JP2010025589A - 試験装置及び試験プログラム - Google Patents

Abstract

【課題】試験項目や測定器、被試験器等の変更・追加が生じたときのプログラム修正量を低減するようにした試験装置及び試験プログラムを提供する。
【解決手段】被試験器と測定器の動作制御に用いられる試験プログラム１０（試験プログラム部１３）が、試験項目毎の試験内容を定義する試験パラメータ（第１のパラメータ）１７と、被試験器の情報と試験パラメータ１７へのリンク情報を定義する表示パラメータ（第２のパラメータ）１８と、被試験器に対して実行する試験項目と表示パラメータ１８へのリンク情報を定義する組込パラメータ（第３のパラメータ）１９と、試験パラメータ１７、表示パラメータ１８及び組込パラメータ１９を解析して被試験器に対する試験を実行する処理プログラム１５とを有するように構成した。
【選択図】図２

Description

本発明は、試験装置及び試験プログラムに関する。

試験手順に従って被試験器と測定器の動作を制御し、当該被試験器に対する試験を行う試験装置が知られている（例えば特許文献１参照）。
特開２００７−２９２７２３号公報

被試験器に対して行う試験項目等は、様々の要因によって変更や追加が生じる場合がある。また、試験装置にあっては、測定器や被試験器の追加・変更等も生じ得る。試験項目や測定器、被試験器等の変更・追加が生じると、試験手順を記述した試験プログラムを再作成する必要があり、作業量の増加とコストアップを招いていた。

従って本発明の目的は上記した課題を解決し、試験項目や測定器、被試験器等の変更・追加が生じたときのプログラム修正量を低減するようにした試験装置及び試験プログラムを提供することにある。

上記した課題を解決するため、本発明に係る試験装置にあっては、試験手順が記述された試験プログラムを実行して被試験器と測定器の動作を制御することによって前記被試験器に対する試験を行う試験装置であって、前記試験プログラムは、試験項目毎の試験内容を定義する第1のパラメータと、前記被試験器の情報と前記第１のパラメータへのリンク情報を定義する第２のパラメータと、前記被試験器に対して実行する試験項目と前記第２のパラメータへのリンク情報を定義する第３のパラメータと、前記第１のパラメータ、前記第２のパラメータ及び前記第３のパラメータを解析して前記被試験器に対する試験を実行する処理プログラムと、を有するように構成した。

また、上記した課題を解決するため、本発明に係る試験プログラムにあっては、試験項目毎の試験内容を定義する第1のパラメータと、前記被試験器の情報と前記第１のパラメータへのリンク情報を定義する第２のパラメータと、前記被試験器に対して実行する試験項目と前記第２のパラメータへのリンク情報を定義する第３のパラメータと、前記第１のパラメータ、前記第２のパラメータ及び前記第３のパラメータを解析して前記被試験器に対する試験を実行する処理プログラムと、を有するように構成した。

本発明に係る試験装置にあっては、被試験器と測定器の動作制御に用いられる試験プログラムが、試験項目毎の試験内容を定義する第1のパラメータと、被試験器の情報と第１のパラメータへのリンク情報を定義する第２のパラメータと、被試験器に対して実行する試験項目と第２のパラメータへのリンク情報を定義する第３のパラメータと、第１のパラメータ、第２のパラメータ及び第３のパラメータを解析して被試験器に対する試験を実行する処理プログラムと、を有するように構成したので、試験項目や測定器、被試験器等の変更・追加が生じた場合であっても、各パラメータの変更・追加によって対応可能であり、処理プログラムの変更は必要ない。従って、試験項目や測定器、被試験器等の変更・追加が生じたときのプログラム修正量を低減することができる。

また、本発明に係る試験プログラムにあっては、試験項目毎の試験内容を定義する第1のパラメータと、被試験器の情報と第１のパラメータへのリンク情報を定義する第２のパラメータと、被試験器に対して実行する試験項目と第２のパラメータへのリンク情報を定義する第３のパラメータと、第１のパラメータ、第２のパラメータ及び第３のパラメータを解析して被試験器に対する試験を実行する処理プログラムと、を有するように構成したので、試験項目や測定器、被試験器等の変更・追加が生じた場合であっても、各パラメータの変更・追加によって対応可能であり、処理プログラムの変更は必要ない。従って、試験項目や測定器、被試験器等の変更・追加が生じたときのプログラム修正量を低減することができる。

