JP2014063475A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2014063475A5
JP2014063475A5 JP2013118301A JP2013118301A JP2014063475A5 JP 2014063475 A5 JP2014063475 A5 JP 2014063475A5 JP 2013118301 A JP2013118301 A JP 2013118301A JP 2013118301 A JP2013118301 A JP 2013118301A JP 2014063475 A5 JP2014063475 A5 JP 2014063475A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
target object
model
geometric feature
orientation
model information
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2013118301A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014063475A (ja
JP6323993B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2013118301A priority Critical patent/JP6323993B2/ja
Priority claimed from JP2013118301A external-priority patent/JP6323993B2/ja
Priority to US13/972,212 priority patent/US9275461B2/en
Priority to DE102013216902.7A priority patent/DE102013216902A1/de
Priority to CN201310379479.XA priority patent/CN103678754B/zh
Publication of JP2014063475A publication Critical patent/JP2014063475A/ja
Publication of JP2014063475A5 publication Critical patent/JP2014063475A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6323993B2 publication Critical patent/JP6323993B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Claims (17)

  1. 対象物体を含む画像を取得する画像取得手段と、
    前記対象物体の概略の位置姿勢を示す概略位置姿勢を取得する手段と、
    前記対象物体の形状の再現精度がそれぞれ異なる複数のモデル情報を保持する保持手段と、
    前記画像中の対象物体の幾何特徴と、前記概略位置姿勢で配置した前記複数のモデルのうちの少なくとも1つのモデルの幾何特徴とを対応づける対応付け手段と、
    前記対応付けの結果に基づいて、前記対象物体の位置姿勢を推定する推定手段と
    を備えることを特徴とする情報処理装置。
  2. 前記対応付け手段は、前記対象物体の形状の再現精度がそれぞれ異なる複数のモデル情報のうち規定の条件に応じて決まる1つを選択モデル情報として選択し、該選択されたモデルの幾何特徴と前記画像中の対象物体の幾何特徴とを対応づけることを特徴とする、請求項1に記載の情報処理装置。
  3. 前記対応付け手段は、
    繰り返し行われる前記推定の過程で計算される指標値と閾値との大小関係に応じて、前記複数のモデル情報のうちの何れか1つを選択モデル情報として選択する選択手段を備え
    前記推定手段は、
    前記選択モデル情報が示すモデルを、前記概略位置姿勢が示す位置姿勢で配置し、前記対象物体の表面上のそれぞれの幾何特徴と、該配置したモデルにおいて該幾何特徴に対応する対応幾何特徴と、の間の距離を求める手段と、
    前記対象物体の表面上のそれぞれの幾何特徴について求めた距離に基づいて前記対象物体の位置姿勢を推定する手段と
    を備える
    ことを特徴とする請求項2に記載の情報処理装置。
  4. 前記選択手段は、前記対象物体に対する適合度に基づき、前記複数のモデル情報のうちの何れか1つを選択モデル情報として選択し、
    前記推定手段は更に、
    前記対象物体の表面上のそれぞれの幾何特徴に対し、該幾何特徴と、前記推定手段が推定した概略位置姿勢が示す位置姿勢で配置したモデルにおいて該幾何特徴に対応する対応幾何特徴と、の間の距離を求め、該求めた距離を前記適合度として求める手段を備える
    ことを特徴とする請求項3に記載の情報処理装置。
  5. 前記選択手段は、前記推定の実行回数に基づき、前記複数のモデル情報のうちの何れか1つを選択モデル情報として選択する
    ことを特徴とする請求項3に記載の情報処理装置。
  6. 前記選択手段は、前記推定手段による推定の前の概略位置姿勢が示す位置と、前記推定手段による推定の後の概略位置姿勢が示す位置と、の差分に基づき、前記複数のモデル情報のうちの何れか1つを選択モデル情報として選択する
    ことを特徴とする請求項3に記載の情報処理装置。
  7. 前記選択手段は、前記推定手段による推定の前の概略位置姿勢が示す姿勢と、前記推定手段による推定の後の概略位置姿勢が示す姿勢と、の差分に基づき、前記複数のモデル情報のうちの何れか1つを選択モデル情報として選択する
    ことを特徴とする請求項3に記載の情報処理装置。
  8. 前記推定手段は、
    前記対象物体の部位ごとに、該部位の形状をパラメトリック曲面で近似したパラメトリック曲面モデル情報、該部位の形状をポリゴン群で近似したポリゴンモデル情報、の何れか1つを、前記パラメトリック曲面モデルに対する前記ポリゴンモデルの近似誤差に応じて選択する選択手段と、
    前記対象物体の部位ごとに前記選択手段が選択したモデル情報が示すモデルを、前記概略位置姿勢で配置し、前記対象物体の表面上のそれぞれの幾何特徴と、該配置したモデルにおいて該幾何特徴に対応する対応幾何特徴と、の間の距離を求める手段と、
    前記対象物体の表面上のそれぞれの幾何特徴について求めた距離に基づいて前記概略位置姿勢を推定する手段と
