組12、M個單一類比訊號供應裝置20及M個單對多 類比訊號輸出介面30皆設置於量測主系統10中，且每個單一類比訊號供應裝置20各自連接一個單對多類比訊號輸出介面30，其中每個單對多類比訊號輸出介面30各自具有N個通道。此外，待測裝置40上可放置M×N個待測物，且每個待測物各自連接所有通道(總共為M×N個通道)中的其中一個通道。在運作時，量測主系統10傳送指令(S1)至每個單一類比訊號供應裝置20，使每個單一類比訊號供應裝置20產生一個類比訊號(S2)並輸入至所連接的單對多類比訊號輸出介面30，同時量測主系統10之測試模組12亦供應M×N個待測物量測所需的電源供應模組(DPS)及腳位電子模組(PE)之數位訊號；當類比訊號(S2)通過單對多類比訊號輸出介面30後，可同步從N個通道上輸出N個類比訊號(S2)，因此總共可同步輸出M×N個類比訊號(S2)。由於每個單一類比訊號供應裝置20皆設置至於量測主系統10中，該等產生類比訊號(S2)的時序可一致，進而M×N個待測物的量測時序可一致。藉此，本實施例可同步量測M×N個待測物，且由於M個單一類比訊號供應裝置20皆設置於同一量測主系統10中，並不會產生因外部觸發延遲而導致時序不一致的問題；並且藉由單對多類比訊號輸出介面30的設置，可減少單一類比訊號供應裝置20的數量，大幅減低成本。

圖5是本發明第三實施例(第一態樣)量測架構1的詳細架構示意圖。如圖5所示，本實施例的量測架構1具有一量測主系統10、一測試模組12、一單一類比訊號供應裝置20、一單對多類比訊號輸出介面30及一待測裝置40。本實施例與圖3之第一實施例的架構大致類似，故以下僅詳述差異之處。本實施例的單一類比訊號供應裝置20是設置於量測主系統10中，而單對多類比訊號輸出介面30是設置於量測主系統10外部。與圖3實施例之運作相似，本實施例可同步量測N個待測物(待測物1至待測物N)，且由於類比訊號(S2)來源皆是同一個單一類比 訊號供應裝置20，亦不會產生時序不一致的問題；並且藉由單對多類比訊號輸出介面30的設置，可減少單一類比訊號供應裝置20的數量，大幅減低成本。

圖6是本發明第四實施例(第一態樣)量測架構1的詳細架構示意圖。如圖6所示，本實施例的量測架構1具有一量測主系統10、一測試模組12、M個單一類比訊號供應裝置20、M個單對多類比訊號輸出介面30及一待測裝置40，其中M可為正整數。在本實施例中，M為大於或等於1的正整數，但本發明不限於此。本實施例與圖4之第二實施例的架構大致類似，故以下僅詳述差異之處。本實施例的測試模組12、M個單一類比訊號供應裝置20是設置於量測主系統10中，而M個單對多類比訊號輸出介面30是設置於量測主系統10外部。與圖4之實施例之運作相似，本實施例可同步量測M×N個待測物(待測物1至待測物MN)，且由於M個單一類比訊號供應裝置20皆設置於同一量測主系統10中，並不會產生彼此間因外部觸發延遲而導致時序不一致的問題；並且藉由單對多類比訊號輸出介面30的設置，可減少單一類比訊號供應裝置20的數量，大幅減低成本。

圖7是本發明第五實施例(第一態樣)量測架構1的詳細架構示意圖。如圖7所示，本實施例的量測架構1具有一量測主系統10、一測試模組12、一個單一類比訊號供應裝置20、一個單對多類比訊號輸出介面30及一待測裝置40。本實施例與圖3之第一實施例的架構大致類似，故以下僅詳述差異之處。本實施例的單一類比訊號供應裝置20及單對多類比訊號輸出介面30是設置於量測主系統10外部。與圖3之第一實施例之運作相似，本實施例可同步量測N個待測物(待測物1至待測物N)，且由於每個類比訊號(S2)的來源皆為同一個單一類比訊號供應裝置20，並不會產生待測物(待測物1至待測物N)彼此量測時序不一致的問題； 並且藉由單對多類比訊號輸出介面30的設置，可減少單一類比訊號供應裝置20的數量，大幅減低成本。