以下、本発明に係る試験装置及び試験プログラムを実施するための最良の形態について、図面を参照して説明する。

図１は、本発明に係る試験装置の構成を示すブロック図である。図１において、符号１は試験装置を表す。試験装置１は、無線機等の被試験器（試験対象である電子機器）２について予め決められた試験手順で自動的に試験を行い、試験で得た測定値に基づいて被試験器２の動作が正常であるか否かを判定する。

試験装置１は、装置全体及び被試験器の制御、測定値の良否判定等を行う制御器（コンピュータ）３と、被試験器２から出力される出力信号を測定する測定器４-ｎ（ｎは自然数）と、被試験器２と測定器４-ｎ間の測定経路の切替えを行う切替器５とを備えている。測定器４-ｎは、例えば基準信号を発生する基準信号発生器や信号の位相を検波する位相検波器など、被測定器の種別に関わらず広く使用される汎用測定器や、特定の被試験器に対してのみ使用する専用測定器からなる。

制御器３は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）７と、記憶部８と、表示部９とを有する。記憶部８には被試験器２の試験手順が記述された試験プログラム等が記憶される。記憶部８に記憶された試験プログラムはＣＰＵ７に読み込まれて実行される。表示部９にはＣＰＵ７で実行される試験プログラムの処理に応じ、被試験器や試験項目、測定結果等の試験情報が表示される。

続いて、試験装置１によって行われる被試験器２の試験動作について説明する。制御器３のＣＰＵ７にて試験プログラムが実行されると、表示部９に被試験器２や試験項目等に関係する情報が表示される。試験装置１の操作者は、図示しないマウス等の入力装置を用い、表示部９に表示された被試験器の中からこれから試験する被試験器や試験の種別を選択する。制御器３は、操作者によって試験すべき被試験器や試験の種別が選択されると、後述する試験プログラムを実行し、被試験器の試験に必要な制御信号を測定器４-ｎ、切替器５、被試験器２に対して出力する。

制御器３による各構成の制御について具体的に説明する。制御器３は、被試験器２に対して測定条件等の設定指示を出力し、被試験器２を所望の測定条件に設定する。また、制御器３は、試験手順に従って切替部５の動作を制御し、被試験器２に接続される測定器４-ｎの切替（経路切替）を行うと共に、測定器４-ｎの動作の制御（設定等）を行う。測定器４-ｎは、制御器３からの指示に従って被試験器２に対して試験信号を出力すると共に、被試験器２から出力された試験信号を測定する。測定器４-ｎで得られた測定値は制御器３に送られる。制御器３は、その測定値を閾値と比較することによって測定値の良否判定、即ち、被試験器２の動作が正常であるか否かの判定を行うと共に、測定値と判定結果を表示部９に表示する。以上の動作は試験プログラムに従って全て自動的に行われる。

次いで、上記した試験プログラムの構造について説明する。図２は試験プログラムの構造を示すブロック図である。

図２に示すように、試験プログラム１０は操作表示部１１と、システム制御部１２と、試験プログラム部１３と、試験制御ドライバ部１４とから構成される。操作表示部１１は、表示部９に対する試験情報等の表示処理や、操作者によって入力された被試験器の選択指示の受付処理等を行う。操作表示部１１は、受付けた各種指示に応じた処理指令を生成してシステム制御部１２に出力する。システム制御部１２は、入力した処理指令に従って試験プログラム部１３を動作させると共に、試験プログラム部１３から各種パラメータ（後述）を取得して操作表示部１１に出力する。

試験プログラム部１３は、処理プログラム１５と、複数の被試験器別プログラム１６Ａ，１６Ｂ，・・・を有する。各被試験器別プログラム１６Ａ，１６Ｂ，・・・の基本構成は同一のため、以下の説明では各被試験器別プログラムを符号１６にて総称して示す。被試験器別プログラム１６は、試験対象となる被試験器２の数（種類）だけ設けられる。被試験器別プログラム１６は、試験項目毎の試験内容を定義する試験パラメータ（第１のパラメータ）１７と、被試験器の情報と前記試験パラメータへのリンク情報を定義する表示パラメータ（第２のパラメータ）１８と、被試験器に対して実行する試験項目と前記表示パラメータへのリンク情報を定義する組込パラメータ（第３のパラメータ）１９とからなり、各パラメータ１７，１８，１９はそれぞれ独立したファイルによって構成される。試験器２毎の試験手順は各パラメータ１７，１８，１９によって記述されている。ここで試験手順には、上記した経路切替、測定器４-ｎの動作制御、被試験器２の測定条件設定等が含まれる。

試験プログラム部１３は、処理プログラム１５によって被試験器別プログラム１６を構成する各パラメータ１７，１８，１９の解析を行い、試験手順に応じた処理指令を生成する。試験プログラム部１３は、生成した処理指令を試験制御ドライバ部１４に出力して試験制御ドライバ部１４の各種ドライバを動作させ、被試験器２、測定器４-ｎ、切替器５を制御して被試験器２に対する試験を実行する。

尚、試験制御ドライバ部１４は、被試験器用ドライバ２０、測定器用ドライバ２１Ａ，２１Ｂ，２１Ｃ，・・・、切替器用ドライバ２２等を有する。被試験器用ドライバ２０、測定器用ドライバ２１Ａ，２１Ｂ，２１Ｃ，・・・、及び切替器用ドライバ２２は、それぞれ被試験器２、測定器４-ｎ、切替器５について設けられたドライバである。

次いで、被試験器別プログラム１６を構成する各パラメータ１７，１８，１９について説明する。図３は、組込パラメータ１９の内容を示す説明図である。また、図４は表示パラメータ１８の内容を示す説明図であり、図５は試験パラメータ１７の内容を示す説明図である。尚、各パラメータ１７，１８，１９は例えばＣＳＶ（Comma-Separated-Values）形成でファイル化され、任意の表計算ソフトウェア等を用いて表示可能とされる。また、以下では各パラメータ１７，１８，１９で定義される項目の具体例を挙げているが、定義される項目は下記の項目に限定されるものではない。

図３に示すように、組込パラメータ１９には、試験対象となり得る被試験器Ａ，Ｂ，Ｃ，・・・毎に、「器材名称」、「器材型式」、「ＢＩＴ（Built-In-Test）試験ファイル名」、「機能・性能試験ファイル名」、「モジュール名」の各項目が定義されている。図３では、第１行から第３行までは組込パラメータ１９で定義されている項目名が列挙され、以降、３行毎に上記した各項目に対応する内容が定義されている。

ここで、「器材名称」と「器材型式」は、それぞれ被試験器２の名称と型式である。また「ＢＩＴ試験」とは、被試験器２自身が有する自己診断機能であり、主に被試験器２の設定のみで実施が可能な試験である。一方、「機能・性能試験」とは、主に測定器４-ｎを用いて行う詳細な試験である。従って、これら各試験には別個の試験手順が定義される。また、「モジュール名称」とは、被試験器２を構成するモジュールの名称である。

図３に示す組込パラメータ１９のうち、「ＢＩＴ試験ファイル名」と「機能・性能試験ファイル名」は、それぞれリンクする表示パラメータ１８を定義している。図４に、「機能・性能試験ファイル名」で定義された表示パラメータ１８の一例を示す。

図４に示すように、表示パラメータ１８には、「試験実行パラメータファイル名」、「測定項目」、「要求基準」、「単位」、「基準下限値」、「基準上限値」、「グラフタイトル」、「手動」、「処理時間」、「グラフ下限値」、「グラフ上限値」の各項目が定義されている。「試験実行パラメータファイル名」とは、試験の実行時に参照すべきパラメータを定義したファイルの名称である。また、「測定項目」とは測定項目（試験項目）の名称であり、「要求基準」とは望むべき試験結果を表す。「単位」とは測定値の単位であり、「基準下限値」と「基準上限値」はそれぞれ測定値の正常範囲を規定する値である。また、「手動」とは当該測定項目を手動で行うか否かを示しており、「処理時間」は当該測定項目を完了するのに要する時間を示す。さらに、「グラフタイトル」、「グラフ下限値」、「グラフ上限値」は、試験結果をグラフ表示するときのタイトルとスケールの上下限値を示す。

