JP2014038057A - 充放電用プローブの先端形状 - Google Patents

充放電用プローブの先端形状 Download PDF

Info

Publication number
JP2014038057A
JP2014038057A JP2012181374A JP2012181374A JP2014038057A JP 2014038057 A JP2014038057 A JP 2014038057A JP 2012181374 A JP2012181374 A JP 2012181374A JP 2012181374 A JP2012181374 A JP 2012181374A JP 2014038057 A JP2014038057 A JP 2014038057A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pin
plate
probe
holding
charge
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012181374A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5658718B2 (ja
Inventor
Kimio Masuda
公夫 増田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Organ Needle Co Ltd
Original Assignee
Organ Needle Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Organ Needle Co Ltd filed Critical Organ Needle Co Ltd
Priority to JP2012181374A priority Critical patent/JP5658718B2/ja
Publication of JP2014038057A publication Critical patent/JP2014038057A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5658718B2 publication Critical patent/JP5658718B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Tests Of Electric Status Of Batteries (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

【課題】先端部を鋭利に形成することで被測定物の表面に生じた酸化膜等を十分に突き破ることができる充放電用プローブを提供する。
【解決手段】板状部材11で被測定物20を狭持して充放電の検査を行う充放電用プローブ10において、前記板状部材11の先端付近に被測定物20を狭持するための挟持部12を設け、この挟持部12には複数の保持孔13が形成されており、この保持孔13に鋭利なピン14を挿入して固定した。
【選択図】図4

