JPH0552869A - プローブ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 各種電子機器の構成に広く使用されるプリン
ト板ユニットの波形観測用プローブ装置に関し、プリン
ト基板の多数本の信号パターンと接続することが容易と
なって波形観測の効率化を図ることを目的とする。 【構成】 一端側にプリント基板のスルーホールに挿入
する基板接続部を一端側に設けて、他端側に計測器接続
部を設けた弾性と導電性が優れる複数本のプローブピン
13と、上記プリント基板に形成された該スルーホールの
配列ピッチに対して２倍の間隔で一列に保持するととも
に、組み合わせると互いに保持された該プローブピン13
が直線状となるように成形された絶縁材よりなる一対の
ピン保持部材14と、上記ピン保持部材14を組み合わせた
状態で収納できて一方の当該ピン保持部材14を該プロー
ブピン13の配列方向へ一定寸法摺動させる調整ねじ16を
配設した外枠15とから構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、各種電子機器の構成に
広く使用されるプリント板ユニットの波形観測用プロー
ブ装置に関する。

【０００２】最近、特に大型電算機等の電子機器に搭載
されるプリント板ユニットは、信号パターンが高密度に
形成されたプリント基板に高集積化された半導体装置
（以下ＬＳＩと略称する）が高密度実装されるに伴い、
このＬＳＩのパッケージとしてピングリットアレイ（以
下ＰＧＡと略称する）が使用されるようになってきた。

【０００３】しかるに、プリント板ユニットの動作時に
おけるＬＳＩの信号波形を観測する際には、ＰＧＡのリ
ード端子はパッケージの直下にあるから従来のプローブ
ではＬＳＩのリード端子に噛みつくことができないた
め、多数本の信号パターンを同時に測定することが容易
となって測定の効率化が図れる新しいプローブ装置が要
求されている。

【０００４】

【従来の技術】従来広く使用されているプリント板ユニ
ットの波形観測方法は、図４に示すようにプリント基板
１の表面層に形成された各パッド1bにＬＳＩ２のパッケ
ージ2-1 に配列されたそれぞれのリード端子2-2を当接
させて半田付けにより接合されたプリント板ユニットに
おいては、ＬＳＩ２のリード端子2-2 がパッケージ2-1
の直下に配列されているから当該リード端子2-2 にプロ
ーブの測定用端子３を噛みつけることができない。

【０００５】そのため、プリント基板１の表面層に形成
されたそれぞれ信号パターン1aにプローブの測定用端子
３を当接させるか、または信号パターン1aと測定用端子
３を直接半田付けすることによりＬＳＩ２の波形が観測
されている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】以上説明した従来の波
形観測方法で問題となるのは、プリント基板１のそれぞ
れ信号パターン1aにプローブの測定用端子３を当接させ
る方法では、人手でプローブを支持する必要があるため
に多くの信号を同時に観測するたとは困難であるという
問題が生じ、また信号パターン1aと測定用端子３を直接
半田付けする方法では、微細な信号パターン1aとプロー
ブの測定用端子との半田付けおよび離脱作業が困難であ
るという問題が生じている。

【０００７】本発明は上記のような問題点に鑑み、プリ
ント基板の多数本の信号パターンと接続することが容易
となって波形観測の効率化が図れる新しいプローブ装置
の提供を目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明は、図２に示すよ
うに一端側にプリント基板のスルーホールに挿入する基
板接続部13b を設けて他端側に計測器接続部13a を設け
た弾性と導電性が優れる複数本のプローブピン13と、上
記プリント基板に形成された該スルーホールの配列ピッ
チに対して２倍の間隔で一列に保持するとともに、組み
合わせると互いに保持された該プローブピン13が直線状
となるように成形された絶縁材よりなる一対のピン保持
部材14と、図１に示すように上記ピン保持部材14を組み
合わせた状態で収納できて一方の当該ピン保持部材14を
該プローブピン13の配列方向へ一定寸法摺動させる調整
ねじ16を配設した外枠15とから構成する。

【０００９】

【作用】本発明では、図１(a) に示すように外枠15に収
納された一対のピン保持部材により保持されたそれぞれ
のプローブピン13を、図３に示すようにプリント基板１
に形成された各スルーホール1-1 に挿入して貫通させ、
外枠15の一端面に配設した調整ねじ16を回転すると一方
の上記保持部材14がプローブピン13の配列方向に摺動す
る。この摺動により隣接するプローブピン13のそれぞれ
間隔が変化してその基板接続部13b が湾曲して斜めに挿
入した状態となり、これによりスルーホール1-1 の内部
に施した導体膜と接触するからプリント基板１の信号パ
ターンと接続され、この各プローブピン13の計測器接続
部13a と波形観測器を接続することにより容易にＬＳＩ
の波形観測を行なうことが可能となる。

【００１０】

【実施例】以下図１〜図３について本発明の実施例を詳
細に説明する。図１は本実施例によるプローブ装置を示
す模式図、図２は本実施例のピン保持部材を示す斜視
図、図３は本実施例によるプリント板ユニット波形観測
方法の断面図を示し、図中において、図４と同一部材に
は同一記号が付してあるが、その他の13はプリント基板
のスルーホールに挿入して計測器と接続するプローブピ
ン，14は複数個のプローブピンを一定の間隔で平行に保
持するピン保持部材，15は一対のピン保持部材を収容し
てプローブピンの間隔を調整する外枠である。

【００１１】プローブピン13は、図２に示すように一定
の長さに切断した弾性と導電性の優れた金属線，例えば
約１ｍｍ径の燐青銅線の一端側を計測器接続部13a と
し、中間部より他端となる側を図示していないプリント
基板のスルーホールに挿入できる例えば０．３ｍｍの細
径にして基板接続部13bを設けて、全外周面にプリント
基板のスルーホールと接触抵抗を少なくするための金メ
ッキを施しても良い。

【００１２】ピン保持部材14は、図２に示すように絶縁
材より形成された角柱状ブロックの一側縁側に上記プロ
ーブピン13の基板接続部13b が整合する複数個の段付き
挿入孔14-1を、図示していないプリント基板に形成され
たスルーホールの配列ピッチに対して２倍の間隔で一列
に窄設するとともに、その挿入孔14-1と平行で前記スル
ーホールの隣接ピッチより若干大きな幅の凹部14b を、
前記ブロックの一側面から挿入孔14-1の配列寸法に対し
て２倍の深さで成形することにより櫛歯状の凸部14aを
設けた対となる部材である。

【００１３】外枠15は、図１(a) に示すように上記一対
のピン保持部材14をそれぞれ凸部14a と凹部14b が噛み
合わせた状態で収納できる寸法に絶縁材より枠を形成
し、その一端面にピン保持部材14を互いに挿入孔14-1の
配列方向へ一定寸法摺動させるねじ孔15a を窄設してい
る。

【００１４】上部部材を使用したプローブ装置は、図１
(a) に示すようにプローブピン13を一方向から挿入孔14
-1に挿入した上記一対のピン保持部材14をそれぞれ凸部
14aと凹面14b が噛み合わせた状態で、外枠15の内壁と
一方のピン保持部材14とを接着することにより一対のピ
ン保持部材14を内部に収納する。

【００１５】また、図１(b) に示すように外枠15の一端
面に窄設した上記ねじ孔15a に調整ねじ16を回転すると
その反対側に設けたばね17の不勢に打ち勝って他方のピ
ン保持部材14がプローブピン13の配列方向に移動して互
いに隣接するプローブピン13の間隔を微調整できるよう
に構成している。

【００１６】そして、図３に示すように外枠15に収納さ
れた一対の上記ピン保持部材14により保持，配列された
それぞれのプローブピン13をプローブ基板１に形成され
た各スルーホール1-1 に挿入して貫通させ、外枠15の一
端面から螺入した調整ねじ16を回転すると当該外枠15に
接続した上記ピン保持部材14に対して他の前記ピン保持
部材14がプローブピン13の配列方向に摺動する。

【００１７】以上の構成により、隣接するそれぞれのプ
ローブピン13の間隔が変化するので各プローブピン13の
基板接続部13b が湾曲して、その先端部がスルーホール
1-1の内部に施した導体膜と上下で接続した状態となっ
てプローブ基板１に実装されたＬＳＩのリード端子と接
続されるから、それぞれのプローブピン13の計測器接続
部13a と図示していない波形観測器と導体で接続するこ
とにより波形観測が容易に行われてＬＳＩの波形観測の
効率か図ることができる。

【００１８】尚、プローブピン13はプローブ基板１のス
ルーホール1-1 配置に対応してピン保持部材14より脱抜
する。

【００１９】

【発明の効果】以上の説明から明らかなように本発明に
よれば極めて簡単な構成で、プリント板ユニットに実装
したＬＳＩとの接続することが容易となって波形観測の
効率化を図ることができる等の利点があり、著しい経済
的及び、信頼性向上の効果が期待できるプローブ装置を
提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の一実施例によるプローブ装置を示す
模式図である。

【図２】 本実施例のピン保持部材を示す斜視図であ
る。

【図３】 本実施例によるプリント板ユニットの波形観
測方法を示す断面図である。

【図４】 従来の波形観測方法を示す斜視図である。

【符号の説明】

1は基板、 1-1 はスル
ーホール、 13はプローブピン、 13ａは計測器接続部、 13ｂは基板
接続部、 14はピン保持部材、 14ａ凸部、 14ｂは凹
部、 14-1は挿入孔、 15は外枠、 15ａはねじ孔、 16は調整ねじ、 17はばね、

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 プリント基板のスルーホールに挿入す
   る基板接続部（13b)を一端側に設けて、他端側に計測器
   接続部(13a) を設けた弾性と導電性が優れる複数本のプ
   ローブピン(13)と、 当該プローブピン(13)を上記プリント基板に形成された
   該スルーホールの配列ピッチに対して２倍の間隔で一列
   に保持するとともに、組み合わせると互いに保持された
   該プローブピン(13)が直線状となるように成形された絶
   縁材よりなる一対のピン保持部材(14)と、 上記ピン保持部材(14)を組み合わせた状態で収納できて
   一方の当該ピン保持部材(14)を該プローブピン(13)の配
   列方向へ一定寸法摺動させる調整ねじ(16)を設けた外枠
   (15)とから構成したことを特徴とするプローブ装置。