JP4653576B2 - 眼屈折力測定装置 - Google Patents

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Description

本発明は、被検眼の眼屈折力を他覚的に測定する眼屈折力測定装置に関する。
従来より、被検眼眼底に測定指標を投影し、その反射光をリング像として二次元撮像素子にて受光して、そのリング像のリング形状から被検眼の眼屈折力を求める眼屈折力測定装置(例えば、特許文献1参照)が知られている。
特開平1−293841号公報
上記のような装置の場合、二次元受光素子に受光されたリング像の像位置から楕円像を近似し、近似された楕円像から被検眼の眼屈折力(球面度数、乱視度数、乱視軸角度)を求めるのが一般的であるが、被検眼に対する上下左右方向のアライメントずれが生じた状態で測定が行われると、被検眼の球面収差等の影響によって、二次元撮像素子にて受光されるリング像が歪んでしまい、測定結果に誤差が生じてしまう。
本発明は、上記問題点を鑑み、被検眼に対する上下左右方向にアライメントずれがあっても、信頼性のある測定結果が得られる眼屈折力測定装置を提供することを技術課題とする。
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
(1) 被検眼眼底に測定指標光束を投影し、眼底からの反射された測定指標光束を2次元の受光素子に受光させる測定光学系を備え、前記受光素子の出力に基づいて被検眼の屈折力を測定する眼屈折力測定装置において、
測定実行時の被検眼に対する前記測定光学系のアライメントずれを検出するアライメント検出手段と、前記受光素子で受光される測定指標像に基づいて屈折力を演算する演算手段であって、前記アライメント検出手段で検出されるアライメントずれの方向及びずれ量に基づいて屈折力の演算に使用する測定指標像の領域を選択する演算手段と、を備えることを特徴とする。
(2) (1)の眼屈折力測定装置において、前記測定光学系は、被検眼眼底にスポット状またはリング状の測定指標光束を投影する投影光学系と、眼底から反射された測定指標光束をリング像の測定指標像として2次元受光素子に受光させる受光光学系とを備え、前記演算手段はアライメントの方向及びずれ量に基づいて選択した領域のリング像から楕円近似を行って屈折力を演算することを特徴とする。
(3) (1)又は(2)の演算手段は、前記アライメント検出手段により検出されたアライメントのずれ量が所定の第1範囲内にあるときは受光された測定指標像の全領域を用いて屈折力を演算し、アライメントのずれ量が前記第1範囲より広く設定された所定の第2範囲内にあるときに、アライメントのずれ量が大きくなるに従って屈折力の演算に用いない領域が広くなるように演算に用いる領域を選択することを特徴とする。
本発明によれば、被検眼に対する上下左右方向にアライメントずれがあっても、信頼性のある測定結果が得られる。
以下、本発明の実施形態に係る眼屈折力測定装置について、図面に基づいて説明する。図1は、実施形態に係る装置の外観構成図である。測定装置は、基台1と、基台1に取り付けられた顔支持ユニット2と、基台1上に移動可能に設けられた移動台3と、移動台3に移動可能に設けられ、後述する光学系を収納する測定部4を備える。測定部4は、移動台3に設けられたXYZ駆動部6により、被検眼Eに対して左右方向(X方向)、上下方向(Y方向)及び前後方向(Z方向)に移動される。駆動部6は、X,Y,Zの方向毎に設けられたスライド機構、モータ等から構成される。移動台3は、ジョイスティック5の操作により、基台1上をX方向及びZ方向に移動され、回転ノブ5aを回転操作することにより、XYZ駆動部6のY駆動によりY方向に移動される。移動台3には被検眼Eの観察像や測定結果等の各種の情報を表示するモニタ7、各種設定を行うためのスイッチが配置されたスイッチ部8が設けられている。
