KR20070084175A - 가요성 접촉부를 갖는 케이블 단자 - Google Patents

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KR20070084175A
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단 델레세르트
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프리시젼 인터커넥트, 인크.
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Abstract

케이블 조립체 커넥터는 본체에 연결된 다수의 접촉 요소를 구비한 본체를 갖는다. 각각의 접촉 요소는 꾸불꾸불한 형상으로 형성된 긴 도체이고, 본체로부터 돌출하는 접촉 단부를 갖는다. 각각의 접촉 요소의 접촉 단부는 본체로부터 이격되어 대면하는 오목면을 갖는 만곡부를 포함하고, 각각의 접촉 단부의 자유단은 본체를 향해 뒤로 휘어진다. 커넥터는 접촉 요소의 후방 단부에 연결된 평면 회로 요소를 포함할 수도 있고, 가요성 케이블은 커넥터에 연결될 수도 있다. 커넥터의 접촉 요소가 접촉 어레이와 정렬되고, 단자를 접촉 어레이에 대해 가압하고, 케이블을 통해 신호를 접촉 어레이로부터 가요성 케이블에 연결된 기기로 전송함으로써, 인쇄 회로 조립체의 에지로부터 이격되는 위치에서, 노출된 접촉 어레이를 갖는 인쇄 회로 조립체를 테스트하는 방법에 커넥터가 채용될 수도 있다.
케이블 조립체 커넥터, 인쇄 회로 기판, 가요성 접촉부, 인쇄 회로 조립체, 판 스프링

Description

가요성 접촉부를 갖는 케이블 단자 {CABLE TERMINAL WITH FLEXIBLE CONTACTS}
본 발명은 전기 케이블 및 커넥터, 특히 인쇄 회로 조립체 상의 접촉점을 테스트하기 위한 프로브(probe)에 관한 것이다.
프로브는 전자 디바이스 및 부품을 테스트하는 공정에서 채용된다. 이런 디바이스는 신호 처리에 대해 민감한 설계를 요구하는 고주파로 작동한다. 유사하게, 이런 디바이스를 테스트하는 프로브는 측정될 신호가 열화되는 것을 피하도록 고주파로 신호를 운반할 수 있어야만 한다. 고주파 디바이스를 테스트하기 위한 통상적인 프로브는 슬리브 내에서 왕복 운동하는 긴 핀을 갖는 스프링 핀을 채용한다. 이 기능은 고주파에서 효율적이게, 제한된 힘으로 긴 이송 거리를 제공하지만, 특히 여러 지점을 동시에 검사하기 위해 다수의 접촉 어레이를 요구하는 응용례에 대한 제조에서는 비용이 많이 든다.
또한, 많은 통상적인 프로브는 검사될 디바이스의 금속 표면 상의 얇은 층 내에 존재할 수도 있는 산화물 또는 다른 오염 물질로 인해, 항상 양호한 옴 접촉(ohmic contact)을 제공하지는 않는 축방향 접촉을 채용한다. 긴 니들형 핀을 갖춘 프로브는 특히 이런 임의의 막을 파열시키는 임의의 스크러빙(scrubbing) 또 는 스케이팅 운동에 적합하지 않고, 이런 운동이 시도된 경우 프로브 또는 디바이스에 원하지 않은 마모 또는 손상을 발생시킬 수도 있다.
전자 부품이 장착된 회로 기판이 테스트될 때, 통상적인 테스트는 기판 상의 도전성 트레이스의 종단부에서 금속 스트립인 에지 커넥터를 기판 상에 채용한다. 그러나, 이는 에지 커넥터가 테스트에서 중요한 중간 노드를 구비한 임의의 상호 작용하는 부품 사이에 반드시 위치되지 않고, 큰 기판 영역을 차치한다는 점에서 여러 단점이 있다.
고주파 능력을 요구하는 종래의 프로브는 통상적으로 디바이스의 신호를 처리 및 테스트하기 위한 전자 부품을 포함하는 회로 기판 상에 지지된다. 따라서, 이런 프로브 구성은 다루기가 어렵고, 디바이스의 모든 부분으로의 접근을 어렵게 만든다. 게다가, 이런 프로브 구성은 조작자 또는 컴퓨터 영상 시스템이 정렬을 보장하기 위한 접촉의 위치의 관찰을 용이하게 할 수 없게 하여 더 고가의 로봇 정렬 시스템을 필요로 하게 한다.
