JP2004071844A - 半導体装置のテスト情報管理方法、およびテスト情報管理システム - Google Patents
半導体装置のテスト情報管理方法、およびテスト情報管理システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004071844A JP2004071844A JP2002229382A JP2002229382A JP2004071844A JP 2004071844 A JP2004071844 A JP 2004071844A JP 2002229382 A JP2002229382 A JP 2002229382A JP 2002229382 A JP2002229382 A JP 2002229382A JP 2004071844 A JP2004071844 A JP 2004071844A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- information
- program
- name
- file
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
【課題】半導体装置に対するテスト情報の内容を変更する際の作業者の負担を軽減したテスト情報管理方法およびシステムを提供する。
【解決手段】ホストコンピュータ1にはマスタ情報ファイル1dを、工場側コンピュータ2にはサブマスタ情報ファイル2dを確保し、両ファイル1d,2dは共に各品種ごとにテストフロー名が宣言されたテスト基準情報X1が登録されたテスト基準情報ファイル11と、テストフロー名に応じたテスト実行手順を規定するテスト処理工程名が宣言されたテスト処理工程情報X2が登録されたテスト処理工程情報ファイル13と、各テスト処理工程名ごとのテスト条件が規定されたテスト条件情報X3が登録されたテスト条件情報ファイル13とが階層構造となるように関連付けられて配備されている。
【選択図】 図1
【解決手段】ホストコンピュータ1にはマスタ情報ファイル1dを、工場側コンピュータ2にはサブマスタ情報ファイル2dを確保し、両ファイル1d,2dは共に各品種ごとにテストフロー名が宣言されたテスト基準情報X1が登録されたテスト基準情報ファイル11と、テストフロー名に応じたテスト実行手順を規定するテスト処理工程名が宣言されたテスト処理工程情報X2が登録されたテスト処理工程情報ファイル13と、各テスト処理工程名ごとのテスト条件が規定されたテスト条件情報X3が登録されたテスト条件情報ファイル13とが階層構造となるように関連付けられて配備されている。
【選択図】 図1
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、各種の半導体装置に対してその特性を検査するためにテストを実施する際のテスト情報の管理を行うテスト情報管理方法、およびテスト情報管理システムに関する。
【0002】
【従来の技術】
各種の半導体装置を製造する上では、その製造工程の途中、あるいは製品出荷前に、所要の特性を満たしているか否かを判断するために各種テストが実施される。そのようなテストを実施するためには、各製品の品種ごとにテスト処理工程、テスト装置、テスト条件などといったテスト項目を規定する必要がある。
【0003】
そのため、従来は、各テスト項目を規定するためのテスト情報をデータベース化してファイル管理しているが、その場合のテスト情報は、次のようなデータ構造が採用されている。
【0004】
すなわち、従来、各品種に対するテスト項目を規定するテスト情報は、図6に示すようなテスト基準情報Y1と、図7に示すようなテスト条件付処理工程情報Y2とからなる二重構造になっている。
【0005】
上記のテスト基準情報Y1は、各品種A,B,…に対応してテストフロー名F1,F2,…が宣言されるとともに、およびそのテストフロー名F1,F2,…に対応した手順でテストを実施する際に要する全処理時間Ta,Tb,…を規定している。
【0006】
また、上記のテスト条件付処理工程情報Y2は、各テストフロー名F1,F2,…に対応した具体的なテスト実行手順を規定する各テスト処理工程名N1,N2,…が宣言されるとともに、各テスト処理工程名N1,N2,…の下で使用する装置名M1,M2,…、処理時間t1,t2,…、ファンクションテストを実施するためのテストプログラムを設定するためのテストプログラム名P1,P2,…などのテスト条件を規定している。なお、ここでは理解を促すために、各テスト条件として装置名、処理時間、およびテストプログラム名の3つの項目に限定しているが、実際上はさらに多数のテスト条件が詳細に規定される。
【0007】
ここで、いま、たとえば品種Aについて所定のテスト項目を設定する場合、まず、図6のテスト基準情報Y1において、品種Aを指定すると、この品種Aに対応するテストフロー名F1、および全処理時間Taが設定される。続いて、図7のテスト条件付処理工程情報Y2において、テストフロー名F1をキーとして、これに対応した各テスト処理工程N1,N2,…、ならびに各テスト処理工程名N1,N2,…により規定されるテスト処理工程で使用する装置名、処理時間、テストプログラム名などのテスト条件が設定される。これは他の品種B,C,…についてテスト項目を設定する場合も同様である。
【0008】
そして、従来は、このようして各品種A,B,C,…についての詳細なテスト項目が設定されると、これらのテスト項目をプリントアウトなどして半導体製造部門のテスト作業者に知らせ、当該テスト作業者はこのテスト項目に従って各品種A,B,…について適切なテストを実施している。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記のテスト基準情報Y1およびテスト条件付処理工程情報Y2は、各品種A,B,C,…についてのテスト項目を規定するものであるが、これらの情報Y1,Y2は不変的なものではなく、製品の要求品質や特性の変化等によってしばしば改定されることがある。たとえば、テスト精度を高めるためにテスト条件を変更したり、あるいは、テストの稼働効率を高めるために不要なテスト処理工程を省略したり、追加したりすることがある。