尚、図示は省略するが、「ＢＩＴ試験ファイル名」でも図４に準じた表示パラメータ（但し項目は異なる）が定義されている。

図４の説明を続けると、表示パラメータ１８のうち、「試験実行パラメータファイル名」は、リンクする試験パラメータ１７を定義している。図５に試験パラメータの内容を示す。図５に示す試験パラメータ１７は、図４に示す「試験実行パラメータファイル名」毎、言い換えれば「測定項目」（試験項目）毎、さらには、「ＢＩＴ試験ファイル名」にリンクする表示パラメータに定義される「試験実行パラメータファイル名」毎（測定項目毎）に設定される。

図５に示すように、試験パラメータ１７は、「プログラム名称」、「ＶＥＲ」、「機器名称」、「試験項目名称」、「パラメータ名」の各項目が定義されている。ここで「パラメータ名」とは、表示パラメータ１８の「試験実行パラメータファイル名」と同じであり、現在実行されているファイル名が示される。また、「プログラム名称」とは、試験パラメータを解析することによって現在実行されているプログラムの名称を示し、「ＶＥＲ」とは当該プログラムのバージョンを示している。また「機器名称」とは、上記プログラムの試験対象を示し、試験項目名称とは現在実行されている試験項目の名称を示す。尚、「パラメータ名」に定義されているファイルの内容（試験に用いる具体的なパラメータ）は、図５の４行目以降に示すように複数定義されている。

前述した処理プログラム１５は、図５に定義されるパラメータを解析して試験手順に応じた処理指令を生成し、試験制御ドライバ部１４に出力して被試験器２や測定器４-ｎ、切替器５を動作させ、被試験器２に対する試験を実行する。また、上述したように、各パラメータ１７，１８，１９の内容はシステム制御部１２を介して操作表示部１１に入力される。操作制御部１１は、入力した各種パラメータに関する情報を表示部９に表示する。

図６は、上記した試験プログラム１０の処理を示すフローチャートである。図６フローチャートについて説明すると、先ずＳ１において、試験を実施する被試験器２の選択と、実施する試験種別の選択を受付ける（操作表示部１１）。具体的には、試験プログラム１０が実施されると、操作表示部１１の処理によってメニュー画面が表示部９に表示される。当該メニュー画面には被試験器の一覧と試験種別（ＢＩＴ試験と機能・性能試験）が表示される。操作者はマウス等の入力装置を用い、メニュー画面に表示された被試験器の一覧から試験を実施する被試験器を選択すると共に、実施する試験の種別を選択する。

次いでＳ２に進み、選択された被試験器と試験種別に基づき、組込パラメータを取得すると共に、組込パラメータの中から対応するファイル名を選択して表示パラメータを取得する（操作表示部１１、システム制御部１２）。次いでＳ３に進み、取得した組込パラメータと表示パラメータを表示部９に表示し、Ｓ４で試験項目の選択と試験開始指示を受付ける（操作表示部１１）。

図７は、機能・性能試験を実施する際の表示画面を示す図である。図７において、機能・性能試験画面を符号３０で示す。図示の如く、表示部９には上記した各種パラメータのうち、操作者に提示すべき情報が表示される。具体的には、表示部９には、表示パラメータ１８の中の「測定項目」、「要求基準」、「単位」の各項目が表示されると共に、各測定項目の「処理時間」の積算値が試験残時間としてカウントダウン表示される。このとき、表示パラメータ１８で「手動」と定義された測定項目は、網掛け表示にて他の測定項目と区別される。さらに表示部９には、組込パラメータ１９の中の「モジュール名称」が、被試験器２を構成するモジュールの一覧として表示される。操作者は、画面に表示されている測定項目の中から、実行したい測定項目をマウス等の入力装置を用いて選択し、さらに試験開始ボタンをクリックして試験を開始させる。尚、ＢＩＴ試験を実施する場合にも、図６に準じた画面が表示される。

図６フローチャートの説明に戻ると、操作者によって測定項目の選択と試験開始指示が入力されると、Ｓ５に進んで試験を実施する（操作表示部１１、システム制御部１２、試験プログラム部１３）。