図2は、本装置の光学系及び制御系の概略構成図である。測定光学系10は、被検眼Eの瞳孔中心部を介して被検眼Eの眼底Efにスポット状の測定指標光束を投影する投影光学系10aと、眼底Efから反射された測定指標光束を瞳孔周辺部を介してリング状に取り出す受光光学系10bと、から構成される。
投影光学系10aは、測定光学系10の光軸L1上に配置された,LEDやSLD等の測定用赤外点光源11,リレーレンズ12,ホールミラー13,駆動部23により光軸L1を中心に回転されるプリズム15,及び測定用対物レンズ14を備える。光源11は、正視眼の眼底Efと光学的に共役な位置関係となっている。また、ホールミラー13の開口は、被検眼Eの瞳孔と光学的に共役な位置関係となっている。なお、本明細書でいう「共役」とは、厳密に共役である必要はなく、測定精度との関係で必要とされる精度で共役であればよいことを意味する。
受光光学系10bは、投影光学系10aの対物レンズ14,プリズム15,及びホールミラー13が共用され、ホールミラー13の反射方向の光軸L1上に配置された,リレーレンズ16及び全反射ミラー17と、全反射ミラー17の反射方向の光軸L1上に配置された,受光絞り18,コリメータレンズ19,リングレンズ20,及びエリアCCD等からなる二次元撮像素子22を備える。受光絞り18及び撮像素子22は、眼底Efと光学的に共役な位置関係となっている。リングレンズ20は、図3(a)及び(b)に示すように、透明平板状の片側に円筒レンズがリング状に形成されたレンズ部20aと、レンズ部20aのリング状円筒レンズ部分以外に施された遮光用のコーティングによる遮光部20bと、から構成され、被検眼Eの瞳孔と光学的に共役な位置関係となっている。撮像素子22からの出力は、画像メモリ71を介して演算制御部70に入力される。
対物レンズ14と被検眼Eとの間には、固視標呈示光学系30からの固視標光束とXY方向アライメント指標投影光学系40からのアライメント指標光束とを被検眼Eに導き被検眼Eの前眼部からの反射光を観察光学系50に導くハーフミラー29が配置されている。
固視標呈示光学系30は、ハーフミラー29により光軸L1と同軸にされた光軸L2上に配置された,固視標呈示用可視光源31,固視標を持つ固視標板32,投光レンズ33,可視光透過・赤外光反射のダイクロイックミラー34,ハーフミラー35,及び観察用対物レンズ36を備える。光源31及び固視標板32は、光軸L2方向に移動されることにより、被検眼Eの雲霧を行う。
被検眼正面から被検眼に対する上下左右(XY)方向のアライメント状態検出用の指標を投影するXYアライメント指標投影光学系40は、固視標呈示光学系30のダイクロイックミラー34,ハーフミラー35,及び対物レンズ36が共用され、ダイクロイックミラー34の反射方向の光軸L2上に配置された,アライメント用近赤外点光源41及び集光レンズ42を備える。光源41からのアライメント指標光は、対物レンズ36により略平行光束とされ、被検眼Eに投影される。
45は前後方向(Z方向)検出用のアライメント指標を投影する光学系であり、測定光軸L1を挟んで対称に配置された2組の第1投影光学系45a、45bと、この第1投影光学系45a、45bより狭い角度に配置された光軸を持ち測定光軸L1 を挟んで対称に配置された2組の第2投影光学系45c、45dを備える。第1投影光学系45a、45bは、近赤外光を出射する点光源46a、46b、コリメータレンズ47a、47bを持ち、略平行光束の光により被検眼Eに無限遠の指標を投影する。一方、第2投影光学系45c、45dは、近赤外光を出射する点光源46c、46dを持ち、発散光束により被検眼Eに有限遠の指標を投影する。
観察光学系50は、固視標呈示光学系30の対物レンズ36及びハーフミラー35が共用され、ハーフミラー35の反射方向の光軸上に配置された,撮像レンズ51及び二次元撮像素子52を備える。撮像素子52からの出力は、画像処理部77を介して演算制御部70及びモニタ7に入力される。図示なき前眼部照明用光源による被検眼Eの前眼部像は、二次元撮像素子52により撮像され、モニタ7上に表示される。なお、この観察光学系50は被検眼Eの角膜に形成されるアライメント指標像を検出する光学系を兼ね、画像処理部77によりアライメント指標像の位置が検出される。
演算制御部70には、画像メモリ71、メモリ75、画像処理部77、モニタ7、XYZ駆動機構6等が接続されている。演算制御部70は、装置全体の制御を行うと共に、眼屈折値の算出等を行う。
被検眼の眼屈折力を求める場合、演算制御部70は、測定開始信号の入力に基づき光源11を点灯させると共に、プリズム15を駆動部23により高速回転させる。光源11から出射された測定光は、リレーレンズ12からビームスプリッタ(ハーフミラー)29までを介して眼底Efに投影され、眼底Ef上で回転するスポット状の点光源像を形成する。このとき、光軸L1を中心に回転するプリズム15により、ホールミラー13の開口の瞳投影像(瞳上での投影光束)は、高速に偏心回転される。
眼底Ef上に形成された点光源像の光は、反射・散乱されて被検眼Eを射出し、対物レンズ14によって集光され、高速回転するプリズム15から全反射ミラー17までを介して受光絞り18の開口上で再び集光され、コリメータレンズ19にて略平行光束(正視眼の場合)とされ、リングレンズ20によってリング状光束として取り出され、リング像として撮像素子22に受光される。
以上のような構成を備える装置において、その動作を説明する。まず、被検者の顔を顔支持ユニット2に固定させた後、被検眼角膜にアライメント指標を投影して、測定部4と被検眼の位置合わせを行う。被検眼に対する測定部4のXY方向のアライメント状態は光源41により形成される指標像の位置関係から検出され、Z方向のアライメント状態はアライメント指標投影光学系45により形成される4つの指標像の位置関係から検出される。Z方向のアライメント状態の適否は、第1投影光学系45a、45bによる2つの無限遠指標像の像間隔と第2投影光学系45c、45dによる有限遠指標像の像間隔とを比較することにより検出される。無限遠視標の投影では、Z方向が変化しても、その像間隔はほどんど変化しない。一方、有限遠視標の投影では、Z方向の変化に伴ってその像間隔が変化する。この特性を利用してZ方向のアライメント状態が判定できる(特開平6−46999号参照)。
制御部70は光源41により形成される指標像に基づいて測定部4をXY方向に移動し、アライメント指標投影光学系45により形成される4つの指標像に基づいて測定部4をZ方向に移動する。XYZの各方向のアライメント状態がそれぞれ所定の許容範囲に入ると、制御部70はアライメント完了を判断し、測定開始信号を自動的に発して測定を実行する。手動測定の場合は、検者がジョイスティック5等を操作してアライメント完了させた後、図示亡き測定開始スイッチを押して測定開始信号を入力する。
図4は、測定開始信号をトリガとして測定が実行されることによって、撮像素子22にて撮像されたリング像である。撮像素子22からの出力信号は、画像メモリ71に画像データ(リング画像)として記憶される。その後、演算制御部70は、画像メモリ71に記憶された画像データに基づいて各経線方向にリング像の位置を特定する(細線化する)。図5は、リング像における所定経線方向の輝度信号の波形を示す図である。この場合、演算制御部70は、輝度信号の波形を所定の閾値にて切断し、その切断位置での波形の中間点や、輝度信号の波形のピーク、輝度信号の重心位置などを求めることによりリング像の位置を特定する。図6は、各経線方向毎にリング像の位置を特定したときの概念図である。
次に、演算制御部70は、図6に示すように特定されたリング像の像位置に基づいて、最小二乗法等を用いて楕円像を近似する。なお、楕円近似の方法としては、眼屈折力測定や角膜形状測定等で周知である楕円近似の式を用いることができる。そして、近似された楕円の形状から各経線方向の屈折誤差を求めることができるので、これに基づいて被検眼の眼屈折値、S(球面度数)、C(柱面度数)、A(乱視軸角度)の各値が演算され、測定結果がモニタ7に表示される。
次に、被検眼に対してアライメントずれがあった際に撮像されたリング像の形状について図7を用いて説明する。図7は、同一の模型眼に対して測定を行った際に撮像素子22に撮像されたリング像を示す図であって、図7(a)は、測定光軸L1がアライメント基準位置と一致したときのリング像R1であり、図7(b)は、模型眼に対して上方向に2mmのアライメントずれがあったときのリング像R2である。さらに、図8は、リング像R1とリング像R2とを重ね合わせてみたときの図である。なお、本実施形態において、模型眼に対して上方向に2mmアライメントずれがあったとは、測定光軸L1が基準位置に対して2mm上方にあったときのことを指す。
図7及び図8に示すように、測定時にアライメントずれがあった時のリング像は、アライメントが適正な状態において撮像されたリング像に対して歪んだ形状となっている。すなわち、図7(b)の場合、リング像R1の形状と比較すると、リング像R2の形状は、その上部が歪んだ形状となっている。このようなリング像の歪みは、眼の正の球面収差によるものであって、特に大きな球面収差がある場合には、歪みが大きくなる。なお、リング像に歪みが生じる領域は、アライメントずれの方向に対応づけることができる。すなわち、被検眼に対して右下方向にアライメントずれがあったときには、リング像の右下部が歪んだ形状となる。また、ずれ量が大きいほど、歪みが生じる領域が大きく(広く)なる傾向にあり、アライメントが適正な状態のリング像との形状の違いは大きくなる。なお、図9は、測定時に模型眼(図8と同一の模型眼)に対して上方向に約3mmのアライメントずれがあったときのリング像R3と、アライメント状態が適正なときに測定されたリング像R1とを重ねあわせたときの図である。図9において、リング像の上部の歪みが大きくなっていると共に、リング像の上部以外にも歪みが見られ、リング像全体が歪んだような形状となっている。
従来では、図7(b)に示すような歪んだリング像に対して像位置を検出し、楕円近似の処理を経て眼屈折値を求めると、測定値に誤差が生じてしまっていた。図10は、−4.4D球面模型眼に対するアライメントずれに伴う測定値の変化を示す図であり、片側2mmずれでSph値に約1.2D低めに、CYL値は本来0Dであるはずのものが約−2.7Dとなっているのがわかる。
以下に、上記のような問題を解決するための一実施形態について説明する。本実施形態において、演算制御部70は、撮像素子22により屈折力測定用のリング像を撮像する際に、観察光学系50の二次元撮像素子52によって被検眼に対するアライメント状態を検出する。これにより、演算制御部70は、リング像を取得する際の、被検眼に対するアライメントずれの方向とそのずれ量を得ることができる。
まず、被検眼に対するアライメントのずれ量とリング像の歪み具合(アライメントが適正な状態におけるリング像との形状の違い)の関係を、アライメントずれの各方向毎に、予め実験等により求める。この場合、眼屈折値ごとに求めてもよい。そして、各方向毎に、その実験結果からアライメントのずれ量に応じて、リング像における楕円近似に用いる領域を決定し、メモリ75に記憶させておく。なお、本実施形態では、取得されたリング像と、アライメントが適正な状態で取得されたリング像との形状の違いがあるか否かをリング像の各経線方向ごとに調べていき、一定以上の形状の違いが見られた領域については楕円近似に用いないようにした。例えば、リング像取得の際に被検眼に対して上方向に1mmアライメントずれがあった場合、取得されたリング像(図11参照)のうち、図11のDで示される領域(主に歪みが生じている部分)の像位置データ(60°≦θ≦120°の領域)を楕円近似に用いず、Bで示される領域(歪みが少ない部分)の像位置データ(0°≦θ<60°、120°<θ<360°)を楕円近似に用いるようにしておく。また、リング像取得の際に被検眼に対して上方向に2mmアライメントずれがあった場合には、取得されたリング像(図8参照)のうち、図8のDで示される領域(主に歪みが生じている部分)の像位置データ(45°≦θ≦135°の領域)を楕円近似に用いず、Bで示される領域(歪みが少ない部分)の像位置データ(0°≦θ<45°、135°<θ<360°の領域)を楕円近似に用いるようにしておく。すなわち、被検眼に対するアライメントのずれ量が大きくなるに従って、眼屈折力の演算に用いないリング像の領域が広くなるように演算に用いる領域を決めておく。