【0010】
一方、従来は、図7に示したテスト条件付処理工程情報Y2の内容を見て分かるように、テストフロー名F1,F2,…の下にテスト処理工程名のみならず、各テスト処理工程名に付随して装置名、処理時間、テストプログラム名などのテスト条件が規定されたデータ構造となっている。換言すれば、テストフロー名F1,F2,…の下にテスト処理工程名とテスト条件とが一体的に組み込まれたデータ構造となっている。そのため、テスト項目の一つの事項を変更したり追加する場合にも、各テストフロー名F1,F2,…ごとにテスト情報の修正を行わねばならなかった。
【0011】
たとえば、図7の例において、テストフロー名はF1,F2,F3と異なっているが、その中には同じテスト処理工程名N1を含んだものがある、そのため、同じテスト条件(装置名M1,処理時間t1,テストプログラム名P1)が設定されている。しかし、従来はテストフロー名の中にテスト条件が組み込まれたデータ構造となっているため、この工程名N1のテスト条件を変更(たとえば装置名をM1からM1’に変更)するためには、各々のテストフロー名F1,F2,F3のテスト情報について個別に修正を行わねばならず、一括した修正ができない。
【0012】
また、テスト条件の項目の一つであるテストプログラムは頻繁にバージョンアップされるので、そのバージョンアップの度に、各々のテストフロー名F1,F2,…に付属するテストプログラム名も個別に修正する必要が生じる。
【0013】
したがって、従来は、テスト情報の修正作業に過大な労力と時間を要し、テスト情報の管理作業者の負担が大きかった。しかも、個々にテスト情報を修正する必要があるために修正ミスが生じ易かった。
【0014】
さらに、従来のように、テストフロー名F1,F2,…の中にテスト条件が組み込まれたデータ構造になっていると、テストフロー名F1,F2,…ごとに個別にテスト条件が規定される結果、同じ内容の情報が重複し(図7の例では、テストフロー名F1,F2間で工程名N1,N3,N4が重複しており、このためテスト条件を決めるデータも重複している)、テスト情報の共有化が図れない。その結果、テスト情報をデータベース化してファイル管理する際に情報量が徒に増大してしまう。
【0015】
本発明は、上記の課題を解決するためになされたもので、テスト情報の共通化、集約化を行えるとともに、テスト情報を一括して修正できるようにして、テスト情報の変更に伴う作業者の負担を軽減し、修正ミスなども起こらないようにした半導体装置のテスト情報管理方法およびテスト情報管理システムを提供することを目的とする。
【0016】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記の目的を達成するために、次のようにしている。
【0017】
すなわち、請求項1記載の発明に係る半導体装置のテスト情報管理方法は、半導体装置の各品種ごとのテスト項目を規定するテスト情報を管理する場合において、半導体装置の各品種ごとに総括的なテストフロー名が宣言されたテスト基準情報と、上記テストフロー名に応じた具体的なテスト実行手順を規定するテスト処理工程名が個々に宣言されたテスト処理工程情報と、上記各テスト処理工程名ごとのテスト条件が規定されたテスト条件情報とをそれぞれ確保し、これらの各情報を順次階層化してデータベースとし、上記テスト基準情報とテスト処理工程情報とは上記テストフロー名をキーとして互いに関連付け、また、上記テスト処理工程情報とテスト条件情報とは上記各テスト処理工程名をキーとして互いに関連付けることにより情報管理することを特徴としている。
【0018】
請求項2記載の発明に係る半導体装置のテスト情報管理方法は、請求項1記載の発明方法において、上記テスト条件情報には、ファンクションテストを実施するためのテストプログラムを規定するテストプログラム名が宣言される一方、テスト条件情報とは別個にバージョンアップが宣言されたテストプログラムを含むプログラム情報を確保し、上記テスト条件情報とプログラム情報とを上記テストプログラム名をキーとして互いに関連付けることにより情報管理することを特徴としている。
【0019】
請求項3記載の発明に係るテスト情報管理システムは、コンピュータ制御によって半導体装置の各品種ごとのテスト項目を規定するテスト情報を管理するシステムであって、テスト開発管理部門などに配置されたホストコンピュータには上記テスト情報がマスタ情報として格納されたマスタ情報ファイルが、また、工場テスト部門などに配置された工場側コンピュータには上記マスタ情報をコピーしたサブマスタ情報ファイルがそれぞれデータベースとして確保されており、上記マスタ情報ファイルとサブマスタ情報ファイルとは、共に、半導体装置の各品種ごとにテストフロー名が宣言されたテスト基準情報が登録されたテスト基準情報ファイルと、上記テストフロー名に応じた具体的なテスト実行手順を規定するテスト処理工程名が個々に宣言されたテスト処理工程情報が登録されたテスト処理工程情報ファイルと、上記各テスト処理工程名ごとのテスト条件が規定されたテスト条件情報が登録されたテスト条件情報ファイルとが順次階層構造となるように互いに関連付けられて配備されていることを特徴としている。
【0020】
請求項4記載の発明に係るテスト情報管理システムは、請求項3記載の発明の構成において、バージョンアップが宣言されたテストプログラムを含むプログラム情報が登録されたプログラム情報ファイルを備え、上記テスト条件情報ファイルにこのプログラム情報ファイルが関連付けられて配備されていることを特徴としている。
【0021】
【発明の実施の形態】
実施の形態1.