본 발명은 본체를 갖는 케이블 조립체 커넥터에 본체에 연결된 다수의 접촉 요소를 제공함으로써 종래 기술의 한계를 극복한다. 각각의 접촉 요소는 꾸불꾸불한 형상으로 형성된 긴 도체이고, 본체로부터 돌출하는 접촉 단부를 갖는다. 각 접촉 요소의 접촉 단부는 본체와 이격된 채로 대면하는 볼록면을 갖는 만곡부를 포함하고, 각 접촉 단부의 자유단은 본체를 향하여 뒤로 휘어진다. 커넥터는 접촉 요소의 후방 단부에 연결된 평면 회로 요소를 포함할 수도 있고, 가요성 케이블이 커넥터에 연결될 수도 있다. 커넥터의 접촉 요소를 접촉 어레이와 정렬시키고, 단자를 이 접촉 어레이에 대해 가압하며, 케이블을 통해 신호를 접촉 어레이로부터 가요성 케이블에 연결된 기기로 전송함으로써, 커넥터는 인쇄 회로 조립체의 에지로부터 이격된 위치에서, 노출된 접촉 어레이를 갖는 인쇄 회로 조립체를 테스트하는 방법에서 채용될 수도 있다.
도1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 케이블 조립체 및 관련 디바이스의 사시도이다.
도2는 도1의 케이블 단자의 확대 단면도이다.
도3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 인쇄 회로 기반 프로브의 사시도이다.
도4a는 도1의 실시예에 따른 접촉부의 평면도이다.
도4b는 도1의 실시예에 따른 접촉부의 측면도이다.
도1은 전자 테스트 기기 또는 컴퓨터(12), 이 기기에 연결되어 기기로부터 연장되는 케이블 조립체(14) 및 테스트 하의 인쇄 회로 조립체(16)와 같은 디바이스를 포함하는 전자 프로빙 및 테스트 시스템(10)을 도시한다. 기기(12)는 통상적인 고속의 디지털 오실로스코프, 로직 분석기 또는 고속의 디지털 또는 아날로그 회로 소자를 테스트하기 위해 사용되는 다른 디바이스이고, 신호를 분석하는 내부 회로 소자에 연결된 여러 접촉부를 갖는 커넥터 포트(20)를 구비하여, 이는 기기 디스플레이 상에 보여질 수 있다.
테스트 하의 기기는 임의의 전자 디바이스일 수도 있다. 실례가 되는 실시예에서, 디바이스는 도전성 트레이스(24)의 패턴으로 인쇄되며, 집적 회로와 같은 많은 전자 부품(26)이 그 위에 장착된 인쇄 회로 기판(22)이다. 부품은 기판 상에서 도전성 패드의 어레이에 전기적으로 연결되고, 기판 상의 트레이스를 통해 상호 연결된다(모든 부분이 표시되지는 않음). 기판은 회로 소자에 연결되고 기판이 부품으로 전자 조립체 내에 설치될 때 연결을 위해 노출되는 에지 커넥터 스트립(30)과 같은 인터페이스 연결부를 포함할 수도 있다.
테스트 하의 디바이스는 미드-버스 패드 어레이(mid-bus pad array; 32)를 포함한다. 어레이는 복수의 노출된 도전성 패드(34)이고, 그 각각은 둘 이상의 부품 또는 커넥터 사이에서 연결을 제공하는 버스(36) 상의 단 하나의 트레이스에만 연결된다. 다른 실시예에서, 어레이는 하나 이상이 부품과 에지 또는 다른 커넥터 사이의 트레이스 상에 위치 설정될 수도 있다. 어느 경우에서나, 어레이는 에지 접촉부와 접촉하기에 적합한 커넥터에 접근 가능하지 않는 기판의 에지로부터 이격되어 위치 설정된다. 미드-버스 위치에서 프로빙함으로써, 프로브는 외부 커넥터에 닿지 않는 라인으로 접근하여, 부품 사이의 라인 상에서의 신호가 성능, 에러 또는 다른 특성들을 결정하도록 분석될 수 있다. 어레이는 이후에 언급되는 바와 같이 테스트 프로브와 호환될 수 있는 임의의 구성일 수도 있지만, 바람직한 실시예에서는 듀얼-인-라인(dual-in-line) 구성으로 한 쌍의 패드 열로서, 열은 1.3 mm (0.050 inch)로 이격되고, 패드는 2.5 mm (0.100 inch)의 중심 간의 간격을 갖도록 정렬된다. 다른 실시예에서는, 하나 내지 셋 이상으로의 임의의 수의 열이 채용될 수도 있지만, 바람직한 실시예에서 패드는 2 열의 27개의 패드로 배열된다.