Description

この発明は、板状部材で被測定物を狭持して充放電の検査を行う充放電用プローブの先端形状に関する。
従来、板状部材で被測定物を狭持して充放電の検査を行う充放電用プローブが知られている。例えば、特許文献1には、二つの導電性部材の間に電池の被接続端子を挟んで固定する計測用端子が開示されている。この特許文献1記載の構成においては、導電性部材の端部に被接続端子と接触する接触部を設けている。
なお、被接続端子の表面には酸化膜等が形成されることがあり、接触抵抗を増大させる原因となる。このため、被接続端子と接触する接触部は、被接続端子の表面に生じた酸化膜等を突き破って接触抵抗を低減するために鋭利に形成することが望ましい。鋭利な接触部の形成は切削加工により行われることが一般的であり、例えば切削加工により複数の四角錐が連続するように接触部の表面を加工することが行われている。
特開2010−151668号公報
しかし、上記したように切削加工によって接触部の表面を加工した場合、先端を鋭利に形成するにも限界があり、被測定物の表面に生じた酸化膜等を十分に突き破れず、接触抵抗を十分に低減できないという問題点があった。
また、プローブに大電流を流すためには、先端部の高さを揃え、先端部のすべてが被測定物に接触するようにして、電流密度を低く抑えることが求められるが、切削加工による成形の場合には先端部の高さを揃えることが加工技術的に困難であるという問題点があった。
そこで、本発明は、先端部を鋭利に形成することで被測定物の表面に生じた酸化膜等を十分に突き破ることができる充放電用プローブを提供することを課題とする。
また、本発明は、先端部の高さ揃えを容易とすることで、電流密度を低く抑えることができ、大電流の検査にも使用できる充放電用プローブを提供することを課題とする。
本発明は、上記した課題を解決するためになされたものであり、以下を特徴とする。
(請求項1)
請求項1に記載の発明は、以下の点を特徴とする。
すなわち、請求項1に記載の充放電用プローブの先端形状は、板状部材で被測定物を狭持して充放電の検査を行う充放電用プローブにおいて、前記板状部材の先端付近に被測定物を狭持するための挟持部を設け、この挟持部には複数の保持孔が形成されており、この保持孔に鋭利なピンを挿入して固定したことを特徴とする。
(請求項2)
請求項2に記載の発明は、上記した請求項1記載の発明の特徴点に加え、以下の点を特徴とする。
すなわち、前記保持孔は前記板状部材の挟持部から反対面側まで貫通形成されており、前記ピンは前記挟持部の反対面側から接着されて固定されていることを特徴とする。
(請求項3)
請求項3に記載の発明は、上記した請求項1又は2記載の発明の特徴点に加え、以下の点を特徴とする。
すなわち、前記挟持部の反対面側に凹部を形成し、この凹部を半田で埋めることで前記ピンを接着固定したことを特徴とする。
(請求項4)
請求項4に記載の発明は、上記した請求項1〜3のいずれかに記載の発明の特徴点に加え、以下の点を特徴とする。
すなわち、前記板状部材は、前記ピンよりも固有抵抗が低いことを特徴とする。
請求項1に記載の発明は上記の通りであり、板状部材の先端付近に被測定物を狭持するための挟持部を設け、この挟持部には複数の保持孔が形成されており、この保持孔に鋭利なピンを挿入して固定した。このため、研削によって鋭利に形成したピンを狭持部に使用することが可能となり、この鋭利なピンで被測定物の表面に生じた酸化膜等を突き破ることができるので、接触抵抗を確実に低減することができる。
また、請求項2に記載の発明は上記の通りであり、前記保持孔は前記板状部材の挟持部から反対面側まで貫通形成されており、前記ピンは前記挟持部の反対面側から接着されて固定されている。このため、ピンの先端部を平らな面に突き当てた状態で反対側から接着固定すれば、量産時でもピンの高さを容易に揃えることでき、すなわち電流密度を安定的に低く保つことができるので、大電流の検査にも使用することができる充放電用プローブを安定的に製造できる。
また、請求項3に記載の発明は上記の通りであり、前記挟持部の反対面側に凹部を形成したので、ピンや半田が挟持部の反対面から突出することがない。また、この凹部を半田で埋めることで前記ピンを接着固定したので、凹部を設けたにもかかわらず電流が流れる面積を大きく保つことができ、大電流の検査にも使用することができる。
また、請求項4に記載の発明は上記の通りであり、前記板状部材は、前記ピンよりも固有抵抗が低い。すなわち、被測定物との接触箇所であるピンは工具鋼などの硬い材料で形成することができるので、耐久性が向上する。また、強度の必要なピンだけが固有抵抗が高い材料で形成され、板状部材は固有抵抗が低い材料で形成されているので、大電流の検査に使用した場合でも通電による発熱を抑えることができる。
充放電用プローブの使用態様を示す側面図である。 充放電用プローブの斜視図である。 充放電用プローブを(a)挟持部側から見た図、(b)挟持部の裏側から見た図である。 充放電用プローブの先端部の拡大図であって、(a)ピン挿入前の状態を示す図、(b)ピン挿入後、半田固定前の状態を示す図、(c)半田固定後の状態を示す図である。
本発明の実施形態について、図を参照しながら説明する。