図1は本発明の実施の形態1に係るテスト処理情報管理システムの全体構成を示すブロック図である。
【0022】
この実施の形態1のテスト情報管理システムは、半導体装置の各品種ごとのテスト項目を規定するテスト情報を管理するためのもので、コンピュータ装置やワークステーション等の情報処理装置を使用して実現されるものである。
【0023】
この場合のテスト情報管理システムのハードウェア構成としては、図1に示すように、テスト開発管理部門などに配置されたホストコンピュータ1と、各工場のテスト部門などに配置された工場側コンピュータ2とがLANなどの通信回線4を介して互いに接続されている。
【0024】
ホストコンピュータ1は、制御本体部1a、ハードディスクなどの記憶装置1b、および端末装置1cを備えている。また、工場側コンピュータ2は、制御本体部2a、ハードディスクなどの記憶装置2b、端末装置2cを備えるとともに、制御本体部2aにより制御されるテスト装置3が設けられている。そして、ホストコンピュータ1の端末装置1cに設けられている図示しないキーボードや表示器等を介して記憶装置1bに格納されているテスト情報の追加、変更、削除等の修正が行なわれる。
【0025】
上記のホストコンピュータ1の記憶装置1bには、テスト情報がマスタ情報として格納されたマスタ情報ファイル1dが確保されている。また、工場側コンピュータ2の記憶装置2bにはマスタ情報をコピーしたサブマスタ情報がサブマスタ情報ファイル2dとして確保されている。したがって、マスタ情報ファイル1dとサブマスタ情報ファイル2dのデータ内容は基本的に同じであるから、以下では、マスタ情報ファイル1dの具体的な内容についてさらに説明する。
【0026】
上記のマスタ情報ファイル1dは、テスト基準情報ファイル11、テスト処理工程情報ファイル12、テスト条件情報ファイル13、およびプログラム情報ファイル14からなる。
【0027】
上記のテスト基準情報ファイル11には、図2に示すように、半導体装置の各品種ごとに総括的なテストフロー名が宣言されたテスト基準情報X1が登録されている。また、テスト処理工程情報ファイル12には、図3に示すように、テストフロー名に応じた具体的なテスト実行手順を規定するテスト処理工程名が宣言されたテスト処理工程情報X2が登録されている。テスト条件情報ファイル13には、図4に示すように、各テスト処理工程名ごとのテスト条件が規定されたテスト条件情報X3が登録されている。さらに、プログラム情報ファイル14には、図5に示すように、バージョンアップが宣言されたテストプログラムを含むプログラム情報X4が登録されている。
【0028】
なお、この実施の形態1では、テスト条件情報X3における各テスト条件項目として装置名、処理時間、およびテストプログラム名の3つに限定しているが、実際上はさらに多数のテスト条件が詳細に規定される。
【0029】
そして、上記テスト基準情報X1とテスト処理工程情報X2とは上記テストフロー名をキーとして互いに関連付けられ、また、上記テスト処理工程情報X2とテスト条件情報X3とは上記各テスト処理工程名をキーとして互いに関連付けられ、さらにテスト条件情報X3とプログラム情報X4とはテストプログラム名をキーとして互いに関連付けられている。したがって、テスト基準情報ファイル11、テスト処理工程情報ファイル12、テスト条件情報ファイル13、プログラム情報ファイル14の順で次第に下位となるような階層構造が採られることでテスト情報が管理されるようになっている。
【0030】
ここで、いま、各工場のテスト部門などに配置されているテスト装置3に対して、工場側コンピュータ2を利用して、たとえば品種Aについて所定のテスト項目を設定する場合には、端末装置2cからの操作により、品種Aを指定すると、制御本体部2aは、記憶装置2bに格納されているサブマスタ情報ファイル2dの情報の内から、まず、図2に示すテスト基準情報X1を検索して、この品種Aに対応するテストフロー名F1を設定する。
【0031】
次いで、このテストフロー名名F1をキーとして図3に示すテスト処理工程情報X2を検索して、このテストフロー名F1に対応した具体的なテスト実行手順を規定する各テスト処理工程名、すなわちここではテスト処理工程順にN1,N2,N3,N4,…を設定する。
【0032】
引き続いて、各テスト処理工程名N1,N2,N3,N4,…をキーとして図4に示すテスト条件情報X3を検索して、各テスト処理工程名N1,N2,N3,N4,…に対応した各テスト処理工程で使用する具体的な装置名、処理時間、テストプログラム名などのテスト条件を設定する。
【0033】
さらに、テスト条件情報X3に含まれるテストプログラム名をキーとして、図5に示すようなプログラム情報X4を検索して、最新のバージョンのテストプログラムを設定する。たとえば、テストプログラム名がP1の場合は、これをキーとして、これに対応するプログラム情報に含まれる最新バージョンのテストプログラムP1−Vkとテスト時間tkを設定する。
【0034】
このように、半導体装置の品種Aを指定することにより、各情報X1〜X4が互いに関連付けられてこの品種Aに適合した所定のテスト項目が設定される。なお、ここでは品種Aについて説明したが、他の品種B,C,…についてテスト項目を設定する場合も同様である。
【0035】
上記の説明から分かるように、各情報X1〜X4は互いに分離して存在し、特にテスト処理工程情報X2とテスト条件情報X3とは、テスト処理工程名をキーとして互いに関連付けられているだけで、従来のように、テストフロー名の下に両情報X2,X3が一体的に組み込まれている訳ではない。このため、テスト条件情報X3の内容が変化しても両情報X2,X3間のキーとなるテスト処理工程名が変化しない限り、互いの情報X2,X3の関連付けが可能である。
【0036】
したがって、テスト開発管理部門などに配置されたホストコンピュータ1の記憶装置1bに格納されているマスタ情報ファイル1dについて、たとえば、図4に示すテスト条件情報X3の内からテスト処理工程名N1に関するテスト条件を一部変更(一例として装置名をM1からM1’に変更)するような場合、その上位のテスト処理工程情報X2において規定されている各テストフロー名F1,F2,F3には同じテスト処理工程名N1が含まれているけれども、このテスト処理工程情報X2やさらにその上位のテスト基準情報X1については何ら修正を行う必要はなく、テスト条件情報X3の装置名を変更するだけでよい。
【0037】
また、テスト条件情報X3とプログラム情報X4とはテストプログラム名をキーとして互いに関連付けられている。したがって、テストプログラムをバージョンアップする場合でも、プログラム情報X4においてテストプログラムの修正およびバージョンアップ宣言を行うだけでよく、テスト条件情報X3を修正する必要はない。
【0038】
さらに、この実施の形態1のようなテスト情報管理システムを採用することにより、ホストコンピュータ1のマスタ情報を新規に作成した場合や既存のマスタ情報を改定した場合、その改定後のマスタ情報は通信回線4を介して工場側コンピュータ2に転送されてその記憶装置2bにサブマスタ情報としてコピーされる。このため、テスト開発管理部門と各工場のテスト部門との間でそれぞれ管理するテスト情報のフォーマットの共通化、テスト指示形態の共通化が可能となる。これにより、テスト開発管理部門で作成したテスト情報を工場側のテスト作業者に対して錯誤を生じることなく確実かつ迅速に伝達でき、指示を徹底させることができる。
【0039】
【発明の効果】
(1) 請求項1記載の半導体装置のテスト情報管理方法、および請求項3記載のテスト情報管理システムによれば、従来に比べてテスト情報の共通化、集約化を行えるとともに、テスト情報を一括して修正することができるため、テスト情報の変更に伴う作業者の負担を大幅に軽減することができるだけでなく、修正ミスなども起こりにくくなる。
【0040】
また、特に、請求項3記載のテスト情報管理システムを採用すれば、テスト開発管理部門と各工場のテスト部門との間でそれぞれ管理するテスト情報のフォーマットの共通化、テスト指示形態の共通化が可能となるので、テスト開発管理部門で作成したテスト情報を工場側のテスト作業者に対して錯誤を生じることなく確実かつ迅速に伝達でき、指示を徹底させることができる。
【0041】
(2) 請求項2記載の半導体装置のテスト情報管理方法、および請求項4記載のテスト情報管理システムによれば、上記(1)に記載した効果に加えて、テストプログラムはバージョンアップのためにしばしば変更されるが、その場合、プログラム情報においてテストプログラムの修正およびバージョンアップ宣言を行うだけでよく、テスト条件情報まで修正する必要がなくなる。そのため、テストプログラム修正時のミスを防ぐことができ、かつ、修正時の負担を軽減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1に係るテスト情報管理システムの全体構成を示すブロック図である。
【図2】本発明においてテスト情報を構成するテスト基準情報の一例を示す説明図である。
【図3】本発明においてテスト情報を構成するテスト処理工程情報の一例を示す説明図である。
【図4】本発明においてテスト情報を構成するテスト条件情報の一例を示す説明図である。
【図5】本発明においてテスト情報を構成するプログラム情報の一例を示す説明図である。
【図6】従来のテスト情報を構成するテスト基準情報の一例を示す説明図である。
【図7】従来のテスト情報を構成するテスト条件付処理工程情報の一例を示す説明図である。
【符号の説明】
1 ホストコンピュータ、1d マスタ情報ファイル、2 工場側コンピュータ、2d サブマスタ情報ファイル、11 テスト基準情報ファイル、12 テスト処理工程情報ファイル、13 テスト条件情報ファイル、14 プログラム情報ファイル、X1 テスト基準情報、X2 テスト処理工程情報、X3 テスト条件情報、X4 プログラム情報。
【発明の属する技術分野】
本発明は、各種の半導体装置に対してその特性を検査するためにテストを実施する際のテスト情報の管理を行うテスト情報管理方法、およびテスト情報管理システムに関する。
【0002】
【従来の技術】
各種の半導体装置を製造する上では、その製造工程の途中、あるいは製品出荷前に、所要の特性を満たしているか否かを判断するために各種テストが実施される。そのようなテストを実施するためには、各製品の品種ごとにテスト処理工程、テスト装置、テスト条件などといったテスト項目を規定する必要がある。
【0003】
そのため、従来は、各テスト項目を規定するためのテスト情報をデータベース化してファイル管理しているが、その場合のテスト情報は、次のようなデータ構造が採用されている。
【0004】
すなわち、従来、各品種に対するテスト項目を規定するテスト情報は、図6に示すようなテスト基準情報Y1と、図7に示すようなテスト条件付処理工程情報Y2とからなる二重構造になっている。
【0005】
上記のテスト基準情報Y1は、各品種A,B,…に対応してテストフロー名F1,F2,…が宣言されるとともに、およびそのテストフロー名F1,F2,…に対応した手順でテストを実施する際に要する全処理時間Ta,Tb,…を規定している。
【0006】
また、上記のテスト条件付処理工程情報Y2は、各テストフロー名F1,F2,…に対応した具体的なテスト実行手順を規定する各テスト処理工程名N1,N2,…が宣言されるとともに、各テスト処理工程名N1,N2,…の下で使用する装置名M1,M2,…、処理時間t1,t2,…、ファンクションテストを実施するためのテストプログラムを設定するためのテストプログラム名P1,P2,…などのテスト条件を規定している。なお、ここでは理解を促すために、各テスト条件として装置名、処理時間、およびテストプログラム名の3つの項目に限定しているが、実際上はさらに多数のテスト条件が詳細に規定される。
【0007】
ここで、いま、たとえば品種Aについて所定のテスト項目を設定する場合、まず、図6のテスト基準情報Y1において、品種Aを指定すると、この品種Aに対応するテストフロー名F1、および全処理時間Taが設定される。続いて、図7のテスト条件付処理工程情報Y2において、テストフロー名F1をキーとして、これに対応した各テスト処理工程N1,N2,…、ならびに各テスト処理工程名N1,N2,…により規定されるテスト処理工程で使用する装置名、処理時間、テストプログラム名などのテスト条件が設定される。これは他の品種B,C,…についてテスト項目を設定する場合も同様である。
【0008】
そして、従来は、このようして各品種A,B,C,…についての詳細なテスト項目が設定されると、これらのテスト項目をプリントアウトなどして半導体製造部門のテスト作業者に知らせ、当該テスト作業者はこのテスト項目に従って各品種A,B,…について適切なテストを実施している。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記のテスト基準情報Y1およびテスト条件付処理工程情報Y2は、各品種A,B,C,…についてのテスト項目を規定するものであるが、これらの情報Y1,Y2は不変的なものではなく、製品の要求品質や特性の変化等によってしばしば改定されることがある。たとえば、テスト精度を高めるためにテスト条件を変更したり、あるいは、テストの稼働効率を高めるために不要なテスト処理工程を省略したり、追加したりすることがある。
【0010】
一方、従来は、図7に示したテスト条件付処理工程情報Y2の内容を見て分かるように、テストフロー名F1,F2,…の下にテスト処理工程名のみならず、各テスト処理工程名に付随して装置名、処理時間、テストプログラム名などのテスト条件が規定されたデータ構造となっている。換言すれば、テストフロー名F1,F2,…の下にテスト処理工程名とテスト条件とが一体的に組み込まれたデータ構造となっている。そのため、テスト項目の一つの事項を変更したり追加する場合にも、各テストフロー名F1,F2,…ごとにテスト情報の修正を行わねばならなかった。
【0011】
たとえば、図7の例において、テストフロー名はF1,F2,F3と異なっているが、その中には同じテスト処理工程名N1を含んだものがある、そのため、同じテスト条件(装置名M1,処理時間t1,テストプログラム名P1)が設定されている。しかし、従来はテストフロー名の中にテスト条件が組み込まれたデータ構造となっているため、この工程名N1のテスト条件を変更(たとえば装置名をM1からM1’に変更)するためには、各々のテストフロー名F1,F2,F3のテスト情報について個別に修正を行わねばならず、一括した修正ができない。
【0012】
また、テスト条件の項目の一つであるテストプログラムは頻繁にバージョンアップされるので、そのバージョンアップの度に、各々のテストフロー名F1,F2,…に付属するテストプログラム名も個別に修正する必要が生じる。
【0013】
したがって、従来は、テスト情報の修正作業に過大な労力と時間を要し、テスト情報の管理作業者の負担が大きかった。しかも、個々にテスト情報を修正する必要があるために修正ミスが生じ易かった。
【0014】
さらに、従来のように、テストフロー名F1,F2,…の中にテスト条件が組み込まれたデータ構造になっていると、テストフロー名F1,F2,…ごとに個別にテスト条件が規定される結果、同じ内容の情報が重複し(図7の例では、テストフロー名F1,F2間で工程名N1,N3,N4が重複しており、このためテスト条件を決めるデータも重複している)、テスト情報の共有化が図れない。その結果、テスト情報をデータベース化してファイル管理する際に情報量が徒に増大してしまう。
【0015】
本発明は、上記の課題を解決するためになされたもので、テスト情報の共通化、集約化を行えるとともに、テスト情報を一括して修正できるようにして、テスト情報の変更に伴う作業者の負担を軽減し、修正ミスなども起こらないようにした半導体装置のテスト情報管理方法およびテスト情報管理システムを提供することを目的とする。
【0016】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記の目的を達成するために、次のようにしている。
【0017】
すなわち、請求項1記載の発明に係る半導体装置のテスト情報管理方法は、半導体装置の各品種ごとのテスト項目を規定するテスト情報を管理する場合において、半導体装置の各品種ごとに総括的なテストフロー名が宣言されたテスト基準情報と、上記テストフロー名に応じた具体的なテスト実行手順を規定するテスト処理工程名が個々に宣言されたテスト処理工程情報と、上記各テスト処理工程名ごとのテスト条件が規定されたテスト条件情報とをそれぞれ確保し、これらの各情報を順次階層化してデータベースとし、上記テスト基準情報とテスト処理工程情報とは上記テストフロー名をキーとして互いに関連付け、また、上記テスト処理工程情報とテスト条件情報とは上記各テスト処理工程名をキーとして互いに関連付けることにより情報管理することを特徴としている。
【0018】
請求項2記載の発明に係る半導体装置のテスト情報管理方法は、請求項1記載の発明方法において、上記テスト条件情報には、ファンクションテストを実施するためのテストプログラムを規定するテストプログラム名が宣言される一方、テスト条件情報とは別個にバージョンアップが宣言されたテストプログラムを含むプログラム情報を確保し、上記テスト条件情報とプログラム情報とを上記テストプログラム名をキーとして互いに関連付けることにより情報管理することを特徴としている。
【0019】
請求項3記載の発明に係るテスト情報管理システムは、コンピュータ制御によって半導体装置の各品種ごとのテスト項目を規定するテスト情報を管理するシステムであって、テスト開発管理部門などに配置されたホストコンピュータには上記テスト情報がマスタ情報として格納されたマスタ情報ファイルが、また、工場テスト部門などに配置された工場側コンピュータには上記マスタ情報をコピーしたサブマスタ情報ファイルがそれぞれデータベースとして確保されており、上記マスタ情報ファイルとサブマスタ情報ファイルとは、共に、半導体装置の各品種ごとにテストフロー名が宣言されたテスト基準情報が登録されたテスト基準情報ファイルと、上記テストフロー名に応じた具体的なテスト実行手順を規定するテスト処理工程名が個々に宣言されたテスト処理工程情報が登録されたテスト処理工程情報ファイルと、上記各テスト処理工程名ごとのテスト条件が規定されたテスト条件情報が登録されたテスト条件情報ファイルとが順次階層構造となるように互いに関連付けられて配備されていることを特徴としている。
【0020】
請求項4記載の発明に係るテスト情報管理システムは、請求項3記載の発明の構成において、バージョンアップが宣言されたテストプログラムを含むプログラム情報が登録されたプログラム情報ファイルを備え、上記テスト条件情報ファイルにこのプログラム情報ファイルが関連付けられて配備されていることを特徴としている。
【0021】
【発明の実施の形態】
実施の形態1.
図1は本発明の実施の形態1に係るテスト処理情報管理システムの全体構成を示すブロック図である。
【0022】
この実施の形態1のテスト情報管理システムは、半導体装置の各品種ごとのテスト項目を規定するテスト情報を管理するためのもので、コンピュータ装置やワークステーション等の情報処理装置を使用して実現されるものである。
【0023】
この場合のテスト情報管理システムのハードウェア構成としては、図1に示すように、テスト開発管理部門などに配置されたホストコンピュータ1と、各工場のテスト部門などに配置された工場側コンピュータ2とがLANなどの通信回線4を介して互いに接続されている。
【0024】
ホストコンピュータ1は、制御本体部1a、ハードディスクなどの記憶装置1b、および端末装置1cを備えている。また、工場側コンピュータ2は、制御本体部2a、ハードディスクなどの記憶装置2b、端末装置2cを備えるとともに、制御本体部2aにより制御されるテスト装置3が設けられている。そして、ホストコンピュータ1の端末装置1cに設けられている図示しないキーボードや表示器等を介して記憶装置1bに格納されているテスト情報の追加、変更、削除等の修正が行なわれる。
【0025】
上記のホストコンピュータ1の記憶装置1bには、テスト情報がマスタ情報として格納されたマスタ情報ファイル1dが確保されている。また、工場側コンピュータ2の記憶装置2bにはマスタ情報をコピーしたサブマスタ情報がサブマスタ情報ファイル2dとして確保されている。したがって、マスタ情報ファイル1dとサブマスタ情報ファイル2dのデータ内容は基本的に同じであるから、以下では、マスタ情報ファイル1dの具体的な内容についてさらに説明する。
【0026】
上記のマスタ情報ファイル1dは、テスト基準情報ファイル11、テスト処理工程情報ファイル12、テスト条件情報ファイル13、およびプログラム情報ファイル14からなる。
【0027】
上記のテスト基準情報ファイル11には、図2に示すように、半導体装置の各品種ごとに総括的なテストフロー名が宣言されたテスト基準情報X1が登録されている。また、テスト処理工程情報ファイル12には、図3に示すように、テストフロー名に応じた具体的なテスト実行手順を規定するテスト処理工程名が宣言されたテスト処理工程情報X2が登録されている。テスト条件情報ファイル13には、図4に示すように、各テスト処理工程名ごとのテスト条件が規定されたテスト条件情報X3が登録されている。さらに、プログラム情報ファイル14には、図5に示すように、バージョンアップが宣言されたテストプログラムを含むプログラム情報X4が登録されている。
【0028】
なお、この実施の形態1では、テスト条件情報X3における各テスト条件項目として装置名、処理時間、およびテストプログラム名の3つに限定しているが、実際上はさらに多数のテスト条件が詳細に規定される。
【0029】
そして、上記テスト基準情報X1とテスト処理工程情報X2とは上記テストフロー名をキーとして互いに関連付けられ、また、上記テスト処理工程情報X2とテスト条件情報X3とは上記各テスト処理工程名をキーとして互いに関連付けられ、さらにテスト条件情報X3とプログラム情報X4とはテストプログラム名をキーとして互いに関連付けられている。したがって、テスト基準情報ファイル11、テスト処理工程情報ファイル12、テスト条件情報ファイル13、プログラム情報ファイル14の順で次第に下位となるような階層構造が採られることでテスト情報が管理されるようになっている。
【0030】
ここで、いま、各工場のテスト部門などに配置されているテスト装置3に対して、工場側コンピュータ2を利用して、たとえば品種Aについて所定のテスト項目を設定する場合には、端末装置2cからの操作により、品種Aを指定すると、制御本体部2aは、記憶装置2bに格納されているサブマスタ情報ファイル2dの情報の内から、まず、図2に示すテスト基準情報X1を検索して、この品種Aに対応するテストフロー名F1を設定する。
【0031】
次いで、このテストフロー名名F1をキーとして図3に示すテスト処理工程情報X2を検索して、このテストフロー名F1に対応した具体的なテスト実行手順を規定する各テスト処理工程名、すなわちここではテスト処理工程順にN1,N2,N3,N4,…を設定する。
【0032】
引き続いて、各テスト処理工程名N1,N2,N3,N4,…をキーとして図4に示すテスト条件情報X3を検索して、各テスト処理工程名N1,N2,N3,N4,…に対応した各テスト処理工程で使用する具体的な装置名、処理時間、テストプログラム名などのテスト条件を設定する。
【0033】
さらに、テスト条件情報X3に含まれるテストプログラム名をキーとして、図5に示すようなプログラム情報X4を検索して、最新のバージョンのテストプログラムを設定する。たとえば、テストプログラム名がP1の場合は、これをキーとして、これに対応するプログラム情報に含まれる最新バージョンのテストプログラムP1−Vkとテスト時間tkを設定する。
【0034】
このように、半導体装置の品種Aを指定することにより、各情報X1〜X4が互いに関連付けられてこの品種Aに適合した所定のテスト項目が設定される。なお、ここでは品種Aについて説明したが、他の品種B,C,…についてテスト項目を設定する場合も同様である。
【0035】
上記の説明から分かるように、各情報X1〜X4は互いに分離して存在し、特にテスト処理工程情報X2とテスト条件情報X3とは、テスト処理工程名をキーとして互いに関連付けられているだけで、従来のように、テストフロー名の下に両情報X2,X3が一体的に組み込まれている訳ではない。このため、テスト条件情報X3の内容が変化しても両情報X2,X3間のキーとなるテスト処理工程名が変化しない限り、互いの情報X2,X3の関連付けが可能である。
【0036】
したがって、テスト開発管理部門などに配置されたホストコンピュータ1の記憶装置1bに格納されているマスタ情報ファイル1dについて、たとえば、図4に示すテスト条件情報X3の内からテスト処理工程名N1に関するテスト条件を一部変更(一例として装置名をM1からM1’に変更)するような場合、その上位のテスト処理工程情報X2において規定されている各テストフロー名F1,F2,F3には同じテスト処理工程名N1が含まれているけれども、このテスト処理工程情報X2やさらにその上位のテスト基準情報X1については何ら修正を行う必要はなく、テスト条件情報X3の装置名を変更するだけでよい。
【0037】
また、テスト条件情報X3とプログラム情報X4とはテストプログラム名をキーとして互いに関連付けられている。したがって、テストプログラムをバージョンアップする場合でも、プログラム情報X4においてテストプログラムの修正およびバージョンアップ宣言を行うだけでよく、テスト条件情報X3を修正する必要はない。
【0038】
さらに、この実施の形態1のようなテスト情報管理システムを採用することにより、ホストコンピュータ1のマスタ情報を新規に作成した場合や既存のマスタ情報を改定した場合、その改定後のマスタ情報は通信回線4を介して工場側コンピュータ2に転送されてその記憶装置2bにサブマスタ情報としてコピーされる。このため、テスト開発管理部門と各工場のテスト部門との間でそれぞれ管理するテスト情報のフォーマットの共通化、テスト指示形態の共通化が可能となる。これにより、テスト開発管理部門で作成したテスト情報を工場側のテスト作業者に対して錯誤を生じることなく確実かつ迅速に伝達でき、指示を徹底させることができる。
【0039】
【発明の効果】
(1) 請求項1記載の半導体装置のテスト情報管理方法、および請求項3記載のテスト情報管理システムによれば、従来に比べてテスト情報の共通化、集約化を行えるとともに、テスト情報を一括して修正することができるため、テスト情報の変更に伴う作業者の負担を大幅に軽減することができるだけでなく、修正ミスなども起こりにくくなる。
【0040】
また、特に、請求項3記載のテスト情報管理システムを採用すれば、テスト開発管理部門と各工場のテスト部門との間でそれぞれ管理するテスト情報のフォーマットの共通化、テスト指示形態の共通化が可能となるので、テスト開発管理部門で作成したテスト情報を工場側のテスト作業者に対して錯誤を生じることなく確実かつ迅速に伝達でき、指示を徹底させることができる。
【0041】
(2) 請求項2記載の半導体装置のテスト情報管理方法、および請求項4記載のテスト情報管理システムによれば、上記(1)に記載した効果に加えて、テストプログラムはバージョンアップのためにしばしば変更されるが、その場合、プログラム情報においてテストプログラムの修正およびバージョンアップ宣言を行うだけでよく、テスト条件情報まで修正する必要がなくなる。そのため、テストプログラム修正時のミスを防ぐことができ、かつ、修正時の負担を軽減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1に係るテスト情報管理システムの全体構成を示すブロック図である。
【図2】本発明においてテスト情報を構成するテスト基準情報の一例を示す説明図である。
【図3】本発明においてテスト情報を構成するテスト処理工程情報の一例を示す説明図である。
【図4】本発明においてテスト情報を構成するテスト条件情報の一例を示す説明図である。
【図5】本発明においてテスト情報を構成するプログラム情報の一例を示す説明図である。
【図6】従来のテスト情報を構成するテスト基準情報の一例を示す説明図である。
【図7】従来のテスト情報を構成するテスト条件付処理工程情報の一例を示す説明図である。
【符号の説明】
1 ホストコンピュータ、1d マスタ情報ファイル、2 工場側コンピュータ、2d サブマスタ情報ファイル、11 テスト基準情報ファイル、12 テスト処理工程情報ファイル、13 テスト条件情報ファイル、14 プログラム情報ファイル、X1 テスト基準情報、X2 テスト処理工程情報、X3 テスト条件情報、X4 プログラム情報。
Claims (4)
- 半導体装置の各品種ごとのテスト項目を規定するテスト情報を管理するための方法であって、半導体装置の各品種ごとにテストフロー名が宣言されたテスト基準情報と、上記テストフロー名に応じた具体的なテスト実行手順を規定するテスト処理工程名が宣言されたテスト処理工程情報と、上記各テスト処理工程名ごとのテスト条件が規定されたテスト条件情報とをそれぞれ確保し、これらの各情報を順次階層化してデータベースとし、上記テスト基準情報とテスト処理工程情報とは上記テストフロー名をキーとして互いに関連付け、また、上記テスト処理工程情報とテスト条件情報とは上記各テスト処理工程名をキーとして互いに関連付けることにより情報管理することを特徴とする半導体装置のテスト情報管理方法。
- 上記テスト条件情報には、ファンクションテストを実施するためのテストプログラムを規定するテストプログラム名が宣言される一方、テスト条件情報とは別個にバージョンアップが宣言されたテストプログラムを含むプログラム情報を確保し、上記テスト条件情報とプログラム情報とを上記テストプログラム名をキーとして互いに関連付けることにより情報管理することを特徴とする請求項1記載の半導体装置のテスト情報管理方法。
- コンピュータ制御によって半導体装置の各品種ごとのテスト項目を規定するテスト情報を管理するテスト情報管理システムであって、テスト開発管理部門などに配置されたホストコンピュータには上記テスト情報がマスタ情報として格納されたマスタ情報ファイルが、また、工場テスト部門などに配置された工場側コンピュータには上記マスタ情報をコピーしたサブマスタ情報ファイルがそれぞれデータベースとして確保されており、上記マスタ情報ファイルとサブマスタ情報ファイルとは、共に、半導体装置の各品種ごとにテストフロー名が宣言されたテスト基準情報が登録されたテスト基準情報ファイルと、上記テストフロー名に応じた具体的なテスト実行手順を規定するテスト処理工程名が宣言されたテスト処理工程情報が登録されたテスト処理工程情報ファイルと、上記各テスト処理工程名ごとのテスト条件が規定されたテスト条件情報が登録されたテスト条件情報ファイルとが順次階層構造となるように互いに関連付けられて配備されていることを特徴とするテスト情報管理システム。
