CN101201861A - 自动检查测试点的方法与电脑可读取存储媒介 - Google Patents

自动检查测试点的方法与电脑可读取存储媒介 Download PDF

Info

Publication number
CN101201861A
CN101201861A CNA2006101688936A CN200610168893A CN101201861A CN 101201861 A CN101201861 A CN 101201861A CN A2006101688936 A CNA2006101688936 A CN A2006101688936A CN 200610168893 A CN200610168893 A CN 200610168893A CN 101201861 A CN101201861 A CN 101201861A
Authority
CN
China
Prior art keywords
selected line
layout
point
line
test point
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CNA2006101688936A
Other languages
English (en)
Inventor
张有权
张宏至
林明慧
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Inventec Corp
Original Assignee
Inventec Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Inventec Corp filed Critical Inventec Corp
Priority to CNA2006101688936A priority Critical patent/CN101201861A/zh
Publication of CN101201861A publication Critical patent/CN101201861A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Abstract

本发明公开了一种自动检查测试点的方法与电脑可读取存储媒介,此方法包括下列步骤:选择布局图内至少一选定连线;汇出布局图的线迹数据;于线迹数据中搜寻选定连线;以及检查选定连线有无配置至少一测试点。

Description

自动检查测试点的方法与电脑可读取存储媒介
技术领域
本发明是有关于一种布局的检查方法,且特别是有关于一种自动检查测试点的方法与电脑可读取存储媒介。
背景技术
一般来说,产品例如是主板(Main Board)在制作过程中,还必需要经过测试,测试合格后才能量产及出厂。如果此产品内部电路元件间的连线,都有加上测试点,就可方便测试此产品的好坏,因此,布局(Layout)工程师在制作布局图时,往往会被要求在元件与元件之间的连线,至少要加上一颗测试点,方便日后的测试工作。
然而,对于布局工程师而言,增加测试点是一种重要且费时的工作。增加测试点工作即是对于主板中多达数百条连线(Nets)进行,其中每一条一般连线(Nets)皆需要加上一颗测试点,而电源连线(Power Net)则需加上五颗测试点。一般而言,数百条连线(Nets)是由数万条的线迹(Trace)进行连接。在密密麻麻的印刷电路板的二维(PCB 2D)图示工作画面中,布局工程师无法一眼可分辨出,眼前所选择连线的线迹(Trace)是否已加上测试点,所以必需花费不少时间进行检查与记录,实为不方便,因此,需要进行改善。
发明内容
本发明的目的是在提供一种自动检查测试点的方法与电脑可读取存储媒介,可加快检查布局图中线路上有无测试点。
本发明提供一种检查测试点的方法,此方法包括:选择布局图内至少一选定连线;由此布局图取得线迹数据;于此线迹数据中搜寻此选定连线;检查此选定连线有无配置至少一测试点。
本发明再提出一种电脑可读取存储媒介,用以存储一电脑程序。电脑程序用以载入至一电脑系统中并且使得电脑系统执行上述检查测试点方法的任一步骤。
纵上所述,本发明因采用自动检查测试点的方法,可将有无配置测试点的连线自动分辨出来,不需要再经由工程师自行去判断,因此,可减少花费不必要的时间并可提升增加测试点的速度。
为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合附图作详细说明如下。
附图说明
图1是本发明实施例的检查测试点方法的流程图。
图2是本发明实施例的线迹数据图。
图3是本发明实施例的标示出选定连线的流程图。
图4是本发明实施例的另一检查测试点方法的流程图。
具体实施方式
以下将依本发明提供一种检查测试点方法的实施例。此领域具有通常知识者可以电脑程序的形式实现下述诸实施例,并利用电脑可读取存储媒介存储此一电脑程序,以利电脑执行之,让检查测试点的方法以电子自动化的方式完成。其中,测试点例如为布局于印刷电路板上的测试点。
图1是本发明实施例的检查测试点方法的流程图。参考图1,本实施例操作方法如下:
在步骤S101中,由布局图内多条连线中利用区域选取(area selection)的方式选择至少一选定连线。然而,选择前述选定连线的手段并不限于“区域选取”。例如,可由使用者在电脑程序中键入一关键字,再由电脑程序去自动比对此关键字与布局图内各连线名称而选择出对应的连线。又例如,使用者可以透过图形化界面点选布局图中的连线。再例如,使用者选择元件,而电脑程序则自动将所选元件所对应的连线视为选定连线。
在步骤S102中,电脑根据步骤S101所选取的选定连线而从布局图中取得上述选定连线的名称。在此假设电脑所选的选定连线有2条,其名称为Net1及Net2。
在步骤S103中,电脑汇出布局图中的所有线迹数据。图2是依照本发明实施例说明电脑所汇出布局图的线迹数据文件的部分内容。图2中仅示出选定连线Net1及Net2的线迹数据。参考图2,例如线迹trace1经过元件u01_01(表示集成电路u01的第01只脚位)、元件u02_04(表示集成电路u02的第04只脚位)、元件10_20_20_M1(表示位于金属层M1的测试点)等。另外,图2的线迹数据显示线迹trace3经过元件u01_03(表示集成电路u01的第03只脚位)、元件u05_01(表示集成电路u05之第01只脚位)。图2仅为线迹数据内容之说明范例。实际线迹数据之结构与所包含之信息内容需视电脑辅助设计(Computer-Aided Design,CAD)软体之实际输出而定,在此不予赘述。
请同时参照图1与图2。在步骤S104中,电脑依据由布局图中汇出的线迹数据去搜寻所选择的选定连线。此搜寻的方式例如可利用电脑程序以序列方式示为一个一个依顺序去搜寻(如trace1,…,trace3,…)。
在步骤S105中,电脑根据步骤S102所取得的连线名称与步骤S104中的搜寻结果,逐一检查每一个选定连线有无配置测试点。若检查结果显示出每一个选定连线均有测试点时,则结束此流程。若检查结果显示出在选定连线中有一条或多条连线无测试点时,则进行步骤S106。本实施例是以元件名称来辨识测试点。例如,图2中选定连线Net1的线迹数据为“trace1 u01_01 u02_04 10_20_20_M1”,由此可以知道线迹trace1共经过“01_01”、”u02_04”与“10_20_20_M1”三个元件(component)。电脑可通过元件名称来辨识元件类别,例如以“u”开头之元件名称表示此元件属于集成电路类别,而元件名称“u01_01”与“u02_04”则分别表示集成电路u01的第1脚位以及集成电路u02的第4脚位。所属领域具有通常知识者也可适当地安排测试点的命名法则,例如以三个底线符号“_”来代表测试点。图2中“10_20_20_M1”表示位于金属层M1,且其孔径、内径与外径分别为10mil、20mil、20mil的测试点。因此,电脑可通过元件名称来自动辨识出选定连线有无配置测试点。图2中选定连线Net2的线迹数据为“trace3 u01_03 u05_01”,则表示线迹trace3中并无测试点。
在步骤S106中,电脑依据步骤S104中的检查结果,将无配置测试点的选定连线标示出来。于本实施例中,电脑可以通过高亮度、颜色、粗细、闪烁等方式将布局图中未配置测试点的选定连线提示使用者。所标示出的连线是用于让使用者知道此信息,并利用此信息来对无配置测试点的选定连线加上测试点。因此,使用者不必再自行去以人力逐条检查布局图中的选定连线有无配置测试点,利用此方法可加快检查的速度并且布局工程师也可提升于增加测试点上的工作效率。
图3是本发明实施例的标示出选定连线的流程图。图3为图1中步骤S106的详细步骤,此步骤如下:
在步骤S301中,于布局图中取得此选定连线的名称。在检查出选定连线并无测试点,此时于布局图中再次取得此选定连线的名称,例如为图2中显示的选定连线Net2。在步骤S302中,于线迹数据并依据此选定连线的名称去搜寻选定连线所包含的所有线迹。例如,于布局图中汇出所有线数据,再依据步骤S301中所取得无配置测试点的选定连线的名称,如为Net2,并利用电脑程序去搜寻所对应选定连线的线迹,其线迹如为图2中显示的trace3。在步骤S303中,以高亮度去标示出选定连线所包含的所有线迹。由前述步骤中可得知无配置测试点的选定连线名称为Net2及其所包含的线迹trace3,再利用高亮度将此选定连线的线迹标示出来,此时例如可由电脑屏幕中看出线迹是亮的或是线迹的周围是亮的,因此,布局工程师就可得知哪些连线无配置测试点,并直接于该连线加上测试点。
图4是本发明实施例的另一检查测试点方法的流程图。图4与图1的步骤S101~S106相同,在此不再加以说明,而不同的地方在于最后一个步骤S401。由于前述的步骤S101~S106中已经针对每一条选定连线逐一检查有无配置测试点,此时在步骤S401中可将无配置测试点的选定连线名称一一记录于清单中,然后输出此一报表给使用者。此清单可被存储在电脑可读取存储媒介而为一个数据文件。如此一来,使用者便可以由此清单得知哪一个连线无配置测试点,并且再利用电脑程序以自动或手动方式将未配置测试点的选定连线加上测试点。
虽然本发明已以较佳实施例揭示如上,然其并非用以限定本发明,任何所属技术领域中具有通常知识者,在不脱离本发明的精神和范围内,当可作些许更动与润饰,因此本发明的保护范围当以权利要求所界定的为准。

Claims (8)