케이블 조립체(14)는 기기의 커넥터 포트(20)와 제거 가능하게 정합되는 제1 커넥터(42)를 구비한 제1 단부(40)를 갖는다. 케이블 조립체는 이후에 자세히 기술되는 단자 조립체(46)를 포함하는 대향 자유단(44)을 갖는다. 케이블은 편평한 리본 형상으로 정렬된 와이어(50) 리본을 포함하고, 이 와이어는 서로 인접하도록 근접 배열된다. 바람직한 실시예에서, 처리될 2 열의 테스트 패드에 대하여, 케이블은 각 열에 대하여 하나씩인 두개의 편평한 리본을 갖는다.
각 와이어는 유전층(54)에 의해 둘러싸인 중심 도체(52)를 갖는 동축 와이어이다. 포일(foil) 또는 권취 와이어 스트랜드의 도전성 실드(56)는 유전층을 둘러싸고, 절연 재킷(60)은 이 실드를 둘러싼다. 바람직한 실시예에서, 중심 도체는 34 게이지이고 유전체는 0.61 mm (0.024 inch)의 두께를 갖는다. 실드 및 재킷은 각 와이어가 전체 1.0 mm (0.041 inch)의 직경이 되도록 한다. 다른 실시예에서, 와이어의 파라미터는 원하는 성능을 제공하도록 커넥터 접촉 간격의 기계적 한계를 고려해 조정될 수도 있다.
단자 조립체(46)는 플라스틱 하우징 또는 블록(62), 본체 내부에 고정되고 본체로부터 부분적으로 돌출하는 한 세트의 스프링 접촉 요소(64) 및 접촉 요소와 와이어의 단부에 전기적으로 연결된 인쇄 회로 요소(66)를 포함한다.
도2를 참조하면, 블록(62)은 전면(70), 후면(72), 긴 주 측면(74 및 76) 및 단부면(도1 참조)을 갖는 직사각형의 본체이다. 블록은 도전성 요소 각각에 대하여 하나씩인, 전면으로부터 후면으로 연장되는 다수의 통로(80)를 형성한다. 통로 의 열은 단부에서 단부로, 전면(70)에서 후면(72)으로 및 주 측벽(74 및 76)과 평행하고 주 측벽으로부터 등거리로, 블록의 길이를 따라 연장하는 중간 격벽(82)에 의해 한 방향으로 서로 분리된다. 이 통로는 분할 벽(84)에 의해 동일한 열에 있는 인접한 통로로부터 분리된다. 따라서, 각각의 통로는 중간 격벽, 측벽(74 또는 76) 및 한 쌍의 분할 벽(84)에 의해 형성된다[블록의 단부 벽에 의해 형성된 최말단 통로는 제외]. 후면 근처의 각각의 통로 내에서는 셸프(shelf)의 노오즈(nose)가 측벽(74 또는 76)의 내부면으로 접근하는 작은 간극(90)만을 남기면서, 셸프(86)가 분할 벽들 사이에 걸쳐 중간 격벽(83)으로부터 측방향으로 연장한다.
스프링 접촉 요소(64)는 블록의 각 통로(80) 내부에 수납된다. 각각의 스프링은 일련의 절곡부 및 만곡부로 분절형으로 형성되고 각각은 스트립의 평면에 평행한 축을 중심으로 만들어진 일정한 폭의 긴 편평한 스트립이다. 따라서, 도시된 형태로 형성될 때, 스트립의 보다 큰 에지 각각은 각각의 평면을 차지한다. 스프링은 블록(62)의 후면으로부터 대체로 수직으로 돌출하는 후방 단부(92), 분절형의 중간부(94) 및 아치형 접촉부(96)를 갖는다. 후방부는 중간쯤에서 대면하는 후방 접촉면(100)을 갖는다. 중간부는 절곡부를 연결하는 직선 세그먼트를 구비한 다수의 반원형의 헤어핀 절곡부를 갖는 꾸불꾸불한 형상이다. 직선 세그먼트는 접촉 어레이에 접촉하게 하는 단자 운동의 축방향인, 전면에 대체로 평행하다.