このようにすれば、演算制御部70は、測定実行時の被検眼に対するアライメントずれの方向及びずれ量を得ておき、そのアライメント情報と、予め記憶されたアライメントずれの方向及びずれ量と屈折力の演算に使用するリング像の領域との関係に基づいて、屈折力の演算に使用するリング像の領域を取捨選択することが可能となる。この場合、取得されたリング像の像位置の特定を行った後、被検眼に対するアライメント状態に基づいて、楕円近似に用いる領域について取捨選択を行い、楕円近似に用いないと判断された領域の像位置データについては、楕円近似に用いないようにする方法が考えられる。また、取得されたリング像のうち、楕円近似に用いないと判断された領域については、像位置の特定を行わないようにしてもよい。
以上のような構成とすれば、アライメントずれによるリング像の歪み部分を測定値の演算に用いないため、測定誤差の発生を軽減でき、アライメントずれが大きくても信頼性の高い測定値を求めることができる(測定値を安定化させることができる)。本実施形態においては、従来、アライメントのズレ量がアライメント基準位置から0.5mmを超えてしまうと、測定値に誤差が生じていたが、アライメントのズレ量が0.5mmを超えた場合(0.5mm〜2.0mm)でも、測定誤差を許容できる測定結果を得ることができるようになった。
これによれば、上下左右方向のアライメントずれの許容範囲を広げることができるので、アライメントをスムーズに行うことが可能となる。すなわち、被検眼に対するアライメント状態を検出し、検出結果に基づいて測定部4を移動させることにより自動的に測定を実行したり(いわゆるオートショット)、検者の手動操作にてアライメントを行うような場合において、アライメントずれの許容範囲が広がることによって、アライメントが容易になるとともに、アライメント時間を短くさせることが可能となる。
なお、図9のようなリング像の上部以外にも歪みが見られ、リング像全体が歪んだような形状となっているものについては、上記のような屈折力の演算に用いる領域の選択処理を行っても、アライメントずれによる測定誤差が許容範囲内になることが難しいと思われる。そこで、本実施形態において、演算制御部70は、測定実行時におけるアライメントのずれ量が所定のずれ量(例えば、約2mm)を超えているような場合には、測定エラーとするか、もしくは、そもそも測定を行わない(例えば、測定開始信号のトリガが発信されない)ような構成としておく。このようにすれば、リング像取得の際のアライメント状態が、測定誤差の軽減が可能な状態の場合に眼屈折値が求められるため、より信頼性の高い測定結果を得ることが可能となる。
また、本実施形態においては、被検眼に対するアライメントのずれ量があると、屈折力の演算に使用する測定指標像の領域を選択するような構成としたが、これに限るものでない。例えば、測定実行時におけるアライメントのずれ量が所定の範囲内(例えば、約0〜0.5mm)にあるときは、上記のような選択処理をせずに、測定指標像の全領域を用いて屈折力を演算するような構成としても良い。これは、アライメントのずれ量が小さい場合、アライメントずれによって生じるリングの歪みが小さく、測定結果に及ぼす影響も小さいためである。
また、アライメントずれ量が所定の範囲内(例えば、0.5〜2.0mm)にあるときにおいて、上記のような選択処理を行うような構成としてもよい。