本実施形態に係る充放電用プローブ10は、図1に示すように、2枚の板状部材11で被測定物20を狭持して充放電の検査を行うためのものである。特に図示しないが、2枚の板状部材11は基部において互いに接離可能に連結されており、所定の挟持手段により被測定物20を狭持した状態を維持できるように形成されている。例えば、バネなどの付勢部材で先端部が閉じる方向に付勢されることでクリップ状に形成してもよいし、ネジなどを締め付けることで2枚の板状部材11を相対的に移動可能としてもよい。
被測定物20としては、例えばラミネート型二次電池が想定される。ラミネート型二次電池の検査では、電池が幾層にも重なった状態であるために通常のプローブでは入り込むスペースがないために使用できない問題があり、本発明のような挟み込み式のプローブが適している。
被測定物20としてラミネート型二次電池を想定した場合、このラミネート型二次電池の薄板状の電極部を2枚の板状部材11で狭持し、これにより図示しない充放電装置とラミネート型二次電池とを電気的に接続する。
板状部材11の先端付近には、図1及び図2に示すように、被測定物20を狭持するための挟持部12が設けられている。この挟持部12には複数の保持孔13が形成されており、この保持孔13を貫通するように鋭利なピン14が挿入されて固定されている。
このピン14は、先端が鋭利な円錐状に形成された部材であり、鋭利な先端が被測定物20に接触するように板状部材11に固定される。このピン14は、板状部材11よりも固有抵抗が高く、かつ、板状部材11よりも硬い材料で形成されており、本実施形態においては、板状部材11には真鍮あるいは銅が使用され、ピン14には工具鋼が使用されている。
本実施形態においては、このピン14は、板状部材11の片方にのみ挿入固定されている。この場合、このピン14が挿入固定された方の板状部材11が充放電装置と電気的に接続されており、充放電装置を使って充電・放電を行ったときに当該板状部材11を介して被測定物20に電気が流れるように構成されている。なお、ピン14は、少なくとも板状部材11のいずれか一方に設けてあればよく、本実施形態のように片方の板状部材11にのみ設けてもよいし、両方の板状部材11に設けてもよい。
図3は、ピン14を設けた板状部材11を説明するための図である。この図3が示すように、板状部材11の挟持部12に形成された複数の保持孔13は、挟持部12から反対面側まで貫通形成されている。また、図3(b)に示すように、挟持部12の反対面側には凹部15が形成されており、この凹部15に到達するように保持孔13が貫通形成されている。
図4は、充放電用プローブ10の製造過程における先端部の拡大図である。充放電用プローブ10を製造する際には、まず図4(a)に示すように、板状部材11を所定の位置合わせ面21に対して平行となるように所定の間隔を設けて保持固定する。そして、図(b)に示すように、ピン14を挟持部12の反対面側から挿入する。このとき、ピン14の先端を位置合わせ面21に突き当てることでピン14の高さを揃える。そして、図4(c)に示すように、凹部15を半田16で埋める。これにより、半田16はピン14と保持孔13との間の間隙を埋めるように流れ込んで、ピン14を挟持部12の反対面側から接着固定する。
なお、図4(c)においては凹部15をすべて半田16で埋めているが、このような態様に限らず、例えば、少なくともピン14の基端側が突出しない程度に凹部15を半田16で埋めるようにしてもよい。
上記した実施形態によれば、板状部材11の先端付近に被測定物20を狭持するための挟持部12を設け、この挟持部12には複数の保持孔13が形成されており、この保持孔13に鋭利なピン14を挿入して固定している。このため、研削によって鋭利に形成したピン14を狭持部12に使用することが可能となり、この鋭利なピン14で被測定物20の表面に生じた酸化膜等を突き破ることができるので、接触抵抗を確実に低減することができる。
また、前記保持孔13は前記板状部材11の挟持部12から反対面側まで貫通形成されており、前記ピン14は前記挟持部12の反対面側から接着されて固定されている。このため、ピン14の先端部を平らな位置合わせ面21に突き当てた状態で反対側から接着固定すれば、量産時でもピン14の高さを容易に揃えることでき、すなわち電流密度を安定的に低く保つことができるので、大電流の検査にも使用することができる充放電用プローブ10を安定的に製造できる。
また、前記挟持部12の反対面側に凹部15を形成したので、ピン14や半田16が挟持部12の反対面から突出することがない。また、この凹部15を半田16で埋めることで前記ピン14を接着固定したので、凹部15を設けたにもかかわらず電流が流れる面積を大きく保つことができ、大電流の検査にも使用することができる。
また、前記板状部材11は、前記ピン14よりも固有抵抗が低い。すなわち、被測定物との接触箇所であるピン14は工具鋼などの硬い材料で形成することができるので、耐久性が向上する。また、強度の必要なピン14だけが固有抵抗が高い材料で形成され、板状部材11は固有抵抗が低い材料で形成されているので、大電流の検査に使用した場合でも通電による発熱を抑えることができる。
10 充放電用プローブ
11 板状部材
12 挟持部
13 保持孔
14 ピン
15 凹部
16 半田
20 被測定物
21 位置合わせ面