스프링은 제1 제한된 길이의 직선 세그먼트(102), 중앙에서 오목하고 제1 직선 세그먼트에 연결된 제1 절곡부(104), 제1 절곡부에 연결된 제2 직선 세그먼트(106) 및 제2 직선 세그먼트에 연결된 제2 측방향 오목 절곡부(110)를 포함한다. 꾸불꾸불한 형상은 세그먼트(112), 절곡부(114), 세그먼트(116), 절곡부(120), 세그먼트(122), 절곡부(124), 세그먼트(126), 절곡부(130) 및 세그먼트(132)로 연속하여 이어진다. 절곡부(134)는 약 120도의 원호로 세그먼트(132)에 연결되어, 연결된 세그먼트(136)는 블록의 표면(70)에 의해 형성된 평면을 관통하여 경사진 방향으로 연장된다. 아치형 접촉부(140)는 블록을 향하여 다시 역으로 구부러지고, 블록 표면(70)에 평행한 접면부를 갖는 오목한 접촉면(142)을 구비한 채 블록으로부터 이격되어 오목하다. 직선 단부 세그먼트(144)가 표면(70)의 평면을 역 관통하여 축방향으로 및 통로(80) 내로 부분적으로 연장된다. 따라서, 아치형 접촉부의 중간부만 블록으로부터 돌출하여, 테스트 하에 있는 디바이스 상에서 포획할 수 있는 블록의 표면을 넘어서는 노출 단부가 없게 된다.
스프링은 세그먼트(102 및 106) 사이에 단단히 수납되는 셸프(86)에 의해 블록의 각각의 통로 내에 고정되고, 셸프의 노오즈는 절곡부(104)에 의해 밀접하게 에워싸여진다. 스프링은 절곡부 및 직선 세그먼트의 구부러짐에 의해 접촉면(142)에 가해지는 축 압력 하에서, 표면(70)의 평면에 있는 완전히 만입된 위치로 접촉부의 전체 변위를 크게 증가시키지 않는 스프링력으로 작동한다. 절곡부(110, 114, 120, 124, 126 및 134)는 가압 하에서 자유롭게 굽혀지고, 각 방향으로의 동일한 개수의 절곡부는 힘의 평형을 발생시켜서 스프링은 코일 스프링과 같이 거의 축방향의 운동으로 접촉면(142) 상에서 축방향 힘에 반응한다. 직선부들은 추가된 가요성을 제공하도록 판 스프링과 같이 더 굽혀진다.
굽혀지는 동안, 접촉부 상의 점의 운동은 완전히 직선이 아니고, 인접한 절 곡부(34)의 기하학적 형상으로 인해 약간 아치형이다. 이는 가압되는 패드 상에 약간의 접촉 스크러빙(scrubbing)을 제공한다. 하지만, 이 스크러빙은 교번하는 아치형 절곡부의 균형 잡힌 기하학적 형상에 의해 매우 제한되어, 스크러빙은 극히 경미하여 니들이 마모 또는 손상되는 것을 피하게 한다. 유사하게, 접촉면은 매끄러운 오목 원호이고 스프링의 자유단은 상기에 언급된 바와 같이 오목하기 때문에 마모는 제한된다.
바람직한 실시예에서, 스프링은 0.13 mm (0.005 inch)의 두께, 0.38 mm (0.015 inch)의 스트립 폭 및 5.6 mm (0.220 inch)의 스트립 길이를 갖고 BeCu 재료를 사용해서 형성된다. 이런 파라미터는 필요한 성능 특성들을 제공하도록 변경될 수도 있다.
접촉부가 정확한 간격으로 위치된다면, 전기 리액티브 임피던스는 변경될 수 있다. 리액티브 임피던스를 변경시킴으로써, 접촉부 사이의 결합은 단일단 임피던스 구성을 위해 최소화될 수도 있다. 리액티브 임피던스를 변경시킴으로써, 결합은 차동 임피던스 구성을 위해 최소화될 수도 있다.
인쇄 회로 요소(66)는 각각의 측면 상에서 신호 접촉부(146)의 어레이를 갖는 양면의 기판이고, 접촉부 어레이는 서로 전기적으로 절연되고 스프링 접촉부의 간격과 동일한 간격으로 배열된다. 각 신호 접촉부(146)는 긴 스트립이고 블록의 후면(72)과 접하는 기판의 선단 에지(150)의 장축과 수직하게 배향된다. 긴 접지 접촉부(150)는 후방 에지(152)의 전체 길이를 따라, 기판의 각 측면 상에 위치된다. 각각의 동축 케이블(50)은 패드와 납땜 결합에 의해 전기적 및 기계적으로 연 결된다. 각각의 중심 도체(52)는 각각의 접촉부(146)에 납땜되고, 각각의 실드는 접촉부(150)에 연결된다. 스프링의 후방부(92)의 표면(100)은 접촉부(146)의 전방부에 유사하게 납땜된다.