また、アライメントずれ量が2.0mm程度あると、被検眼の瞳孔の影響(測定光束がけられてリング像に欠けが生じる)によって許容範囲を超える測定誤差が生じる可能性がある。そのため、これらを考慮して上記のような選択処理を行うアライメントずれ量の範囲を決定するようにしてもよい(例えば、アライメントずれ量が0〜1.0mm)。
また、本実施形態においては、各方向毎に、被検眼に対するアライメントのずれ量とリング像の歪み具合(アライメントが適正な状態におけるリング像との形状の違い)のと関係を求めるようにしたが、一方向のみ(例えば、上方向)のずれ量とリング像の歪み具合の関係を求め、この結果を各方向に反映させるようにしてもよい。
また、眼屈折力を測定するための光学系は、本実施形態の光学系に限るものではない。例えば、眼底にリング状の測定指標光束を投影し,眼底から反射されたリング状の測定指標光束をリング像の測定指標像として2次元受光素子に受光させることにより眼屈折力を測定するものであってもよい。
実施形態に係る装置の外観構成図である。 本装置の光学系及び制御系の概略構成図である。 リングレンズの構成について説明する概略図である。 測定開始信号をトリガとして測定が実行されることによって、撮像素子22にて撮像されたリング像である。 リング像における所定経線方向の輝度信号の波形を示す図である。 各経線方向毎にリング像の位置を特定したときの概念図である。 同一の模型眼に対して測定を行った際に撮像素子22に撮像されたリング像を示す図である。 リング像R1とリング像R2とを重ね合わせてみたときの図である。、また、 測定時に模型眼(図8と同一の模型眼)に対して上方向に約3mmのアライメントずれがあったときのリング像R3と、アライメント状態が適正なときに測定されたリング像R1とを重ねあわせたときの図である。 −4.4D球面模型眼に対するアライメントずれに伴う測定値の変化を示す図である。 眼屈折力の演算に用いるリング像の領域を決定する方法について説明する図である。
符号の説明
4 測定部
10 測定光学系
40 XYアライメント指標投影光学系
45 Zアライメント指標投影光学系
52 二次元撮像素子
70 制御部
75 メモリ
77 画像処理部
R1、R2、R3 リング像

Claims (3)

  1. 被検眼眼底に測定指標光束を投影し、眼底からの反射された測定指標光束を2次元の受光素子に受光させる測定光学系を備え、前記受光素子の出力に基づいて被検眼の屈折力を測定する眼屈折力測定装置において、
    測定実行時の被検眼に対する前記測定光学系のアライメントずれを検出するアライメント検出手段と、前記受光素子で受光される測定指標像に基づいて屈折力を演算する演算手段であって、前記アライメント検出手段で検出されるアライメントずれの方向及びずれ量に基づいて屈折力の演算に使用する測定指標像の領域を選択する演算手段と、を備えることを特徴とする眼屈折力測定装置。
  2. 請求項1の眼屈折力測定装置において、前記測定光学系は、被検眼眼底にスポット状またはリング状の測定指標光束を投影する投影光学系と、眼底から反射された測定指標光束をリング像の測定指標像として2次元受光素子に受光させる受光光学系とを備え、前記演算手段はアライメントの方向及びずれ量に基づいて選択した領域のリング像から楕円近似を行って屈折力を演算することを特徴とする眼屈折力測定装置。
  3. 請求項1又は2の演算手段は、前記アライメント検出手段により検出されたアライメントのずれ量が所定の第1範囲内にあるときは受光された測定指標像の全領域を用いて屈折力を演算し、アライメントのずれ量が前記第1範囲より広く設定された所定の第2範囲内にあるときに、アライメントのずれ量が大きくなるに従って屈折力の演算に用いない領域が広くなるように演算に用いる領域を選択することを特徴とする眼屈折力測定装置。






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