1.一种检查测试点的方法,包括:
选择一布局图内至少一选定连线;
汇出该布局图的线迹数据;
于该线迹数据中搜寻该选定连线;以及
检查该选定连线有无配置至少一测试点。
2.如权利要求1所述的检查测试点的方法,其特征在于,还包括于该布局图取得该选定连线的名称。
3.如权利要求1所述的检查测试点的方法,其特征在于,于检查该选定连线有无配置至少一测试点的步骤包括:
于该线迹数据中搜寻该选定连线所包含的线迹;以及
检查该选定连线所包含的线迹是否具有至少一测试点。
4.如权利要求1所述的检查测试点的方法,其特征在于,还包括:
若该选定连线无配置至少一测试点,则标示出该选定连线。
5.如权利要求4所述的检查测试点的方法,其特征在于,标示出该选定连线的步骤包括:
于该布局图取得该选定连线的名称;
于该线迹数据中依据该选定连线的名称搜寻该选定连线所包含的所有线迹;以及
以高亮度标示出该选定连线所包含的所有线迹。
6.如权利要求1所述的检查测试点的方法,其特征在于,还包括:
若该选定连线无配置至少一测试点,则将该选定连线的名称加入一清单中;以及
显示该清单。
7.如权利要求1所述的所述检查测试点的方法,其特征在于,该布局图为印刷电路板的布局图。
8.一种电脑可读取存储媒介,用以存储一电脑程序,该电脑程序用以载入至一电脑系统中并且使得该电脑系统执行如权利要求第1至7项中任一项所述的方法。
CNA2006101688936A 2006-12-14 2006-12-14 自动检查测试点的方法与电脑可读取存储媒介 Pending CN101201861A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNA2006101688936A CN101201861A (zh) 2006-12-14 2006-12-14 自动检查测试点的方法与电脑可读取存储媒介

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNA2006101688936A CN101201861A (zh) 2006-12-14 2006-12-14 自动检查测试点的方法与电脑可读取存储媒介

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN101201861A true CN101201861A (zh) 2008-06-18

Family

ID=39517027

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNA2006101688936A Pending CN101201861A (zh) 2006-12-14 2006-12-14 自动检查测试点的方法与电脑可读取存储媒介

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN101201861A (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104422845A (zh) * 2013-08-28 2015-03-18 深圳麦逊电子有限公司 一种pcb电气性能测试点的智能四线选点方法
WO2022012048A1 (zh) * 2020-07-14 2022-01-20 苏州浪潮智能科技有限公司 一种信号测试点检测方法、系统及相关组件

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104422845A (zh) * 2013-08-28 2015-03-18 深圳麦逊电子有限公司 一种pcb电气性能测试点的智能四线选点方法
CN104422845B (zh) * 2013-08-28 2017-06-23 深圳麦逊电子有限公司 一种pcb电气性能测试点的智能四线选点方法
WO2022012048A1 (zh) * 2020-07-14 2022-01-20 苏州浪潮智能科技有限公司 一种信号测试点检测方法、系统及相关组件

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN100541502C (zh) 一种具有检错功能的pcb仿真系统及其实现方法
JP5522065B2 (ja) 基板検査システム
CN102156255B (zh) 用于测试印刷电路板上的连接的方法及装置
US20070016322A1 (en) Traceability management data creation method, traceability management data creation apparatus and traceability management data creation program storage medium
CN104699613B (zh) 一种航天器测试需求自动生成系统及其方法
CN106597261A (zh) 晶圆测试系统
CN101300473A (zh) 图案检视中偶生缺陷的验证
CN104573243A (zh) 一种pcb设计版图审核装置
CN101196959A (zh) 检查支持装置和方法
CN101201861A (zh) 自动检查测试点的方法与电脑可读取存储媒介
TWI481884B (zh) 電子裝置之檢測系統及電子裝置之檢測方法
CN108072399A (zh) 检查系统、检查装置的控制方法及计算机可读存储介质
JP4648194B2 (ja) プリント基板設計指示支援方法およびその装置
JP2007316733A (ja) 修理支援システム、修理支援方法、修理支援プログラムおよび記録媒体
JP2007115038A (ja) プリント基板品質情報管理システム
JP4189094B2 (ja) 検査システム
CN102222122A (zh) 电路布局的合并与评分方法及应用其的可读取记录媒体
CN1979500A (zh) 零件摆放自动检查系统及方法
US20030136840A1 (en) Method and system for managing integrated circuit test programs using bar codes
JP2002181731A (ja) 部品検査方法
CN117790349B (zh) Pcs电测不良缺陷显示方法、装置、设备及存储介质
JP5060407B2 (ja) 制御盤管理支援システム
JP2001282874A (ja) 部品構成作成編集装置と部品構成作成編集方法と部品構成作成編集処理プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
CN111542175B (zh) 一种元件封装比较方法和相关装置
JP5595224B2 (ja) ラダープログラム比較方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Open date: 20080618