시스템은 단자의 접촉 요소를 디바이스 상의 접촉 어레이와 정렬시키고 단자를 접촉 어레이에 대해 가압하며 케이블을 통해 신호를 접촉 어레이로부터 가요성 케이블을 통해 기기로 전송함으로써 디바이스를 테스트하도록 작동한다. 접촉 어레이는 디바이스 커넥터로 접근 가능하지 않은 라인에 대하여 접근을 제공하도록 전기 버스 상의 중간부에 위치되고, 단자를 가압하는 공정에서 단자 내의 판 스프링은 굽혀진다. 접촉부는 디바이스 도금에 대한 손상 위험 없이 접촉부의 넓은 영역을 제공하면서 스프링의 오목부에 의해 만들어진다.
도3은 테스트 하의 디바이스(22)가 다른 프로브 조립체(200)에 의해 프로브되는 다른 프로브 구성을 도시한다. 프로브 조립체는 노출된 도전성 패드(204)의 어레이를 갖는 인쇄 회로 기판(202)을 포함한다. 패드는 케이블 또는 다른 도체를 통해 테스트 기기에 연결시키는 트레이스에 연결된고, 기판의 자유 에지(206)에 위치된다.
판 스프링 접촉부(210)는 각각의 패드에 납땜된다. 각각의 접촉부는 0.13 mm (0.005 inch)의 두께를 갖는 BeCu 재료 시트로 형성된다. 접촉부는 이하에 기술되는 바와 같이 만곡되고, 모든 만곡부는 접촉부의 길이에 수직인 축 주위에 위치된다. 도4a 및 도4b에 도시된 바와 같이, 접촉부는 패드를 덮는 편평한 기부(212), 분절형 중간부(214) 및 만곡된 단부(216)를 갖는다. 도4b에 도시된 바와 같이, 접촉부는 분절형이다. 중간부는 기부(212)에 인접해서 상향하는 만곡부(220)를 포함한다. 만곡부는 약 0.51 mm (0.020 inch)의 편평한 부분 위로 약 60도의 원호를 통해 상향으로 만곡된다. 중간부는 대향 방향으로 급격히 구부려지고, 기부에 대해 10도 상향한 경사진 직선부(222)로 이어진다. 직선부의 끝에서, 단부는 약 0.25 mm (0.010 inch)의 반지름을 갖는 90도의 원호(224)를 통해 만곡된다. 단자의 단부(226)는 원호의 끝으로부터 직선으로 연장되고, 기부에 대해 80도의 각도로 상향하고 기부를 향해 약각 뒤로 뾰족해진다.
상기에 기술된 처음 실시예에서는, 중간부의 분절 형상이 축방향의 힘에 반응하여 굽혀지는 것을 허용한다. 접촉되는 표면으로부터 후방으로 연장하는 단부를 갖는 만곡된 단부는 마찰에 대한 손상을 방지하고, 노출된 모서리 또는 에지에 의한 긁힘없이 접촉부에 의해 접촉되는 표면의 스크러빙을 작게 할 수 있다.
상기에서 바람직한 및 다른 실시예라는 용어로 기술되었지만, 본 발명을 그렇게 제한하려는 의도는 아니다.

Claims (16)

  1. 본체와,
    상기 본체에 연결된 복수의 접촉 요소를 포함하고,
    상기 각각의 접촉 요소는 분절형으로 형성된 긴 도체이고, 상기 본체로부터 돌출하는 접촉 단부를 갖고,
    각각의 접촉 요소의 상기 접촉 단부는 상기 본체로부터 이격되어 대면하는 오목면을 갖는 만곡부를 포함하며,
    각각의 접촉 단부의 자유단은 상기 본체를 향해 뒤로 휘어지는 커넥터.
  2. 제1항에 있어서, 상기 분절형은 대체로 반원형 요소에 의해 연결된 실질적으로 평행한 복수의 요소를 포함하는 꾸불꾸불한 형상이고, 바람직하게는 상기 분절형은 4개 이상의 대체로 평행한 세그먼트를 포함하는 커넥터.
  3. 제1항에 있어서, 상기 본체는 상기 접촉 단부가 돌출하는 주 표면을 형성하고, 바람직하게는 상기 각각의 접촉 단부는 상기 주 표면을 각각 가로지르는 대향 단부를 갖는 와이어 루프인 커넥터.
  4. 제1항에 있어서, 상기 각각의 접촉 요소는 상기 본체로부터 연장하는 후방 단부를 포함하는 커넥터.
  5. 제4항에 있어서, 접촉 단부는 제1 방향으로 상기 본체로부터 돌출하고, 각각의 후방 단부는 상기 제1 방향에 반대인 제2 방향으로 상기 본체로부터 연장하는 커넥터.
  6. 제4항에 있어서, 상기 접촉 요소의 상기 후방 단부에 연결된 평면 회로 요소를 포함하고, 바람직하게는 상기 평면 회로 요소에 연결된 케이블을 포함하는 커넥터.
  7. 회로 요소의 주 표면 상의 접촉 어레이를 검사하기 위한 케이블 조립체이며,
    전면 및 대향하는 후방 단부를 갖는 본체와,
    상기 본체의 상기 후방 단부로부터 연장하는 케이블과,
    상기 본체에 연결된 접촉 요소의 어레이를 포함하고,
    상기 각각의 접촉 요소는 상기 본체의 상기 전면으로부터 돌출하는 접촉 단부를 갖고,
    본체의 상기 각각의 접촉 단부는 상기 본체로부터 이격되어 대면하는 오목면을 갖는 오목부를 포함하고,
    각각의 접촉 단부의 자유단은 상기 본체를 향해 뒤로 휘어지는 케이블 조립체.
  8. 제7항에 있어서, 상기 각각의 접촉 요소는 분절형을 갖도록 형성된 긴 도체인 케이블 조립체.
  9. 제8항에 있어서, 상기 분절형은 대체로 반원형의 요소에 의해 연결된 실질적으로 평행한 복수의 요소를 포함하고, 바람직하게는 상기 분절형은 4개 이상의 실질적으로 평행한 세그먼트를 포함하는 케이블 조립체.
  10. 제7항에 있어서, 상기 각각의 접촉 단부는, 상기 전면을 각각 가로지르는 대향 단부를 갖는 와이어 루프인 케이블 조립체.
  11. 제7항에 있어서, 상기 접촉 요소의 후방 단부에 연결된 평면 회로 요소를 포함하고, 바람직하게는 상기 접촉 요소는 쌍으로 배열되고, 각각의 쌍의 상기 후방 단부는 상기 회로 요소의 대향 표면에 연결된 케이블 조립체.
  12. 인쇄 회로 조립체의 에지로부터 이격된 위치에서, 노출된 접촉 어레이를 갖는 인쇄 회로 조립체를 테스트하는 방법이며,
    단자를 갖는 가요성 케이블에 가요적으로 돌출하는 접촉 요소의 어레이를 제공하는 단계와,
    상기 단자의 상기 접촉 요소를 상기 접촉 어레이와 정렬시키는 단계와,
    상기 단자를 상기 접촉 어레이에 대해 가압하는 단계와,
    상기 케이블을 통해 신호를 상기 접촉 어레이로부터 상기 가요성 케이블에 연결된 기기로 전송하는 단계를 포함하는, 인쇄 회로 조립체를 테스트하는 방법.
  13. 제12항에 있어서, 상기 접촉 어레이는 전기 버스 상의 중간부에 위치되는, 인쇄 회로 조립체를 테스트하는 방법.
  14. 제12항에 있어서, 상기 단자를 가압하는 단계는 상기 단자 내의 복수의 판 스프링을 편향시키는 단계를 포함하는, 인쇄 회로 조립체를 테스트하는 방법.
  15. 제12항에 있어서, 상기 각각의 접촉 요소는 상기 인쇄 회로 어레이를 향해 연장하는 아치형의 중간부를 갖는 긴 도체이며,
    상기 단자를 가압하는 단계는 상기 접촉 어레이의 각각의 요소를 도체의 중간부의 오목부 각각과 접촉시키는 단계를 포함하는, 인쇄 회로 조립체를 테스트하는 방법.
  16. 제12항에 있어서, 상기 각각의 접촉 요소는 복수의 아치부를 갖는 길고 꾸불꾸불한 스프링부를 포함하며,
    상기 단자를 가압하는 단계는 상기 각각의 아치부에서의 절곡에 의해 상기 접촉 요소의 축 방향 압축을 발생시키는 단계를 포함하는, 인쇄 회로 조립체를 테스트하는 방법.
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