Claims (4)

  1. 板状部材で被測定物を狭持して充放電の検査を行う充放電用プローブにおいて、
    前記板状部材の先端付近に被測定物を狭持するための挟持部を設け、この挟持部には複数の保持孔が形成されており、この保持孔に鋭利なピンを挿入して固定したことを特徴とする、充放電用プローブの先端形状。
  2. 前記保持孔は前記板状部材の挟持部から反対面側まで貫通形成されており、前記ピンは前記挟持部の反対面側から接着されて固定されていることを特徴とする、請求項1記載の充放電用プローブの先端形状。
  3. 前記挟持部の反対面側に凹部を形成し、この凹部を半田で埋めることで前記ピンを接着固定したことを特徴とする、請求項1又は2記載の充放電用プローブの先端形状。
  4. 前記板状部材は、前記ピンよりも固有抵抗が低いことを特徴とする、請求項1〜3のいずれかに記載の充放電用プローブの先端形状。
JP2012181374A 2012-08-20 2012-08-20 充放電用プローブの先端形状 Expired - Fee Related JP5658718B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012181374A JP5658718B2 (ja) 2012-08-20 2012-08-20 充放電用プローブの先端形状

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012181374A JP5658718B2 (ja) 2012-08-20 2012-08-20 充放電用プローブの先端形状

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014038057A true JP2014038057A (ja) 2014-02-27
JP5658718B2 JP5658718B2 (ja) 2015-01-28

Family

ID=50286305

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012181374A Expired - Fee Related JP5658718B2 (ja) 2012-08-20 2012-08-20 充放電用プローブの先端形状

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5658718B2 (ja)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58180953A (ja) * 1982-04-15 1983-10-22 Mitsubishi Electric Corp 測定装置
JPH01180773U (ja) * 1988-06-03 1989-12-26
JPH0552869A (ja) * 1991-08-22 1993-03-02 Fujitsu Ltd プローブ装置
JP2000121693A (ja) * 1998-10-15 2000-04-28 Nippon Soken Inc 半導体デバイスの検査装置
JP2002062313A (ja) * 2000-08-22 2002-02-28 Toppan Printing Co Ltd 電気検査用治具及びその製造方法
JP2006125988A (ja) * 2004-10-28 2006-05-18 Yokowo Co Ltd 検査ユニットの製法
JP2012504244A (ja) * 2008-09-29 2012-02-16 ウェントワース ラボラトリーズ、インク. ナノチューブプローブを含むプローブカードおよびその製造方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58180953A (ja) * 1982-04-15 1983-10-22 Mitsubishi Electric Corp 測定装置
JPH01180773U (ja) * 1988-06-03 1989-12-26
JPH0552869A (ja) * 1991-08-22 1993-03-02 Fujitsu Ltd プローブ装置
JP2000121693A (ja) * 1998-10-15 2000-04-28 Nippon Soken Inc 半導体デバイスの検査装置
JP2002062313A (ja) * 2000-08-22 2002-02-28 Toppan Printing Co Ltd 電気検査用治具及びその製造方法
JP2006125988A (ja) * 2004-10-28 2006-05-18 Yokowo Co Ltd 検査ユニットの製法
JP2012504244A (ja) * 2008-09-29 2012-02-16 ウェントワース ラボラトリーズ、インク. ナノチューブプローブを含むプローブカードおよびその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP5658718B2 (ja) 2015-01-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101713790B (zh) 检查治具、电极结构及电极结构的制造方法
WO2018155005A1 (ja) 電気特性の検査冶具
JP2006337247A (ja) 半導体素子の試験装置および試験方法
US10096923B2 (en) Electric contact and socket for electric parts
US9373900B2 (en) Contact structure unit
JP2013024684A (ja) 検査治具および検査装置
JP5936510B2 (ja) 積層プローブ
US10514424B2 (en) System for charge-discharge cycler
JP5658718B2 (ja) 充放電用プローブの先端形状
TWI525911B (zh) Socket, socket board and electronic components test device
JP2012078297A (ja) ワイヤープローブ用治具並びにこれを用いた検査装置並びに検査方法
JP2014127407A (ja) 電気接触子及び電気部品用ソケット
KR101064852B1 (ko) 프로브 카드용 니들
JP2013541006A (ja) 電気接点と試験用プラットフォーム
JP4875415B2 (ja) コンタクトプローブ
CN106353541B (zh) 探针的保持结构
CN110673053B (zh) 一种燃料电池双极板巡检接线结构
US7686645B2 (en) Apparatus and method of zeroing a test instrument
JPWO2008081704A1 (ja) プローブユニットの配線固定方法およびプローブユニット
JP6266209B2 (ja) 電気接触子及び電気部品用ソケット
JP2009250660A (ja) 基板検査用治具及び検査用接触子
JP2009156720A (ja) 基板検査用治具及び検査用接触子
JP3237875U (ja) 試験装置および接触端子
JP2010091314A (ja) 基板検査治具及び検査用プローブ
JP2017181477A (ja) コンタクトプローブ装置

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140107

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140305

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140924

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20141028

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20141118

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20141128

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5658718

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees