JP2014068829A - 非接触式眼圧計 - Google Patents

非接触式眼圧計 Download PDF

Info

Publication number
JP2014068829A
JP2014068829A JP2012217445A JP2012217445A JP2014068829A JP 2014068829 A JP2014068829 A JP 2014068829A JP 2012217445 A JP2012217445 A JP 2012217445A JP 2012217445 A JP2012217445 A JP 2012217445A JP 2014068829 A JP2014068829 A JP 2014068829A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cornea
alignment
eye
light
intraocular pressure
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012217445A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5924219B2 (ja
JP2014068829A5 (ja
Inventor
Michihiro Takii
通浩 滝井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nidek Co Ltd
Original Assignee
Nidek Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nidek Co Ltd filed Critical Nidek Co Ltd
Priority to JP2012217445A priority Critical patent/JP5924219B2/ja
Priority to US14/037,861 priority patent/US9560966B2/en
Priority to KR1020130115049A priority patent/KR102039195B1/ko
Publication of JP2014068829A publication Critical patent/JP2014068829A/ja
Publication of JP2014068829A5 publication Critical patent/JP2014068829A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5924219B2 publication Critical patent/JP5924219B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Eye Examination Apparatus (AREA)

Abstract

【課題】被検眼の角膜厚を精度よく測定できる非接触式眼圧計を提供する
【解決手段】被検眼Eの角膜表面Ecからの反射信号を検出するための第1検出器57を有し被検眼の眼圧を非接触にて測定する眼圧測定手段と、角膜表面Ec及び角膜裏面からの反射信号を検出するための第2検出器77を有し被検眼Eの角膜厚を非接触にて測定する角膜厚測定手段と、を備える測定部と、電動機を有し被検眼に対して測定部を相対移動させる移動機構と、測定部に設けられ角膜からの反射信号を検出するための第3検出器35を有し、被検眼角膜に対する測定部の前後方向におけるアライメント状態を検出するアライメント検出手段を備え、アライメント検出手段は、アライメント状態を検出するために設定される角膜上のアライメント基準位置を眼圧測定と角膜厚測定とで切換え、切り換えられたアライメント基準位置に対するアライメント状態を検出する。
【選択図】図3

Description

本発明は、被検眼の眼圧を非接触にて測定する非接触式眼圧計に関する。
ノズルを介して被検眼角膜に流体を吹き付けた際の角膜の変形状態を光学的に検出することにより被検眼の眼圧を非接触にて測定する非接触式眼圧計において、被検眼の角膜厚を測定するための光学系を設け、得られた測定結果に基づいて被検眼の眼圧値を補正しようとする装置が知られている(特許文献1参照)。
また、特許文献2のように、角膜厚測定の際に被検眼に斜めに光束を入射させ、角膜での反射光をラインセンサなどの受光素子で受光し、角膜表面及び裏面における反射光の受光信号のピーク値に基づいて角膜厚を測定する装置があった。このような装置では、眼圧測定時においても、角膜厚測定時においても、角膜表面における反射光の受光信号のピーク値を基準に、作動距離方向のアライメントが行われていた。
特表平8−507463号公報 特開2002−102170号公報
しかしながら、人眼において、裏面の反射量は表面に比べて小さく、受光素子で受光する際、裏面の反射光は表面の反射光に比べてピークが小さくなる。さらに、作動距離方向のアライメント基準を角膜表面に合わせると裏面の反射光の光量は低下し、角膜厚が大きいほど、その量は小さくなってしまう。したがって、従来のように、基準位置を角膜表面に合わせてアライメントを行う装置では、受光素子で受光する角膜裏面における反射光のピークが小さくなるため、角膜厚の測定精度が低下するという問題があった。
本発明は、上記問題点を鑑み、被検眼の角膜厚を精度よく測定できる非接触式眼圧計を提供することを技術課題とする。
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
(1) 被検眼の角膜表面からの反射信号を検出するための第1検出器を有し被検眼の眼圧を非接触にて測定するための眼圧測定手段と、角膜表面からの反射信号と角膜裏面からの反射信号を検出するための第2検出器を有し被検眼の角膜厚を非接触にて測定するための角膜厚測定手段と、被検眼の前眼部を観察するための観察光学系であって、前記眼圧測定手段と角膜厚測定手段における上下方向のアライメントにおいて共用される観察光学系と、を備える測定部と、
電動機を有し被検眼に対して前記測定部を相対移動させる移動機構と、
前記測定部に設けられ被検眼の角膜からの反射信号を検出するための第3検出器を有し、被検眼角膜に対する前記測定部の前後方向におけるアライメント状態を検出するアライメント検出手段を備え、
前記アライメント検出手段は、前記アライメント状態を検出するために設定される角膜上のアライメント基準位置を眼圧測定と角膜厚測定とで切換え、切り換えられたアライメント基準位置に対する前記アライメント状態を検出することを特徴とする。
(2) (1)の非接触式眼圧計において、前記アライメント検出手段は、眼圧測定において、第1アライメント基準位置として前記アライメント基準位置を角膜表面に設定し、角膜厚測定において、第2アライメント基準位置として前記アライメント基準位置を角膜裏面又は角膜裏面近傍に設定することを特徴とする。
(3) (1)〜(2)の非接触式眼圧計において、前記アライメント検出手段の検出結果に基づいて前記電動機を制御することにより、前記アライメント基準位置に向けて前記測定部を移動させる制御手段を備えることを特徴とする。
(4) (1)〜(3)の非接触式眼圧計において、前記アライメント検出手段は、角膜厚測定において、眼圧測定のために設定されたアライメント基準位置に対する前記測定部のアライメント状態を検出し、角膜厚測定手段による測定完了信号に応じて、前記アライメント基準位置を、眼圧測定のために設定されたアライメント基準位置に切り換え、
前記制御手段は、前記第1アライメント基準位置から前記第2アライメント基準位置に向けて前記測定部を被検眼から遠ざかる方向に移動させ、
被検眼の眼圧と角膜厚を順次連続的に測定することを特徴とする。
(5) (1)〜(4)の非接触式眼圧計において、前記制御手段は、角膜厚測定にて得られた角膜厚に基づいて前記測定部を被検眼から遠ざかる方向に移動させた後、第2アライメント基準位置に対するアライメント状態の検出結果に基づいて前記測定部を移動させることを特徴とする。
(6) (1)〜(5)の非接触式眼圧計において、眼圧測定手段は、ノズルを介して被検眼角膜に流体を吹き付ける流体吹付手段と、
前記流体吹付手段による角膜の変形状態を検出する変形検出手段を前記第1検出器として備えることを特徴とする。
(7) (1)〜(6)の非接触式眼圧計において、眼圧測定手段は、被検眼の角膜表面からの反射信号を超音波により検出するための第1検出器を有し、被検眼の眼圧を超音波により非接触にて測定するための眼圧測定手段であることを特徴とする。
(8) (1)〜(7)の非接触式眼圧計において、前記第3検出器として、眼圧測定と角膜厚測定において同一の検出器を用い、前記アライメント検出手段は、アライメント基準を切り換えるため、角膜からの反射信号に含まれる角膜裏面からの反射信号と角膜表面からの反射信号を判別することを特徴とする。
(9) (1)〜(8)の非接触式眼圧計において、前記第3検出器として、眼圧測定と角膜厚測定において異なる検出器を用い、前記アライメント検出手段は、アライメント基準を切り換えるためにアライメント状態の検出に用いる検出器を変更することを特徴とする。
(10) (1)〜(9)の非接触式眼圧計において、前記第1検出器、前記第2検出器、前記第3検出器において、少なくとも何れかが兼用される特徴とする。
(11) (1)〜(10)の非接触式眼圧計において、前記第3検出器は、被検眼の角膜からの反射光を受光することにより角膜からの反射信号を検出する第3検出器であって、
前記アライメント検出手段は、眼圧測定時は角膜前面からの反射光の位置を検出することにより角膜前面に対する前記アライメント状態を検出し、角膜厚測定時は角膜裏面からの反射光の位置を検出することにより角膜後面に対する前記アライメント状態を検出することを特徴とする。
(12) (1)〜(11)の非接触式眼圧計において、眼圧測定、角膜厚測定のそれぞれの測定において、アライメントが合致したことを示す表示を切り換えることを特徴とする。
本発明によれば、被検眼の角膜厚を精度よく測定して被検眼の眼圧値の補正を精度よく行うことができる。
以下、本発明の一実施形態について図面に基づいて説明する。図1は、本実施形態に係る非接触式眼圧測定計の外観構成図である。
非接触式眼圧計100は、いわゆる据え置き型の非接触式眼圧計であって、基台101と、基台101に取り付けられた顔支持ユニット102と、基台101上に移動可能に設けられた移動台103と、移動台103に移動可能に設けられ、後述する測定系及び光学系を収納する測定部(測定ユニット)104と、を備える。測定部104は、移動台103に設けられたXYZ駆動部106により、被検眼Eに対して左右方向(X方向)、上下方向(Y方向)及び前後方向(Z方向)に移動される。移動台103は、ジョイスティック105の操作により、基台1上をX方向及びZ方向に移動される。また、検者が回転ノブ105aを回転操作することにより、測定部104はXYZ駆動部106のY駆動によりY方向に移動される。ジョイスティック105の頂部には、測定開始スイッチ105bが設けられている。移動台103には、表示モニタ36が設けられている。
図2は非接触式眼圧計の流体噴射機構の側方概略及び制御系の要部を示した図である。
空気圧縮用のシリンダ部1は、眼圧計本体の水平線に対して傾斜して設けられている。ロータリソレノイド3に駆動エネルギである電荷(電流、電圧)が付与されると、アーム4、コネクティングロッド(ピストンロッド)5を介してピストン2をシリンダ1に沿って上に押し上げる。ピストン2の上昇によりシリンダ部1に連通する空気圧縮室11で圧縮された空気は、ノズル6から被検眼Eの角膜に向けて噴出される。また、ロータリソレノイド3には図示なきコイルバネが備えられており、付与される電荷がカットされるとコイルバネの下降方向への付勢力により上昇したピストン2を下降させて初期位置に戻す。
透明なガラス板7は、ノズル6を保持するとともに、角膜変形検出用の光、前眼部を正面方向より観察するための前眼部観察用の光、アライメント光、角膜厚測定用の光を透過させる透過部材として用いられる。また、ガラス板7の内、被検眼側に配置されたガラス板7aは、外部から内部光学系への異物の侵入を防止する役割を兼用し、ガラス板7bは空気圧縮室11の側壁となっている。ノズル6の背面に設けられた透明なガラス板9は、空気圧縮室11の後壁を構成するとともに、観察光やアライメント光を透過させる。ガラス板9の背後には、後述する観察、アライメントのための光学系8が配置される。圧力センサ12は空気圧縮室11の圧力を検出する。エア抜き穴13によりピストン2に初速が付くまでの間の抵抗が減少され、圧力の立ち上がり時において時間にほぼ比例的な圧力変化を得ることができる。
制御回路20は、圧力センサ12用の圧力検出処理回路21、後述する角膜変形検出光学系の光検出器57用の信号検出処理回路22、作動距離検出及び角膜厚測定のための受光素子77用の信号検出処理回路28、作動距離検出の位置検出素子60用の信号検出処理回路26、CCDカメラ35用の信号検出処理回路27、ロータリソレノイド3を駆動させるための駆動回路23、測定データ等を記憶するためのメモリ24が接続されている。また、制御回路20は、図3に示した光学系に設けられる各種光源(前眼部照明光源30、光源40、光源45、光源50、光源71)、モニタ36、等と接続され、各種の制御を行う。
図3は非接触式眼圧計の上方視光学系要部図である。赤外照明光源30により照明された被検眼像は、ビームスプリッタ31、対物レンズ32、ビームスプリッタ33、撮像レンズ37、及びフィルタ34を介してCCDカメラ35に結像する。すなわち、ビームスプリッタ31〜CCDカメラ35までの光学系は、撮像素子を持ち、被検眼前眼部を観察するための観察光学系として用いられる。この場合、光軸L1は観察光軸として用いられる。
フィルタ34は、光源30及びアライメント用光源40の光を透過し、後述する角膜変形検出用の光源50の光及び可視光に対して不透過の特性を持つ。CCDカメラ35に結像した像はモニタ36に表示される。
アライメント用の赤外光源40から投影レンズ41を介して投影された赤外光はビームスプリッタ31により反射され、被検眼に正面より投影される。光源40により角膜頂点に形成された角膜輝点は、ビームスプリッタ31〜フィルタ34を介してCCDカメラ35に結像し、上下左右方向のアライメント検出に利用される。すなわち、ビームスプリッタ31〜CCDカメラ35までの光学系は、撮像素子を持ち、被検眼に対する上下左右方向のアライメント状態を検出するための検出光学系として用いられる。この場合、光軸L1はアライメント光軸として用いられる。なお、本実施形態では、検出光学系は、前眼部を観察するための観察光学系を兼用する。
固視光学系48は、光軸L1を有し、眼Eに対して正面方向から固視標を呈示する。この場合、光軸L1は固視光軸として用いられる。固視光学系48は、例えば、可視光源(固視灯)45、投影レンズ46、ダイクロイックミラー33を有し、眼Eを正面方向に固視させるための光を眼Eに投影する。可視光源45には、LED、レーザなどの光源が用いられる。また、可視光源45には、例えば、点光源、スリット光源、リング光源などのパターン光源の他、液晶ディスプレイなどの二次元表示器が用いられる。
光源45から発せられた可視光は、投影レンズ46を通過し、ダイクロックミラー33で反射され、対物レンズ32を通過した後、眼Eの眼底に投影される。これにより、眼Eは、正面方向の固視点を固視した状態となり、視線方向が固定される。なお、光源45から発せられた可視光は投影レンズ46及び対物レンズ32を通過することで、平行光束に変換される。
角膜変形検出光学系は、投光光学系500aと、受光光学系500bと、を含み、角膜Ecの変形状態を検出するために用いられる。各光学系500a、500bは、測定部104に配置され、XYZ駆動部106により3次元的に移動される。もちろん手持ちタイプの装置であってもよい。
投光光学系500aは、投光光軸として光軸L3を有し、眼Eの角膜Ecに向けて斜め方向から照明光を照射する。投光光学系500aは、例えば、赤外光源50、コリメータレンズ51、ビームスプリッタ52、を有する。受光光学系500bは光検出器57を有し、眼Eの角膜Ecでの照明光の反射光を受光する。受光光学系500bは、光軸L1に関して投光光学系500aと略対称的に配置されている。受光光学系500bは、例えば、レンズ53、ビームスプリッタ55、ピンホール板56、光検出器57、を有し、受光光軸として光軸L2を形成する。
光源50を出射した光はコリメータレンズ51により略平行光束とされ、ビームスプリッタ52で反射された後、後述する受光光学系70bの光軸L3と同軸(一致)となり、被検眼の角膜Ecに投光される。角膜Ecで反射した光は後述する投光光学系70aの光軸L2と同軸(一致)となり、レンズ53を通過した後、ビームスプリッタ55で反射し、ピンホール板56を通過して光検出器57に受光される。レンズ53には、光源30及び光源40の光に対して不透過の特性を持つコーティングが施される。また、角膜変形検出用の光学系は、被検眼が所定の変形状態(偏平状態)のときに光検出器57の受光量が最大になるように配置されている。
本実施形態のように、角膜変形検出光学系を観察光軸である光軸L1に対して傾斜して配置することによって、後述する第1作動距離検出光学系の光源50や光学素子等の一部を兼用することができる。これにより、装置の構成を簡単にすることができる。
また、この角膜変形検出光学系は第1作動距離検出光学系の一部を兼ねており、第1作動距離検出光学系の投光光学系は、角膜変形検出光学系の投光光学系500aを兼用する。光源50による角膜Ecでの反射光を受光する受光光学系600bは、例えば、投光光学系500aのレンズ53、ビームスプリッタ58、集光レンズ59、位置検出素子60を有し、受光光軸として光軸L2を形成する。
光源50より投光され、角膜Ecで反射した照明光は光源50の虚像である指標像V(図4参照)を形成する。その指標像Vの光は、レンズ53、ビームスプリッタ55を通過してビームスプリッタ58で反射され、集光レンズ59を通過してPSDやラインセンサ等の一次元または二次元の位置検出素子60に入射する。位置検出素子60は、被検眼E(角膜Ec)が作動距離方向(Z方向)に移動すると、光源50による指標像も位置検出素子60上を移動するため、制御回路20は位置検出素子60からの出力信号に基づいて作動距離情報を得る。なお、本実施形態の位置検出素子60からの出力信号は、作動距離方向(Z方向)のアライメント(粗調整)に利用される。第1作動距離検出光学系の受光光学系600bは後述する受光光学系70bほど倍率が大きくない。そのため、位置検出素子60のZ方向の距離検出範囲は受光素子77より広くなる。位置検出素子60の距離検出範囲は、例えば、アライメント基準位置から±3〜4mmの範囲になる。
角膜厚測定光学系は、投光光学系70aと、受光光学系70bと、固視光学系48と、を含み、被検者眼Eの角膜厚を測定するために用いられる。また、投光光学系70aは、角膜変形検出光学系及び第1作動距離検出光学系の一部が兼用される。各光学系70a、70b、48は、光学系500a〜600bと同様に測定部104に配置され、XYZ駆動部106により3次元的に移動される。
投光光学系70aは、投光光軸として光軸L2を有し、眼Eの角膜Ecに向けて斜め方向から照明光(測定光)を照射する。投光光学系70aは、例えば、照明光源71、集光レンズ72、光制限部材73、凹レンズ74、角膜変形検出光学系と兼用されるレンズ53、を有する。照明光源71には、可視光源若しくは赤外光源(近赤外を含む)が用いられ、例えば、LED、レーザなどの光源が用いられる。集光レンズ72は、光源71から出射された光を集光する。なお、光源50及び光源71は互いに波長帯域を用いる。
光制限部材73は、投光光学系70aの光路に配置され、光源71から出射された光を制限する。光制限部材73は、角膜Ecに対して略共役な位置に配置される。光制限部材73としては、例えば、ピンホール板、スリット板などが用いられる。光制限部材73は、光源71から出射された一部の光を通過させ、他の光を遮断するアパーチャーとして用いられる。そして、投光光学系70aは、眼Eの角膜上において所定のパターン光束(例えば、スポット光束、スリット光束)を形成する。
受光光学系70bは、受光素子77を有し、眼Eの角膜表面及び裏面での照明光の反射光を受光する。受光光学系70bは、光軸L1に関して投光光学系70aと略対称に配置されている。受光光学系70bは、例えば、受光レンズ75、凹レンズ76、受光素子77、を有し、受光光軸として光軸L3を形成する。なお、図3の受光光学系70bは、眼Eに対するZ方向のアライメント状態を検出する第2作動距離検出光学系を兼用する。
受光素子77は、複数の光電変換素子を有し、角膜表面及び裏面からの反射光をそれぞれ受光する。受光素子77には、例えば、一次元ラインセンサ、二次元エリアセンサなどの光検出デバイスが用いられる。角膜厚測定光学系及び第2作動距離検出光学系の受光光学系70bは倍率を大きくして観察を行う。そのため、受光素子77のZ方向の距離検出範囲は位置検出素子60より狭くなる。例えば、アライメント基準位置から±1mmの範囲になる。受光素子77の出力は、制御回路20に接続されている。
被検眼E(角膜Ec)が作動距離方向(Z方向)に移動すると、角膜Ecでの光源71の反射光も受光素子77上を移動するため、制御回路20は、第2作動距離検出光学系の受光素子77からの出力信号に基づいて作動距離情報を得る。また、制御回路20はこの受光素子77からの出力信号により、角膜変形状態や被検眼Eの瞬きを知り、ソレノイド3の駆動を制御する。
各光学系70a、70b、48の位置関係について、例えば、投光光学系70aの光軸L2と受光光学系70bの光軸L3は、固視光学系48の光軸L1に略対称位置(例えば、左右対称、上下対称、等)に配置される。
照明光源71から出射された光は、集光レンズ72によって集光され、光制限部材73を背後から照明する。そして、光源71からの光は、光制限部材73によって制限された後、レンズ53によって角膜Ec付近で結像(集光)される。角膜Ec付近において、例えば、ピンホール像(ピンホール板を使用の場合)、スリット像(スリット板を使用の場合)が結像される。このとき、光源71からの光は、角膜Ec上における視軸との交差部分の近傍で結像される。
投光光学系70aによって角膜Ecに照明光が投光されると、角膜Ecでの照明光の反射光は、光軸L1に関して投光光束とは対称な方向に進行する。そして、反射光は、受光レンズ75によって受光素子77上の受光面上で結像される。
受光素子77の出力について、図5に例示した角膜Ecの表面(上皮)における反射光の受光信号S1、角膜Ecの裏面(内皮)における反射光の受光信号S2のように、角膜Ecの表面(上皮)と裏面(内皮)での反射光が強い輝度にて検出される。図6に示すように、表面での反射光(実線参照)と裏面での反射光(破線参照)は、反射光路が異なるため、受光素子77上の異なる位置で結像される。
前述のように、本実施形態では、角膜変形検出光学系及び第1作動距離検出光学の投光光軸と、角膜厚検出光学系及び第2作動距離検出光学系の受光光軸とが一致し、角膜形状検出光学系及び第1作動距離検出光学の受光光軸と、角膜厚検出光学系及び第2作動距離検出光学系の投光光軸とが一致するように配置される。つまり、投光光学系500aと、受光光学系70bとが光軸L3を共有し、投光光学系70aと、受光光学系500b及び受光光学系600bとが、光軸L2を共有する。
このとき、光源50からの出射光(照明光)は、ビームスプリッタ52で反射されて軸L3上を進み、角膜Ecに入射すると、角膜Ecへの入射角と反射角が等しくなるよう角度で反射し、軸L2上を進む。したがって、光源50からの出射光は受光素子77に検出されない。同様に、光源71からの出射光は、ビームスプリッタ58、55を通過し、軸L2上を進み、角膜Ecに入射すると、角膜Ecへの入射角と反射角が等しくなるような角度で反射し、軸L3上を進む。したがって、光源71からの出射光は光検出器57及び位置検出素子60に検出されない。
これにより、光源50による角膜Ecでの反射光を光検出器57及び位置検出素子60が検出したときの受光信号が、光源71による角膜Ecでの反射光の影響を受けることを防ぐことができる。同様に、光源71による角膜Ecでの反射光を受光素子77が検出したときの受光信号S1、S2が、光源50による角膜Ecでの反射光の影響を受けることを防ぐことができる。
なお、受光光学系500b、600b及び投光光学系70aで兼用されるレンズ53は、光源50による角膜Ecでの反射光をピンホール板56の穴の中央部に集光させ、かつ、光源71からの照明光を角膜Ec表面及び裏面で集光させる位置に配置される。
以上のような構成を備える装置において、その動作について説明する。検者は被検眼Eを所定の位置に配置させ、被検者に固視標を注視させる。検者は、モニタ36上に表示されるアライメント情報に基づいてジョイスティック105を操作してアライメント調整を行う。上下左右方向のアライメント調整は、光源40により形成される角膜輝点をモニタ36上に表示される図示なきレチクルと所定の関係になるようにする。なお、上下左右方向のアライメントが、自動アライメントにより調整されるようにしてもよい。この場合、制御回路20は、光源40による角膜輝点が、CCDカメラ35上に設定されたアライメント位置(例えば、光軸L1とCCDカメラ35の撮像面の交点位置)に形成されるようにXYZ駆動部106を制御する。このようにして、制御回路20は、XY方向に関するアライメント完了位置に測定部104を移動させる。
XY方向のアライメント調整が完了すると、Z方向のアライメント調整が行われる。Z方向のアライメント調整について、制御回路20は、位置検出素子60および受光素子77から得られる作動距離情報に基づいて駆動部106を制御し、所定のアライメント完了位置に向けて測定部104をZ方向に移動させる(自動アライメント)。
自動アライメントが開始される前に、検者は、Z方向のアライメントを行うため、まず、光源50の出射光による角膜Ecでの指標像の光が位置検出素子60に入射されるように、ジョイスティック105の操作によって測定部104をZ方向に移動させる。
位置検出素子60に指標像の光が検出されると、制御回路20は、位置検出素子60から得られた作動距離情報に基づき、角膜Ecでの光源71の反射光が受光素子77に検出される範囲に測定部104をZ方向に移動させる。移動が完了すると、制御回路20は、受光素子77が検出した光源71の出射光の角膜Ecでの反射光による受光信号に基づいて、測定部104をZ方向に移動させる。
図7は光源71から発せられた光が角膜Ecで反射する様子を示した図である。また、図8は受光素子77から出力される受光信号において、角膜Ec表面での反射に対応する第1受光信号S1と、角膜Ec裏面での反射に対応する第2受光信号S2との一部を示す図である。制御回路20は、図7(a)で示すように、レンズ53によって集光する光源71の出射光が角膜Ecの裏面で略集光するような位置に測定部104を駆動させアライメントを行う。
例えば、制御回路20は、第2受光信号S2を抽出するための閾値aを設定し、図8(a)で示すように、設定した閾値aを超える部分で抽出された第2受光信号S2のピークの位置を検出する。制御回路20は、受光素子77上に設定されたアライメント完了位置Ps(例えば、中心位置)で、第2受光信号S2のピークが形成されるように駆動部106を制御する。なお、閾値aは、第1受光信号S1のピーク値および第2受光信号S2のピーク値よりも小さく、第1受光信号S1と第2受光信号S2との間の極小値より大きいことが好ましい。これは、第1受光信号S1と第2受光信号S2を分離して抽出するためであり、閾値aの大きさは、例えば、実験的に求められる。
制御回路20は、角膜厚測定のためのアライメントが完了すると、測定開始のトリガ信号を自動的に発して(あるいは、検者によるトリガ信号の入力により)、角膜厚測定を開始する。
仮に、図7(b)に示すように、光源71からの出射光が角膜Ecの表面で集光する位置にアライメントを行った場合、図8(b)に示すように、角膜Ec表面での反射に対応する第1受光信号S1に比べ、角膜Ec裏面での反射に対応する第2受光信号S2が小さく検出される。後述するが、制御回路20は第1受光信号S1と第2受光信号S2の距離(あるいは、各信号のピーク間距離)に基づいて角膜厚の測定を行うため、第2受光信号S2の信号が小さいことにより測定精度が低下してしまう。したがって、本実施形態では、角膜厚測定を行う際、第2受光信号S2を大きく検出できるように、光源71の出射光が角膜Ec裏面で略集光するような位置にアライメントを行う。
測定開始のトリガ信号が発せられると、制御回路20は、抽出された第1受光信号S1と第2受光信号S2との距離(間隔)を算出する。なお、各受光信号は、例えば、輝度分布に対するエッジ検出処理によって抽出される。なお、制御回路20は、受光素子77の出力に基づいて2つのピーク間の距離を算出し、算出された距離から角膜厚を算出してもよい。
その後、制御回路20は、演算式及びテーブルの少なくともいずれかを用いて,算出された距離を眼Eの角膜厚の測定値に変換する。得られた測定値は、メモリ24に記憶される。演算式の場合、例えば、空気と角膜との屈折率との相違、角膜曲率の相違などを考慮して、光学シミュレーションなどによって演算式が作成される。また、テーブルの場合、例えば、厚みがそれぞれ異なる既知の眼(例えば、模型眼)を用いてキャリブレーションなどによってテーブルが作成される。演算式、テーブル等はメモリ24に予め記憶される。
制御回路20は、受光素子77からの受光信号を複数回取得することにより角膜厚を複数回(例えば、10回程度)算出し、その平均値を角膜厚の測定値としてメモリ24に記憶するようにしてもよい。
角膜厚測定が完了すると、制御回路20は眼圧測定のためのZ方向のアライメントに移行する。制御回路20は図7(b)で示すように、レンズ53によって集光する光源71の出射光が角膜Ecの表面で略集光するような位置に測定部104を駆動させアライメントを行う。
例えば、制御回路20は、閾値aから閾値b(第2受光信号S2を抽出するための閾値b)に設定を切り換える。制御回路20は、図8(b)で示すように、設定した閾値bを超える部分で抽出された第1受光信号S1のピークの位置を検出する。制御回路20は、受光素子77上に設定されたアライメント完了位置Psで、第1受光信号S1のピークが形成されるようにZ方向のアライメントを行う。なお、閾値bは第1受光信号S1のピーク値より小さく、第2受光信号S2のピーク値よりも大きいことが好ましい。これは、第1受光信号S1を抽出するためであり、数値bの大きさは実験的に求められるものでよい。眼圧測定時は、角膜Ec裏面の反射光による第2受光信号S2を測定に用いないため、相対的に強く検出される第1受光信号に基づいてアライメントを行うことが好ましい。
角膜厚測定のためのアライメント状態から眼圧測定のためのZ方向のアライメントを行うとき、測定部104は被検眼Eから遠ざかる方向に駆動される。このとき、制御回路20は、駆動部106を制御し、先に測定した角膜厚の測定値分、角膜厚測定位置から被検眼Eから遠ざかる方向に移動させる。これにより、光源71からの光の集光位置が角膜表面近傍に達する。その後、制御回路20は、上記のように、第1受光信号S1に基づいて測定部104をZ方向に移動させる。このような制御により、アライメントの調整時間が短縮される。
制御回路20は、アライメントが完了する前にソレノイド3に対して電流供給を開始し、受光素子77によるZ方向のアライメント動作が完了した後に被検眼角膜に流体が吹き付けられるようにソレノイド3を駆動制御する。制御回路20は駆動回路23を介してロータリソレノイド3に動作可能な駆動エネルギとしての電荷を付与してこれを駆動させる。
ロータリソレノイド3に電荷を付与するとピストン2が上昇し、ピストン2により空気圧縮室11の空気が圧縮され、圧縮空気がノズル6から被検眼Eの角膜に向けて吹付けられる。被検眼Eの角膜は、吹き付けられた圧縮空気によって徐々に変形する。光源50から投光された光の角膜による反射光は光検出器57へ入射し、角膜の変形状態は光検出器57からの出力信号によって検出される。
ここで、被検眼角膜は、圧縮空気の吹き付けにより徐々に変形し、圧平状態に達したときに光検出器57に最大光量が入射される。そして、制御回路20は、被検眼角膜が圧平状態に達したときの圧力センサ12からの出力信号に基づいて眼圧値を求める。
ここで、制御回路20は、角膜厚測定光学系によって計測された角膜厚により被検眼の眼圧測定値を補正する。この場合、角膜厚と、真の眼圧からの測定誤差量と、相関関係を示す経験的に作成された回帰方程式に、角膜厚の測定値を当てはめ、さらに測定誤差を考慮して眼圧の測定値を修正することにより、眼圧値を補正することができる。
その後、制御回路20は、補正された眼圧値と角膜厚測定値を表示モニタ36に表示する。そして、測定エラーを除いた測定値が所定数(例えば3個)得られたら、眼圧測定を終了する。
このように、本実施形態の構成を備えた非接触式眼圧計であれば、従来では一定であったZ方向のアライメント基準を、角膜厚測定と眼圧測定とで切り換えることによって、眼圧の測定精度を維持しながら、角膜厚を精度よく測定することができる。
また、角膜厚測定時のアライメントと眼圧測定のアライメントにおいて、2つの閾値を切り換えることによって、第1受光信号S1および第2受光信号S2の抽出処理及びピーク検出処理を簡単にすることができる。
また、以上の説明において、第1作動距離検出光学系の位置検出素子60からの出力信号はZ方向のアライメントの粗調整に利用するものとしたが、これに限らない。眼圧測定時は位置検出素子60からの出力信号によってZ方向のアライメントの最終調整(微調整)を行う構成としてもよい。本実施形態の眼圧測定手法はアライメントが合うと同時に被検眼Eに流体を吹き付けることが好ましい。これは、流体の吹き付けによる被検者の反射的な回避行動によって、被検眼Eが動く可能性があるためである。このような場合、応答速度の大きい素子からの出力信号によってアライメントの最終調整(微調整)を行うことが好ましい。角膜測定時は角膜裏面での反射信号を用いるため、受光素子77からの出力でアライメントを行う。
また、以上の説明において、受光信号S1、S2の抽出処理に2つの閾値を設けたが、1つの閾値を設けることで処理を行う方法も考えられる。例えば、閾値aのように第1受光信号S1と第2受光信号S2を抽出する場合、角膜厚測定時のアライメントには、抽出された2つの信号の内、受光素子77の左側に検出される受光信号のピークを受光素子77の所定位置に配置するようにアライメントを行う。そして、眼圧測定時のアライメントには、抽出された2つの信号の内、受光素子77の右側に検出される受光信号のピークを受光素子77の所定位置に配置するようにアライメントを行う。このように、アライメント基準を角膜表面と角膜裏面とで切り換える際、閾値を超える2つの受光信号S1、S2に対して、受光素子77に検出される両信号の位置関係から、角膜表面の反射光と角膜裏面の反射光との受光信号S1、S2を判別し、角膜厚測定時及び眼圧測定時でアライメント基準を切り換えるようにしてもよい。
また、光源71による角膜Ecにおける反射光の信号が大きすぎて、受光素子77の検出可能範囲を飽和することを防ぐため、アライメント基準を角膜表面に合わせる場合と、角膜裏面に合わせる場合とで、光源71の光量、又は受光素子77のゲインを調整するようにしてもよい。
また、光源71による角膜Ecにおける反射光の信号が大きく、受光素子77の検出可能範囲の上限を飽和した場合、検出可能範囲内で検出された受光信号に基づいて想定されるピーク位置を算出し、算出したピーク位置をアライメント完了位置Psに一致させるようにZ方向のアライメントを行うことは可能である。したがって、前述のように角膜表面にアライメント基準を合わせる場合と、角膜裏面にアライメント基準を合わせる場合とで、光源71の光量、又は受光素子77のゲインを切り換えずとも、Z方向のアライメントを行うことは可能である。
また、角膜厚測定時と眼圧測定時とで、Z方向のアライメント調整の許容範囲を切り換える構成としてもよい。
また、本発明は、非接触式眼圧計だけに限られるものではなく、角膜厚と角膜厚以外の他の眼特性を測定する装置において利用できる。
また、本実施形態の構成は、角膜変形検出光学系及び第1作動距離検出光学の投光光軸と、角膜厚検出光学系及び第2作動距離検出光学系の受光光軸とが一致し、角膜形状検出光学系及び第1作動距離検出光学の受光光軸と、角膜厚検出光学系及び第2作動距離検出光学系の投光光軸とが一致するように配置されるとした。このような構成を備えることによって、光源50、71を同時に点灯したままの状態で、角膜厚測定と眼圧測定を行うことが可能となり、測定ごとに光源50、71の点灯、消灯を繰り返す必要がなくなる。また、上記の構成を備えることで、眼圧測定に伴い、ノズル6からの空気によって角膜Ecが変形したときの、光源71による角膜Ecでの反射光を受光素子77で検出することができる。このように得られた角膜変形時において受光素子77から出力された受光信号は、眼圧値の補正などに用いることができる。例えば、空気噴射による角膜厚の変形量から、眼の硬さ、弾性等を求め、眼圧値を補正するのに用いることができる。
なお、以上の説明において、角膜表面にアライメント基準を合わせる、及び角膜裏面にアライメント基準を合わせるとは、角膜表面、角膜裏面に厳格にアライメント基準を合わせることに限らない。アライメント基準を角膜表面の近傍、角膜裏面の近傍に合わせるものであっても、一定の効果は得られる。アライメント基準が各受光信号S1、S2の左または右(角膜表面、角膜裏面の前後)のどちらかにずれていてもよい。
例えば、角膜厚測定時に、アライメント基準を角膜表面に対応する第1受信信号S1から所期する距離だけ角膜裏面側にずらした場合でも、角膜表面にアライメント基準を合わせた場合より第2受信信号S2を強く検出できる。
例えば、角膜厚測定時、アライメント基準を第1受光信号S1のピーク値と第2受光信号S2のピーク値の中間位置に合わせた場合でも、角膜厚測定時に第1受光信号S1のピーク値にアライメント基準を合わるものと比べて、精度良く角膜厚を測定することができる。
なお、上記構成において、超音波により被検眼の眼圧を測定する非接触式超音波眼圧計においても、本発明の適用が可能である。非接触式超音波眼圧計は、例えば、被検眼角膜に超音波を照射する送信部と、被検眼の角膜表面からの反射信号を超音波により検出するための第1検出器を有し、第1検出器からの信号に基づいて被検眼の眼圧を超音波により非接触にて測定する。
本実施形態に係わる装置の外観を示す概略図である。 本実施形態に係る装置が持つ流体噴射機構の側方概略及び制御系の要部を示した図である。 本実施形態に係る装置の上方視光学系要部図である。 角膜で反射した照明光による指標像を示す概略図である。 受光素子にて受光される角膜表面での反射光と角膜裏面による反射光の受光信号の一例を示す概略図である。 角膜表面の反射光と角膜裏面での反射光の経路の光路を示す概略図である。 光源から発せられた光が角膜で反射する様子を示した図である 受光素子から出力される受光信号において、角膜表面での反射に対応する受光信号と、角膜裏面での反射に対応する受光信号との一部を示す図である。
1 シリンダ部
2 ピストン
3 ソレノイド
6 ノズル
7a、7b ガラス板
20 制御回路
36 モニタ
50 赤外光源
52 ビームスプリッタ
53 レンズ
57 光検出器
60 受光素子
71 照明光源
77 受光素子
100 非接触式眼圧計
101 基台
103 移動台
104 測定部
105 ジョイスティック
106 XYZ駆動部

Claims (12)

  1. 被検眼の角膜表面からの反射信号を検出するための第1検出器を有し被検眼の眼圧を非接触にて測定するための眼圧測定手段と、角膜表面からの反射信号と角膜裏面からの反射信号を検出するための第2検出器を有し被検眼の角膜厚を非接触にて測定するための角膜厚測定手段と、被検眼の前眼部を観察するための観察光学系であって、前記眼圧測定手段と角膜厚測定手段における上下方向のアライメントにおいて共用される観察光学系と、を備える測定部と、
    電動機を有し被検眼に対して前記測定部を相対移動させる移動機構と、
    前記測定部に設けられ被検眼の角膜からの反射信号を検出するための第3検出器を有し、被検眼角膜に対する前記測定部の前後方向におけるアライメント状態を検出するアライメント検出手段を備え、
    前記アライメント検出手段は、前記アライメント状態を検出するために設定される角膜上のアライメント基準位置を眼圧測定と角膜厚測定とで切換え、切り換えられたアライメント基準位置に対する前記アライメント状態を検出することを特徴とする非接触式眼圧計。
  2. 前記アライメント検出手段は、眼圧測定において、第1アライメント基準位置として前記アライメント基準位置を角膜表面に設定し、角膜厚測定において、第2アライメント基準位置として前記アライメント基準位置を角膜裏面又は角膜裏面近傍に設定することを特徴とする請求項1の非接触式眼圧計。
  3. 前記アライメント検出手段の検出結果に基づいて前記電動機を制御することにより、前記アライメント基準位置に向けて前記測定部を移動させる制御手段を備えることを特徴とする請求項1〜2のいずれかの非接触式眼圧計。
  4. 前記アライメント検出手段は、角膜厚測定において、眼圧測定のために設定されたアライメント基準位置に対する前記測定部のアライメント状態を検出し、角膜厚測定手段による測定完了信号に応じて、前記アライメント基準位置を、眼圧測定のために設定されたアライメント基準位置に切り換え、
    前記制御手段は、前記第1アライメント基準位置から前記第2アライメント基準位置に向けて前記測定部を被検眼から遠ざかる方向に移動させ、
    被検眼の眼圧と角膜厚を順次連続的に測定することを特徴とする請求項1〜3のいずれかの非接触式眼圧計。
  5. 前記制御手段は、角膜厚測定にて得られた角膜厚に基づいて前記測定部を被検眼から遠ざかる方向に移動させた後、第2アライメント基準位置に対するアライメント状態の検出結果に基づいて前記測定部を移動させることを特徴とする請求項1〜4のいずれかの非接触式眼圧計。
  6. 眼圧測定手段は、ノズルを介して被検眼角膜に流体を吹き付ける流体吹付手段と、
    前記流体吹付手段による角膜の変形状態を検出する変形検出手段を前記第1検出器として備えることを特徴とする請求項1〜5のいずれかの非接触式眼圧計。
  7. 眼圧測定手段は、被検眼の角膜表面からの反射信号を超音波により検出するための第1検出器を有し、被検眼の眼圧を超音波により非接触にて測定するための眼圧測定手段であることを特徴とする請求項1〜6のいずれかの非接触式眼圧計。
  8. 前記第3検出器として、眼圧測定と角膜厚測定において同一の検出器を用い、前記アライメント検出手段は、アライメント基準を切り換えるため、角膜からの反射信号に含まれる角膜裏面からの反射信号と角膜表面からの反射信号を判別することを特徴とする請求項1〜7のいずれかの非接触式眼圧計。
  9. 前記第3検出器として、眼圧測定と角膜厚測定において異なる検出器を用い、前記アライメント検出手段は、アライメント基準を切り換えるためにアライメント状態の検出に用いる検出器を変更することを特徴とする請求項1〜8のいずれかの非接触式眼圧計。
  10. 前記第1検出器、前記第2検出器、前記第3検出器において、少なくとも何れかが兼用される特徴とする請求項1〜9のいずれかの非接触式眼圧計。
  11. 前記第3検出器は、被検眼の角膜からの反射光を受光することにより角膜からの反射信号を検出する第3検出器であって、
    前記アライメント検出手段は、眼圧測定時は角膜前面からの反射光の位置を検出することにより角膜前面に対する前記アライメント状態を検出し、角膜厚測定時は角膜裏面からの反射光の位置を検出することにより角膜後面に対する前記アライメント状態を検出することを特徴とする請求項1〜10のいずれかの非接触式眼圧計。
  12. 眼圧測定、角膜厚測定のそれぞれの測定において、アライメントが合致したことを示す表示を切り換えることを特徴とする請求項1〜11のいずれかの非接触式眼圧計。
JP2012217445A 2012-09-28 2012-09-28 非接触式眼圧計 Active JP5924219B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012217445A JP5924219B2 (ja) 2012-09-28 2012-09-28 非接触式眼圧計
US14/037,861 US9560966B2 (en) 2012-09-28 2013-09-26 Non-contact type tonometer
KR1020130115049A KR102039195B1 (ko) 2012-09-28 2013-09-27 비접촉식 안압계