図８は、図６フローチャートの試験実施処理のサブルーチン・フローチャートである。図８フローチャートを説明すると、先ずＳ１０で試験実施項目が有るか否か判断する（試験プログラム部１３）。Ｓ１０で肯定されるとＳ１１に進み、試験パラメータファイル名を取得し、試験パラメータを1行ずつ実施する（試験プログラム部１３）。次いでＳ１３に進み、試験パラメータが全て終了したか（全て実施したか）否か判断し（試験プログラム部１３）、終了していなければＳ１２に戻って再度試験パラメータを実施する。

一方、Ｓ１３で試験パラメータが全て終了したと判断されると、Ｓ１４に進んで測定結果を表示部９に表示する（操作表示部１１、システム制御部１２）。測定結果の表示を行うとＳ１０に戻り、そこで実施すべき試験項目が無いと判断されると試験の実施処理を終了する。

図９は、測定結果の表示例を示す図である。図９において、測定結果表示画面を符号３１で示す。図示の如く測定結果は、測定項目等のパラメータに対応して表形式にて表示されると共に、前述したグラフタイトルやグラフ上下限値を用いてグラフ表示される。

このように、本発明にあっては、被試験器２と測定器４-ｎの動作制御に用いられる試験プログラム１０（より詳しくはその中の試験プログラム部１３）が、試験項目（測定項目）毎の試験内容を定義する試験パラメータ（第１のパラメータ）１７と、被試験器２の情報と試験パラメータ１７へのリンク情報を定義する表示パラメータ（第２のパラメータ）１８と、被試験器２に対して実行する試験項目と表示パラメータ１８へのリンク情報を定義する組込パラメータ（第３のパラメータ）１９と、試験パラメータ１７、表示パラメータ１８及び組込パラメータ１９を解析して被試験器２に対する試験を実行する処理プログラム１５とを有するように構成したので、試験項目や測定器、被試験器等の変更・追加が生じた場合であっても、各パラメータの変更・追加によって対応可能であり、処理プログラムの変更は必要ない。従って、試験項目や測定器、被試験器等の変更・追加が生じたときのプログラム修正量を低減することができる。

本発明に係る試験装置の構成を示すブロック図である。 図１に示す装置で使用される試験プログラムの構造を表すブロック図である。 図２に示す組込パラメータの内容を表す説明図である。 図２に示す表示パラメータの内容を表す説明図である。 図２に示す試験パラメータの内容を表す説明図である。 図２に示す試験プログラムの処理を表すフローチャートである。 図１の表示部に表示される機能・性能試験画面を表す図である。 図６フローチャートの試験実施処理のサブルーチン・フローチャートである。 図１の表示部に表示される測定結果表示画面を表す図である。

符号の説明

１：試験装置、２：被試験器、３：制御器（コンピュータ）、４‐ｎ：測定器、１０：試験プログラム、１３：試験プログラム部、１５：処理プログラム、１７：試験パラメータ（第１のパラメータ）、１８：表示パラメータ（第２のパラメータ）、１９：組込パラメータ（第３のパラメータ）

Claims (2)

1. 試験手順が記述された試験プログラムを実行して被試験器と測定器の動作を制御することによって前記被試験器に対する試験を行う試験装置であって、
   前記試験プログラムは、
   試験項目毎の試験内容を定義する第1のパラメータと、
   前記被試験器の情報と前記第１のパラメータへのリンク情報を定義する第２のパラメータと、
   前記被試験器に対して実行する試験項目と前記第２のパラメータへのリンク情報を定義する第３のパラメータと、
   前記第１のパラメータ、前記第２のパラメータ及び前記第３のパラメータを解析して前記被試験器に対する試験を実行する処理プログラムと、
   を有することを特徴とする試験装置。
2. 記述された試験手順に従って被試験器と測定器の動作を制御する制御器としてコンピュータを機能させる試験プログラムであって、
   試験項目毎の試験内容を定義する第1のパラメータと、
   前記被試験器の情報と前記第１のパラメータへのリンク情報を定義する第２のパラメータと、
   前記被試験器に対して実行する試験項目と前記第２のパラメータへのリンク情報を定義する第３のパラメータと、
   前記第１のパラメータ、前記第２のパラメータ及び前記第３のパラメータを解析して前記被試験器に対する試験を実行する処理プログラムと、
   を有することを特徴とする試験プログラム。