    を備える
    ことを特徴とする請求項2に記載の情報処理装置。
  9. 前記推定手段は、
    前記対象物体の部位ごとに、該部位の形状をパラメトリック曲面で近似したパラメトリック曲面モデル情報、該部位の形状をポリゴン群で近似したポリゴンモデル情報、の何れか1つを、前記対象物体の形状の公差に基づき、選択する選択手段と、
    前記対象物体の部位ごとに前記選択手段が選択したモデル情報が示すモデルを、前記概略位置姿勢で配置し、前記対象物体の表面上のそれぞれの幾何特徴と、該配置したモデルにおいて該幾何特徴に対応する対応幾何特徴と、の間の距離を求める手段と、
    前記対象物体の表面上のそれぞれの幾何特徴について求めた距離に基づいて前記概略位置姿勢を推定する手段と
    を備えることを特徴とする請求項2に記載の情報処理装置。
  10. 前記推定手段は、
    前記対象物体の表面上の各幾何特徴に対し、該幾何特徴に対する残差が閾値以上であれば前記対象物体の形状をポリゴン群で近似したポリゴンモデル情報を選択モデル情報として選択し、前記残差が該閾値未満であれば前記対象物体の形状をパラメトリック曲面で近似したパラメトリック曲面モデル情報を選択モデル情報として選択する選択手段と、
    前記幾何特徴について選択された選択モデル情報に従うモデルを、前記概略位置姿勢で配置し、該幾何特徴と、該配置したモデルにおいて該幾何特徴に対応する対応幾何特徴と、の間の距離を求める演算手段と、
    前記対象物体の表面上の各幾何特徴について求めた距離に基づいて前記概略位置姿勢を補正する補正手段と、
    前記対象物体の表面上の各幾何特徴に対し、該幾何特徴について選択した選択モデル情報に従うモデルを前記補正手段が補正した概略位置姿勢で配置し、該幾何特徴と、該配置したモデルにおいて該幾何特徴に対応する対応幾何特徴と、の間の距離を、該幾何特徴に対する残差として求める手段と
    を備える
    ことを特徴とする請求項2に記載の情報処理装置。
  11. 前記保持手段は、
    第1のモデル情報と該第1のモデル情報よりも再現精度の高い第2のモデル情報とを前記対象物体の部位ごとに関連づけて保持し、
    前記対応付け手段は、
    前記概略位置姿勢で配置した前記第1のモデルの幾何特徴と前記画像中の対象物体の幾何特徴とを対応づけることにより、前記第1のモデルの幾何特徴を特定する特定手段を更に備え、
    前記特定された第1のモデルの幾何特徴と関連付けられる第2のモデルの幾何特徴と、前記対象物体の幾何特徴とを対応付けることを特徴とする、請求項1に記載の情報処理装置。
  12. 前記第1のモデル情報は、ポリゴンモデル情報であり、
    前記第2のモデル情報は、区分パラメトリック曲面モデル情報であることを特徴とする、請求項11に記載の情報処理装置。
  13. 前記特定手段は、前記対象物体上の前記幾何特徴と、前記第1のモデルにおいて該幾何特徴に対応する対応幾何特徴と、の距離を算出し、
    前記特定手段が算出した前記距離が閾値以上である幾何特徴については前記特定手段が算出した前記距離の評価値を用い、前記特定手段が算出した前記距離が閾値未満である幾何特徴については前記第2のモデルを用いて対応づけられた結果を用いて、前記対象物体の位置姿勢を推定する
    ことを特徴とする、請求項11又は12に記載の情報処理装置。
  14. 所定位置の視点から対象物体を撮影した撮影画像を取得する手段と、
    前記撮影画像上の幾何特徴を抽出する手段と、
    をさらに備え、
    前記推定手段は、前記対象物体の形状の再現精度がそれぞれ異なる複数のモデル情報から選択された選択モデル情報が示すモデルを前記概略位置姿勢が示す位置姿勢に基づいて前記画像上に投影し、前記抽出された幾何特徴と、該投影したモデルにおいて該幾何特徴に対応する対応幾何特徴とに基づいて、前記対象物体の位置姿勢を推定する
    ことを特徴とする、請求項1に記載の情報処理装置。
  15. 情報処理装置が行う情報処理方法であって、
    前記情報処理装置の保持手段は、前記対象物体の形状の再現精度がそれぞれ異なる複数のモデル情報を保持し、
    前記情報処理方法は、
    前記情報処理装置の画像取得手段が、対象物体を含む画像を取得する画像取得工程と、
    前記情報処理装置の位置姿勢取得手段が、前記対象物体の概略の位置姿勢を示す概略位置姿勢を取得する工程と、
    前記情報処理装置の対応付け手段が、前記画像中の対象物体の幾何特徴と、前記概略位置姿勢で配置した前記複数のモデルのうちの少なくとも1つのモデルの幾何特徴とを対応づける対応付け工程と、
    前記情報処理装置の推定手段が、前記対応付けの結果に基づいて、前記対象物体の位置姿勢を推定する推定工程と
    を有することを特徴とする情報処理方法。
  16. 更に、
    ロボットを制御する制御部に対し、前記推定手段が推定した位置姿勢に従って該ロボットを移動させるための指示を送出する手段を備えることを特徴とする請求項1乃至14の何れか1項に記載の情報処理装置。
  17. コンピュータを、請求項1乃至14の何れか1項に記載の情報処理装置の各手段として機能させるためのコンピュータプログラム。
JP2013118301A 2012-08-28 2013-06-04 情報処理装置、情報処理方法、及びコンピュータプログラム Active JP6323993B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013118301A JP6323993B2 (ja) 2012-08-28 2013-06-04 情報処理装置、情報処理方法、及びコンピュータプログラム
US13/972,212 US9275461B2 (en) 2012-08-28 2013-08-21 Information processing apparatus, information processing method and storage medium
DE102013216902.7A DE102013216902A1 (de) 2012-08-28 2013-08-26 Informationsverarbeitungsvorrichtung, Informationsverarbeitungsverfahren und Programm
CN201310379479.XA CN103678754B (zh) 2012-08-28 2013-08-27 信息处理装置及信息处理方法

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012188074 2012-08-28
JP2012188074 2012-08-28
JP2013118301A JP6323993B2 (ja) 2012-08-28 2013-06-04 情報処理装置、情報処理方法、及びコンピュータプログラム

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2014063475A JP2014063475A (ja) 2014-04-10
JP2014063475A5 true JP2014063475A5 (ja) 2016-06-30
JP6323993B2 JP6323993B2 (ja) 2018-05-16

Family

ID=50098676

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013118301A Active JP6323993B2 (ja) 2012-08-28 2013-06-04 情報処理装置、情報処理方法、及びコンピュータプログラム

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9275461B2 (ja)
JP (1) JP6323993B2 (ja)
CN (1) CN103678754B (ja)
DE (1) DE102013216902A1 (ja)

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5787642B2 (ja) * 2011-06-28 2015-09-30 キヤノン株式会社 対象物保持装置、対象物保持装置の制御方法、およびプログラム
JP6323993B2 (ja) * 2012-08-28 2018-05-16 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法、及びコンピュータプログラム
JP6429450B2 (ja) 2013-10-31 2018-11-28 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法
JP5905549B1 (ja) * 2014-09-16 2016-04-20 ファナック株式会社 バラ積みされた物品を取出す物品取出装置
JP6256702B2 (ja) * 2014-12-25 2018-01-10 株式会社ダイフク 物品搬送用容器昇降搬送装置
EP3040941B1 (en) * 2014-12-29 2017-08-02 Dassault Systèmes Method for calibrating a depth camera
JP6635690B2 (ja) * 2015-06-23 2020-01-29 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム
US10335951B2 (en) * 2015-07-29 2019-07-02 Canon Kabushiki Kaisha Information processing apparatus, information processing method, robot control apparatus, and robot system
JP6711591B2 (ja) * 2015-11-06 2020-06-17 キヤノン株式会社 ロボット制御装置およびロボット制御方法
JP6677522B2 (ja) * 2016-02-15 2020-04-08 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理装置の制御方法およびプログラム
JP6846661B2 (ja) * 2016-04-13 2021-03-24 パナソニックIpマネジメント株式会社 3次元的な投影対象のための投影方法及び装置
US10380767B2 (en) * 2016-08-01 2019-08-13 Cognex Corporation System and method for automatic selection of 3D alignment algorithms in a vision system
JP6514156B2 (ja) * 2016-08-17 2019-05-15 ファナック株式会社 ロボット制御装置
JP2018034242A (ja) * 2016-08-31 2018-03-08 セイコーエプソン株式会社 ロボット制御装置、ロボット、及びロボットシステム
WO2018229812A1 (ja) * 2017-06-12 2018-12-20 株式会社日立製作所 三次元計測装置、および方法
WO2019061334A1 (en) * 2017-09-29 2019-04-04 SZ DJI Technology Co., Ltd. SYSTEMS AND METHODS FOR PROCESSING AND DISPLAYING IMAGE DATA BASED ON ATTITUDE INFORMATION
JP6886906B2 (ja) * 2017-10-10 2021-06-16 東芝テック株式会社 読取装置およびプログラム
US11453123B2 (en) * 2017-12-27 2022-09-27 Stmicroelectronics, Inc. Robotic device with time-of-flight proximity sensing system
JP6879238B2 (ja) * 2018-03-13 2021-06-02 オムロン株式会社 ワークピッキング装置及びワークピッキング方法
JP7237496B2 (ja) * 2018-09-10 2023-03-13 株式会社東芝 ピッキングシステム、情報処理装置及び情報処理プログラム
WO2020121406A1 (ja) * 2018-12-11 2020-06-18 三菱電機株式会社 3次元計測装置、移動ロボット、手押し車型移動装置および3次元計測処理方法
CN110160528B (zh) * 2019-05-30 2021-06-11 华中科技大学 一种基于角度特征识别的移动装置位姿定位方法
JP2024518862A (ja) * 2020-12-01 2024-05-08 クリアエッジ・スリー・ディー インコーポレイテッド 施工検証システム、方法およびコンピュータプログラム製品

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3512992B2 (ja) * 1997-01-07 2004-03-31 株式会社東芝 画像処理装置および画像処理方法
US7952594B2 (en) * 2004-05-27 2011-05-31 Canon Kabushiki Kaisha Information processing method, information processing apparatus, and image sensing apparatus
JP4081553B2 (ja) * 2005-09-13 2008-04-30 防衛省技術研究本部長 距離推定装置
US8050473B2 (en) * 2007-02-13 2011-11-01 The Trustees Of The University Of Pennsylvania Segmentation method using an oriented active shape model
JP4949953B2 (ja) 2007-07-11 2012-06-13 国立大学法人埼玉大学 曲面形状と基準面との距離算出方法
JP5253066B2 (ja) * 2008-09-24 2013-07-31 キヤノン株式会社 位置姿勢計測装置及び方法
JP2011175477A (ja) * 2010-02-24 2011-09-08 Canon Inc 3次元計測装置、処理方法及びプログラム
JP5618569B2 (ja) * 2010-02-25 2014-11-05 キヤノン株式会社 位置姿勢推定装置及びその方法
JP5746477B2 (ja) 2010-02-26 2015-07-08 キヤノン株式会社 モデル生成装置、3次元計測装置、それらの制御方法及びプログラム
JP5430456B2 (ja) 2010-03-16 2014-02-26 キヤノン株式会社 幾何特徴抽出装置、幾何特徴抽出方法、及びプログラム、三次元計測装置、物体認識装置
JP5170154B2 (ja) * 2010-04-26 2013-03-27 オムロン株式会社 形状計測装置およびキャリブレーション方法
JP5496008B2 (ja) 2010-08-06 2014-05-21 キヤノン株式会社 位置姿勢計測装置、位置姿勢計測方法、およびプログラム
US8467596B2 (en) * 2011-08-30 2013-06-18 Seiko Epson Corporation Method and apparatus for object pose estimation
JP5991730B2 (ja) * 2012-01-30 2016-09-14 キヤノン株式会社 計測装置、計測方法及びプログラム
JP6323993B2 (ja) * 2012-08-28 2018-05-16 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法、及びコンピュータプログラム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2014063475A5 (ja)
JP2020055096A5 (ja)
JP2017528731A5 (ja)
JP2016085637A5 (ja)
JP2014119442A5 (ja)
JP2011179910A5 (ja) 位置姿勢計測装置、位置姿勢計測方法、プログラム及び記憶媒体
JP2013045433A5 (ja)
JP2014132488A5 (ja)
RU2017141158A (ru) Способ моделирования трехмерного пространства
JP2015090560A5 (ja)
JP2010134649A5 (ja)
JP2012002761A5 (ja) 位置姿勢計測装置、その処理方法、プログラム、ロボットシステム
JP2008275391A5 (ja)
JP2014115109A5 (ja)
JP2014137756A5 (ja)
JP2013184278A5 (ja)
JP2015036629A5 (ja)
JP2017142333A5 (ja) 撮像装置、制御方法、プログラム、記憶媒体
JP2013213769A5 (ja)
JP2014003520A5 (ja) 画像処理装置及びそれを備えた撮像装置、画像処理方法、並びに画像処理プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
JP2013161405A5 (ja) 被写体判定装置、被写体判定方法及びプログラム
JP2011179909A5 (ja) 位置姿勢計測装置、位置姿勢計測方法、プログラムおよび記憶媒体
JP2014140154A5 (ja)
JP2018022247A5 (ja)
JP2019124539A5 (ja)