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012217445A JP5924219B2 (ja) 2012-09-28 2012-09-28 非接触式眼圧計

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2014068829A true JP2014068829A (ja) 2014-04-21
JP2014068829A5 JP2014068829A5 (ja) 2015-11-12
JP5924219B2 JP5924219B2 (ja) 2016-05-25

Family

ID=50744636

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012217445A Active JP5924219B2 (ja) 2012-09-28 2012-09-28 非接触式眼圧計

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5924219B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2997881A1 (en) 2014-09-20 2016-03-23 Nidek Co., Ltd Ophthalmic apparatus
JP2020039701A (ja) * 2018-09-12 2020-03-19 株式会社トーメーコーポレーション 検眼装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10165373A (ja) * 1998-01-16 1998-06-23 Topcon Corp 眼科測定装置
JPH11276440A (ja) * 1998-03-27 1999-10-12 Topcon Corp 非接触式眼圧計
JP2002102170A (ja) * 2000-10-03 2002-04-09 Topcon Corp 眼科装置
JP2009201636A (ja) * 2008-02-27 2009-09-10 Nidek Co Ltd 非接触式眼圧計

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10165373A (ja) * 1998-01-16 1998-06-23 Topcon Corp 眼科測定装置
JPH11276440A (ja) * 1998-03-27 1999-10-12 Topcon Corp 非接触式眼圧計
JP2002102170A (ja) * 2000-10-03 2002-04-09 Topcon Corp 眼科装置
JP2009201636A (ja) * 2008-02-27 2009-09-10 Nidek Co Ltd 非接触式眼圧計

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2997881A1 (en) 2014-09-20 2016-03-23 Nidek Co., Ltd Ophthalmic apparatus
JP2020039701A (ja) * 2018-09-12 2020-03-19 株式会社トーメーコーポレーション 検眼装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP5924219B2 (ja) 2016-05-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5028057B2 (ja) 眼科装置
JP5209341B2 (ja) 非接触式眼圧計
JP5201852B2 (ja) 眼科装置
US11191431B2 (en) Ophthalmic apparatus
US9636014B2 (en) Ophthalmologic apparatus and alignment method
EP2415393A1 (en) Ophthalmic apparatus
JP2003153862A (ja) 非接触眼圧計
JP2014079494A (ja) 眼科装置および眼科制御方法並びにプログラム
KR102039195B1 (ko) 비접촉식 안압계
JP5924219B2 (ja) 非接触式眼圧計
JP5787292B2 (ja) 眼科装置
JP4907214B2 (ja) 眼科装置
JP5916301B2 (ja) 検眼装置
JP5500587B2 (ja) 眼科測定装置
WO2010067764A1 (ja) 眼科用計測装置
JP2015146859A (ja) 眼科装置
JP5924220B2 (ja) 非接触式眼圧計
JP2006334435A (ja) 非接触式眼圧計
JP2018038517A (ja) 眼科装置、及び眼科装置の制御方法
JP4653576B2 (ja) 眼屈折力測定装置
JPH07231875A (ja) 検眼装置
JP5916333B2 (ja) Zアラインメント装置と眼科装置
JP7359611B2 (ja) 非接触式眼圧計及びその制御方法
JP2001187024A (ja) 眼科装置
JP3895007B2 (ja) 眼科装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150925

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150925

A871 Explanation of circumstances concerning accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871

Effective date: 20151001

A975 Report on accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005

Effective date: 20151211

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20151215

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160215

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160322

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160404

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5924219

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250