圖8是本發明第六實施例(第一態樣)量測架構1的詳細架構示意圖。如圖8所示，本實施例的量測架構1具有一量測主系統10、一測試模組12、M個單一類比訊號供應裝置20、M個單對多類比訊號輸出介面30及一待測裝置40，其中M可為正整數。在本實施例中，M為大於1或等於的正整數，但本發明不限於此。本實施例與圖4之第二實施例的架構大致類似，故以下僅詳述差異之處。本實施例的M個單一類比訊號供應裝置20及M個單對多類比訊號輸出介面30是設置於量測主系統10外部。與圖4之第二實施例之運作相似，本實施例可同步量測M×N個待測物(待測物1至待測物N)，且藉由單對多類比訊號輸出介面30的設置，可減少單一類比訊號供應裝置20的數量，大幅減低成本。

須注意的是，圖3至圖8的實施例是量測架構1(第一態樣)的簡化架構，其元件的數量皆僅是舉例，並非本發明的限定。

雖上述量測架構1的第一態樣的實施例中，單一類比訊號供應裝置20與單對多類比訊號輸出介面30的數量相等，但本發明不限於此。圖9至圖12是本發明量測架構1的第二態樣的多個實施例的詳細架構示意圖。第二態樣的實施例的特色在於，單對多類比訊號輸出介面30的數量比單一類比訊號供應裝置20的數量多，例如單一類比訊號供應裝置20是K個，則單對多類比訊號輸出介面30的數量為大於K個，其中K為正整數。此外，單一類比訊號供應裝置20與該等單對多類比訊號輸出介面30的第一部分(例如K個)連接，第一部分的單對多類比訊號輸出介面30的通道則各自與單對多類比訊號輸出介面30的第二部分(剩餘的單對多類比訊號輸出介面30)之一連接。

圖9是本發明第七實施例的量測架構1(第二態樣)的詳細架構示意圖。如圖9所示，本實施例的量測架構1具有一量測主系統10、一測試模組12、一單一類比訊號供應裝置20、(N+1)個單對多類比訊號輸出介面30及一待測裝置40，其中每個單對多類比訊號輸出介面30可提供N個通道(但本發明不限於此)。測試模組12、單一類比訊號供應裝置20、(N+1)個單對多類比訊號輸出介面30皆設置於量測主系統10中，且單一類比訊號供應裝置20與其中一個單對多類比訊號輸出介面30連接，該其中一個單對多類比訊號輸出介面30的N個通道則各自與剩餘N個單對多類比訊號輸出介面30之一連接。當量測主系統10傳送指令至單一類比訊號供應裝置20時，單一類比訊號供應裝置20產生一類比訊號(S2)至該其中一個單對多類比訊號輸出介面30，之後類比訊號(S2)同步於該其中一個單對多類比訊號輸出介面30的N個通道而輸出至剩餘N個單對多類比訊號輸出介面30，並再次經由通過剩餘N個單對多類比訊號輸出介面30而同步輸出更多個(例如N×N個)類比訊號(S2)至待測裝置40。藉此，本實施例可同步對N×N個待測物(待測物1至待測物(N×N))進行量測。由於每個待測物所接收的類比訊號(S2)皆來自相同的單一類比訊號供應裝置20，並不會產生待測物彼此量測時序不一致的問題。此外，本實施例僅需要一個單一類比訊號供應裝置20即可量測多個待測物，可節省大量成本。

圖10是本發明第八實施例的量測架構1(第二態樣)的詳細架構示意圖。如圖10所示，本實施例的量測架構1具有一量測主系統10、一測試模組12、一單一類比訊號供應裝置20、(N+1)個單對多類比訊號輸出介面30及一待測裝置40，其中每個單對多類比訊號輸出介面30可提供N個通道(但本發明不限於此)。此外，單一類比訊號供應裝置20與其中一個單對多類比訊號輸出介面30連接，該 其中一個單對多類比訊號輸出介面30的N個通道則各自與剩餘N個單對多類比訊號輸出介面30之一連接。本實施例與圖9之第七實施例的架構大致類似，故以下僅詳述差異之處。本實施例的單一類比訊號供應裝置20是設置於量測主系統10中，而(N+1)個單對多類比訊號輸出介面30是設置於量測主系統10外部。與圖9之第七實施例之運作相似，本實施例可同步量測N×N個待測物(待測物1至待測物(N×N))。藉此，本實施例的每個待測物所接收的類比訊號(S2)皆來自相同的單一類比訊號供應裝置20，並不會產生待測物彼此量測時序不一致的問題。此外，本實施例僅需要一個單一類比訊號供應裝置20即可量測多個待測物，可節省大量成本。

圖11是本發明第九實施例的量測架構1(第二態樣)的詳細架構示意圖。如圖11所示，本實施例的量測架構1具有一量測主系統10、一測試模組12、一單一類比訊號供應裝置20、(N+1)個單對多類比訊號輸出介面30及一待測裝置40，其中每個單對多類比訊號輸出介面30可提供N個通道(但本發明不限於此)。此外，單一類比訊號供應裝置20與其中一個單對多類比訊號輸出介面30連接，該其中一個單對多類比訊號輸出介面30的N個通道則各自與剩餘N個單對多類比訊號輸出介面30之一連接。本實施例與圖9之第七實施例的架構大致類似，故以下僅詳述差異之處。本實施例的單一類比訊號供應裝置20與該其中一個單對多類比訊號輸出介面30是設置於量測主系統10中，而剩餘N個單對多類比訊號輸出介面30是設置於量測主系統10外部。與圖9之第七實施例之運作相似，本實施例可同步量測N×N個待測物(待測物1至待測物(N×N))。藉此，本實施例的每個待測物所接收的類比訊號(S2)皆來自相同的單一類比訊號供應裝置20，並不會產生待測 物彼此量測時序不一致的問題。此外，本實施例僅需要一個單一類比訊號供應裝置20即可量測多個待測物，可節省大量成本。

圖12是本發明第十實施例的量測架構1(第二態樣)的詳細架構示意圖。如圖12所示，本實施例的量測架構1具有一量測主系統10、一測試模組12、一單一類比訊號供應裝置20、(N+1)個單對多類比訊號輸出介面30及一待測裝置40，其中每個單對多類比訊號輸出介面30可提供N個通道。此外，單一類比訊號供應裝置20與其中一個單對多類比訊號輸出介面30連接，該其中一個單對多類比訊號輸出介面30的N個通道則各自與剩餘N個單對多類比訊號輸出介面30之一連接。本實施例與圖9之第七實施例的架構大致類似，故以下僅詳述差異之處。本實施例的單一類比訊號供應裝置20、其中一個單對多類比訊號輸出介面30以及剩餘N個單對多類比訊號輸出介面30皆設置於量測主系統10外部。與圖9之第七實施例之運作相似，本實施例可同步量測N×N個待測物(待測物1至待測物(N×N))。藉此，本實施例的每個待測物所接收的類比訊號(S2)皆來自相同的單一類比訊號供應裝置20，並不會產生待測物彼此量測時序不一致的問題。此外，本實施例僅需要一個單一類比訊號供應裝置20即可量測多個待測物，可節省大量成本。

須注意的是，圖9至圖12的實施例是量測架構1(第二態樣)的簡化架構，其元件的數量皆僅是舉例，並非本發明的限定。

除上述第一態樣及第二態樣外，本發明亦可具有其它變化。圖13是本發明第十一實施例(第三態樣)的量測架構1的詳細架構示意圖。

如圖13所示，本實施例的量測架構1包含一測試模組12、一第一類比訊號供應裝置20-1、一第二類比訊號供應裝置20-2、一多對多類比訊號輸出介面70及一待測裝置40。測試模組12及待測裝置40與前述實施例相似，故不再詳 述。第一類比訊號供應裝置20-1與第二類比訊號供應裝置20-2可以是相同的裝置，各自接收量測主系統10的指令而分別產生一第一類比訊號(S2-1)及一第二類比訊號(S2-2)。在一實施例中，第一類比訊號(S2-1)及第二類比訊號(S2-2)可以是相同類比訊號，並分別輸入多對多類比訊號輸出介面70的不同通道(在此情況下亦可由單一類比訊號供應裝置20來實現)。而在另一實施例中，第一類比訊號(S2-1)及第二類比訊號(S2-2)可以是不同的類比訊號，例如可彼此形成差動訊號，並分別輸入多對多類比訊號輸出介面70的不同通道，但並非限定。在一實施例中，第一類比訊號供應裝置20-1與第二類比訊號供應裝置20-2可整合在一起，但並非限定。

多對多類比訊號輸出介面70可具有一第一單對多類比訊號輸出介面30-1及一第二單對多類比訊號輸出介面30-2。第一單對多類比訊號輸出介面30-1與第一類比訊號供應裝置20-1連接，以接收第一類比訊號(S2-1)；第二單對多類比訊號輸出介面30-2與第二類比訊號供應裝置20-2連接，以接收第二類比訊號(S2-2)。第一單對多類比訊號輸出介面30-1可提供(N1)個通道，以將第一類比訊號(S2-1)同步輸出至待測裝置40上的(N1)個待測物，以使(N1)個待測物同步測量，其中N1為大於或等於1的正整數；第二單對多類比訊號輸出介面30-2可提供(N2)個通道，以將第二類比訊號(S2-2)同步輸出至待測裝置40上的(N2)個待測物，以使該(N2)個待測物同步測量，其中N2為大於或等於1的正整數。在一實施例中，N1與N2可相同亦可不同，本發明並沒有限定。由於本實施例可支援多訊號輸入，多對多類比訊號輸出介面70可適用於單一類比訊號或差動訊號的情況，而使得量測更為彈性。舉例來說，在一實施例中，第一類比訊號(S2-1)與第二類比訊號(S2-2)可以是相同振福而極性不同的訊號，並分別輸入至第一單對多類比訊號輸 出介面30-1及第二單對多類比訊號輸出介面30-2；而當第一類比訊號(S2-1)與第二類比訊號(S2-2)同步輸入至多對多類比訊號輸出介面70時，即可如同輸入差動訊號，但不限於此。在另一實施例中，第一類比訊號(S2-1)與第二類比訊號(S2-2)可以是相同訊號，並輸入至第一單對多類比訊號輸出介面30-1及第二單對多類比訊號輸出介面30-2，再經由第一單對多類比訊號輸出介面30-1及第二單對多類比訊號輸出介面30-2而輸出更多訊號。在另一實施例中，亦可僅將訊號輸入至第一單對多類比訊號輸出介面30-1及第二單對多類比訊號輸出介面30-2其中之一，但並非限定。而在另一實施例中，第一類比訊號(S2-1)與第二類比訊號(S2-2)可以是相同極性而不同振福的訊號，亦可不同步有相位差的輸入至第一單對多類比訊號輸出介面30-1及第二單對多類比訊號輸出介面30-2。

須注意的是，圖13的實施例是量測架構1(第三態樣)的簡化架構，其元件的數量皆僅是舉例，並非本發明的限定。

圖14是本發明第三態樣的多對多類比訊號輸出介面70的細部結構示意圖，並可參考圖2。如圖14所示，多對多類比訊號輸出介面70可包括第一單對多類比訊號輸出介面30-1及第二單對多類比訊號輸出介面30-2。第一單對多類比訊號輸出介面30-1可與圖2中的第一單對多類比訊號輸出介面30的架構相似，例如其可包括具有並聯的i個子通道31及i個子輸出單元的一個初階第一通道子介面30(a)、具有並聯的j個子通道31及j個子輸出單元的i個次階通道子介面30(b)及具有k個子通道31及k個子輸出單元的j個三階通道子介面30(c)，以輸出i×j×k個第一類比訊號(S2)。相似地，第二單對多類比訊號輸出介面30-2亦可包括具有並聯的i個子通道31及i個子輸出單元的一個初階通道子介面30(a)、具有並聯的j個子通道31及j個子輸出單元的i個次階第一通道子介面30(b)及具有並聯的k個子通道 31及k個子輸出單元的j個三階通道子介面30(c)，以輸出i×j×k個第二類比訊號(S2’)。須注意的是，上述關於第一單對多類比訊號輸出介面30-1及第二單對多類比訊號輸出介面30-2的內部元件的數量僅是舉例，實際上可以有更多或更少的元件數量，且每一階的子通道介面所具有的細部元件數量亦可不同，並可任意搭配。

雖然本實施例的第一單對多類比訊號輸出介面30-1及第二單對多類比訊號輸出介面30-2係具有相同的內部架構，但在其它實施例中，第一單對多類比訊號輸出介面30-1及第二單對多類比訊號輸出介面30-2亦可具有不同架構，例如子通道介面的數量可不同，但並非限定。

此外，第一單對多類比訊號輸出介面30-1及/或第二單對多類比訊號輸出介面30-2的初階第一通道子介面30(a)、次階第一通道子介面30(b)、三階第一通道子介面30(c)更可連接一外部訊號輸入端60，例如增益訊號匯流排(Gain Bus)、位移訊號匯流排(Offset Bus)等，以從外部接收一增益訊號或一位移訊號。藉此，當有需要調整通過第一單對多類比訊號輸出介面30-1及/或第二單對多類比訊號輸出介面30-2的初階通道子介面30(a)、次階通道子介面30(b)或三階通道子介面30(c)的類比訊號(S2)時，即可藉由外部輸入訊號的方式來達成。

藉此，本發明可解決待測物之間的時序與類比訊號不同步的問題，並提供減少昂貴的單一類比訊號提供裝置的數量，以降低量測主系統所需空間或降低生產成本等功效。此外，本發明根據量測的需求亦可輕易地調整類比訊號輸出介面的架構，進而調整所輸出的類比訊號內容。再者，本發明的類比訊號輸出介面亦可因應多訊號源輸入的情況，並可輸出更多樣性的訊號至待測物。

上述實施例僅係為了方便說明而舉例而已，本發明所主張之權利範圍自應以申請專利範圍所述為準，而非僅限於上述實施例。

Claims (12)

1. 一種量測架構，包含：一量測主系統，具有一測試模組；至少一單一類比訊號供應裝置，以根據量測主系統的指令而輸出一類比訊號；至少一單對多類比訊號輸出介面，接收來自該單一類比訊號供應裝置的該類比訊號，並提供複數個通道以將該類比訊號同步輸出；以及一待測裝置，用以放置複數個待測物，使該等待測物各自接收通過該至少一單對多類比訊號輸出介面的該等通道中的其中一通道的該類比訊號；其中該至少一單對多類比訊號輸出介面的數量比該至少一單一類比訊號供應裝置的數量多，且該至少一單對多類比訊號輸出介面的一第一部分係各自與一單一類比訊號供應裝置連接，且該至少一單對多類比訊號輸出介面的一第二部分係各自與該至少一單對多類比訊號輸出介面的該第一部分所提供的複數個通道中的其中一個通道連接。
2. 如申請專利範圍第1項所述的量測架構，其中該至少一單一類比訊號供應裝置的數量為M個，該至少一單對多類比訊號輸出介面的數量為M個，且每個單一類比訊號供應裝置連接一個單對多類比訊號輸出介面，其中M為正整數。
3. 如申請專利範圍第2項所述的量測架構，其中該至少一單一類比訊號供應裝置與該至少一單對多類比訊號輸出介面係設置於該量測主系統中。
4. 如申請專利範圍第2項所述的量測架構，其中該至少一單一類比訊號供應裝置係設置於該量測主系統中，該至少一單對多類比訊號輸出介面係設置於該量測主系統外。
5. 如申請專利範圍第2項所述的量測架構，其中該至少一單一類比訊號供應裝置係設置與該至少一單對多類比訊號輸出介面係設置於該量測主系統外。
6. 如申請專利範圍第1項所述的量測架構，其中該至少一單一類比訊號供應裝置與該至少一單對多類比訊號輸出介面的該第一部分係設置於該量測主系統中。
7. 如申請專利範圍第1項所述的量測架構，其中該至少一單一類比訊號供應裝置與該至少一單對多類比訊號輸出介面的該第一部分係設置於該量測主系統外。
8. 一種量測架構，包含：一量測主系統，具有一測試模組；至少一單一類比訊號供應裝置，以根據量測主系統的指令而輸出一類比訊號；至少一單對多類比訊號輸出介面，接收來自該單一類比訊號供應裝置的該類比訊號，並提供複數個通道以將該類比訊號同步輸出；以及一待測裝置，用以放置複數個待測物，使該等待測物各自接收通過該至少一單對多類比訊號輸出介面的該等通道中的其中一通道的該類比訊號；其中至少一單對多類比訊號輸出介面係包括一第一通道子介面，該第一通道子介面包括並聯的i個子通道，且該第一通道子介面的每個子通道各自連接一 個子輸出單元，該子輸出單元包括一緩衝器、一放大器或一增益位移調整電路，其中i為大於或等於1的正整數。
9. 如申請專利範圍第8項所述的量測架構，其中該第一通道子介面更連接一外部訊號輸入端(bus)，以從外部接收一增益訊號或一位移訊號。
10. 一種量測架構，包含：一量測主系統，具有一測試模組；至少一類比訊號供應裝置，以根據量測主系統的指令而輸出一第一類比訊號與一第二類比訊號；至少一第一單對多類比訊號輸出介面，接收來自該至少一類比訊號供應裝置的該第一類比訊號，並提供複數個通道以將該第一類比訊號同步輸出；至少一第二單對多類比訊號輸出介面，接收來自該至少一類比訊號供應裝置的該第二類比訊號，並提供複數個通道以將該第二類比訊號同步輸出；以及一待測裝置，放置多個待測物，以供該等待測物中的第一部分各自接收該至少一第一單對多類比訊號輸出介面的該等通道中的其中一通道所輸出的該第一類比訊號，且該等待測物中的第二部分各自接收該至少一第二單對多類比訊號輸出介面的該等通道中的其中一通道所輸出的該第二類比訊號。
11. 如申請專利範圍第10項所述的量測架構，其中該第一類比訊號與該第二類比訊號是差動訊號，該差動訊號定義為該第一類比訊號與該第二類比訊號具備相同振幅而不同極性，且該第一類比訊號輸入至該第一單對多類比訊號輸出介面，該第二類比訊號同步於該第一類比訊號而輸入至該第二單對多類比訊號輸出介面。
12. 如申請專利範圍第10項所述的量測架構，其中每個該至少一類比訊號供應裝置係包括一第一單一類比訊號供應裝置及一第二單一類比訊號供應裝置，該第一單一類比訊號供應裝置輸出該第一類比訊號，該第二單一類比訊號供應裝置輸出該第二類比訊號。