- バージョンアップが宣言されたテストプログラムを含むプログラム情報が登録されたプログラム情報ファイルを備え、上記テスト条件情報ファイルにこのプログラム情報ファイルが関連付けられて配備されていることを特徴とする請求項3記載のテスト情報管理システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002229382A JP2004071844A (ja) | 2002-08-07 | 2002-08-07 | 半導体装置のテスト情報管理方法、およびテスト情報管理システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002229382A JP2004071844A (ja) | 2002-08-07 | 2002-08-07 | 半導体装置のテスト情報管理方法、およびテスト情報管理システム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004071844A true JP2004071844A (ja) | 2004-03-04 |
Family
ID=32015779
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002229382A Pending JP2004071844A (ja) | 2002-08-07 | 2002-08-07 | 半導体装置のテスト情報管理方法、およびテスト情報管理システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2004071844A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010025589A (ja) * | 2008-07-15 | 2010-02-04 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 試験装置及び試験プログラム |
JP2014085180A (ja) * | 2012-10-22 | 2014-05-12 | Murata Mfg Co Ltd | 電子部品の検査装置、検査方法、及び検査プログラム |
-
2002
- 2002-08-07 JP JP2002229382A patent/JP2004071844A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010025589A (ja) * | 2008-07-15 | 2010-02-04 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 試験装置及び試験プログラム |
JP2014085180A (ja) * | 2012-10-22 | 2014-05-12 | Murata Mfg Co Ltd | 電子部品の検査装置、検査方法、及び検査プログラム |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6826604B2 (en) | Input/output device information management system for multi-computer system | |
JP2002521764A (ja) | コンピュータシステムの変化監視システム | |
US10380085B2 (en) | Method, apparatus and computer program for migrating records in a database from a source database schema to a target database schema | |
JP5179207B2 (ja) | ソフトウェア開発支援の装置、そのプログラム、及び方法 | |
JP4997843B2 (ja) | ソフトウェア修正漏れ確認システムおよび方法 | |
JP2008204333A (ja) | 仕様の追跡可能性を根拠とするプロジェクト管理システム及び仕様変更管理方法のプログラム | |
JP2006260314A (ja) | アプリケーションソフトウェア構成管理装置、アプリケーションソフトウェア構成管理方法、およびプログラム | |
JPH10326212A (ja) | データ管理装置 | |
JP2004071844A (ja) | 半導体装置のテスト情報管理方法、およびテスト情報管理システム | |
JP6270008B1 (ja) | 移送方法 | |
US20100198786A1 (en) | Information processing apparatus, information processing method, and computer program product | |
JP2007249422A (ja) | 組織構成管理システム、そのプログラム | |
JP2007286778A (ja) | 流用設計処理装置,流用設計処理方法および流用設計処理プログラム | |
US20120198432A1 (en) | Update management apparatus and update management method | |
JP7246301B2 (ja) | プログラム開発支援システム及びプログラム開発支援方法 | |
JP2004046445A (ja) | 大規模分散コンピューティングシステムにおける環境定義情報管理システム及び方法 | |
JP2004252719A (ja) | データ管理装置及びデータ管理方法及びデータ管理プログラム | |
JPH11134178A (ja) | ロードモジュールの版数情報による相互関連チェック方式およびプログラム記録媒体 | |
JPH11272451A (ja) | ソフトウェアのインストール制御システムと方法およびそのプログラムを記録した記録媒体 | |
JP2010092228A (ja) | オブジェクト・モデルに対するアクセスを制御するシステム、方法、およびプログラム | |
JP2004110102A (ja) | プロジェクト管理方法および工程定義装置 | |
JP2005316778A (ja) | プラント監視制御装置 | |
JP2018073286A (ja) | 採番制御装置、採番制御方法および採番制御プログラム | |
JP2022126395A (ja) | 構成管理システム | |
JP2000172678A (ja) | 文書登録装置及び文書登録方法 |